JP2009134785A - 記録方法及び光ディスク装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】ライト準備を格段的に短縮化させ得る記録方法及び光ディスク装置を提案する。
【解決手段】多層光ディスクの各記録層において記録パワーの調整を行なう記録パワー調整処理を実行すると共に、各記録層のうちの一部の記録層についてのみ記録パルスのパルス状態を調整するシフト試書き処理を実行し、記録パワー調整処理の処理結果及びシフト試書き処理の処理結果に基づいて、シフト試書き処理を実行していない各記録層におけるシフト試書き処理の処理結果を予測し、シフト試書き処理の処理結果又は予測結果に基づいて記録パルスのパルス状態を調整しながら、多層光ディスクの対応する記録層に情報を記録するようにした。
【選択図】図6
【解決手段】多層光ディスクの各記録層において記録パワーの調整を行なう記録パワー調整処理を実行すると共に、各記録層のうちの一部の記録層についてのみ記録パルスのパルス状態を調整するシフト試書き処理を実行し、記録パワー調整処理の処理結果及びシフト試書き処理の処理結果に基づいて、シフト試書き処理を実行していない各記録層におけるシフト試書き処理の処理結果を予測し、シフト試書き処理の処理結果又は予測結果に基づいて記録パルスのパルス状態を調整しながら、多層光ディスクの対応する記録層に情報を記録するようにした。
【選択図】図6
Description
本発明は、記録方法及び光ディスク装置に関し、特に、記録層が複数設けられた多層光ディスクに対応した光ディスク装置に適用して好適なものである。
従来、光ディスク装置では、光ディスクにデータを記録する際、OPC(Optimum Power Calibration)と呼ばれる記録パワーの調整処理(記録パワー調整処理)が行なわれている。OPCでは、光ディスクの最内周や最外周に設けられた試書き領域に所定のデータを試書きし、その試書きしたデータの再生波形に基づいて最適な記録パワー(以下、これを単に最適記録パワーと呼ぶ)を検出する。
ただし、かかるOPCは、データの記録開始前に行なわれるため、記録開始後の環境変化や光ディスク上の記録位置の変化に伴う最適記録パワーの変化には対応できない。そこで、このような最適記録パワーの変化に対応する記録パワー制御方法として、近年、ウォーキングOPCと呼ばれる方式が提案されている。
ウォーキングOPC方式は、一定間隔ごと又は一定時間ごとに記録を停止して記録終端部を再生すると共に、その記録終端部におけるデータの記録品質を評価し、評価結果に基づいて記録パワーを補正する方式である。このようなウォーキングOPC方式による記録パワー制御は、再生互換を保証する高い記録品質を確保できるため、近年では広く用いられている。
かかるウォーキングOPC方式では、記録品質の指標として、振幅の非対称性を示すβ値と呼ばれるパラメータが用いられる。そして、ウォーキングOPC方式では、予め設定された目標とすべきβ値(以下、適宜、これを目標β値と呼ぶ)と、一定間隔ごと又は一定時間ごとに記録終端部を再生することにより得られたβ値(以下、適宜、これを測定β値と呼ぶ)とに基づいて記録パワーの補正率を算出し、この補正率に基づいて記録パワーの補正を行なう。
なお、下記特許文献1〜4には、OPCに関する技術が開示されている。
特許第3720624号公報
国際公開第2005/1718号パンフレット
特開2007−164954号公報
特開2005−259257号公報
ところで、近年では、光ディスクの大容量化に伴い、光ピックアップからパルス状に発射されるレーザ光のパルス幅が非常に細くなってきている。このため、このような光ディスクに情報を記録するに際しては、ジッタの発生を抑えるために、シフト試書きと呼ばれる最適な記録パルスの検出処理が必要となる。
