JP2010008458A - 光学式測定装置および投影板に形成されたパターン - Google Patents
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Abstract
【課題】フォーカスの精度を良好に維持できる光学式測定装置を提供すること。
【解決手段】投影板にはサイズの異なる複数のパターンP1〜P3が形成され、小さなサイズのパターンP1〜P3ほど投影板を透過する光束の中心軸L近くに配置されている。そのため、低倍率の時には、光束の中心軸Lから離れた位置にある大きなサイズのパターンP3が用いられ、高倍率の時には、光束の中心軸Lに近接配置される小さなサイズのパターンP1が用いられることとなるので、ズーミングに伴うパターンP1〜P3のサイズの変化を抑制でき、フォーカスの精度を良好に維持できる。
【選択図】図2
【解決手段】投影板にはサイズの異なる複数のパターンP1〜P3が形成され、小さなサイズのパターンP1〜P3ほど投影板を透過する光束の中心軸L近くに配置されている。そのため、低倍率の時には、光束の中心軸Lから離れた位置にある大きなサイズのパターンP3が用いられ、高倍率の時には、光束の中心軸Lに近接配置される小さなサイズのパターンP1が用いられることとなるので、ズーミングに伴うパターンP1〜P3のサイズの変化を抑制でき、フォーカスの精度を良好に維持できる。
【選択図】図2
Description
本発明は、光学式測定装置および投影板に形成されたパターンに関する。
図1は、従来の画像測定装置1の構成を示す図、図6は、被測定物に投影された従来のパターンPを示す図である。なお、図6は、中間倍率の結像レンズ4が使用された際に観察されるパターンPを示している。
従来、画像測定装置において、投影板を利用してオートフォーカスを行うものが知られている(例えば、特許文献1)。
特許文献1に記載の画像測定装置1は、図1に示すように、照明光を射出する照明手段2と、照明手段2からの光を被測定物に集光させるとともに被測定物で反射した光を集光する対物レンズ3と、焦点距離(倍率)がそれぞれ異なりかつ切替可能に設置され、対物レンズ3により集光された光を結像する複数の結像レンズ4と、これら各レンズ3,4を介してテーブル5上に載置された被測定物の像を撮像して撮像画像を取得するCCD(Charge Coupled Device)カメラなどの撮像手段6とを備えている。
従来、画像測定装置において、投影板を利用してオートフォーカスを行うものが知られている(例えば、特許文献1)。
特許文献1に記載の画像測定装置1は、図1に示すように、照明光を射出する照明手段2と、照明手段2からの光を被測定物に集光させるとともに被測定物で反射した光を集光する対物レンズ3と、焦点距離(倍率)がそれぞれ異なりかつ切替可能に設置され、対物レンズ3により集光された光を結像する複数の結像レンズ4と、これら各レンズ3,4を介してテーブル5上に載置された被測定物の像を撮像して撮像画像を取得するCCD(Charge Coupled Device)カメラなどの撮像手段6とを備えている。
また、画像測定装置1は、照明手段2からの光を対物レンズ3側に反射するとともに対物レンズ3からの光を結像レンズ4側に透過するハーフミラー7と、ハーフミラー7および照明手段2間に設けられているとともに、照明手段2からの光を遮る等しい大きさの複数の三角形のパターンP(図6)が形成され、被測定物に前記パターンPを投影する投影板8と、投影板8とハーフミラー7との間に設けられた投影レンズ9と、対物レンズ3を当該対物レンズ3の光軸L方向へ移動させる駆動手段10と、画像測定装置1全体を制御するとともに駆動手段10を制御して、対物レンズ3を被測定物にフォーカスが合う位置に移動させる制御手段11とを備えている。
このような画像測定装置1において、制御手段11は、駆動手段10を制御し、前記三角形のパターンPが投影された被測定物の撮像画像を、対物レンズ3の光軸L方向における位置を異ならせて複数取得する。そして、制御手段11は、各撮像画像における明部81(図6)と暗部82(図6)とのコントラストの差などから、被測定物に対して対物レンズ3のフォーカスが合う位置を判定し、当該位置に対物レンズ3を移動させる。このような画像測定装置1は、投影板8により被測定物に投影されたパターンPによるコントラストに基づいてフォーカスを合わせるので、鏡面やガラス面などのコントラストの低いものにもフォーカスを合わせることができる。
