JP7306620B2 - 表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法 - Google Patents
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Description
図2は、図1に示した欠陥検出手段40の構成を表すものである。欠陥検出手段40は、例えば、撮像手段20と被検査面Mとを相対的に移動させながら撮像手段20により撮像した撮像時刻の異なる複数の画像を記憶するメモリ等の画像記憶手段41と、この画像記憶手段41に記憶された撮像時刻の異なる複数の画像のそれぞれから欠陥候補を抽出する欠陥候補抽出手段42と、この欠陥候補抽出手段42により抽出された欠陥候補の移動状況から欠陥であるか否かを判定する判定手段43とを有している。
欠陥候補抽出手段42は、例えば、撮像手段20により得られた画像を前処理する前処理手段421と、この前処理手段421により得られた画像について反射鏡像領域を検出する反射鏡像領域検出手段422と、検出された反射鏡像領域内の欠陥候補を抽出する反射鏡像内欠陥候補抽出手段423と、検出された反射鏡像領域外の欠陥候補を抽出する反射鏡像外欠陥候補抽出手段424と、前処理手段421により得られた画像から勾配画像を生成する勾配画像生成手段425と、欠陥候補を決定する欠陥候補決定手段426と、欠陥候補決定手段426により決定された欠陥候補を記憶する欠陥候補記憶手段427とを有している。
判定手段43は、例えば、欠陥候補抽出手段42により抽出された欠陥候補において、撮像時刻の異なる少なくとも2枚以上の画像間での移動距離及び移動角度が、被検査面Mに欠陥が存在した時に移動すると想定される基準移動距離及び基準移動角度の範囲内にある場合に、欠陥であると判定する連続性判断手段431と、基準移動距離及び基準移動角度を記憶する基準値記憶手段432とを有している。欠陥候補の移動距離及び移動角度は、例えば、撮像時刻の順に連続する3枚以上の画像間について見ることが好ましいが、被検査面Mに応じて、画像数は任意に決定することができる。また、被検査面Mに応じて、2枚の画像間で見るようにしてもよい。欠陥候補の移動距離は、例えば、撮像時刻の異なる画像間における欠陥候補を結ぶ直線の長さであり、欠陥候補の移動角度は、例えば、撮像時刻の異なる画像間における欠陥候補を結ぶ直線の角度である。
欠陥の判定精度を高くするためである。分割線は、例えば、射影変換により引くことができる。
欠陥候補決定手段、427…欠陥候補記憶手段、43…判定手段、431…連続性判断手段、432…基準値記憶手段432、50…表示手段、M…被検査面
Claims (4)
- 照明手段から光を照射した被検査面を撮像手段により撮像すると共に、前記撮像手段に対する前記被検査面の位置を相対的に移動させて、撮像時刻の異なる複数の画像を取得する撮像手順と、
前記撮像手順により得られた撮像時刻の異なる複数の画像から、それぞれ、前記照明手段の反射鏡像領域を検出し、反射鏡像領域内について反射鏡像内欠陥候補を抽出すると共に、反射鏡像領域外について反射鏡像外欠陥候補を抽出することにより、欠陥候補を抽出する欠陥候補抽出手順と、
前記欠陥候補抽出手順において抽出された欠陥候補について、撮像時刻の異なる少なくとも2枚以上の画像間での移動距離及び移動角度が、前記被検査面に欠陥が存在した時に移動すると想定される予め得た移動軌跡に基づいて設定される基準移動距離及び基準移動角度の範囲内にある場合に、欠陥であると判定する判定手順と
を含むことを特徴とする表面欠陥検査方法。 - 被検査面に光を照射する照明手段と、
この照明手段により照射された前記被検査面を撮像して画像を得る撮像手段と、
この撮像手段に対する前記被検査面の位置を相対的に移動させる移動手段と、
この移動手段により前記撮像手段と前記被検査面とを相対的に移動させながら任意の時間ごとに前記撮像手段により撮像した複数の画像から欠陥を検出する欠陥検出手段とを備え、
前記欠陥検出手段は、
撮像時刻の異なる複数の画像のそれぞれから欠陥候補を抽出する欠陥候補抽出手段と、
前記欠陥候補抽出手段により抽出された欠陥候補が欠陥であるか否かを判定する判定手段とを有し、
前記欠陥候補抽出手段は、前記照明手段の反射鏡像領域を検出する反射鏡像領域検出手段と、検出された反射鏡像領域内の欠陥候補を抽出する反射鏡像内欠陥候補抽出手段と、検出された反射鏡像領域外の欠陥候補を抽出する反射鏡像外欠陥候補抽出手段とを有し、
前記判定手段は、前記欠陥候補抽出手段により抽出された欠陥候補において、撮像時刻の異なる少なくとも2枚以上の画像間での移動距離及び移動角度が、前記被検査面に欠陥が存在した時に移動すると想定される予め得た移動軌跡に基づいて設定される基準移動距離及び基準移動角度の範囲内にある場合に、欠陥であると判定する
ことを特徴とする表面欠陥検査装置。 - 前記判定手段は、予め、前記被検査面にマークを付して前記移動手段により移動させながら前記撮像手段により撮像時刻の異なる複数の基準画像を撮像することで得られたマーク移動軌跡に基づき、前記基準移動角度が設定されていることを特徴とする請求項2記載の表面欠陥検査装置。
- 前記判定手段は、前記マーク移動軌跡の近似直線を引き、前記マークの移動方向に対する幅方向において隣接する近似直線が所定値以上離れている場合には、それらの間を幅方向において分割する分割線を引き、前記近似直線及び前記分割線を基準線とした各基準線の角度に基づき前記基準移動角度が設定されており、前記欠陥候補の移動角度が、前記欠陥候補が隣接する2本の前記基準線の角度の間である場合に、前記基準移動角度の範囲内にあると判断することを特徴とする請求項3記載の表面欠陥検査装置。
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