JP2009264949A - イオン付着質量分析装置及びそのイオン付着質量分析方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】正電荷の金属イオンを被測定物質の分子に付着させて付着イオンを生成させる付着イオン生成部11と、付着イオンの質量分析を行う質量分析部と、を備え、質量分析部は、付着イオンのうち、特定の質量数の付着イオンを選択させる質量分離室13aと、特定の質量数の付着イオンを解離させるためのイオン化室13bと、解離させたイオンを分析する質量分析室14とを備えている。
【選択図】図1
Description
前記質量分析部は、前記付着イオンのうち、特定の質量数の付着イオンを選択させる質量分離手段と、該特定の質量数の付着イオンを解離させるためのイオン化手段と、解離させたイオンを分析する質量分析手段とを備えていることを特徴とする。
前記付着イオン生成部で、前記正電荷の金属イオンを被測定物質の分子に付着させて付着イオンを生成し、
前記質量分析部で、前記付着イオンのうち、特定の質量数の付着イオンを分離し、分離した該特定の質量数の付着イオンを解離させ、解離させたイオンを分析することを特徴とする。
12 付着領域
13a 質量分離室
13b イオン化室
14 質量分析室
15 ガスライン
16a 真空排気ポンプ
16b 真空排気ポンプ
16c 真空排気ポンプ
17 金属イオン放出体
18 試料ガス供給器
25 質量分析計
26 真空排気ポンプ
71a 第一のQポール
71b 第二のQポール
Claims (4)
- 正電荷の金属イオンを被測定物質の分子に付着させて付着イオンを生成させる付着イオン生成部と、前記付着イオンの質量分析を行う質量分析部と、を備えたイオン付着質量分析装置において、
前記質量分析部は、前記付着イオンのうち、特定の質量数の付着イオンを選択させる質量分離手段と、該特定の質量数の付着イオンを解離させるためのイオン化手段と、解離させたイオンを分析する質量分析手段とを備えていることを特徴とするイオン付着質量分析装置。 - 請求項1に記載のイオン付着質量分析装置において、前記質量分離手段は第一の多重極型ポール、前記イオン化手段は第二の多重極型ポール、前記質量分析手段は第三の多重極型ポールをそれぞれ備えていることを特徴とするイオン付着質量分析装置。
- 請求項1に記載のイオン付着質量分析装置において、前記質量分離手段は第一のTOF、前記イオン化手段は多重極ポール、前記質量分析手段は第二のTOFをそれぞれ備えていることを特徴とするイオン付着質量分析装置。
- 正電荷の金属イオンを被測定物質の分子に付着させて付着イオンを生成させる付着イオン生成部と、前記付着イオンの質量分析を行う質量分析部と、を備えたイオン付着質量分析装置のイオン付着質量分析方法において、
前記付着イオン生成部で、前記正電荷の金属イオンを被測定物質の分子に付着させて付着イオンを生成し、
前記質量分析部で、前記付着イオンのうち、特定の質量数の付着イオンを分離し、分離した該特定の質量数の付着イオンを解離させ、解離させたイオンを分析することを特徴とするイオン付着質量分析方法。
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