JP2009276491A - ガルバノスキャナシステムの調整方法 - Google Patents

ガルバノスキャナシステムの調整方法 Download PDF

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Abstract

【課題】ガルバノスキャナシステムのオフセット調整、スケール調整を簡単かつ精度良く行うこと。
【解決手段】ガルバノスキャナシステム1では、中心に配置した二次元光位置センサ32と、これを中心に同一円上に等角度で配置した4個の一次元光位置センサ33(1)〜33(4)とを備えた光位置検出ユニット30を、ワーク面7の走査中心に一致するように取り付ける。ガルバノスキャナ3、4に原点位置指令を与えて、低出力でレーザ光を照射して、二次元光位置センサ32の検出出力に基づきオフセット調整値を算出する。次に、ガルバノスキャナ3、4を左右、上下に振り、各一次元光位置センサ33の検出出力に基づき、ワーク面7に対する直角度判定、ワーク面7からの距離の算出を行い、これに基づきスケール調整値を算出する。可視レーザ光を目視しながらワーク面上の目盛に合わせて調整する場合に比べて、簡単、かつ精度良く調整を行うことができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、ガルバノスキャナシステムのオフセットおよびスケールの調整方法に関する。
ガルバノスキャナシステムは、各種のレーザ加工装置においてレーザ光を一定の駆動パターンに従って走査するために用いられている。例えば、レーザマーキング装置として用いられる場合には、X軸ガルバノスキャナおよびY軸ガルバノスキャナを備えたガルバノスキャナシステムが搭載され、レーザ光源から射出されたレーザ光が、これらのスキャナによって一定の駆動パターンに従ってワーク表面に沿って二次元的に走査されて、ワーク表面に所定のマーキングが施される。また、ガルバノスキャナシステムは壁面などにレーザ光を投影するレーザ描画装置としても用いられる。
ガルバノスキャナシステムにおいては、その最終の組み付け工程において、そのワーク面(走査面)に照射するレーザ光のスケール(入力指令に対するワーク面上でのレーザ光の移動量)、および、オフセット(ガルバノスキャナを原点位置に位置決めしたときにワーク面上に形成されるレーザ光の光スポットの、ワーク面上の走査中心位置からの偏位量)の調整が行われる。調整作業は、一般に、可視レーザ光をワーク面に照射し、ワーク面上の光スポットを目視しながら当該ワーク面上の目盛に合わせることにより行われる。また、壁面などにレーザ光を投影するレーザ描画装置に用いられるガルバノスキャナシステムの場合には、壁面までの距離や、壁面に対する直角度に応じて、スケールが影響を受ける。したがって、距離および直角度も調整する必要がある。
特許文献1には、可視レーザ光であるガイド用レーザ光により印字すべきパターンに応じたガイド像をガルバノミラーを介してワーク上に投射する機能を備えたレーザマーキング装置が開示されている。このレーザマーキング装置では、ガルバノミラーを印字動作時と同じ座標データに基づいて回動させることによりワーク上でガイド用レーザ光の照射点を走査して、印字パターンのガイド像をワーク表面に投射している。これにより、ワーク上におけるガイド像の投射位置と所望の位置との誤差を確認して、印字開始前に印字位置調整を行うことができるようになっている。
特開2003−220485号公報
従来においては、ガルバノスキャナシステムのオフセット調整、スケール調整を簡単に行う方法が提案されていない。また、スケール調整に影響を及ぼすワーク面までの距離測定、および、ワーク面に対する直角度の合否判定についても簡単に行うことのできる方法が提案されていない。
本発明の課題は、このような点に鑑みて、オフセット調整を簡単に行うことのできるガルバノスキャナシステムの調整方法を提案することにある。
また、本発明の課題は、ワーク面までの距離測定およびワーク面に対する直角度判定に基づき、スケール調整を簡単かつ精度良く行うことのできるガルバノスキャナシステムの調整方法を提案することにある。
上記の課題を解決するために、本発明のガルバノスキャナシステムの調整方法は、
ガルバノスキャナによる走査面上における当該ガルバノスキャナの原点位置に対応する走査中心位置に、二次元位置センサを配置し、
