JP2010027983A - Substrate processing apparatus - Google Patents

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Yasuyuki Tsuta
蔦  康幸
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate processing apparatus which solves the problem that the valid/invalid state of an event specified by a host is hardly comprehended visually and which is improved so as to easily comprehend link relation between collection event ID and collection report ID and between the collection report ID and VID. <P>SOLUTION: The substrate processing apparatus includes: a storage part 53 for storing various files, a control part for processing a substrate by executing programs and a display part for displaying an operation state during the execution of the programs. The storage part 53 includes a host control program for displaying the link relation of a predetermined event on the display part by referring to the files, out of these programs. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、半導体ウェハ等の基板を処理する基板処理装置と、該基板処理装置に接続されるホストコンピュータで構成される基板処理システムに関し、特に、ホストコンピュータで指定された収集レポートIDとVIDとのリンク関係、収集イベントIDと収集レポートIDのリンク関係を表示可能な機能を有する基板処理装置に関する。   The present invention relates to a substrate processing apparatus configured to process a substrate such as a semiconductor wafer and a host computer connected to the substrate processing apparatus, and more particularly, to a collection report ID and a VID specified by the host computer. The present invention relates to a substrate processing apparatus having a function capable of displaying the link relation between the collection event ID and the collection report ID.

現在の基板処理装置の一種である半導体製造装置では、ホストコンピュータ(以後、ホストと略す。)が収集レポートID(RPTID)とVID(変数ID)とのリンク関係をS2F33トランザクション、収集イベントID(CEID)と収集レポートとのリンク関係をS2F35トランザクション、収集イベントIDの有効/無効設定をS2F37トランザクションで通信を行っている。ホストからどのような内容のS2F33、S2F35、S2F37トランザクションが送信されたかを確認するためにはホストからの指示内容を装置内部で保存したデータファイルをオープンして参照することは可能である。ここで、VIDは、変数データにつけた固有の識別子のことである。収集レポートIDは、レポートに固有な識別子のことである。レポートとは前もって装置で定義しておいた変数の集まりのことである。ここでは、VIDをグループ定義したものである。収集イベントIDは、収集イベントの識別子である。収集イベントとは、装置にとって重要であると思われる事象のことである。因みに事象とは、ボートロード、ボートアンロードなどをいう。   In a semiconductor manufacturing apparatus which is a kind of current substrate processing apparatus, a host computer (hereinafter abbreviated as “host”) indicates a link relationship between a collection report ID (RPTID) and a VID (variable ID) as an S2F33 transaction, a collection event ID (CEID). ) And the collection report are communicated by the S2F35 transaction, and the collection event ID valid / invalid setting is communicated by the S2F37 transaction. In order to confirm what kind of contents the S2F33, S2F35, and S2F37 transactions have been transmitted from the host, it is possible to open and refer to the data file in which the instruction contents from the host are stored inside the apparatus. Here, VID is a unique identifier attached to variable data. The collection report ID is an identifier unique to the report. A report is a collection of variables previously defined on the device. Here, VID is group-defined. The collection event ID is an identifier of the collection event. A collection event is an event that appears to be important to the device. Incidentally, the event means boat loading, boat unloading, and the like.

しかし、データファイルは、VIDを記録した数字のみのファイルのため、そのVIDが持つ意味を調べる為に、VIDと意味をリンク付けしたVID定義ファイル(変数IDの定義をファイルにしたもの)をオープンして検索する必要がある。そのため、リンク関係を解析する際、収集イベントIDと収集レポートID、収集レポートIDとVIDを順に辿り、また、VID定義ファイルをオープンして調べる必要があり、解析工数がかかる問題がある。   However, since the data file is a number-only file that records the VID, in order to examine the meaning of the VID, open the VID definition file that links the VID and the meaning (the variable ID definition is a file). And need to search. Therefore, when analyzing the link relationship, it is necessary to trace the collection event ID and the collection report ID, the collection report ID and the VID in order, and open and examine the VID definition file.

本発明は従来技術の問題点である、ホスト指定されたイベントの有効/無効を視覚的に把握しにくいという問題点を解決し、収集イベントIDと収集レポートID、収集レポートIDとVIDのリンク関係を把握しやすいように改良した基板処理装置を提供するものである。   The present invention solves the problem that it is difficult to visually grasp the validity / invalidity of an event designated by the host, which is a problem of the prior art, and the link relationship between the collection event ID and the collection report ID and the collection report ID and the VID It is an object of the present invention to provide an improved substrate processing apparatus that can easily grasp the above.

