KR100664728B1 - 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 탄뎀질량분석기 - Google Patents

푸리에변환 이온싸이클로트론공명 탄뎀질량분석기 Download PDF

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Abstract

본 발명은 탄뎀 질량 분석기에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 2대의 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS)를 사용하는 탄뎀 질량분석기이다.
본 발명의 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 탄뎀 질량 분석기는 분석할 시료를 주입하는 이온원 (전자분무이온원 ESI:Electrospray Ionization, 매트릭스보조탈착이온화원 MALDI: matrix assists laser desorption ionization)과 주입되는 분자이온을 잘게 쪼개서 고자기장 속으로 전송시켜 주는 팔중극자 이온전송관(Ion guide)(300)과 시료의 질량을 분석하는 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)와, 상기 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기( FT-ICR MS1)로부터 선택된 1차 이온을 다음 단계인 팔중극자 이온 충돌관과 다시 2차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)에 전달하는 팔중극자 이온 전송관(Octopole ion guide)과, 중성가스가 주입되어 주입된 시료를 더욱 작은 알갱이로 분해하는 팔중극자 이온 충돌관(Octopole collision cell)과 여러 조각으로 분해된 시료의 정밀한 질량을 측정하는 2차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS2)와, 모든 부분의 진공상태를 유지시켜주는 진공 펌프들로 구성된 것을 특징으로 한다.
상기와 같이 구성된 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 (FT-ICR MS/FT-ICR MS) 탄뎀 질량분석기는 측정 시료를 보다 정밀하게 선택하고 다시 분리하여 축적함 으로써 고감도, 고분해능의 고속 질량 측정을 가능하게 한다. 위와 같은 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS)의 측정, 분리, 이온 여기(excitation) 그리고 이온 냉각(cooling)등의 기능을 이용하여 보다 고감도, 고분해능의 탄뎀질량 분석법을 구현할 수 있고 더 나아가서 중성 가스와 이온, 이온과 이온, 이온과 전자 사이의 반응에 관한 새로운 분석법을 구현 할 수 있다.
푸리에변환 이온싸이클로트론공명, 질량분석기, 탄뎀

Description

푸리에변환 이온싸이클로트론공명 탄뎀질량분석기{FT-ICR MS/FT-ICR MS tandem mass spectrometer}
도 1은 일반적인 질량 분석기의 개략도이다
도 2는 본 발명에 따른 푸리에변환 이온싸이클로트론공명(FT-ICR MS/FT-ICR MS) 탄뎀질량분석기의 구성을 간단히 나타낸 블럭도이다.
도 3은 본 발명에 따른 푸리에변환 이온싸이클로트론공명(FT-ICR MS/FT-ICR MS) 탄뎀질량분석기의 도시도이다.
도 4는 본 발명에 따른 푸리에변환 이온싸이클로트론공명(FT-ICR MS/FT-ICR MS) 탄뎀질량분석기의 다른 실시예에 의한 도시도이다.
도 5는 상기와 같이 구성된 푸리에변환 이온싸이클로트론공명(FT-ICR MS/FT-ICR MS) 탄뎀질량분석기를 이용한 질량 분석과정을 나타내는 동작도이다.
<도면의 주요 부분에 대한 설명>
100 : 이온원 , 200 : 스키머
300 : 팔중극자 이온전송관
400 : FTICR 1(1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기)
410 , 710 : 초전도 전자석
430,730 : ICR 트랩
500 : 충돌가스 주입부 600: 팔중극자 충돌관
700: FTICR 2 (2차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기)
800: 진공 펌프
본 발명은 탄뎀 질량분석기에 관한 것으로, 보다 상세하게는 2대의 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS)를 이용하는 탄뎀 질량질량분석기에 관한 것이다.
일반적으로 질량분석기는 분자 이온과 조각이온의 질량을 측정함으로써 분자의 구조를 밝혀내는 장비이다.
도 1은 일반적인 질량 분석기의 개략도이다.
도 1에서 보이듯이 질량분석기는 이온원부(10), 분석부(20)와 검출/측정부(30)로 이루어진다. 이온원부에서 시료를 이온화 시키는데 가장 대표적으로 사용되는 방법으로 전기분무이온화법(Electrospray Ionization:ESI)과 매트릭스보조탈착이온화법(matrix assists laser desorption ionization:MALDI)이 있고 그 밖에 대 부분의 이온화원을 사용 할 수 있다.
질량분석부로는 이온트랩, 비행시간형, 사중극자형, 푸리에변환 이온공명형이 있다. 상기와 같은 질량분석부를 단독, 또는 두개 이상을 조합하여 탄뎀 질량분석기 형태로 사용한다.