前記ガルバノスキャナに対して、当該ガルバノスキャナを原点位置に位置決めするための原点位置指令を入力して、前記ガルバノスキャナに取り付けたスキャナ位置センサからのセンサ出力に基づき、前記ガルバノスキャナを前記原点位置に位置決めし、
前記原点位置に位置決めされた前記ガルバノスキャナによるレーザ光の光スポットを前記二次元位置センサによって検出し、
前記二次元位置センサの出力と、前記光スポットの中心が前記二次元位置センサの検出面の中心に位置する場合に得られる当該二次元位置センサの原点位置出力との差を監視し、
この差が予め定めた規格値以下になるように前記ガルバノスキャナを駆動し、
前記差が規格値以下となったときの前記ガルバノスキャナに入力された位置指令の前記原点位置指令に対する差をオフセット調整値として採用することを特徴としている。
また、本発明のガルバノスキャナシステムの調整方法では、
前記走査面上における前記走査中心位置から所定の距離だけ離れた異なる位置に、前記光スポットの中心位置を検出可能な少なくとも2個の一次元位置センサを配置し、
前記ガルバノスキャナを駆動して各一次元位置センサのそれぞれに光スポットを照射して、これら一次元位置センサの出力値が予め定めた範囲内の値となった時点における前記ガルバノスキャナの前記原点位置からの各振れ角を検出し、
これらの振れ角を予め定めた許容角度範囲と比較して、前記原点位置の前記ガルバノスキャナから前記走査面に照射されるレーザ光の当該走査面に対する直角度の合否を判定し、
前記振れ角A、Bが前記許容角度範囲から外れている場合には、前記走査面上における前記二次元位置センサおよび前記一次元位置センサの取り付け位置を調整し、
しかる後に、再度、前記オフセット調整値の算出、および、前記直角度の合否判定を行うことを特徴としている。
さらに、本発明のガルバノスキャナシステムの調整方法では、
前記走査中心位置から少なくとも一方の前記一次元位置センサの中心までの距離Vと、当該一次元位置センサにおける前記ガルバノスキャナの原点位置からの前記振れ角とに基づき、前記ガルバノスキャナから前記走査中心位置までの距離Zを算出し、
前記距離Zと、振れ角A、Bと、これらの振れ角A、Bが得られたときに前記ガルバノスキャナに入力された位置指令とに基づき、スケール調整値を算出することを特徴としている。
ここで、前記スケール調整値を算出した後に、前記オフセット調整値を用いたオフセット調整と、前記直角度判定と、前記距離Zの算出と、前記スケール調整値を用いたスケール調整とを順次に実行して、調整の合否判定(確認)を行うことが望ましい。
また、前記二次元位置センサを中心として、複数個の前記一次元位置センサを同一円上に等角度間隔に配置し、各一次元位置センサによって前記光スポットの前記同一円の半径方向の位置を検出できるようにすることが望ましい。
本発明では、走査面上(ワークの表面、壁面など)の走査中心位置に二次元位置センサを配置し、走査面上に形成される光スポットの中心位置を検出し、二次元位置センサの出力に基づきオフセット調整値を簡単かつ精度良く算出することができる。
また、本発明では、走査面上における二次元位置センサとは異なる複数の位置に一次元位置センサをそれぞれ配置し、これらの出力に基づいてガルバノスキャナの振れ角を観測し、レーザ光の直角度判定を行うようにしている。また、振れ角を用いてガルバノスキャナから走査面までの距離を測定している。したがって、直角度判定および距離測定を簡単かつ精度良く行うことができる。
さらに、本発明では、直角度判定をした後に、測定した距離、振れ角などに基づき、スケール調整値を算出している。したがって、スケール調整値を精度良く、しかも簡単に求めることができる。
以下に、図面を参照して、本発明を適用したガルバノスキャナシステムの調整方法を説明する。
(ガルバノスキャナシステムの構成)
図1は本発明の方法を採用可能なガルバノスキャナシステムの一例を示す機能ブロック図である。ガルバノスキャナシステム1は、レーザ発信器2と、ここから射出されるレーザ光を二軸方向に偏向するためのX軸ガルバノスキャナ3およびY軸ガルバノスキャナ4と、これらのスキャナ3、4を駆動するためのスキャナドライバ5と、スキャナドライバ5を制御するためのアナログコントローラ、パーソナルコンピュータなどから構成される指令発生機6とを有している。指令発生機6には操作入力部61およびモニタ用の表示器62が接続されている。