図7は、低倍率の結像レンズ4に切り替えた際に観察される従来のパターンPを示す図、図8は、高倍率の結像レンズ4に切り替えた際に観察される従来のパターンPを示す図である。
しかしながら、特許文献1に記載の画像測定装置1では、倍率の異なる結像レンズ4に切り替えた場合、図7および図8に示すように、パターンPのサイズが大きく変化してしまうので、倍率によってはパターンPのエッジがぼやけるなどしてフォーカスの精度が低下してしまうという問題があった。
しかしながら、特許文献1に記載の画像測定装置1では、倍率の異なる結像レンズ4に切り替えた場合、図7および図8に示すように、パターンPのサイズが大きく変化してしまうので、倍率によってはパターンPのエッジがぼやけるなどしてフォーカスの精度が低下してしまうという問題があった。
本発明の目的は、フォーカスの精度を良好に維持できる光学式測定装置および投影板に形成されたパターンを提供することにある。
本発明の光学式測定装置は、被測定物に光を集光させる対物レンズと、前記対物レンズから出射された光に基づく前記被測定物の像を観察可能な観察光学系と、前記観察光学系で得られた前記被測定物の像のコントラストに基づいて前記対物レンズをその光軸方向へ移動させる駆動手段とを備えた光学式測定装置であって、パターンが形成された投影板を含み、前記投影板に形成された前記パターンを前記被測定物に投影する投影手段が設けられ、前記パターンは、サイズが異なる複数のパターンを備え、小さなサイズのパターンほど、前記投影板を透過する光束の中心軸近くに配置されていることを特徴とする。
このような構成によれば、投影板にはサイズの異なる複数のパターンが形成され、小さなサイズのパターンほど光軸(投影板を透過する光束の中心軸)近くに配置されている。そのため、低倍率の時には、光軸から離れた位置にある大きなサイズのパターンが用いられ、高倍率の時には、光軸に近接配置される小さなサイズのパターンが用いられることとなるので、ズーミングに伴うパターンサイズの変化を抑制でき、フォーカスの精度を良好に維持できる。
本発明では、前記観察光学系は、焦点距離がそれぞれ異なり、かつ切替可能に設置され、前記対物レンズにより集光された光を結像する複数の結像レンズを備え、前記投影手段は、照明光を射出する照明手段と、前記照明手段からの光が透過する前記投影板と、前記対物レンズおよび前記結像レンズ間に設けられ、前記対物レンズからの光を前記結像レンズ側に透過させるとともに、前記照明手段から射出されて前記投影板を透過した光を前記対物レンズ側に反射するハーフミラーとを備え、前記サイズの異なる各パターンは、それぞれ、前記各結像レンズに対応したサイズとなっていることが好ましい。
このような構成によれば、投影板に形成されたサイズの異なる各パターンが、焦点距離がそれぞれ異なる各結像レンズに対応したサイズ、すなわち、焦点距離が異なる各結像レンズを用いて被測定物を撮像した際に同程度の大きさに観察されるサイズとなっているので、ズーミングに伴うパターンサイズの変化を十分に抑制でき、フォーカスの精度を確実に良好に維持できる。
本発明では、前記パターンは、三角形状に形成されていることが好ましい。
このような構成によれば、パターンが三角形状に形成されているので、被測定物のエッジが方向性を有していても、被測定物のエッジを残すことができる。そのため、パターンのエッジが判別し易くなり、フォーカスの精度を確実に良好に維持できる。
このような構成によれば、パターンが三角形状に形成されているので、被測定物のエッジが方向性を有していても、被測定物のエッジを残すことができる。そのため、パターンのエッジが判別し易くなり、フォーカスの精度を確実に良好に維持できる。
本発明の投影板に形成されたパターンは、投影板に形成されたパターンを被測定物に投影し、前記パターンが投影された被測定物の像のコントラストに基づいて対物レンズをその光軸方向へ移動させる光学式測定装置における投影板に形成されたパターンであって、当該パターンは、サイズの異なる複数のパターンを備え、小さなサイズのパターンほど、所定の一点の近くに配置されていることを特徴とする。
