JP2009164730A - クロック伝搬回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】クロック伝搬回路10内のクロック伝搬ドライバ11及び12は、クロック停止制御信号SCSに応じてクロック信号CLKの伝搬を停止する。経時劣化検出回路20は、クロック伝搬ドライバ11及び12の内で動作状態にある一方のクロック伝搬ドライバ11から伝搬されたクロック信号CLKにより動作して自分自身の遅延劣化を検出する。動作状態切替部30は、経時劣化検出回路20による遅延劣化の検出に応じて、クロック伝搬ドライバ11に代えてクロック伝搬ドライバ12を動作状態とし、クロック信号CLKの論理回路ユニット2内の各回路への伝搬を継続する。
【選択図】図1
Description
ゲーテッドクロック制御によるクロック供給の停止が行われる度毎に、論理レベルがローレベル固定状態とハイレベル固定状態とに交互に切り替わる信号をクロック伝搬ドライバに与え、以てゲーテッドクロック制御の対象となるクロック伝搬ドライバへの経時劣化の影響と、ゲーテッドクロック制御の対象とならずクロックが常時供給されるクロック伝搬ドライバへの経時劣化の影響とを等しくするクロック供給回路(例えば、特許文献1参照。)。
現用クロックが周期的に供給されているか否かを判定し、周期的でない場合は前記現用クロックに代えて予備クロックを出力するクロック冗長回路(例えば、特許文献2及び3参照。)。
現用クロックのパルス幅が所定幅より狭くなったことを検出した時、予備クロックを出力するクロックパルス検出回路(例えば、特許文献4参照。)。
リングオシレータの発振周波数の低下を本体回路の経時劣化として検出するホットキャリア劣化検出回路(例えば、特許文献5参照。)。
図1に示す半導体集積回路1には、一例として2つの論理回路ユニット2_1及び2_2が搭載され、これらの論理回路ユニット2_1及び2_2のクロック入力端子IT1_1及びIT1_2にはクロック発生回路(図示せず)により発生されたクロックCLKがクロック伝搬ドライバ3を介してそれぞれ供給される。
今、図3に示す時刻t0において、クロック伝搬回路10_1及び10_2が、それぞれ、クロック伝搬ドライバ11_1及び11_2を動作状態にする一方、クロック伝搬ドライバ12_1及び12_2をHi-Z状態(非動作状態)にしているとする。
経時劣化検出動作は、大略、図4に示す経時劣化が生じていない場合の動作(1)と、図5又は図6に示す経時劣化が生じている場合の動作(2)又は(3)とから成る。
図4に示すように、図2に示した経時劣化検出回路20を構成するDフリップフロップ21の入力D1が、入力されたクロックCLKの立上りタイミングT1においてハイレベルであるとすると、ローレベルの出力Q1を遅延可変インバータ22に与える。図示の如く、出力Q1は、タイミングT1からDフリップフロップ21の動作遅延時間だけ遅延している。
上記の動作例(1)の後にDフリップフロップ21及び23、並びに遅延可変インバータ22に経時劣化が生じて動作遅延時間DLYが増大し、図5に示す如くクロックCLKの立上りタイミングTj1においてクロックCLKのクロック周期に等しくなると、Dフリップフロップ23の入力D2(遅延可変インバータ22の出力)の変化タイミングとクロックCLKの次の立上りタイミングTj2とが競合し、フリップフロップ23の出力(すなわち、検出結果信号RSの周波数)が確定せず不定となる。
また、図6に示す如くクロックCLKの立上りタイミングTk1において動作遅延時間DLYがクロックCLKのクロック周期を超えると、次の立上りタイミングTk2においてはDフリップフロップ23の入力D2がハイレベルであるため、Dフリップフロップ23の出力Q2がハイレベルを保持する。この後、立上りタイミングTk3においてDフリップフロップ23の入力D2がローレベルに変化する迄、出力Q2がハイレベルを保持する。
2_1, 2_2 論理回路ユニット
3, 11, 11_1, 11_2, 12, 12_1, 12_2 クロック伝搬ドライバ
10, 10_1, 10_2 クロック伝搬回路
20, 20_1, 20_2 経時劣化検出回路
21, 23 Dフリップフロップ
22 遅延可変インバータ
30, 30_1, 30_2 動作状態切替部
CLK クロック
SCS1, SCS2 クロック停止制御信号
RS, RS1, RS2 検出結果信号
SS, SS1, SS2 動作状態切替信号
DLY 動作遅延時間
図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。
Claims (2)
- 外部からの制御信号に応じてクロック信号の伝搬を停止する第1及び第2のドライバと、
前記制御信号に応じた前記第1のドライバによる前記クロック信号の伝搬停止に同期して動作が停止されるトランジスタ回路を含み、前記トランジスタ回路の遅延劣化を検出する検出部と、
前記第1及び第2のドライバを選択的に動作させることにより、前記クロック信号の伝搬元を前記第1及び第2のドライバの間で切り替える切替部と、
を備え、前記切替部が、前記検出部による前記トランジスタ回路の遅延劣化の検出に応じて、前記第1のドライバに代えて前記第2のドライバを動作状態とすることを特徴とするクロック伝搬回路。 - 請求項1において、
前記検出部は、前記トランジスタ回路の動作遅延時間が前記クロック信号のクロック周期以上となったことを、前記遅延劣化として検出することを特徴としたクロック伝搬回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007339720A JP5141246B2 (ja) | 2007-12-28 | 2007-12-28 | クロック伝搬回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007339720A JP5141246B2 (ja) | 2007-12-28 | 2007-12-28 | クロック伝搬回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009164730A true JP2009164730A (ja) | 2009-07-23 |
JP5141246B2 JP5141246B2 (ja) | 2013-02-13 |
Family
ID=40966866
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007339720A Expired - Fee Related JP5141246B2 (ja) | 2007-12-28 | 2007-12-28 | クロック伝搬回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5141246B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
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JP5141246B2 (ja) | 2013-02-13 |
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