かかるシフト試書き処理では、かかる試書き領域に所定長(例えば2Tや4T)の記録マークを、記録パルスの立上り端や立下り端をパルス幅を減らす方向又は増やす方向に少しずつシフトさせながら複数試書きし、最もジッタが少ない再生信号が得られた記録パルスの立上り端や立下り端のシフト方向及びシフト量(以下、これを最適パルス状態と呼ぶ)を検出することにより行われる。
この場合において、シフト試書きは、上述のように複数の記録マークを試書きして再生信号のジッタを計測するため、例えば1層当たり1秒程度で行なえるOPCと比べてより多くの時間(例えば10秒程度)を要する。また光ディスクが多層光ディスクである場合、OPC及びシフト試書きを各記録層においてそれぞれ行なう必要があるため、記録層が1層の光ディスクに比べてさらに多くの時間を要することとなる。
加えて、近年では、光ディスクの最内周及び最外周に設けられた双方の試書き領域においてOPC及びシフト試書きを行なうように構成された光ディスク装置も登場している。このような光ディスク装置では、装填された光ディスクが多層光ディスクである場合、最内周の試書き領域から最外周の試書き領域へ又は最外周の試書き領域から最内周の試書き領域へのシーク時間を含めると、OPC及びシフト試書きに通常の多層光ディスクに対して必要となる時間の倍以上の時間を要することとなる。
この結果、かかる光ディスク装置がホストコンピュータからライト要求を受けてからライト準備完了のレスポンスを返すまでにホストコンピュータ側においてタイムアウトが発生するおそれがあるという問題があった。また、このようにライト準備に多くの時間を要する場合、ユーザに相当の不快感を抱かせる問題もある。
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、ライト準備を格段的に短縮化させ得る記録方法及び光ディスク装置を提案しようとするものである。
かかる課題を解決するため本発明においては、複数の記録層を有する多層光ディスクに情報を記録する記録方法において、前記多層光ディスクの各前記記録層において記録パワーの調整を行なう記録パワー調整処理を実行すると共に、各前記記録層のうちの一部の前記記録層についてのみ記録パルスのパルス状態を調整するシフト試書き処理を実行する第1のステップと、前記記録パワー調整処理の処理結果及び前記シフト試書き処理の処理結果に基づいて、前記シフト試書き処理を実行していない各前記記録層におけるシフト試書き処理の処理結果を予測する第2のステップと、前記シフト試書き処理の処理結果又は予測結果に基づいて前記記録パルスのパルス状態を調整しながら、前記多層光ディスクの対応する前記記録層に前記情報を記録する第3のステップとを備えることを特徴とする。
また本発明においては、複数の記録層を有する多層光ディスクに情報を記録する光ディスク装置において、前記多層光ディスクの対応する前記記録層に情報を記録し又は当該記録層に記録された情報を再生する記録再生部と、前記記録再生部を制御する制御部とを備え、前記制御部は、前記記録再生部を制御することにより、前記多層光ディスクの各前記記録層において記録パワーの調整を行なう記録パワー調整処理を実行すると共に、各前記記録層のうちの一部の前記記録層についてのみ記録パルスのパルス状態を調整するシフト試書き処理を実行し、前記記録パワー調整処理の処理結果及び前記シフト試書き処理の処理結果に基づいて、前記シフト試書き処理を実行していない各前記記録層におけるシフト試書き処理の処理結果を予測し、前記シフト試書き処理の処理結果又は予測結果に基づいて前記記録パルスのパルス状態を調整しながら、前記多層光ディスクの対応する前記記録層に前記情報を記録することを特徴とする。
本発明によれば、シフト試書き処理を一部の記録層においてのみ行なうため、ライト準備を格段的に短縮化させることができる。かくするにつき、ホストコンピュータがライト要求を発行してから光ディスク装置からのライト準備完了の応答を受けるまでに当該ホストコンピュータにおいてタイムアウトが発生したり、ユーザに不快感を抱かせることを未然にかつ有効に防止し得る記録方法及び光ディスク装置を実現できる。