本発明の第1の特徴とするところは、各種ファイルを記憶する記憶部と、前記プログラムを実行して基板を処理する制御部と、前記プログラムが実行中の稼動状態を表示する表示部とを備えた基板処理装置であって、前記記憶部は、前記プログラムのうち、前記ファイルを参照して所定のイベントのリンク関係を前記表示部に表示するホスト制御プログラムを有することにある。     A first feature of the present invention is that a storage unit that stores various files, a control unit that executes the program to process a substrate, and a display unit that displays an operating state during execution of the program are provided. The substrate processing apparatus is provided, wherein the storage unit has a host control program for displaying a link relation of a predetermined event on the display unit with reference to the file among the programs.

本発明によれば、ホストコンピュータから指定されたイベントのリンク関係をリアルタイムに表示でき、ホストコンピュータが基板処理装置内で定義しているどのイベントの情報を収集しているのか、またはどのVIDを収集しているのかを一覧表示できる。また、その結果を障害解析にも適用できる。   According to the present invention, it is possible to display in real time the link relationship of events designated by the host computer, and which event information the host computer defines in the substrate processing apparatus is collected or which VID is collected. Can be displayed in a list. The result can also be applied to failure analysis.

以下、図面を参照しつつ本発明を実施するための最良の形態を説明する。まず、本発明が実施される基板処理装置について説明する。尚、基板処理装置は、半導体装置(IC)の製造工程の1つである基板処理工程を実施する。又、以下の説明では、基板処理装置の一例として縦型炉を具備して基板に酸化処理、CVD成膜処理、拡散処理、アニール処理等を行う縦型の基板処理装置について説明する。   The best mode for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings. First, a substrate processing apparatus in which the present invention is implemented will be described. The substrate processing apparatus performs a substrate processing process which is one of the manufacturing processes of a semiconductor device (IC). In the following description, a vertical substrate processing apparatus that includes a vertical furnace as an example of a substrate processing apparatus and performs oxidation processing, CVD film formation processing, diffusion processing, annealing processing, etc. on the substrate will be described.

図1及び図2に示されているように、基板処理装置1は筐体2を備えている。該筐体2の正面壁3の正面前方部にはメンテナンス可能な様に設けられた開口部としての正面メンテナンス口4が開設され、該正面メンテナンス口4は正面メンテナンス扉5によって開閉される。   As shown in FIGS. 1 and 2, the substrate processing apparatus 1 includes a housing 2. A front maintenance port 4 serving as an opening provided for maintenance is opened at the front front portion of the front wall 3 of the housing 2, and the front maintenance port 4 is opened and closed by a front maintenance door 5.

前記筐体2の前記正面壁3にはポッド搬入搬出口6が前記筐体2の内外を連通する様に開設されており、前記ポッド搬入搬出口6はフロントシャッタ(搬入搬出口開閉機構)7によって開閉され、前記ポッド搬入搬出口6の正面前方側にはロードポート(基板搬送容器受渡し台)8が設置されており、該ロードポート8は載置されたポッド9を位置合せするように構成されている。   A pod loading / unloading port 6 is opened on the front wall 3 of the housing 2 so as to communicate with the inside and outside of the housing 2, and the pod loading / unloading port 6 is a front shutter (loading / unloading opening / closing mechanism) 7. A load port (substrate transfer container delivery table) 8 is installed on the front front side of the pod loading / unloading port 6, and the load port 8 is configured to align the placed pod 9. Has been.

該ポッド9は、密閉式の基板搬送容器であり、図示しない工程内搬送装置によって前記ロードポート8上に搬入され、又、該ロードポート8上から搬出されるようになっている。   The pod 9 is a hermetically sealed substrate transfer container, and is loaded into the load port 8 by an in-process transfer device (not shown) and unloaded from the load port 8.

前記筐体2内の前後方向の略中央部に於ける上部には、回転式ポッド棚(基板搬送容器格納棚)11が設置されており、該回転式ポッド棚11は複数個のポッド9を格納するように構成されている。   A rotary pod shelf (substrate transfer container storage shelf) 11 is installed at an upper portion of the housing 2 at a substantially central portion in the front-rear direction. The rotary pod shelf 11 includes a plurality of pods 9. Configured to store.