このような構成によれば、本発明のパターンは、サイズの異なる複数のパターンを備え、小さなサイズのパターンほど所定の一点の近くに配置されているので、前記一点の位置が光軸(投影板を透過する光束の中心軸)と一致するように、当該パターンが形成された投影板を光学式測定装置に設置することで、低倍率の時には、光軸から離れた位置にある大きなサイズのパターンが用いられ、高倍率の時には、光軸に近接配置される小さなサイズのパターンが用いられることとなる。従って、本発明のパターンが形成された投影板を光学式測定装置に用いることで、ズーミングに伴うパターンサイズの変化を抑制でき、フォーカスの精度を良好に維持できる。
以下、本発明の一実施形態を図面に基づいて説明する。
なお、以下では、従来の画像測定装置1について説明する際に用いた図1を用いて、本実施形態の光学式測定装置としての画像測定装置1について説明する。画像測定装置1の投影板8以外の構成については、従来の画像測定装置1と同様であるので、以下では、投影板8以外の構成については簡略に説明する。
なお、以下では、従来の画像測定装置1について説明する際に用いた図1を用いて、本実施形態の光学式測定装置としての画像測定装置1について説明する。画像測定装置1の投影板8以外の構成については、従来の画像測定装置1と同様であるので、以下では、投影板8以外の構成については簡略に説明する。
画像測定装置1は、図1に示すように、従来の画像測定装置1と同様、照明手段2、対物レンズ3、切替可能に設置された焦点距離が異なる3つの結像レンズ4(例えば1X、2X、6X)、これら各レンズ3,4を介してテーブル5上の被測定物を撮像するCCDカメラなどの撮像手段6、ハーフミラー7、詳しくは後述するパターンP1〜P3(図2参照)を被測定物に投影する投影板8、投影レンズ9、対物レンズ3を対物レンズ3の光軸L方向へ移動させる駆動手段10、および駆動手段10を制御して対物レンズ3を被測定物にフォーカスが合う位置に移動させる制御手段11を備えている。
本実施形態では、結像レンズ4および撮像手段6を含んで、対物レンズ3から出射された光に基づく被測定物の像を観察可能な本発明の観察光学系12が構成され、照明手段2、ハーフミラー7、投影板8、および投影レンズ9を含んで、投影板8に形成された前記パターンP1〜P3を被測定物に投影する本発明の投影手段13が構成されている。
図2は、投影板8に形成されているパターンP1〜P3を示す図である。なお、低倍率の結像レンズ4(1X)が使用された際には、当該図2に示されたパターンP1〜P3が観察されることとなる。
このような画像測定装置1において、投影板8には、電子ビーム描画、転写、エッチング、およびダイシングソーによる切断などの一般加工技術により、図2に示すように、照明手段2からの光を遮蔽する複数の三角形のパターンP1〜P3が形成されている。なお、投影板8は、各パターンP1〜P3を表示する液晶板(液晶パネル)であってもよい。
このような画像測定装置1において、投影板8には、電子ビーム描画、転写、エッチング、およびダイシングソーによる切断などの一般加工技術により、図2に示すように、照明手段2からの光を遮蔽する複数の三角形のパターンP1〜P3が形成されている。なお、投影板8は、各パターンP1〜P3を表示する液晶板(液晶パネル)であってもよい。
これらのパターンP1〜P3は、3種類の異なるサイズに形成されており、小さなサイズから、パターンP1、P2、P3の順になっている。パターンP1は高倍率の結像レンズ4(6X)に対応し、パターンP2は中間倍率の結像レンズ4(2X)に対応し、パターンP3は低倍率の結像レンズ4(1X)に対応している。これらの各パターンP1〜P3は、結像レンズ4が倍率の異なるものに切り換えられた際に、同程度の大きさで観察されるサイズに形成されている。
また、各パターンP1〜P3は、照明手段2から射出されて投影板8を透過する光束の中心軸L(光軸L)を中心としてパターンP1、P2、P3の順に、かつ、各結像レンズ4を用いて撮像された撮像画像におけるコントラストが、当該結像レンズ4に対応するパターンP1〜P3によって主に生じるように配置されている。