以下図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。
(1)本実施の形態による光ディスク装置の構成
図1において、1は全体として本実施の形態による光ディスク装置を示す。この光ディスク装置1は、多層光ディスクに対応しており、ホストコンピュータ2からの要求に応じて、多層光ディスク3にデータを記録し又は多層光ディスク3に記録されたデータを再生し得るようになされている。
図1において、1は全体として本実施の形態による光ディスク装置を示す。この光ディスク装置1は、多層光ディスクに対応しており、ホストコンピュータ2からの要求に応じて、多層光ディスク3にデータを記録し又は多層光ディスク3に記録されたデータを再生し得るようになされている。
実際上、光ディスク装置1の場合、ホストコンピュータ2から送信される各種コマンドをマイクロコンピュータ部10に入力する。マイクロコンピュータ部10は、CPU(Central Processing Unit)及び各種制御プログラムが格納されたメモリ10Aを備えて構成され、ホストコンピュータ2から与えられるコマンドや光ディスク装置1内のディジタル・シグナル・プロセッサ(DSP:Digital Signal Processor)11から与えられる各種情報に基づいて必要な制御処理や演算処理を実行する。
例えば、マイクロコンピュータ部10は、ホストコンピュータ2から記録コマンドが与えられた場合、ディジタル・シグナル・プロセッサ11内のモータ制御部12及びモータ駆動回路13を介してスピンドルモータ14を駆動することにより、所定状態に装填された多層光ディスク3をその記録方式(例えばCLV(Constant Linear Velocity)方式、CAV(Constant Angular Velocity)など)に応じた回転状態で回転させる。
またマイクロコンピュータ部10は、必要時、ディジタル・シグナル・プロセッサ11内のモータ制御部12及びモータ駆動回路13を介して移動・案内機構部15のスライドモータ16を駆動することにより、光ピックアップ17を多層光ディスク3の径方向に移動させる。
一方、ディジタル・シグナル・プロセッサ11は、ホストコンピュータ2からマイクロコンピュータ部10を介して与えられる記録対象のデータに対して記録信号生成部18において変調処理等の所定の信号処理を施し、かくして得られた記録信号を光ピックアップ17内のレーザダイオード駆動回路19に送信する。
そしてレーザダイオード駆動回路19は、供給される記録信号に基づいてストラテジ制御したパルス状の駆動信号をレーザダイオード20に印加することにより、当該レーザダイオードを点滅駆動する。またこのとき対物レンズ21を保持する図示しない2軸アクチュエータは、マイクロコンピュータ部10の制御のもとに、対物レンズ21を多層光ディスク3に対して所定位置に位置させる。
この結果、記録対象のデータに応じたパターンで点滅するレーザ光がレーザダイオード20から発射され、これが対物レンズ21を介して多層光ディスク3のそのとき対象とする記録層上に集光される。これにより、かかる記録対象のデータが多層光ディスク3に記録される。
このレーザ光の多層光ディスク3の記録層における反射光は、対物レンズ21を介して光ピックアップ17内の受光部22に集光される。受光部22は、例えば4分割フォトディテクタ等から構成され、入射する反射光を光電変換することにより得られたアナログ波形のRF(Radio Frequency)信号をアナログ・フロント・エンド(AFE:Analog Front End)23に送出する。
アナログ・フロント・エンド23は、供給されるRF信号に対して増幅や波形整形処理等の所定のアナログ処理を施し、かくして得られたディジタル波形のRF信号をディジタル・シグナル・プロセッサ11の再生信号処理部24に送出する。