前記回転式ポッド棚11は垂直に立設されて間欠回転される支柱12と、該支柱12に上中下段の各位置に於いて放射状に支持された複数段の棚板(基板搬送容器載置棚)13とを備えており、該棚板13はポッド9を複数個それぞれ載置した状態で格納する様に構成されている。   The rotary pod shelf 11 is a vertically-supported support column 12 that is intermittently rotated, and a plurality of shelf plates (substrate transfer container placement) that are radially supported by the support column 12 at the upper, middle, and lower positions. Shelf) 13, and the shelf board 13 is configured to store a plurality of pods 9 mounted thereon.

前記回転式ポッド棚11の下方には、ポッドオープナ(基板搬送容器蓋体開閉機構)14が設けられ、該ポッドオープナ14は前記ポッド9を載置し、又該ポッド9の蓋を開閉可能な構成を有している。   A pod opener (substrate transfer container lid opening / closing mechanism) 14 is provided below the rotary pod shelf 11. The pod opener 14 can mount the pod 9 and can open and close the lid of the pod 9. It has a configuration.

前記ロードポート8と前記回転式ポッド棚11、前記ポッドオープナ14との間には、ポッド搬送装置(容器搬送装置)15が設置されており、該ポッド搬送装置15は、前記ポッド9を保持して昇降可能、水平方向に進退可能となっており、前記ロードポート8、前記回転式ポッド11、前記ポッドオープナ14との間で前記ポッド9を搬送するように構成されている。   A pod transfer device (container transfer device) 15 is installed between the load port 8 and the rotary pod shelf 11 and the pod opener 14, and the pod transfer device 15 holds the pod 9. The pod 9 can be moved between the load port 8, the rotary pod 11, and the pod opener 14.

前記筐体2内の前後方向の略中央部に於ける下部には、サブ筐体16が後端に亘って設けられている。該サブ筐体16の正面壁17にはウェーハ(基板)18を前記サブ筐体16内に対して搬入搬出するためのウェーハ搬入搬出口(基板搬入搬出口)19が一対、垂直方向に上下二段に並べられて開設されており、上下段のウェーハ搬入搬出口19,19に対して前記ポッドオープナ14がそれぞれ設けられている。   A sub-housing 16 is provided over the rear end of the lower portion of the housing 2 at a substantially central portion in the front-rear direction. A pair of wafer loading / unloading ports (substrate loading / unloading ports) 19 for loading / unloading wafers (substrates) 18 into / from the sub-casing 16 are vertically and vertically arranged on the front wall 17 of the sub-casing 16. The pod openers 14 are provided to the upper and lower wafer loading / unloading ports 19, 19, respectively.

該ポッドオープナ14は前記ポッド9を載置する載置台21と、前記ポッド9の蓋を開閉する開閉機構22とを備えている。前記ポッドオープナ14は前記載置台21に載置された前記ポッド9の蓋を前記開閉機構22によって開閉することにより、前記ポッド9のウェーハ出し入れ口を開閉するように構成されている。   The pod opener 14 includes a mounting table 21 on which the pod 9 is mounted and an opening / closing mechanism 22 that opens and closes the lid of the pod 9. The pod opener 14 is configured to open and close the wafer loading / unloading port of the pod 9 by opening and closing the lid of the pod 9 placed on the mounting table 21 by the opening and closing mechanism 22.

前記サブ筐体16は前記ポッド搬送装置15や前記回転式ポッド棚11が配設されている空間(ポッド搬送空間)から気密となっている移載室23を構成している。該移載室23の前側領域にはウェーハ移載機構(基板移載機構)24が設置されており、該ウェーハ移載機構24は、ウェーハ18を載置する所要枚数(図示では5枚)のウェーハ移載プレート25を具備し、該ウェーハ移載プレート25は水平方向に直動可能、水平方向に回転可能、又昇降可能となっている。前記ウェーハ移載機構24はボート(基板保持具)26に対してウェーハ18を装填及び払出しする様に構成されている。   The sub casing 16 constitutes a transfer chamber 23 that is airtight from a space (pod transport space) in which the pod transport device 15 and the rotary pod shelf 11 are disposed. A wafer transfer mechanism (substrate transfer mechanism) 24 is installed in the front region of the transfer chamber 23, and the wafer transfer mechanism 24 has a required number of wafers 18 (five in the drawing). A wafer transfer plate 25 is provided, and the wafer transfer plate 25 can be moved in the horizontal direction, can be rotated in the horizontal direction, and can be moved up and down. The wafer transfer mechanism 24 is configured to load and unload wafers 18 with respect to a boat (substrate holder) 26.