X軸およびY軸ガルバノスキャナ3、4は、例えば、有限回転型モータ11、12と、これらのモータ回転軸に取り付けたX軸およびY軸走査用ミラー13、14とを備えている。また、X軸およびY軸ガルバノスキャナ3、4には、モータ回転軸の回転角度位置を検出するためのスキャナ位置センサ15、16が取り付けられている。
指令発生機6では、そのパーソナルコンピュータに専用の指令発生用プログラムがインストールされており、X軸およびY軸ガルバノスキャナ3、4のデジタル位置指令を生成する。デジタル位置指令は、アナログコントローラに供給されてアナログ位置指令である指令電圧にD/A変換された後に、外部指令信号としてスキャナドライバ5に供給される。
スキャナドライバ5は、指令信号発生部21、内部制御回路22、演算・判定部23およびオフセット調整用のパラメータa、スケール調整用のパラメータbなどの各種のパラメータが記憶保持されている内部メモリ24を備えている。指令信号発生部21は、指令発生機6からの外部指令信号を受け、これに基づき指令信号を生成して内部制御回路22およびレーザ発信器2に供給する。内部制御回路22は、指令信号に基づきスキャナ駆動信号(モータ電流)を生成してX軸およびY軸ガルバノスキャナ3、4に供給して、X軸およびY軸ガルバノスキャナ3、4を指定された角度位置に駆動する。
各ガルバノスキャナ3、4の実際の角度位置はスキャナ位置センサ15、16によって検出され、検出出力(センサ位置信号)がスキャナドライバ5の演算・判定部23を介して指令信号発生部21にフィードバックされる。なお、指令発生機6の操作入力部61からスキャナドライバ5を介して手動操作により各ガルバノスキャナ3、4を駆動できるようになっている。
ガルバノスキャナシステム1は例えばレーザマーキング装置として用いられる。レーザ発信器2から射出されるマーキング用のレーザ光Lは、X軸ガルバノスキャナ3のX軸走査用ミラー13およびY軸ガルバノスキャナ4のY軸走査用ミラー14を介してワーク面7に照射される。このワーク面7上において二軸方向にレーザ光Lの光スポットが走査されて、当該ワーク面7に所定パターンのマーキングが施される。
ここで、ガルバノスキャナシステム1は、上記構成に加えて、ワーク面7に配置される光位置検出ユニット30を備えている。光位置検出ユニット30は、ガルバノスキャナシステム1のオフセット調整、スケール調整時に、ワーク面7に取り付けて用いられる。光位置検出ユニット30は、矩形の基板31と、この基板31に搭載された1個の二次元光位置センサ32と、複数個、例えば4個の一次元光位置センサ33(1)〜33(4)とを備えている。光位置検出ユニット30は、ワーク面7と同一平面上に配置され、ガルバノスキャナシステム1によって走査される低出力のレーザ光のワーク面7上での位置を検出する。
光位置検出ユニット30の二次元光位置センサ32の検出位置信号、および、4個の一次元光位置センサ33(1)〜33(4)の検出位置信号は、それぞれ信号変換回路25を介して演算・判定部23に入力される。演算・判定部23では、光位置検出ユニット30から入力されるレーザ光の光スポットの検出位置と、各ガルバノスキャナ3、4に搭載されているスキャナ位置センサ15、16のセンサ位置信号とを比較して、それらの誤差量が予め定められている規格値以下であるか否かの判定を行う。また、指令発生機6の側からの指令に基づき、算出されたオフセット調整用およびスケール調整用の各パラメータによって、内部メモリ24に保持されているパラメータの書き換え処理を行う。
図2は光位置検出ユニット30を示す概略平面図である。二次元光位置センサ32は、矩形の基板31の中心に検出面32aの中心32bが一致するように配置されている。二次元光位置センサ32は、検出面32aに照射する光スポットのX、Y軸方向の中心位置を検出する半導体センサである。4個の一次元光位置センサ33は、中心32bを中心とする同一円34上に90度の角度間隔で配置されている。各一次元光位置センサ33(1)〜33(4)の検出面33aは、同一円の半径方向に延びる状態に配置され、これらの検出面33aに照射する光スポットの半径方向の位置(一次元方向の位置)が検出される。各一次元光位置センサ33の検出面33aの中心位置が同一円上に位置するように、各一次元光位置センサ33(1)〜33(4)が配置されている。
(オフセット、スケール調整手順)
図3は、ガルバノスキャナシステム1のオフセット、スケールの調整手順を示す概略フローチャートである。これらの調整作業においては、まず、光位置検出ユニット30をワーク面(壁面)7に取り付ける。取り付けの際には、ワーク面7の中心(走査中心)に、光位置検出ユニット30の中心(二次元光位置センサ32の検出面32aの中心32b)が一致するように大まかな位置合わせを行う(ステップST1)。