再生信号処理部24は、供給されるRF信号に対して復調処理等の所定の信号処理を施し、かくして得られた再生信号に基づいて、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号などの各種サーボ信号を生成する。かくして、これらフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号に基づいて光ピックアップ17内の2軸アクチュエータが制御され、これによりフォーカス制御やトラッキング制御が行なわれる。
さらに光ピックアップ16内のレーザダイオード20から発射されたレーザ光の一部は、光ピックアップ16内の図示しないAPC(Auto Power Control)制御用の受光部により光電変換される。そして、この光電変換により得られた記録パワーモニタ信号が、アナログ・フロント・エンド23においてディジタル変換されてディジタル記録パワーモニタ信号としてディジタル・シグナル・プロセッサ11の記録信号生成部18に与えられる。
かくして記録信号生成部18は、このディジタル記録パワーモニタ信号に基づいて、記録パワーが予め設定された目標とする記録パワー(以下、これを目標記録パワーと呼ぶ)となるように、レーザダイオード駆動回路19に送出する記録信号の信号レベルを制御する(APC制御)。
一方、マイクロコンピュータ部10は、ホストコンピュータ2から再生コマンドが与えられた場合、上述の記録コマンドが与えられた場合と同様にして、多層光ディスク3をその記録方式に応じた回転状態に回転させる。またマイクロコンピュータ部10は、ディジタル・シグナル・プロセッサ11の記録信号生成部18を制御することにより、所定の駆動信号を光ピックアップ17内のレーザ駆動回路19に送出させる。
レーザ駆動回路19は、供給される駆動信号に基づいて、レーザダイオード20を所定電圧で点灯駆動する。この結果、このレーザダイオード20から所定パワーのレーザ光が発射され、このレーザ光が対物レンズ21を介して多層光ディスク3のそのとき対象としている記録層上に集光される。
このレーザ光の多層光ディスク3における反射光は、光ピックアップ17内の受光部22により光電変換され、かくして得られたアナログ波形のRF信号が上述と同様にしてアナログ・フロント・エンド23においてディジタル波形のRF信号に変換されて、ディジタル・シグナル・プロセッサ11の再生信号処理部24に与えられる。
再生信号処理部24は、供給されるRF信号に対して復調処理等の処理の再生信号処理を施し、かくして得られた再生信号をホストコンピュータ2に送出する。また、再生信号処理部24は、記録コマンドが与えら得た場合と同様にして、かかる再生信号に基づいてフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号などのサーボ信号を生成する。かくして、これらフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号に基づいて、データ記録時と同様にして、フォーカス制御及びトラッキング制御などが行なわれる。
なお、本実施の形態による光ディスク装置1の場合、多層光ディスク3にデータを記録する際にウォーキングOPCを実行する。
実際上、マイクロコンピュータ部10は、多層光ディスク3にデータを記録する際、ディジタル・シグナル・プロセッサ11や、当該ディジタル・シグナル・プロセッサ11を介して移動・案内機構部15のスライドモータ16及び光ピックアップ17のレーザダイオード駆動回路19を制御することにより、一定間隔ごと又は一定時間ごとに記録を停止させて記録終端部を再生させる。そして、このとき得られた再生信号がディジタル・シグナル・プロセッサ11の再生信号処理部24からβ取得部25及びジッタ取得部26に与えられる。
β取得部25は、供給される再生信号の最大レベルa1及び最小レベルa2を測定し、これら最大レベルa1及び最小レベルa2に基づいて次式
[数1]
β=(a1+a2)/(a1−a2) ……(1)
で与えられる演算を実行する。そしてβ取得部25は、かかる演算により得られた測定β値をマイクロコンピュータ部10に送出する。
[数1]
β=(a1+a2)/(a1−a2) ……(1)