前記移載室23の後側領域には、前記ボート26を収容して待機させる待機部27が構成され、該待機部27の上方には縦型の処理炉28が設けられている。該処理炉28は前記ボート26を収納する処理室を有し、該処理室の下端部は、路口部となっており、該炉口部は炉口シャッタ(炉口開閉機構)29により開閉されるようになっている。   In the rear region of the transfer chamber 23, a standby unit 27 that accommodates and waits for the boat 26 is configured, and a vertical processing furnace 28 is provided above the standby unit 27. The processing furnace 28 has a processing chamber in which the boat 26 is accommodated. The lower end of the processing chamber is a road opening, and the furnace opening is opened and closed by a furnace opening shutter (furnace opening / closing mechanism) 29. It has become so.

前記筐体2の右側端部と前記サブ筐体16の前記待機部27の右側端部との間には前記ボート26を昇降させるためのボートエレベータ(基板保持具昇降機構)31が設置されている。該ボートエレベータ31の昇降台に連結されたアーム32には蓋体としてのシールキャップ33が水平に取り付けられており、該シールキャップ33は前記ボート26を垂直に支持し、前記処理炉28の炉口部を気密に閉塞可能となっている。   A boat elevator (substrate holder lifting mechanism) 31 for raising and lowering the boat 26 is installed between the right end of the housing 2 and the right end of the standby portion 27 of the sub-housing 16. Yes. A seal cap 33 serving as a lid is horizontally attached to the arm 32 connected to the elevator platform of the boat elevator 31, and the seal cap 33 supports the boat 26 vertically, and the furnace of the processing furnace 28. The mouth can be closed airtight.

前記ボート26は複数本の支柱を備えており、該支柱は複数枚(例えば、50枚〜125枚程度)のウェーハ18を、その中心を揃えて水平姿勢で多段に保持するように構成されている。尚、前記基板処理装置1内部にはダミーウェーハ(図示しない)が保管されており、必要に応じ、前記ボート26上部、下部には所要枚数のダミーウェーハが装填され、又処理の内容に応じて所要間隔でモニタウェーハが前記ボート26に装填されるようになっている。   The boat 26 includes a plurality of pillars, and the pillars are configured to hold a plurality of (for example, about 50 to 125) wafers 18 in a multi-stage in a horizontal posture with the centers thereof aligned. Yes. Incidentally, dummy wafers (not shown) are stored in the substrate processing apparatus 1, and a necessary number of dummy wafers are loaded on the upper and lower portions of the boat 26 as necessary, and depending on the contents of processing. Monitor wafers are loaded into the boat 26 at a required interval.

前記ボートエレベータ31側と対向した位置にはクリーンユニット35が配設され、該クリーンユニット35は、清浄化した雰囲気若しくは不活性ガスであるクリーンエア34を供給する様供給ファン及び防塵フィルタで構成されている。前記ウェーハ移載機構24と前記クリーンユニット35との間には、ウェーハ18の円周方向の位置を整合させる基板整合装置としてのノッチ合せ装置(図示せず)が設置されている。   A clean unit 35 is disposed at a position facing the boat elevator 31 side, and the clean unit 35 is configured by a supply fan and a dustproof filter so as to supply a clean atmosphere or clean air 34 which is an inert gas. ing. Between the wafer transfer mechanism 24 and the clean unit 35, a notch alignment device (not shown) is installed as a substrate alignment device for aligning the circumferential position of the wafer 18.

前記クリーンユニット35から吹出されたクリーンエア34は、ノッチ合せ装置(図示せず)及び前記ウェーハ移載機構24、前記ボート26に流通された後に、図示しないダクトにより吸込まれて、前記筐体2の外部に排気がなされるか、若しくは前記クリーンユニット35の吸込み側である一次側(供給側)に迄循環され、再び該クリーンユニット35によって、前記移載室23内に吹出される様に構成されている。   The clean air 34 blown out from the clean unit 35 is circulated through a notch aligning device (not shown), the wafer transfer mechanism 24, and the boat 26, and is then sucked in by a duct (not shown), and the casing 2 The exhaust air is exhausted to the outside or circulated to the primary side (supply side) which is the suction side of the clean unit 35, and is again blown out into the transfer chamber 23 by the clean unit 35. Has been.

次に、本発明の処理装置の作動について説明する。   Next, the operation of the processing apparatus of the present invention will be described.