기존의 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 (FT-ICR) 탄뎀 질량분석기는 일반적으로 두 가지 방법으로 실험을 수행한다. 한 가지는 공간적으로 분리된 두개 분석관을 연결하여 사용하는 공간적 탄뎀분석법이며, 다른 한 가지는 시간에 따른 두 가지 이온 선택 과정을 시간차를 두고 동일한 질량분석관에서 사용하는 시간적 탄뎀 분석법이다.
공간적 탄뎀 분석법에서는 분리부에 이온 분석관을 하나 사용하여 관심 있는 이온을 선택하여 분리하고, 검출부에 이온 분석관으로 질량 분포를 기록하도록 구성되어 있다. 분리부 질량분석관으로 사중극자(Quadrupole) 분석관과 이온 트랩 분석관 등이 주로 사용되었으며 대부분 분자량 선택 범위가 매우 넓은 편이어서 고 분해능으로 1차 이온을 선택하여 분리하는데 제한이 있다.
또한, 시간적 탄뎀 분석법에서는 검출부 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 (FT-ICR ) 트랩 내에 1차 이온을 선택한 후 비활성 기체를 주입하여 1차 선택한 이온과 충돌을 유발하여 분자이온의 조각화를 유발하고, 그 조각 이온을 검출하는 방법이다. 이 경우 충돌 유발 기체에 의해 주변 압력이 증가하여 이온의 싸이클로트론 운동에너지를 감소시켜 검출 신호의 소멸을 야기하고 결과적으로 분해능과 신호 크기를 감소시켜 고분해능 질량스펙트럼을 얻는데 악영향을 준다.
따라서, 1차이온이 잘 선택되더라도 조각이온을 검출하기 전에 주변 기체를 제거해 주어야하는 문제를 가지고 있어 신속한 검출이 어려운 문제점이 있었다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결 보안하기 위하여 제안된 것으로,
정밀한 1차이온선택과 이온 분해 과정을 분리부인 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)에서 수행함으로써 검출부인 2차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICRMS2) 에서는 이온 선택과 이온분해 과정에 무관하게 측정의 최적화를 수행함으로써 질량 측정 정확도를 향상시켜 생물 고분자나 환경 시료와 같은 극미량 거대 분자를 고감도로 검출할 수 있고, 다양한 형태의 이온간의 반응을 연구할 수 있는 질량분석기를 제공하는데 그 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은,
탄뎀 질량분석기에 있어서,
기체상태 혹은 그와 유사한 상태인 분석할 시료를 주입하고 주입된 시료를 이온화하여 전달하는 이온원(100)과;
대기압과 진공상태의 높은 압력차를 유지시켜 주는 스키머(Skimmer)(200);
주입되는 분자이온을 잘개 쪼개서 고자기장 속으로 전송시켜 주는 팔중극자 이온전송관(Ion guide)(300)과;
이온을 선택하고 질량을 분석하고 분리하며 시료중의 여러질량 중 특정질량을 가진 1차 이온을 선택하는 1차 푸리에변환이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)(400)와;
중성가스를 팔중극자 충돌관에 공급하는 충돌가스 주입구(500);
상기 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)로부터 선택된 이온을 2차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS2)에 전달하기 전에 상기의 충돌가스 주입구를 통해 중성가스를 주입하여 이온들을 충돌하게 함으로써 시료를 더욱 작은 알갱이로 분해하는 팔중극자 충돌관(Octopole collision cell)(600)과;
상기 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)와 상기 팔중극자 충돌관을 통하여 여러조각으로 분해된 1차이온의 정밀한 질량을 측정하는 2차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS2)(700)와;
상기 모든 구성부의 진공상태를 유지하는 진공펌프(800)로 구성된다.
이하, 본 발명을 상세하게 설명하고자 한다.
본 발명의 탄뎀 질량 분석기는 현존 질량분석기 중 가장 최신의 고가 장비로 주로 생체 고분자 물질의 분자량 결정 및 서열 분석에 사용된다. 두 대의 질량분석기를 직렬로 연결하여 첫번째 분석기로 특정한 이온을 선택한 후 충돌 유발 반응을 일으켜 발생된 2차 분해 이온을 두번째 분석기로 재분리 시켜 얻은 스펙트럼으로 부터 분자의 구조를 알아낸다. 매우 고분해능이기 때문에 복잡한 유기 금속 화학물의 성분을 조사하거나 동위원소 치환물의 조성을 연구하는데도 사용된다.
