JP2009270838A - 質量分析装置及び質量分析方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】液体試料又は固体試料が気化できるように所定の温度とされたイオン化室11と、液体試料又は固体試料をイオン化室に導入する手段と、イオン化室内で気化した液体試料又は固体試料をフラグメントフリーでイオン化する手段と、イオン化された液体試料又は固体試料の原子団の質量を測定する質量分析計と、を備える。排気手段により排気し得る第一及び第二の容器と、第二の容器は前記第一の容器とアパーチャによって接続され、イオン化室は前記第一の容器に設けられ、質量分析計は第二の容器に設けられている構成をとることができる。液体試料は霧状に、固体試料は微粒子状にして導入することが好ましい。
【選択図】図1
Description
前記液体試料又は固体試料を前記イオン化室に導入する手段と、
前記イオン化室内で気化した前記液体試料又は固体試料をフラグメントフリーでイオン化する手段と、
イオン化された前記液体試料又は固体試料の分子の質量を測定する質量分析計と、を備えた質量分析装置である。
前記イオン化室内で気化した前記液体試料又は固体試料をフラグメントフリーでイオン化し、
イオン化された前記液体試料又は固体試料の分子の質量を質量分析計で測定する質量分析方法である。
(第1の実施形態)
本発明に係る第1の実施形態の質量分析装置の全体図を図1に示す。試料は固体試料である。まず、固体試料を乳鉢や凍結粉砕などで微粒子状とし、微粒子化した固体試料10をイオン化室11の上方に位置している固体試料落下機構から重力による落下によって、試料を高温となっているイオン化室11の内部に直接導入する。なお、微粒子の輸送には、重力落下以外にキャリアガスの流れを利用することも可能である。
図5は本発明に係る第2の実施形態の質量分析装置の概略的な全体図である。試料は液体試料(溶媒を伴わない)である。液体試料は噴霧室40によって微粒子にされ、噴霧力(霧発生のための高い圧力を受けて微粒子が前進する力)によって、高温となっているイオン化室11の内部に直接導入され、領域13で気化される。なお、噴霧力の代わりに、キャリアガスの流れや重力落下による輸送も可能である。その他、噴霧室40による微粒子化以外は、図1の固体試料用と同じ全体構成となる。
本発明の第3の実施形態のプロセスを図6に示す。試料は固体・液体試料、あるいは溶液試料(溶媒を伴う)である。溶液試料の場合はそのまま、また固体・液体試料の場合には、試料を拡散させる溶媒を用意する。定量測定の場合には、試料と溶媒を秤量し、必要に応じて分取を行なう。
11 イオン化室
12 エミッタ
14 第一の容器
15 第二の容器
16 質量分析計
17 二次電子増倍管
20 試料挿入プローブ20
21 固体試料落下機構
22 試料ホルダ
24 加振器
30 漏斗
31 メッシュ
34 加振器
Claims (11)
- 液体試料又は固体試料が気化できるように所定の温度とされたイオン化室と、
前記液体試料又は固体試料を前記イオン化室に導入する手段と、
前記イオン化室内で気化した前記液体試料又は固体試料をフラグメントフリーでイオン化する手段と、
イオン化された前記液体試料又は固体試料の分子の質量を測定する質量分析計と、を備えた質量分析装置。 - 排気手段により排気し得る第一及び第二の容器と、
前記第二の容器は前記第一の容器とアパーチャを介して接続され、
前記イオン化室は前記第一の容器に設けられ、前記質量分析計は前記第二の容器に設けられていることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。 - 前記液体試料又は固体試料は微粒子状で前記イオン化室に導入されることを特徴とする請求項1又は2に記載の質量分析装置。
- 前記液体試料又は固体試料は粒状の担体の表面に固定されて前記イオン化室に導入されることを特徴とする請求項1又は2に記載の質量分析装置。
- 前記イオン化室に排出口があることを特徴とする請求項1乃至4のうちのいずれか一項に記載の質量分析装置。
- 前記イオン化室に前記液体試料又は固体試料を加熱し、気化するための加熱手段を有することを特徴とする請求項1乃至4のうちのいずれか一項に記載の質量分析装置。
- 前記液体試料又は固体試料は重力を利用して前記イオン化室に導入されることを特徴とする請求項1乃至6のうちのいずれか一項に記載の質量分析装置。
- 前記イオン化室に導入する手段は前記固体試料を前記イオン化室へ落下させる落下手段を有し、前記落下手段は、前記イオン化室側に前記落下手段の先端が向いており、且つ少なくとも先端部に孔がある中空錐体を備えていることを特徴とする請求項7に記載の質量分析装置。
- 前記落下手段は前記固体試料を落下させるための振動手段を備えていることを特徴とする請求項8に記載の質量分析装置。
- 前記イオン化する手段は、加熱されることにより金属イオンを放出するエミッタを有し、
前記イオン化室には前記エミッタから前記金属イオンが流入し、気化された前記液体試料又は固体試料の分子に前記金属イオンが付着してイオン化が行われることを特徴とする請求項1乃至9のうちのいずれか一項に記載の質量分析装置。 - 液体試料又は固体試料が気化できるように所定の温度とされたイオン化室に、液体試料又は固体試料を導入して、前記液体試料又は固体試料を気化させ、
前記イオン化室内で気化した前記液体試料又は固体試料をフラグメントフリーでイオン化し、
イオン化された前記液体試料又は固体試料の分子の質量を質量分析計で測定する質量分析方法。
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