で与えられる演算を実行する。そしてβ取得部25は、かかる演算により得られた測定β値をマイクロコンピュータ部10に送出する。
マイクロコンピュータ部10は、供給される測定β値を、予め設定された目標β値と比較し、比較結果に応じた制御信号をディジタル・シグナル・プロセッサ11の記録パワー補正演算部27に送出する。そして記録パワー補正演算部27は、供給される比較結果に基づいて光ピックアップ17のレーザダイオード駆動回路19を制御することにより、測定β値が目標β値に近づくように、記録パワーを補正する。
またジッタ取得部26は、例えばTIA(Time Interval Analyzer)機能により、供給される再生信号のジッタの値(以下、これを単にジッタ値と呼ぶ)を測定し、測定結果をマイクロコンピュータ部10に送出する。そしてこの測定結果は、後述する本実施の形態による記録パルス状態制御処理に利用される。
(2)本実施の形態による記録パルス状態制御処理
次に、本実施の形態による記録パルス状態制御処理について説明する。
次に、本実施の形態による記録パルス状態制御処理について説明する。
通常、レーザダイオードに図2(A)に示すようなパルス状の駆動電圧を印加した場合、図2(B)に示すように、レーザダイオードの発光パワーが駆動電圧の電圧値に応じたパワーに達するまでにある程度の時間(以下、これを立上り時間と呼ぶ)Trを要し、この後、駆動電圧が立ち下がってから当該発光パワーが元のパワーに戻るまでにある程度の時間(以下、これを立下り時間と呼ぶ)Tfを要する。
この場合において、図3に示すように、レーザダイオードの発光パワーが低いときには、立上り時間Trが小さく、かつ立下り時間Tfが大きくなるのに対して、かかる発光パワーが高いときには、立上り時間Trが大きく、かつ立下り時間Tfが小さくなることを、本願特許出願人は見出した。
従って、このようなレーザダイオードの発光パワーの立上り及び立下り特性を利用することによって、例えば多層光ディスク3における各記録層の最適記録パワーと、そのうちの1つの記録層におけるジッタ抑制のための最適パルス状態とが分かれれば、他の記録層における記録パルスの最適パルス状態を予測できるものと考えられる。
具体的には、記録パルスのジッタ抑制のための最適パルス状態が既知の記録層(以下、これを特定記録層と呼ぶ)よりも最適記録パワーが小さい記録層において使用される記録パルスは、特定記録層について使用される記録パルスよりも立上り時間Trが小さく、かつ立下り時間Tfが大きくなるものと予想される。従って、このような記録層については、図4(A)に示すように、特定記録層の最適パルス状態に対して、記録パルスの立上り端をパルス幅を減らす方向にさらにシフトさせ、かつ立下り端を記録パルスのパルス幅を増やす方向にさらにシフトさせることによって、再生信号にジッタが少ない最適な記録パルスが得られるものと考えられる。
また特定記録層よりもOPCにより得られた最適記録パワーが小さい記録層において使用される記録パルスは、特定記録層について使用される記録パルスよりも立上り時間Trが大きく、かつ立下り時間Tfが小さくなるものと予想される。従って、このような記録層については、図4(B)に示すように、特定記録層の当該最適パルス状態に対して、記録パルスの立上り端をパルス幅を増やす方向にさらにシフトさせ、かつ立下り端をパルス幅を減らす方向にさらにシフトさせることによって、再生信号にジッタが少ない最適な記録パルスが得られるものと考えられる。
例えば図5に示すように、4つの記録層L0〜L3を有する多層光ディスクにおいて、各記録層L0〜L3について行なったOPCにより得られた最適記録パワーの値がそれぞれ12〔mW〕、11〔mW〕、10〔mW〕及び9〔mW〕であり、シフト試書きにより記録層L1の最適パルス状態を得たものとする。