このような本実施形態では、制御手段11は、駆動手段10を制御し、前記パターンP1〜P3が投影された被測定物の撮像画像を、対物レンズ3の光軸L方向における位置を異ならせて複数取得する。そして、制御手段11は、各撮像画像における明部81と暗部82とのコントラストの差などから被測定物に対して対物レンズ3のフォーカスが合った位置を判定し、当該位置に対物レンズ3を移動させる。ここで、低倍率の結像レンズ4を用いて被測定物が撮像される場合、被測定物の測定面の広い領域が撮像されることとなり、図2に示すように、被測定物に投影されたパターンP1〜P3全てが撮像されることとなるので、明部81と暗部82とのコントラストは、他のパターンP2,P1に比べて大きなパターンP3によって主に生じることとなる。
図3は、中間倍率の結像レンズ4を使用した際に観察されるパターンP1〜P3を示す図である。
また、中間倍率の結像レンズ4によって被測定物が撮像される場合、図3に示すように、被測定物に投影されたパターンP1〜P3のうち、光軸Lを中心とした中程度の大きさの領域(図2参照)内に入るパターンP1,P2が主に撮像されることとなるので、明部81と暗部82とのコントラストは、パターンP1より大きなサイズのパターンP2によって主に生じることとなる。
また、中間倍率の結像レンズ4によって被測定物が撮像される場合、図3に示すように、被測定物に投影されたパターンP1〜P3のうち、光軸Lを中心とした中程度の大きさの領域(図2参照)内に入るパターンP1,P2が主に撮像されることとなるので、明部81と暗部82とのコントラストは、パターンP1より大きなサイズのパターンP2によって主に生じることとなる。
図4は、高倍率の結像レンズ4を使用した際に観察されるパターンP1、P2を示す図である。
さらに、高倍率の結像レンズ4によって被測定物が撮像される場合、図4に示すように、光軸Lを中心とした狭い領域(図2参照)内に入るパターンP1が主に撮像されることとなるので、明部81と暗部82とのコントラストは、主にパターンP1によって生じることとなる。
さらに、高倍率の結像レンズ4によって被測定物が撮像される場合、図4に示すように、光軸Lを中心とした狭い領域(図2参照)内に入るパターンP1が主に撮像されることとなるので、明部81と暗部82とのコントラストは、主にパターンP1によって生じることとなる。
このように、本実施形態では、小さなサイズのパターンP1〜P3ほど、投影板8において光軸Lの近くに形成されているので、低倍率の時には、光軸Lから離れた位置にある低倍率用の大きなサイズのパターンP3が用いられ、中間倍率の時には、光軸L周りに配置される中間程度のサイズのパターンP2が用いられ、高倍率の時には、光軸Lに近接配置される小さなサイズのパターンP1が用いられることとなる。従って、倍率の異なる結像レンズ4に切り換えた際にパターンサイズが変化してしまうことを抑制でき、フォーカスの精度を良好に維持できる。
加えて、各パターンP1〜P3のサイズは、結像レンズ4に対応したサイズ、すなわち、各結像レンズ4を用いて被測定物を撮像した際に同程度の大きさに観察されるサイズとなっているので、倍率の異なる結像レンズ4に切り換えた際にパターンP1〜P3のサイズが変化することを十分に抑制でき、フォーカスの精度を確実に良好に維持できる。
図5は、撮像画像における被測定物のエッジを示す図である。
また、各パターンP1〜P3が三角形状に形成されているので、図5に示すように、被測定物のエッジが方向性を有していても、被測定物のエッジを残すことができる。そのため、パターンのエッジが判別し易くなり、フォーカスの精度をより確実に良好に維持できる。
また、各パターンP1〜P3が三角形状に形成されているので、図5に示すように、被測定物のエッジが方向性を有していても、被測定物のエッジを残すことができる。そのため、パターンのエッジが判別し易くなり、フォーカスの精度をより確実に良好に維持できる。
〔実施形態の変形〕
なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
前記実施形態では、観察光学系12は、結像レンズ4を備えていたが、観察光学系12は、焦点距離を変化させることができ、かつピント位置を移動させないズームレンズを備えていてもよい。
なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