次に、ガルバノスキャナシステム1を調整モードに設定し、手動操作入力によって、スキャナドライバ5を介して、各ガルバノスキャナ3、4に対して、それらを原点位置に位置決めする原点位置指令を入力する。調整モードでは、レーザ発信器2から低出力のレーザ光が射出され、各ガルバノスキャナ3、4を介して光位置検出ユニット30に照射される。二次元光位置センサ32の位置検出出力は信号変換回路25を介して演算・判定部23に取り込まれる。また、各ガルバノスキャナ3、4のスキャナ位置センサ15、16からのセンサ位置信号も同様に取り込まれる。
演算・判定部23においては、センサ位置信号によって各ガルバノスキャナ3、4が原点位置に位置決めされたことを示す原点位置出力となったときに、当該原点位置出力と、二次元光位置センサ32によって検出された光スポットの位置検出出力との差が算出される。算出された差は、モニタ信号として出力され、指令発生機6に接続されている表示器62のモニタ画面上に表示される。また、演算・判定部23は、算出された差が予め定められた規格値以下であるか否かを判断し、規格値以下の場合には原点合わせ状態が形成された旨の合格判定を行い、そうでない場合には不合格判定を行う。判定結果もモニタ画面上に表示される(ステップST2)。不合格判定の場合には、光位置検出ユニット30の取り付け位置を調整し、再度、原点合わせを行う。
原点合わせ状態が形成された後は、ガルバノスキャナ3、4に対して、二次元光位置センサ32の検出面32aの中心32bに、光スポットの中心が位置するように、指令入力を手動操作によって与える。演算・判定部23では、二次元光位置センサ32の位置検出出力が予め設定されている規格出力値に対して所定の誤差以内の値になったか否かを監視している。位置検出出力が所定の誤差以内の値になると、そのときに指令入力値に対応する値をオフセット調整値aとして内部メモリ24に書き込む。あるいは、内部メモリ24に記憶されているオフセット調整値aを変更する(ステップST3)。
この後は、ワーク面7に対する直角度の合否判定を行う(ステップST4)。例えば、X軸ガルバノスキャナ3を左右に振り、左右の一次元光位置センサ33(2)、33(4)の検出面33aにレーザ光を照射する。演算・判定部23では、各一次元光位置センサ33(2)、33(4)からの位置検出出力が、予め定めた出力範囲内の値となったときのガルバノスキャナ3の原点位置を中心とする左右の振れ角A、Bを算出する。また、算出した振れ角A、Bが予め設定されている許容角度範囲内の値であるか否かを判別し、許容角度範囲内の値である場合には所定精度で直角度が得られている旨の合格判定を行い、モニタ画面上に出力する。そうでない場合には、不合格判定をモニタ画面上に出力する。Y軸方向についても同様に直角度判定が行われる。
図4(a)、(b)に示すように、ワーク面7に対して、その中心を照射するレーザ光Lが直角でない場合には、振れ角が小さくなるので、振れ角に基づき、所定精度の直角度が得られているか否かを判定できる。X軸ガルバノスキャナ3を左右に振ることにより、水平面上における直角度判定を行うことができ、Y軸ガルバノスキャナ4を上下に振ることにより垂直面上における直角度判定を行うことができる。
X、Y軸双方の直角度判定が合格しない場合には、光位置検出ユニット30の取り付け位置の微調整などを行い、原点合わせ、オフセット調整を経て、再度、直角度判定を行う。
直角度判定が合格した後は、ワーク面7までの距離を算出する(図3のステップST5)。図4(a)に示すように、二次元光位置センサ32の検出面32aの中心32bから各一次元光位置センサ33の検出面33aの中心33bまでの距離Vは既知である。また、レーザ光が各一次元光位置センサ32の中心32bを照射している状態でのガルバノスキャナ3、4の振れ角A、Bも算出されている。したがって、ワーク面7までの距離Zは次式により求まる。
Z=V/tanA(または、V/tanB)
この後は、一次元光位置センサ33(1)〜33(4)の位置検出出力に基づき、距離Z、ガルバノスキャナ3、4への指令入力信号、振れ角A、Bから、スケール調整値bを算出する。算出されたスケール調整値bを内部メモリ24に書き込む。あるいは、内部メモリ24に記憶されているスケール調整値bを変更する(ステップST6)。ここで、算出されたスケール調整値bが予め定められている許容範囲から外れている場合にはモニタ画面などにアラームを表示する。この場合には、再度、原点合わせから調整をやり直す必要がある。