この場合、記録層L0については、最適記録パワーが記録層L1の最適記録パワーよりも大きいため、記録層L1の最適パルス状態は、記録層L0の最適パルス状態よりも記録パルスの立上り端がパルス幅を増加させる方向にシフトし、かつ記録パルスの立下り端がパルス幅を減少させる方向にシフトするものと予測される(図4(B)参照)。また、このときの立上り端及び立下り端のシフト量は、記録層L0の最適記録パワー及び記録層L1の最適記録パワーに基づいて予測することができる。
同様に、記録層L2及び記録層L3については、最適記録パワーが記録層L1の最適記録パワーよりも小さいため、記録層L2及び記録層L3の最適パルス状態は、記録層L0の最適パルス状態よりも記録パルスの立上り端がパルス幅を減らす方向にシフトし、かつ記録パルスの立下り端がパルス幅を増やす方向にシフトするものと予測される(図4(A)参照)。そして、このときの立上り端及び立下り端のシフト量は、記録層L0の最適記録パワーと、記録層L2や記録層L3の最適記録パワーに基づいて予測することができる。
以上の原理に基づき、本実施の形態による光ディスク装置1では、OPCについては多層光ディスク3の各記録層に対して行う一方、シフト試書きについては記録を開始する記録層に対してのみ行なう。そして光ディスク装置1においては、かかるOPCにより得られた各記録層の最適記録パワーと、記録を開始する記録層に対して行なったシフト試書きにより得られた記録パルスの最適パルス状態とに基づいて、他の記録層ごとのシフト試書きの処理結果をそれぞれ予測(つまり記録パルスの最適パルス状態をそれぞれ予測)する。
具体的には、図6に示すように、シフト試書きを行なった特定記録層よりも最適記録パワーが低い記録層については、特定記録層の最適パルス状態に対して、記録パルスの立上り端を定数Xだけパルス幅を減らす方向にシフトさせると共に、記録パルスの立下り端を定数Xだけパルス幅を増やす方向にシフトさせるようにして、最適パルス状態を予測するようにする。
また、特定記録層よりも最適記録パワーが高い記録層については、特定記録層の最適パルス状態に対して、最適シフト量だけ立上り端や立下り端をシフトさせた特定記録層の記録パルスに対して、立上り端を定数Xだけパルス幅を減らす方向にシフトさせると共に、立下り端を定数Xだけパルス幅を増やす方向にシフトさせるようにして、最適パルス状態を予測するようにする。
なお、本実施の形態の場合、かかる定数Xとしては、OPCにより得られた特定記録層の最適記録パワーをW1、OPCにより得られたそのとき対象としている記録層の最適記録パワーをW2として、次式
[数2]
X=|W1−W2|/2 〔mW〕 ……(2)
により算出される値を用いる。
[数2]
X=|W1−W2|/2 〔mW〕 ……(2)
により算出される値を用いる。
そして、光ディスク装置1では、上述のようにして各記録層に対する最適パルス状態を予測した後、各記録層において、予測した最適パルス状態となるように記録パルスの立上り端及び立下り端を基準幅からシフトさせてデータ記録を行なう。
ただし、かかる予測が常に当たるとは限らないため、光ディスク装置1においては、ウォーキングOPCを行うごとに再生信号のジッタを計測し、ジッタの値が予め定められた閾値を超えた場合には、その記録層においてシフト試書きを行ない、記録パルスのパルス状態(立上り端及び立下り端のシフト方向及びシフト量)を再設定する。
このような記録パルス状態制御処理を行なうための手段として、マイクロコンピュータ部10の内部メモリ10Aには、図7に示すような最適記録パワー及び最適パルス状態管理テーブル30が設けられている。
この最適記録パワー及び最適パルス状態管理テーブル30は、OPCにより得られた記録層ごとの最適記録パワーと、記録を開始する記録層に対して行なったシフト試書きにより得られた記録パルスの最適パルス状態に基づいて予測した記録層ごとの記録パルスの最適パルス状態とを管理するためのテーブルである。
この最適記録パワー及び最適パルス状態管理テーブル30は、図7に示すように、そのとき装填されている多層光ディスク3の各記録層にそれぞれ対応させて、「最適記録パワー」欄30A、「立上り端シフト量」欄30B及び「立下り端シフト量」欄30Cが設けられている。