前記実施形態では、観察光学系12は、結像レンズ4を備えていたが、観察光学系12は、焦点距離を変化させることができ、かつピント位置を移動させないズームレンズを備えていてもよい。
前記実施形態では、投影手段に形成されたパターンは三角形に形成されていたが、投影手段に形成されるパターンは、三角形に限らず、各撮像画像のパターンによるコントラストの差から、対物レンズ3のフォーカスが合った位置を判定できるものであれば、どのような形状に形成されていてもよい。
前記実施形態では、本発明を画像測定装置に適用する例を示したが、本発明は、顕微鏡などの他の光学式測定装置に適用されてもよい。
前記実施形態では、本発明を画像測定装置に適用する例を示したが、本発明は、顕微鏡などの他の光学式測定装置に適用されてもよい。
本発明は、画像測定装置や顕微鏡などの光学式測定装置に好適に利用できる。また、本発明は、画像測定装置や顕微鏡などの光学式測定装置の投影板に形成されたパターンに好適に利用できる。
1…画像測定装置(光学式測定装置)、2…照明手段、3…対物レンズ、4…結像レンズ、7…ハーフミラー、8…投影板、10…駆動手段、12…観察光学系、13…投影手段、P1〜P3…パターン。
Claims (4)
- 被測定物に光を集光させる対物レンズと、
前記対物レンズから出射された光に基づく前記被測定物の像を観察可能な観察光学系と、
前記観察光学系で得られた前記被測定物の像のコントラストに基づいて前記対物レンズをその光軸方向へ移動させる駆動手段とを備えた光学式測定装置であって、
パターンが形成された投影板を含み、前記投影板に形成された前記パターンを前記被測定物に投影する投影手段が設けられ、
前記パターンは、サイズが異なる複数のパターンを備え、小さなサイズのパターンほど、前記投影板を透過する光束の中心軸近くに配置されている
ことを特徴とする光学式測定装置。 - 請求項1に記載の光学式測定装置において、
前記観察光学系は、焦点距離がそれぞれ異なり、かつ切替可能に設置され、前記対物レンズにより集光された光を結像する複数の結像レンズを備え、
前記投影手段は、
照明光を射出する照明手段と、
前記照明手段からの光が透過する前記投影板と、
前記対物レンズおよび前記結像レンズ間に設けられ、前記対物レンズからの光を前記結像レンズ側に透過させるとともに、前記照明手段から射出されて前記投影板を透過した光を前記対物レンズ側に反射するハーフミラーとを備え、
前記サイズの異なる各パターンは、それぞれ、前記各結像レンズに対応したサイズとなっている
ことを特徴とする光学式測定装置。 - 請求項1または請求項2に記載の光学式測定装置において、
前記パターンは、三角形状に形成されている
ことを特徴とする光学式測定装置。 - 投影板に形成されたパターンを被測定物に投影し、前記パターンが投影された被測定物の像のコントラストに基づいて対物レンズをその光軸方向へ移動させる光学式測定装置における投影板に形成されたパターンであって、
当該パターンは、サイズの異なる複数のパターンを備え、小さなサイズのパターンほど、所定の一点の近くに配置されている
ことを特徴とする投影板に形成されたパターン。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008164189A JP2010008458A (ja) | 2008-06-24 | 2008-06-24 | 光学式測定装置および投影板に形成されたパターン |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104034259A (zh) * | 2014-05-21 | 2014-09-10 | 同济大学 | 一种影像测量仪校正方法 |
JP2015225238A (ja) * | 2014-05-28 | 2015-12-14 | 株式会社ミツトヨ | フォーカス検出ユニット、及び光学装置 |
CN105467554A (zh) * | 2014-09-29 | 2016-04-06 | 株式会社三丰 | 自动调焦设备和自动调焦方法 |
-
2008
- 2008-06-24 JP JP2008164189A patent/JP2010008458A/ja active Pending
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