スケール調整値bが算出された後は、最終確認動作が行われる(ステップST7)。すなわち、再度、オフセット調整値の算出、直角度判定、距離算出、スケール調整値の算出が繰り返され、正常であるか否かが確認され、作業が終了する。
以上説明したように、ガルバノスキャナシステム1では、オフセット調整およびスケール調整を、光位置検出ユニット30を用いて簡単に行うことができる。また、スケール調整に先立って、ワーク面7に対する直角度判定、および、ワーク面7までの距離Zの算出が行われるので、スケール調整値を精度良く算出することができる。
なお、光位置検出ユニット30は、オフセット調整、スケール調整以外に次のように用いることもできる。すなわち、ガルバノスキャナシステム1への入力駆動信号として、真円を描く入力を与える。これによって真円を描くように走査されるレーザ光を、同一円上に配置されている光位置検出ユニット30の複数の一次元光位置センサ33(1)〜33(4)の検出出力をモニタする。これらの検出出力に基づき、ダイナミックな光学系の歪み量の算出、ガルバノスキャナの各軸の追従性の評価などを行うことが可能である。
本発明を適用したガルバノスキャナシステムを示す機能ブロック図である。 図1のガルバノスキャナシステムの光位置検出ユニットを示す概略平面図である。 図1のガルバノスキャナシステムのオフセット調整、スケール調整の作業手順を示す概略フローチャートである。 直角度判定およびワーク面からの距離算出のための説明図である。
符号の説明
1 ガルバノスキャナシステム
2 レーザ発信器
3、4 ガルバノスキャナ
5 スキャナドライバ
6 指令発生機
7 ワーク面
11、12 有限回転型モータ
13、14 走査用ミラー
15、16 スキャナ位置センサ
21 指令信号発生部
22 内部制御回路
23 演算・判定部
24 内部メモリ
25 信号変換回路
30 光位置検出ユニット
31 基板
32 二次元光位置センサ
33(1)〜33(4) 一次元光位置センサ

Claims (5)

  1. ガルバノスキャナによる走査面上における当該ガルバノスキャナの原点位置に対応する走査中心位置に、二次元位置センサを配置し、
    前記ガルバノスキャナに対して、当該ガルバノスキャナを原点位置に位置決めするための原点位置指令を入力して、前記ガルバノスキャナに取り付けたスキャナ位置センサからのセンサ出力に基づき、前記ガルバノスキャナを前記原点位置に位置決めし、
    前記原点位置に位置決めされた前記ガルバノスキャナによるレーザ光の光スポットを前記二次元位置センサによって検出し、
    前記二次元位置センサの出力と、前記光スポットの中心が前記二次元位置センサの検出面の中心に位置する場合に得られる当該二次元位置センサの原点位置出力との差を監視し、
    この差が予め定めた規格値以下になるように前記ガルバノスキャナを駆動し、
    前記差が規格値以下となったときの前記ガルバノスキャナに入力された位置指令の前記原点位置指令に対する差をオフセット調整値として採用することを特徴とするガルバノスキャナシステムの調整方法。
  2. 請求項1に記載のガルバノスキャナシステムの調整方法において、
    前記走査面上における前記走査中心位置から所定の距離だけ離れた異なる位置に、前記光スポットの中心位置を検出可能な少なくとも2個の一次元位置センサを配置し、
    前記ガルバノスキャナを駆動して各一次元位置センサのそれぞれに光スポットを照射して、これら一次元位置センサの出力値が予め定めた範囲内の値となった時点における前記ガルバノスキャナの前記原点位置からの各振れ角を検出し、
    これらの振れ角を予め定めた許容角度範囲と比較して、前記原点位置の前記ガルバノスキャナから前記走査面に照射されるレーザ光の当該走査面に対する直角度の合否を判定し、
    前記振れ角が前記許容角度範囲から外れている場合には、前記走査面上における前記二次元位置センサおよび前記一次元位置センサの取り付け位置を調整し、
    しかる後に、再度、前記オフセット調整値の算出、および、前記直角度の合否判定を行うことを特徴とするガルバノスキャナシステムの調整方法。
  3. 請求項2に記載のガルバノスキャナシステムの調整方法において、