前記ポッド9が前記ロードポート8に供給されると、前記ポッド搬入搬出口6が前記フロントシャッタ7によって開放される。前記ロードポート8の上の前記ポッド9は前記ポッド搬送装置15によって前記筐体2の内部へ前記ポッド搬入搬出口6を通して搬入され、前記回転式ポッド棚11の指定された前記棚板13へ載置される。前記ポッド9は前記回転式ポッド棚11で一時的に保管された後、前記ポッド搬送装置15により前記棚板13からいずれか一方のポッドオープナ14に搬送されて前記載置台21に移載されるか、若しくは前記ロードポート8から直接前記載置台21に移載される。     When the pod 9 is supplied to the load port 8, the pod loading / unloading port 6 is opened by the front shutter 7. The pod 9 on the load port 8 is carried into the housing 2 by the pod carrying device 15 through the pod loading / unloading port 6 and mounted on the designated shelf 13 of the rotary pod shelf 11. Placed. The pod 9 is temporarily stored in the rotary pod shelf 11, and is then transferred from the shelf plate 13 to one of the pod openers 14 by the pod transfer device 15 and transferred to the mounting table 21. Alternatively, it is transferred directly from the load port 8 to the mounting table 21.

この際、前記ウェーハ搬入搬出口19は前記開閉機構22によって閉じられており、前記移載室23には前記クリーンエア34が流通され、充満されている。例えば、前記移載室23にはクリーンエア34として窒素ガスが充満することにより、酸素濃度が20ppm以下と、前記筐体2の内部(大気雰囲気)の酸素濃度よりも遥かに低く設定されている。   At this time, the wafer loading / unloading port 19 is closed by the opening / closing mechanism 22, and the clean air 34 is circulated and filled in the transfer chamber 23. For example, the transfer chamber 23 is filled with nitrogen gas as clean air 34, so that the oxygen concentration is set to 20 ppm or less, which is much lower than the oxygen concentration inside the housing 2 (atmosphere). .

前記載置台21に載置された前記ポッド9はその開口側端面が前記サブ筐体16の前記正面壁17に於ける前記ウェーハ搬入搬出口19の開口縁辺部に押付けられると共に、蓋が前記開閉機構22によって取外され、ウェーハ出し入れ口が開放される。   The opening side end surface of the pod 9 placed on the mounting table 21 is pressed against the opening edge of the wafer loading / unloading port 19 in the front wall 17 of the sub casing 16 and the lid is opened and closed. It is removed by the mechanism 22 and the wafer loading / unloading port is opened.

前記ポッド9が前記ポッドオープナ14によって開放されると、ウェーハ18は前記ポッド9から前記ウェーハ移載機構24によって取出され、ノッチ合せ装置(図示せず)に移送され、該ノッチ合せ装置にてウェーハ18を整合した後、前記ウェーハ移載機構24はウェーハ18を前記移載室23の後方にある前記待機部27へ搬入し、前記ボート26に装填(チャージング)する。   When the pod 9 is opened by the pod opener 14, the wafer 18 is taken out from the pod 9 by the wafer transfer mechanism 24 and transferred to a notch aligning device (not shown). After aligning 18, the wafer transfer mechanism 24 loads the wafer 18 into the standby section 27 located behind the transfer chamber 23 and charges (charges) the boat 26.

該ボート26にウェーハ18を受渡した前記ウェーハ移載機構24はポッド9に戻り、次のウェーハ18を前記ボート26に装填する。   The wafer transfer mechanism 24 that has transferred the wafer 18 to the boat 26 returns to the pod 9 and loads the next wafer 18 into the boat 26.

一方(上段又は下段)のポッドオープナ14に於ける前記ウェーハ移載機構24によるウェーハ18の前記ボート26への装填作業中に、他方(下段又は上段)のポッドオープナ14には前記回転式ポッド棚11から別のポッド9が前記ポッド搬送装置15によって搬送されて移載され、前記他方のポッドオープナ14によるポッド9の開放作業が同時進行される。   During the loading operation of the wafer 18 into the boat 26 by the wafer transfer mechanism 24 in one (upper or lower) pod opener 14, the other (lower or upper) pod opener 14 has the rotary pod shelf. 11 and another pod 9 is transferred and transferred by the pod transfer device 15, and the opening operation of the pod 9 by the other pod opener 14 is simultaneously performed.

予め指定された枚数のウェーハ18が前記ボート26に装填されると、前記炉口シャッタ29によって閉じられていた前記処理炉28の炉口部が、前記炉口シャッタ29によって開放される。続いて、前記ボート26は前記ボートエレベータ31によって上昇され、前記処理炉28内(処理室)へ装入(ローディング)される。尚、装填されるウェーハには、モニタウェーハも含まれる。   When a predetermined number of wafers 18 are loaded into the boat 26, the furnace port portion of the processing furnace 28 that has been closed by the furnace port shutter 29 is opened by the furnace port shutter 29. Subsequently, the boat 26 is lifted by the boat elevator 31 and loaded (loaded) into the processing furnace 28 (processing chamber). The loaded wafer includes a monitor wafer.

