JP2010175281A - 外観面画像生成装置 - Google Patents
外観面画像生成装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010175281A JP2010175281A JP2009015437A JP2009015437A JP2010175281A JP 2010175281 A JP2010175281 A JP 2010175281A JP 2009015437 A JP2009015437 A JP 2009015437A JP 2009015437 A JP2009015437 A JP 2009015437A JP 2010175281 A JP2010175281 A JP 2010175281A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection object
- appearance surface
- image
- predetermined
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
【解決手段】駆動部12によって、回転対称形状の金属部材である検査対象物を回転させる。ライン照明14によって線状スリット光を照射して、反射光をエリアカメラ18によって撮像する。画像処理部32によって、検査対象物の所定の回転量毎に撮像された複数の撮像画像の各々から、線状スリット光の反射光を表わす部分の周辺の所定領域を切り出して、切り出された所定領域の画像データを並べて合成して、検査対象物の外観面の状態を表わす外観面画像を生成する。欠陥検出部34によって、外観面画像から、輝度値が所定値以上となる部分を欠陥候補として検出する。
【選択図】図1
Description
回転量a[deg/frame]=360°/フレーム数 ・・・(1)
切り出し長Length[ピクセル数]=2*π*r*a/360 ・・・(2)
Xs’ = (X(s−1)+2Xs+X(s+1))/4 ・・・(3)
Ls’ = (L(s−1)+2Ls+L(s+1))/4 ・・・(4)
フレーム間のピッチ=移動量[um]/画素サイズ[um] ・・・(5)
12 駆動部
14 ライン照明
16 バック照明
18 エリアカメラ
20 コンピュータ
22 表示装置
24、224 検査対象物
28 駆動制御部
30 画像取得部
32 画像処理部
34 欠陥検出部
Claims (10)
- 検査対象物の外観面に線状の光を照射する光照射手段と、
前記検査対象物の外観面からの前記線状の光の透過光又は反射光を含む領域を撮像する撮像手段と、
前記検査対象物を移動又は回転させる駆動手段と、
前記検査対象物の所定の移動量毎又は所定の回転量毎に前記撮像手段により撮像された複数の撮像画像の各々から、前記透過光又は前記反射光を表わす部分の周辺の所定領域を切り出す切り出し手段と、
前記切り出し手段により切り出された前記所定領域の画像データを並べて合成して、前記検査対象物の外観面の状態を表わす外観面画像を生成する合成手段と、
を含む外観面画像生成装置。 - 前記合成手段によって生成された外観面画像から、所定輝度以上となる部分を、欠陥部分として検出する欠陥検出手段を更に含む請求項1記載の外観面画像生成装置。
- 前記検査対象物を、回転対称形状の光反射性を有する部材とし、
前記撮像手段は、前記検査対象物の外観面からの前記線状の光の反射光を含む領域を撮像し、
前記駆動手段は、前記回転対称形状の回転中心軸を回転軸として前記検査対象物を回転させる請求項1又は2記載の外観面画像生成装置。 - 前記検査対象物を、板状の透明部材とし、
前記撮像手段は、前記検査対象物の外観面からの前記線状の光の透過光を含む領域を撮像し、
前記駆動手段は、前記検査対象物を、板状の面に平行な方向に移動させる請求項1又は2記載の外観面画像生成装置。 - 前記検査対象物を、板状の光反射性を有する部材とし、
前記撮像手段は、前記検査対象物の外観面からの前記線状の光の反射光を含む領域を撮像し、
前記駆動手段は、前記検査対象物を、板状の面に平行な方向に移動させる請求項1又は2記載の外観面画像生成装置。 - 前記切り出し手段は、前記撮像画像の回転軸と直交する各ラインについて、輝度が所定値以下となった画素から、前記反射光を表わす部分と反対側の所定数の画素を切り出すことにより、前記所定領域を切り出す請求項3記載の外観面画像生成装置。
- 前記切り出し手段は、前記検査対象物の半径又は直径と前記所定の回転量とに基づいて各ラインについて決定される前記所定数の画素を切り出すことにより、前記所定領域を切り出す請求項6記載の外観面画像生成装置。
- 前記切り出し手段は、各ラインに対して、切り出す画素の位置及び切り出す画素の前記所定数について前後のラインとの移動平均を求めることにより、切り出す画素の位置及び切り出す画素の前記所定数を決定する請求項7記載の外観面画像生成装置。
- 前記切り出し手段は、前記複数の撮像画像の各々について、前記透過光を表わす部分を特定し、前記特定された部分を膨張させ、前記膨張された領域のうち、前記透過光を表わす部分でない領域を、該撮像画像から、前記所定領域として切り出す請求項4記載の外観面画像生成装置。
- 前記切り出し手段は、前記複数の撮像画像の各々について、前記反射光を表わす部分を特定し、前記特定された部分を膨張させ、前記膨張された領域のうち、前記反射光を表わす部分でない領域を、該撮像画像から、前記所定領域として切り出す請求項5記載の外観面画像生成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009015437A JP2010175281A (ja) | 2009-01-27 | 2009-01-27 | 外観面画像生成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009015437A JP2010175281A (ja) | 2009-01-27 | 2009-01-27 | 外観面画像生成装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010175281A true JP2010175281A (ja) | 2010-08-12 |
Family
ID=42706412
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009015437A Pending JP2010175281A (ja) | 2009-01-27 | 2009-01-27 | 外観面画像生成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2010175281A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016142592A (ja) * | 2015-01-30 | 2016-08-08 | 富士通株式会社 | 円筒製品検査装置および円筒製品検査方法 |
JP2019066371A (ja) * | 2017-10-03 | 2019-04-25 | 株式会社豊田中央研究所 | 観察装置、画像解析処理制御プログラム |
EP3540414A1 (en) | 2018-03-13 | 2019-09-18 | OMRON Corporation | Image inspection device, image inspection method and image inspection program |
