JP2021015035A - 画像表示装置の画像検査方法及び画像検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は本発明の実施形態としての画像検査方法を実行する画像検査装置1の概略構成図である。画像検査装置1は、画像撮像部100と画像処理システム200とを有する。画像撮像部100は、カメラ101、被検物としてのミラーカメラ本体300を載置される載置台102を有する。カメラ101、載置台102は、それぞれフレーム部103に固定されている。カメラ101は、対物レンズユニット101aとセンサ部101bとを有する。
また上述した実施形態では、フレーム部103にカメラ101を設ける場合を説明したが、これに限定されるものではない。例えば、カメラ101を所定のロボット装置に設ける場合も考えられる。その際ロボット装置の形式として、垂直多軸構成や、パラレルリンク型など種々の形式の関節においても実施することができる。
100 画像撮像部
101 カメラ
101a 対物レンズユニット
101b センサ部
102 載置台
103 フレーム部
200 画像処理システム
201 プロセッサ
202 モニタ
300 ミラーレスカメラ本体
301 電子ビューファインダ
301a 表面ガラス
301b 接眼レンズ群
301c 表示部
302 記憶部
Claims (2)
- 被検物である画像表示装置の表面光学部材の撮像画像に基づいて前記被検物を検査するための方法であって、
画像表示装置の記憶部に、表示部の表示画像と被検査面の撮像画像の大きさの関係を確認するための調整パターン画像と前記調整パターン画像を自動で表示するプログラムを登録する工程と、
前記調整パターン画像を前記表示部に表示して被検物に投影して撮像することにより前記表示画像と被検物の撮像画像との大きさの関係を確認する工程と、
前記記憶部に、撮像画像との大きさの関係が調整された検査パターン画像と前記検査パターン画像を自動で表示して予め指定した時間で切り替えるプログラムを登録する手段と、
前記検査パターン画像を表示部に表示して被検物に投影して、前記被検物を分割して露光することによって複数回、撮像する工程と、
複数の撮像画像から検査に利用できない画像を取り除いて、同じ検査パターン画像を選択して合成処理を行い、さらに検査パターン画像を合成して検査パターン合成画像を作成する工程と、
前記検査パターン合成画像から欠陥検出の処理を行う工程と、
有していることを特徴とする画像検査方法。 - 被検物である画像表示装置の表面光学部材の検査を行う画像検査装置であって、
前記被検物を撮像する撮像手段と、
前記被検物が撮像された画像に基づいて前記被検物の良否判定を行う手段と、
前記良否判定の結果に基づいて出力を行う手段と、を備え、
前記撮像手段と判定手段が前記請求項1に記載の検査方法にしたがい前記被検物の良否判定を行う、
ことを特徴とする画像検査装置。
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---|---|---|---|---|
CN116183488A (zh) * | 2022-12-13 | 2023-05-30 | 川易机电设备启东有限公司 | 一种基于图像分析的压力管道缺陷检测***及方法 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06174650A (ja) * | 1992-12-01 | 1994-06-24 | Sony Corp | 表示パネル外観検査装置 |
JPH1195182A (ja) * | 1997-09-18 | 1999-04-09 | Advantest Corp | 液晶表示パネルの画質検査方法 |
JP2003065898A (ja) * | 2001-08-22 | 2003-03-05 | Seiko Epson Corp | レンズ検査装置および検査シート |
JP2008241495A (ja) * | 2007-03-28 | 2008-10-09 | Seiko Epson Corp | 検査装置 |
JP2011007661A (ja) * | 2009-06-26 | 2011-01-13 | Seiko Epson Corp | スクリーン検査システム及びスクリーン検査方法 |
JP2017050616A (ja) * | 2015-08-31 | 2017-03-09 | キヤノン株式会社 | 表示装置及び制御方法 |
JP2018189879A (ja) * | 2017-05-10 | 2018-11-29 | キヤノン株式会社 | 接眼光学系及びそれを有する観察装置 |
JP2019105458A (ja) * | 2017-12-08 | 2019-06-27 | 株式会社日立ハイテクファインシステムズ | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
-
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06174650A (ja) * | 1992-12-01 | 1994-06-24 | Sony Corp | 表示パネル外観検査装置 |
JPH1195182A (ja) * | 1997-09-18 | 1999-04-09 | Advantest Corp | 液晶表示パネルの画質検査方法 |
JP2003065898A (ja) * | 2001-08-22 | 2003-03-05 | Seiko Epson Corp | レンズ検査装置および検査シート |
JP2008241495A (ja) * | 2007-03-28 | 2008-10-09 | Seiko Epson Corp | 検査装置 |
JP2011007661A (ja) * | 2009-06-26 | 2011-01-13 | Seiko Epson Corp | スクリーン検査システム及びスクリーン検査方法 |
JP2017050616A (ja) * | 2015-08-31 | 2017-03-09 | キヤノン株式会社 | 表示装置及び制御方法 |
JP2018189879A (ja) * | 2017-05-10 | 2018-11-29 | キヤノン株式会社 | 接眼光学系及びそれを有する観察装置 |
JP2019105458A (ja) * | 2017-12-08 | 2019-06-27 | 株式会社日立ハイテクファインシステムズ | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116183488A (zh) * | 2022-12-13 | 2023-05-30 | 川易机电设备启东有限公司 | 一种基于图像分析的压力管道缺陷检测***及方法 |
CN116183488B (zh) * | 2022-12-13 | 2023-09-15 | 川易机电设备启东有限公司 | 一种基于图像分析的压力管道缺陷检测***及方法 |
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