ローディング後は、前記シールキャップ33によって炉口部が気密に閉塞され、前記ボート26はウェーハ18を保持した状態で、処理室に気密に収納される。前記ウェーハ18が加熱され、又処理室に処理ガスが導入されつつ、所定圧力に維持されるように排気され、前記処理炉28にてウェーハ18に所要の処理が実行される。   After loading, the furnace port is hermetically closed by the seal cap 33, and the boat 26 is hermetically stored in the processing chamber while holding the wafers 18. While the wafer 18 is heated and a processing gas is introduced into the processing chamber, the wafer 18 is evacuated so as to be maintained at a predetermined pressure, and a required processing is performed on the wafer 18 in the processing furnace 28.

処理後は、ノッチ合せ装置(図示せず)でのウェーハ18の整合工程を除き、上記と逆の手順で、ウェーハ18及びポッド9は前記筐体2の外部へ払出される。   After the processing, the wafer 18 and the pod 9 are discharged to the outside of the casing 2 in the reverse procedure to the above except for the alignment process of the wafer 18 with a notch aligner (not shown).

処理済のウェーハについて品質を管理する為、バッチ処理毎にモニタウェーハについて処理結果を測定、良否判定が行われる。   In order to manage the quality of the processed wafer, the processing result is measured and the quality is determined for the monitor wafer every batch processing.

図3は、上記基板処理装置を具備する基板処理システムの概略構成を示している。   FIG. 3 shows a schematic configuration of a substrate processing system including the substrate processing apparatus.

図3中、41は管理装置であるHOSTコンピュータを示し、該HOSTコンピュータ41が通信網、例えばLAN42に接続され、該LAN42に中継分配器、例えばHUB43を介して複数台の基板処理装置1a、1b、1c、・・・、1nの制御部49a、49b、・・・、49nが接続されている。   In FIG. 3, reference numeral 41 denotes a HOST computer which is a management apparatus. The HOST computer 41 is connected to a communication network, for example, a LAN 42, and a plurality of substrate processing apparatuses 1a, 1b are connected to the LAN 42 via a relay distributor, for example, a HUB 43. , 1n control units 49a, 49b,..., 49n are connected.

前記HOSTコンピュータ41は管理プログラムによって、前記基板処理装置1a、1b、1c、・・・、1nの運用をオンラインで制御する。オンラインの運用では、前記ポッド9の搬入、搬出、プロセス条件指定、プロセス開始指定、プロセスデータ収集等一連の処理が、前記HOSTコンピュータ41によって実行、管理される。   The HOST computer 41 controls the operation of the substrate processing apparatuses 1a, 1b, 1c,. In online operation, a series of processes such as loading and unloading of the pod 9, process condition designation, process start designation, and process data collection are executed and managed by the HOST computer 41.

前記HOSTコンピュータ41は主通信制御部45、主演算制御部46、主記憶部47、操作部48を具備し、前記主記憶部47には前記基板処理装置1a、1b、1c、・・・、1nを自動的に運用する為の管理プログラム、前記制御部部49a、49b、・・・、49nとの間の通信を行う為の通信プログラムが格納され、又基板処理を実行するためのレシピが登録される。   The HOST computer 41 includes a main communication control unit 45, a main calculation control unit 46, a main storage unit 47, and an operation unit 48. The main storage unit 47 includes the substrate processing apparatuses 1a, 1b, 1c,. A management program for automatically operating 1n, a communication program for performing communication with the control units 49a, 49b,..., 49n are stored, and a recipe for executing substrate processing is stored. be registered.

該レシピには基板の移載パターンを決定するパラメータを含み、該パラメータは書換え可能であり、パラメータは前記HOSTコンピュータ41からの指令によって、又は前記基板処理装置1が具備する操作部(図示せず)から設定可能となっている。尚、前記パラメータは基板移載を実行するシーケンスプログラム中に含ませ、同様に書換え可能としてもよい。   The recipe includes a parameter for determining a substrate transfer pattern, and the parameter can be rewritten. The parameter is operated by an instruction from the HOST computer 41 or an operation unit (not shown) provided in the substrate processing apparatus 1. ) Can be set. The parameters may be included in a sequence program for executing substrate transfer, and may be rewritten in the same manner.