본 발명에서 시료는 기체나 그와 유사한 상태로 시료주입 장치(전자분무이온원부 ESI: ElectroSpray Ionization, 메트릭스보조탈착이온화원 MALDI:matrix assists laser desorption ionization:)를 통하여 주입되고 높은 압력차를 유지시켜주는 스키머(Skimmer)와 고자기장속으로 시료를 전송 시켜주는 팔중극자 이온 전송관(Octopole ion guide)과 두 대의 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS), 그리고 두 대의 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS) 사이에 충돌관(Octopole collision cell)을 연결하였다. 또한, 충돌 가스 주입구를 이온 (ICR) 트랩 내부에도 설치하여 충돌유발 및 선택된 이온의 마그네트론운동을 싸이클로트론으로 전환하여 충돌 냉각화하는 등의 이온 조작을 분리부 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS)에서 수행하도록 구성되어 있다.
고분자의 기체상태 시료를 전자분무이온원에 주입하고 주입된 시료는 전자분무이온원에서 이온화하여 이온전송관을 통하여 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기에 전달되고, 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기에서는 상기 이온 전송관을 통해 주입된 시료를 충돌가스 주입구를 통해 공급된 중성기체와 충돌시켜 조각이온을 생성시키거나, 선택된 이온의 마그네트론(magnetron)운동을 싸이클로트론(cyclotron)운동으로 전환하여 충돌 냉각화하는 등의 이온 조 작을 수행한다.
이때, 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기에서는 충돌 유발 기체에 의해 주변 압력이 증가하여 이온의 싸이클로트론 운동에너지를 감소시켜 검출 신호의 소멸을 야기하고 결과적으로 분해능과 신호 크기를 감소시키게 되는 문제점과 1차이온이 잘 선택되더라도 조각이온을 검출하기 전에 주변 기체를 제거해 주어야하는 문제를 해결하기 위하여 1차이온을 선택하고 분리하는 역할을 한다.
분리된 1차이온은 팔중극자 충돌관에서 더욱 잘게 분해되며, 분해된 1차 이온은 2차 푸리에변환이온싸이클로트론공명 질량분석기로 주입되어 1차 이온 선택에서의 분해능의 문제점을 개선하고 다양한 작동 구현을 하게 되며 측정 정확도를 향상시켜 생물 고분자나 환경 시료와 같은 극미량 거대 분자를 고감도로 검출할 수 있도록 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 상세하게 설명하도록 한다.
도 2는 본 발명에 따른 푸리에변환 이온싸이클로트론공명(FT-ICR MS/FT-ICR MS) 탄뎀질량분석기의 구성을 간단히 나타낸 블럭도이다.
도 3은 본 발명에 따른 푸리에변환 이온싸이클로트론공명(FT-ICR MS/FT-ICR MS) 탄뎀질량분석기의 도시도이다.
도 2 를 참조하면 이온원(100)은 질량 분석기의 이온화원으로서 기체상태 혹 은 그와 유사한 상태인 분석할 시료를 주입하고 주입된 시료를 이온화하여 전달하는 기능을 한다. 이 때 이온화원은 전자분무이온화원(ESI:Electrospray Ionization)와 함께 메트릭스보조탈착이온화원(MALDI:matrix assists laser desorption ionization:)을 사용할 수 있다.
상기 스키머(Skimmer)(200)는 미 도시 되었지만 다단의 스키머로 형성되어 대기압과 진공상태의 높은 압력차를 유지시켜 주는 기능을 한다.
상기 팔중극자 이온전송관(Ion guide)(300)은 (Electrospray Ionization)(100)으로부터 주입되는 시료를 고자기장 속의 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)에 공급하는 기능을 한다. 두번째 팔중극자 이온 전송관(300)은 분자이온을 팔중극자 충돌관에 공급하거나 다시 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)에 공급하는 기능을 한다.
상기 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)(400)는 이온을 선택하고 질량을 분석하고 분리하며 시료중의 여러 질량 중 특정질량을 선택하는 기능을 한다.
푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS: Fourier Transform Ion Cyclotron Resonance Mass Spectrometer)는 다른 방식의 질량분석기에 비하여 고분해능, 고감도 검출 특성을 가지고 있다. 이온원(전자분무이온원 ESI:Electrospray Ionization, 매트릭스보조탈착이온화법 matrix assists laser desorption ionization:MALDI)으로부터 주입된 이온들이 이온전송관(octopole ion guide)를 지나서 고자기장내의 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS)로 들어오면 전극에 공명주파수의 전기장을 주입하여 이온을 자기장과 수직 방향으로 싸이클로트론 운동을 유도하고 이온들이 전극에 유도하는 이미지 전류를 측정하여 여러 가지 이온의 질량을 동시에 그리고 정확하게 측정한다. 따라서 1차 이온선택에 고분해능의 푸리에변환 이온싸이클로트론공명(FT-ICR) 질량스펙트럼을 사용함으로 1차이온선택의 정확성을 확보할 수 있다.