そして各「最適記録パワー」欄30Aには、それぞれOPCにより測定された対応する記録層に最適な記録パワーが格納され、「立上り端シフト量」欄30Bには、実際のシフト試書きにより決定された又は当該シフト試書きの結果に基づいて予測された、対応する記録層に最適な記録パルスの立上り端のシフト方向(「+」又は「−」)及びシフト量が格納される。また「立下り端シフト量」欄30Cには、実際のシフト試書きにより決定された又は当該シフト試書きの結果に基づいて予測された、対応する記録層に最適な記録パルスの立下り端のシフト方向及びシフト量が格納される。
図8は、このような本実施の形態による光ディスク装置1において行なわれるOPC及びシフト試書きに関するマイクロコンピュータ部10の具体的な処理内容を示している。かかるマイクロコンピュータ部10は、メモリ10Aに格納された制御プログラムに基づいて、この図8に示すOPC及びシフト試書き処理を実行する。
すなわちマイクロコンピュータ部10は、多層光ディスク3が装填されてローディング処理を完了した後、ホストコンピュータ2からライト要求が与えられるとこのOPC及びシフト試書き処理を開始し、まず、nを0にリセットした後、n番目の記録層に対するOPCを実行する(SP1)。
続いてマイクロコンピュータ部10は、かかるOPCにより得られたそのn番目の記録層に対する最適記録パワーを最適記録パワー及び最適パルス状態管理テーブル30の対応する「最適記録パワー」欄30Aに格納する(SP2)。
次いでマイクロコンピュータ部10は、そのとき受信したライト要求に基づいて、そのn番目の記録層がデータ記録を開始する記録層であるか否かを判断する(SP3)。そしてマイクロコンピュータ部10は、この判断において否定結果を得るとステップSP5に進む。
これに対してマイクロコンピュータ部10は、かかる判断において肯定結果を得ると、ディジタル・シグナル・プロセッサ11や、当該ディジタル・シグナル・プロセッサ11を介してモータ駆動回路13及び光ピックアップ17を制御することにより、そのn番目の記録層の最内周又は最外周に設けられた試書き領域にシフト試書きを実行させ、このとき得られた記録パルスの立上り端及び立下り端の最適なシフト方向及びシフト量を、最適記録パワー及び最適パルス状態管理テーブル30内の対応する「立上り端シフト量」欄30B及び「立下り端シフト量」欄30Cにそれぞれ格納する(SP4)。
続いてマイクロコンピュータ部10は、そのn番目の記録層が最終層であるか否かを判断し(SP5)、否定結果を得ると、ディジタル・シグナル・プロセッサ11を介して光ピックアップ17内の2軸アクチュエータを制御して対物レンズ21の焦点位置を移動させることにより、OPCの対象とする記録層を次のn+1番目の記録層に移動させる(SP6)。またマイクロコンピュータ部10は、この後ステップSP1に戻り、ステップSP1以降を上述と同様に処理する。
そしてマイクロコンピュータ部10は、装填された多層光ディスク3のすべての記録層に対するOPCを完了することによりステップSP5において肯定結果を得ると、このOPC及びシフト試書き処理を終了し、ホストコンピュータ2に対してライト準備完了の応答を送信する。
一方、マイクロコンピュータ部10は、この後、かかるライト準備完了の応答を受けてホストコンピュータ2から記録対象のデータが与えられると、メモリ10A(図1)に格納された制御プログラムに従って、図9に示すライト処理を実行する。
すなわちマイクロコンピュータ部10は、ホストコンピュータ2から記録対象のデータが与えられると、このライト処理を開始し、まず、そのときデータ記録を開始しようとする記録層の最適記録パワーと、記録パルスの立上り端及び立下り端の最適なシフト方向及びシフト量とを最適パルス状態管理テーブル30から読み出す。そしてマイクロコンピュータ部10は、読み出した最適記録パワーをAPC制御の目標記録パワーとしてディジタル・シグナル・プロセッサ11内の記録信号生成部18に設定すると共に、読み出した記録パルスの立上り端及び立下り端の最適なシフト方向及びシフト量を当該記録信号生成部18に設定する(SP10)。