WO2023181668A1 (ja) * | 2022-03-24 | 2023-09-28 | 富士フイルム株式会社 | 画像形成装置、画像形成方法、検査方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5394640U (ja) * | 1976-12-29 | 1978-08-02 | ||
JPS62274249A (ja) * | 1986-05-23 | 1987-11-28 | Inax Corp | 板状物表面の自動検査方法 |
JPH07225193A (ja) * | 1994-02-10 | 1995-08-22 | Sony Corp | 表面検査装置及び表面検査方法 |
JPH09243568A (ja) * | 1996-03-08 | 1997-09-19 | Bridgestone Corp | ローラ検査装置 |
JPH11261870A (ja) * | 1998-03-10 | 1999-09-24 | Pioneer Electron Corp | 立体表面撮影装置 |
JP2000346629A (ja) * | 1999-06-07 | 2000-12-15 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 表面検査装置及び表面検査方法 |
JP2002214158A (ja) * | 2001-01-19 | 2002-07-31 | Central Glass Co Ltd | 透明板状体の欠点検出方法および検出装置 |
-
2009
- 2009-01-27 JP JP2009015437A patent/JP2010175281A/ja active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5394640U (ja) * | 1976-12-29 | 1978-08-02 | ||
JPS62274249A (ja) * | 1986-05-23 | 1987-11-28 | Inax Corp | 板状物表面の自動検査方法 |
JPH07225193A (ja) * | 1994-02-10 | 1995-08-22 | Sony Corp | 表面検査装置及び表面検査方法 |
JPH09243568A (ja) * | 1996-03-08 | 1997-09-19 | Bridgestone Corp | ローラ検査装置 |
JPH11261870A (ja) * | 1998-03-10 | 1999-09-24 | Pioneer Electron Corp | 立体表面撮影装置 |
JP2000346629A (ja) * | 1999-06-07 | 2000-12-15 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 表面検査装置及び表面検査方法 |
JP2002214158A (ja) * | 2001-01-19 | 2002-07-31 | Central Glass Co Ltd | 透明板状体の欠点検出方法および検出装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016142592A (ja) * | 2015-01-30 | 2016-08-08 | 富士通株式会社 | 円筒製品検査装置および円筒製品検査方法 |
JP2019066371A (ja) * | 2017-10-03 | 2019-04-25 | 株式会社豊田中央研究所 | 観察装置、画像解析処理制御プログラム |
EP3540414A1 (en) | 2018-03-13 | 2019-09-18 | OMRON Corporation | Image inspection device, image inspection method and image inspection program |
US10887506B2 (en) | 2018-03-13 | 2021-01-05 | Omron Corporation | Image inspection device, image inspection method and computer readable recording medium |
WO2023181668A1 (ja) * | 2022-03-24 | 2023-09-28 | 富士フイルム株式会社 | 画像形成装置、画像形成方法、検査方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4150390B2 (ja) | 外観検査方法及び外観検査装置 | |
CN110675346A (zh) | 适用于Kinect的图像采集与深度图增强方法及装置 | |
JP6635712B2 (ja) | 検査方法、検査装置、画像処理装置、プログラム及び記録媒体 | |
JP2009097922A (ja) | 外観検査方法及び外観検査装置 | |
JP4633245B2 (ja) | 表面検査装置及び表面検査方法 | |
JP5824278B2 (ja) | 画像処理装置 | |
JP2010175281A (ja) | 外観面画像生成装置 | |
JP2010166247A (ja) | 画像処理装置、画像処理プログラムおよび画像処理方法 | |
JP2017227474A (ja) | 照明装置、及び、画像検査装置 | |
JP4279833B2 (ja) | 外観検査方法及び外観検査装置 | |
JP2011174896A (ja) | 撮像装置及び撮像方法 | |
JP2009010890A (ja) | 撮像装置および方法 | |
JP2019200775A (ja) | 表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法 | |
JP2008249413A (ja) | 欠陥検出方法および装置 | |
JP2020016471A (ja) | 画像検査装置 | |
JP3688520B2 (ja) | 表面検査装置及び表面検査方法 | |
JP2010175283A (ja) | 面画像生成装置 | |
JP5212724B2 (ja) | 高さ測定装置 | |
JP3871963B2 (ja) | 表面検査装置及び表面検査方法 | |
JP4743231B2 (ja) | 外観検査方法及び外観検査装置 | |
US11282187B2 (en) | Inspection system, inspection apparatus, and method using multiple angle illumination | |
TWI510776B (zh) | 玻璃氣泡瑕疵檢測處理方法 | |
JP7306620B2 (ja) | 表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法 | |
JP2018179563A (ja) | 表面検査装置および表面検査方法 | |
JP2011141202A (ja) | 部品検査装置及びプログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120125 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130109 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130305 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130507 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140107 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140729 |