前記管理プログラムは、前記基板処理装置1a、1b、1c、・・・、1nに基板の複数の移載パターンの1つを指示するようになっており、又移載パターン設定パラメータによって選択されるようになっている。   The management program instructs the substrate processing apparatuses 1a, 1b, 1c,..., 1n to one of a plurality of transfer patterns on the substrate, and is selected by a transfer pattern setting parameter. It is like that.

移載パターン設定パラメータは基板処理の内容に応じて設定され、或いは前記操作部48より入力可能となっている。   The transfer pattern setting parameter is set according to the contents of the substrate processing, or can be input from the operation unit 48.

尚、登録されるレシピは通常1つであり、レシピ作成の作業、登録等に伴う作業は少なくて済む。尚、複数のレシピを登録し、レシピの選択を可能とすると共に1つのレシピ内に於いて、更に移載パターンが選択可能としてもよい。   It should be noted that there is usually only one recipe registered, and there is little work associated with recipe creation and registration. It should be noted that a plurality of recipes may be registered to allow selection of a recipe and to allow a transfer pattern to be further selected within one recipe.

前記制御部49a、49b、・・・、49nは、それぞれ、例えば前記基板処理装置1a(以下基板処理装置1)は、通信制御部51、演算制御部52、記憶部53、図示しない表示部を具備し、該記憶部53には前記HOSTコンピュータ41との通信を行う為の通信プログラム、レシピを実行するための基板処理プログラム、前記基板処理装置1内でポッド9の移載、基板の移載、ボート26の装入、着脱等の実行するためのシーケンスプログラム等の基板処理に必要なプログラムが格納され、又前記記憶部53には、基板の移載を実行する場合の複数の移載パターン、及び基板処理のためのレシピが登録される。更に、イベントID、レポートID、VID間のリンク関係を表示部に表示させるためのホスト制御プログラムが記憶される。該ホスト制御プログラムを実行する際に使用される各種ファイル(収集イベントIDと収集レポートIDとのIDの対応付けファイル、収集レポートIDとVIDとのIDの対応付けファイル、HOSTコンピュータ41からEnable指定されたイベントの名称格納ファイル等)が格納される。尚、ホスト制御プログラム及びこれらの各種ファイルは、HOSTコンピュータ41の主記憶部47に登録されても構わないのは言うまでもない。   The control units 49a, 49b,..., 49n include, for example, the substrate processing apparatus 1a (hereinafter referred to as substrate processing apparatus 1), a communication control unit 51, an arithmetic control unit 52, a storage unit 53, and a display unit (not shown). The storage unit 53 includes a communication program for communicating with the HOST computer 41, a substrate processing program for executing a recipe, transfer of the pod 9 in the substrate processing apparatus 1, and transfer of the substrate. A program necessary for substrate processing such as a sequence program for executing loading and unloading of the boat 26 is stored, and the storage unit 53 has a plurality of transfer patterns when transferring the substrate. , And recipes for substrate processing are registered. Further, a host control program for displaying the link relationship between the event ID, report ID, and VID on the display unit is stored. Various files used when executing the host control program (collection event ID / collection report ID ID correspondence file, collection report ID / VID ID correspondence file, HOST computer 41 is enabled) Event name storage file). Needless to say, the host control program and these various files may be registered in the main storage unit 47 of the HOST computer 41.

前記演算制御部52は、シーケンスプログラムにより前記回転式ポッド棚11、前記ポッド搬送装置15、前記開閉機構22、前記ウェーハ移載機構24、前記ボートエレベータ31、前記処理炉28を駆動制御すると共に、通信プログラムによって前記HOSTコンピュータ41の通信を制御し、又基板処理プログラムによりレシピを実行して基板の処理を制御する。   The arithmetic control unit 52 drives and controls the rotary pod shelf 11, the pod transfer device 15, the opening / closing mechanism 22, the wafer transfer mechanism 24, the boat elevator 31, and the processing furnace 28 according to a sequence program. The communication of the HOST computer 41 is controlled by the communication program, and the processing of the substrate is controlled by executing the recipe by the substrate processing program.

図3において、基板処理装置1とHOSTコンピュータ41は、HSMSを用いて通信を確立し、SECSメッセージでデータの送受信を行っている。   In FIG. 3, the substrate processing apparatus 1 and the HOST computer 41 establish communication using HSMS, and transmit and receive data using SECS messages.