    前記走査中心位置から少なくとも一方の前記一次元位置センサの中心までの距離Vと、当該一次元位置センサにおける前記ガルバノスキャナの前記原点位置からの前記振れ角とに基づき、前記ガルバノスキャナから前記走査中心位置までの距離Zを算出し、
    前記距離Zと、前記振れ角と、これらの振れ角が得られたときに前記ガルバノスキャナに入力された位置指令とに基づき、スケール調整値を算出することを特徴とするガルバノスキャナシステムの調整方法。
  4. 請求項3に記載のガルバノスキャナシステムの調整方法において、
    前記スケール調整値を算出した後に、前記オフセット調整値を用いたオフセット調整と、前記直角度判定と、前記距離Zの算出と、前記スケール調整値を用いたスケール調整とを順次に実行して、調整の合否判定を行うことを特徴とするガルバノスキャナシステムの調整方法。
  5. 請求項2ないし4のうちのいずれかの項に記載のガルバノスキャナシステムの調整方法において、
    前記二次元位置センサを中心として、複数個の前記一次元位置センサを同一円上に等角度間隔に配置し、
    各一次元位置センサによって、前記光スポットの前記同一円の半径方向の位置を検出することを特徴とするガルバノスキャナシステムの調整方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016173553A (ja) * 2015-03-16 2016-09-29 株式会社リコー 検査システム
JP2016197144A (ja) * 2015-04-02 2016-11-24 日本信号株式会社 光走査アクチュエータの評価装置

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012020811A1 (ja) * 2010-08-12 2012-02-16 株式会社ニコン 走査型顕微鏡
CN105510809B (zh) * 2016-01-26 2018-07-20 工业和信息化部电子第五研究所 脉冲激光模拟单粒子试验***及方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09103893A (ja) * 1995-10-11 1997-04-22 Nec Corp レーザビームスキャナ及びレーザ加工装置
JP2000098271A (ja) * 1998-09-18 2000-04-07 Hitachi Constr Mach Co Ltd ガルバノミラー駆動装置
JP2007025607A (ja) * 2005-07-21 2007-02-01 Brother Ind Ltd 光走査装置、画像表示装置、光走査装置又は画像表示装置における反射ミラーの位置調節方法及び揺動状態検出方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003220485A (ja) 2002-01-25 2003-08-05 Sunx Ltd レーザマーキング装置、及びそのガイド像の投射位置調整方法
JP4174420B2 (ja) * 2003-12-15 2008-10-29 キヤノン株式会社 光偏向器

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09103893A (ja) * 1995-10-11 1997-04-22 Nec Corp レーザビームスキャナ及びレーザ加工装置
JP2000098271A (ja) * 1998-09-18 2000-04-07 Hitachi Constr Mach Co Ltd ガルバノミラー駆動装置
JP2007025607A (ja) * 2005-07-21 2007-02-01 Brother Ind Ltd 光走査装置、画像表示装置、光走査装置又は画像表示装置における反射ミラーの位置調節方法及び揺動状態検出方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016173553A (ja) * 2015-03-16 2016-09-29 株式会社リコー 検査システム
JP2016197144A (ja) * 2015-04-02 2016-11-24 日本信号株式会社 光走査アクチュエータの評価装置

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