도 3을 참조하여 보다 상세히 설명하면, 1차 푸리에변환이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)는 원통형 초전도 자석(410)으로 형성되며 자석 내부에 푸리에변환이온싸이클로트론공명 (FT-ICR) 트랩(430)이 형성된다. 팔중극자 이온전송관(300)을 통해 상기 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 (FT-ICR) 트랩(430)에 이온이 전송되면 전극에 공명주파수의 전기장을 주입하여 이온을 자기장과 수직 방향으로 싸이클로트론 운동을 하도록 유도하고 이온들이 전극에 유도하는 이미지 전류를 측정하여 여러 가지 이온의 질량을 동시에 그리고 정확하게 측정한다.
2차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS2)도 원통형 초전도 자석(710)으로 형성되며 자석 내부에 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 (FT-ICR) 트랩(730)이 형성된다. 그 기능과 동작은 1차 푸리에변환이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)과 동일하다. 좀 더 정밀한 분석을 위해 고자기장의 원 통형 초전도 자석을 고려할 수 있다.
도 4는 본 발명에 따른 푸리에변환 이온싸이클로트론공명(FT-ICR MS/FT-ICR MS) 탄뎀질량분석기의 다른 실시예에 의한 도시도로서 2차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS2)의 후단에 이온원(100)을 구성할 수도 있다. 이것은 필요에 따라서 이온간의 반응을 보기 위해서다. 또한, 도3의 도시도에서 보이는 질량분석기와 달리 역방향으로 이온원을 주입하여 질량을 분석할 수 있다.
다시 도 2를 참조하여 설명하면, 상기 충돌가스 주입구(500)는 중성가스를 팔중극자 충돌관에 공급하는 기능이다. 중성 가스는 예를 들면 알곤이나 질소가스 등이다. 충돌 가스를 주입하면 이온조각화 및 선택된 이온의 마그네트론운동을 싸이클로트론운동으로 전환하여 충돌 냉각화하는 등의 이온 조작을 할 수 있다.
상기 팔중극자 충돌관(Octopole collision cell)(600)은 상기 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)로부터 선택된 이온을 2차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS2)에 전달하기 전에 상기의 충돌가스 주입구를 통해 중성가스(예를 들면 질소, 아르곤)를 주입하여 이온들이 충돌하게 함으로써 시료를 더욱 작은 알갱이로 분해하는 기능이다.
상기 2차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS2)(700)는 상기 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)에서 선별된 이온을 상기 팔중극자 충돌관을 통하여 여러조각으로 분해된 시료의 정밀한 질량을 측정한다.
그 구성과 기능은 상기에서 언급한 것과 같이 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)와 동일하다.
상기 진공펌프(800)는 모든 구성부의 진공상태를 유지하는 기능을 한다.
도 5은 상기와 같이 구성된 푸리에변환 이온싸이클로트론공명(FT-ICR MS/FT-ICR MS) 탄뎀질량분석기를 이용한 질량 분석과정을 나타내는 동작도이다.
분석법은 측정 목적에 따라서 여러 가지 서로 다른 순서로 실행된다.
먼저, 일반적인 작동으로는 도 5와 같이 시료 주입 장치(ESI)를 나온 다양한 질량을 갖는 시료가 이온 전송관을 지나 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)로 들어가게 된다. 여기서 주입된 이온중에서 특정질량의 이온만을 선택하여 다시 팔중극자 이온 전송관(octopole ion guide)을 이용하여 팔중극 충돌관(octopole collision cell)으로 주입된 후 관내부에 있는 중성 가스와의 충돌을 유도하여 시료를 작은 부분들로 분해하고 다시 이온 전송관(Octopole ion guide)을 지나 2차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS2)로 입사하게 되고 여기서 분해된 이온들의 질량을 정밀하게 측정하게 된다. 각각의 동 작에서 질량의 선택과 측정을 보다 정밀하게 할 수 있다.
다른 동작의 실시예로서, 먼저 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1) 트랩 내에서 특정이온을 우선 선별하여 저장한 후에 중성 기체를 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1) 트랩에 주입한 후 공명주파수로 이온의 운동에너지를 크게 증가시켜주면 충돌을 야기하여 조각이온을 검출할 수 있다. 또한 여기서 생성된 이온들을 기체 충돌 냉각화 과정을 통하여 보다 안정된 이온을 검출부에 전송함으로써 이온의 운동에너지 분포를 줄일 수 있다.