HOSTコンピュータ41からSECSメッセージはホスト制御プログラムで管理され、収集イベントIDと収集レポートID、収集レポートIDとVIDの関係を構築するS2F33、S2F35、S2F37のメッセージはホスト制御プログラムのメモリの内部でリンク関係を構築後、データはテキストファイル(CSV形式)として基板処理装置1内部の不揮発性領域に保存している。   The SECS message from the HOST computer 41 is managed by the host control program, and the S2F33, S2F35, and S2F37 messages that establish the relationship between the collection event ID and the collection report ID and the collection report ID and the VID are linked within the host control program memory. Is stored in a non-volatile area inside the substrate processing apparatus 1 as a text file (CSV format).

本実施の形態においては、ホスト制御プログラムで収集したIDのリンク関係をGUIで表示する。ホスト制御プログラムのメモリ内部には、イベントIDやVIDに対応した名称テーブルを格納しており、HOSTコンピュータ41から送信されるイベントIDやVIDをキーとして名称テーブルを検索し、名称を取得することで表示が可能となる。   In the present embodiment, the link relationship of IDs collected by the host control program is displayed with a GUI. In the memory of the host control program, a name table corresponding to the event ID and VID is stored. By searching the name table using the event ID and VID transmitted from the HOST computer 41 as a key, the name is acquired. Display is possible.

図4に本発明の実施の形態を示す画面表示の一例を示す。図4では、ホスト制御プログラムで収集したIDのリンク関係を表示する例として、収集イベントIDと収集レポートID、収集レポートIDとVIDの関係を表形式で一覧表示している。ここで、CEIDtoRPTID.cfgは、収集イベントIDと収集レポートIDとのIDの対応付けファイルで、RPTIDtoVID.cfgは、収集レポートIDとVIDとのIDの対応付けファイルを表す。これらのファイルには、IDのみしか格納されていないため、名称を取得するためには別途ファイルを参照する必要がある。DVdefine.prmはDVの名称格納ファイル、SVdefine.prmはSVの名称格納ファイル、CEIDenable.cfgはHOSTコンピュータ41からEnable指定されたイベントの名称格納ファイルで、イベントのEnable/Disable表示となり、また、これらのファイルから名称を取得することでIDと名称が表示可能となり、オペレータ(作業者等)がファイルをオープンすることなく視覚的にリンク状態を確認することができる。   FIG. 4 shows an example of a screen display showing the embodiment of the present invention. In FIG. 4, as an example of displaying the link relationship of IDs collected by the host control program, the relationship between the collection event ID and the collection report ID, and the relationship between the collection report ID and the VID are displayed in a table format. Here, CEID to RPTID. cfg is an ID association file between a collection event ID and a collection report ID, and RPTIDtoVID. cfg represents an ID correspondence file between a collection report ID and a VID. Since only IDs are stored in these files, it is necessary to refer to the files separately in order to obtain the names. DVdefine. prm is a DV name storage file, SVdefine. prm is an SV name storage file, CEIDenable. cfg is an event name storage file that is enabled from the HOST computer 41. The event is displayed as Enable / Disable of the event. By obtaining the name from these files, the ID and name can be displayed. ) Can visually check the link status without opening the file.

本発明の実施の形態に係る基板処理装置を示す概略斜視図である。1 is a schematic perspective view showing a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態に係る基板処理装置を示す概略側面図である1 is a schematic side view showing a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態を示すブロック図である。It is a block diagram which shows embodiment of this invention. 本発明の実施の形態を示す画面表示の一例を示すAn example of the screen display which shows embodiment of this invention is shown

符号の説明Explanation of symbols

1 基板処理装置
9 ポッド
18 ウェーハ
26 ボート
41 HOSTコンピュータ
49 制御部
51 通信制御部
53 記憶部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate processing apparatus 9 Pod 18 Wafer 26 Boat 41 HOST computer 49 Control part 51 Communication control part 53 Memory | storage part

Claims (1)

各種ファイルを記憶する記憶部と、前記プログラムを実行して基板を処理する制御部と、前記プログラムが実行中の稼動状態を表示する表示部とを備えた基板処理装置であって、
前記記憶部は、前記プログラムのうち、前記各種ファイルを参照して所定のイベントのリンク関係を前記表示部に表示するホスト制御プログラムを有することを特徴とする基板処理装置。
A substrate processing apparatus comprising: a storage unit that stores various files; a control unit that executes the program to process a substrate; and a display unit that displays an operating state during execution of the program,
The substrate processing apparatus, wherein the storage unit includes a host control program that displays a link relation of a predetermined event on the display unit with reference to the various files in the program.
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