다음으로, 분리부 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)에서 선택된 특정 이온이 충돌관을 거치며 조각이온들을 생성시키고 이들 조각이온을 검출부로 이동 시켜 2차 조각이온을 생성시킨 후 다시 분리부로 이동시켜 조각이온과 기체분자와의 반응을 관찰 할 수 있다.
본 발명을 이용한 질량 분석기의 또다른 동작 실시예로, 분리부 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)과 검출부 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS2)와 생성된 양이온과 음이온의 반응을 양 푸리에변환이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS) 트랩에서 분리한 후 팔중극자 이온충돌관에서 반응시킬 수 있다. 즉 다중양이온(단백질)과 음이온(OH-)의 반응 또는 다중음이온(DNA)과 양이온(H+)또는 다중양이온과 다중 양이온의 반응도 가능하다.
본 발명에 따른 2대의 푸리에변환 이온싸이클로트론공명(FT-ICR MS/FT-ICR MS)를 이용한 탄뎀질량분석기는 FT-ICR MS이 갖는 고분해능, 고감도 검출 특성과 함께 특정 질량의 선택, 저장 그리고 중성 가스와의 충돌을 통한 이온의 냉각(cooling)등의 동작을 할 수 있다. 따라서 2대의 FT-ICR질량분석기를 연결하는 구조를 통하여 상기에서 기술한 공간적인 탄뎀분석과 함께 시간적인 탄뎀분석을 구현 할 수 있고 또한 FT-ICR MS의 이온을 저장 할 수 있는 기능을 이용하여 조각이온과 기체분자와의 반응이나 이온들 간의 다양한 반응을 만들어내고 분석할 수 있는 다양한 기능을 만들어 낼 수 있다.
또한, FT-ICR MS의 측정, 분리, 이온 여기(excitation) 그리고 이온 냉각(cooling)등의 기능을 이용하여 보다 고감도, 고분해능의 탄뎀질량 분석법을 구현할 수 있고 더 나아가서 중성 가스와 이온, 이온과 이온, 이온과 전자 사이의 반응에 관한 새로운 분석법을 구현 할 수 있다.

Claims (3)

  1. 탄뎀 질량분석기에 있어서
    기체상태 혹은 그와 유사한 상태인 분석할 시료를 주입하고 주입된 시료를 이온화하여 전달하는 이온원(100)과;
    대기압과 진공상태의 높은 압력차를 지탱시켜 주는 스키머(Skimmer)(200);
    주입되는 분자이온을 잘개 쪼개서 고자기장 속으로 전송시켜 주는 팔중극자 이온전송관(Ion guide)(300);
    이온을 선택하고 질량을 분석하고 분리하며 시료중의 여러질량 중 특정질량을 가진 1차 이온을 선택하는 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)(400)와;
    중성가스를 팔중극자 충돌관에 공급하는 충돌가스 주입구(500);
    상기 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)로부터 선택된 1차 이온을 2차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS2)에 전달하기 전에 상기의 충돌가스 주입구를 통해 중성가스를 주입하여 이온들을 충돌하게 하므로써 시료를 더욱 작은 알갱이로 분해하는 팔중극자 충돌관(Octopole collision cell)(600)과;
    상기 1차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS1)와 상기 팔중극자 충돌관을 통하여 여러조각으로 분해된 시료의 정밀한 질량을 측정하는 2차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS2)(700)와;
    상기 모든 구성부의 진공상태를 유지하는 진공펌프(800)로 구성된 것을 특징으로 하는 푸리에변환 이온싸이클로트론공명(FT-ICR MS/FT-ICR MS) 탄뎀질량분석기.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 충돌 가스 주입구를 푸리에변환이온싸이클로트론공명 (FT-ICR) 트랩 내부에도 설치하여 충돌유발 및 선택된 이온의 마그네트론(magnetron)운동을 싸이클로트론(cyclotron)운동으로 전환하여 충돌 냉각화하는 등의 이온 조작을 분리부 푸리에변환이온싸이클로트론공명(FT-ICR MS1)에서 수행하도록 구성된 것을 특징으로 하는 푸리에변환이온싸이클로트론공명(FT-ICR MS/FT-ICR MS) 탄뎀질량분석기.
  3. 제 1항 또는 2항에 있어서
    상기 2차 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS2)의 후단에 이온원 (100)을 추가로 구성할 수 있는 것을 특징으로 하는 푸리에변환이온싸이클로트론공명(FT-ICR MS/FT-ICR MS) 탄뎀질량분석기.
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