続いてマイクロコンピュータ部10は、ディジタル・シグナル・プロセッサ11の記録信号生成部18や、当該ディジタル・シグナル・プロセッサ11を介して移動・案内機構部15(図1)のスライドモータ16(図1)等を制御することにより、ホストコンピュータ2から与えられる記録対象のデータを所定量だけ多層光ディスク3に記録させる(SP11)。
そしてマイクロコンピュータ部10は、この後、ウォーキングOPCを実行するタイミングとなったか否かを判断し(SP12)、否定結果を得ると、記録層を次ぎの記録層に移動させる必要があるか否かを判断する(SP18)。またマイクロコンピュータ部10は、この判断において否定結果を得ると、ホストコンピュータ2から与えられたすべてのデータを多層光ディスク3に記録し終えたか否かを判断する(SP20)。
マイクロコンピュータ部10は、この判断において否定結果を得るとステップSP11に戻り、この後、ステップSP12、ステップSP18又はステップSP20において肯定結果を得るまでステップSP11−ステップSP12−ステップSP18−ステップSP20−ステップSP11のループを繰り返す。
そしてマイクロコンピュータ部10は、やがてステップSP12において肯定結果を得ると、ウォーキングOPCを実行する(SP13)。そしてマイクロコンピュータ部10は、この後、かかるウォーキングOPCの際に取得したジッタ値が予め設定された閾値よりも大きいか否かを判断する(SP14)。
マイクロコンピュータ部10は、この判断において否定結果を得るとステップSP18に進み、これに対して肯定結果を得ると、そのときデータの記録を行なっている記録層に対してシフト試書きを行なう(SP15)。
次いでマイクロコンピュータ部10は、かかるシフト試書きによって得られたその記録層に対する最適パルス状態(記録パルスの立上り端及び立下り端のシフト方向及びシフト量)をディジタル・シグナル・プロセッサ11の記録信号生成部18に再設定する(SP16)。またマイクロコンピュータ部10は、かかるシフト試書きにより得られたその記録層に対する最適パルス状態に基づいて、他の記録層に対する最適パルス状態を再予測し、かかる再設定した最適パルス状態及び再予測した最適パルス状態を最適記録パワー及び最適パルス状態管理テーブル30に再登録する(SP17)。そしてマイクロコンピュータ部10は、この後ステップSP18に進む。
これに対してマイクロコンピュータ部10は、ステップSP18において肯定結果を得ると、例えばディジタル・シグナル・プロセッサ11を介して光ピックアップ17内の2軸アクチュエータを駆動して対物レンズ21の焦点位置をかかる次の記録層に移動させた後(SP19)、ステップSP10に戻る。そしてマイクロコンピュータ部10は、この後上述と同様にしてステップSP10以降の処理を実行する。
そしてマイクロコンピュータ部10は、やがてホストコンピュータ2から与えられたすべてのデータを多層光ディスク3に記録し終えることによりステップSP20において肯定結果を得ると、このライト処理を終了する。
(3)本実施の形態の効果
以上のように本光ディスク装置1では、OPCについては多層光ディスク3の各記録層に対して行う一方、シフト試書きについては記録を開始する記録層に対してのみ行ない、かかるOPCにより得られた各記録層の最適記録パワーと、記録を開始する記録層に対して行なったシフト試書きにより得られた記録パルスの最適パルス状態とに基づいて、他の記録層ごとの記録パルスの最適パルス状態をそれぞれ予測し、予測結果に応じて当該他の記録層に対する記録パルスのパルス状態を調整するため、すべての記録層に対してシフト試書きを行なう場合に比べて格段的にライト準備時間を短縮化させることができる。かくするにつき、ホストコンピュータ2がライト要求を発行してから光ディスク装置1からのライト準備完了の応答を受けるまでに当該ホストコンピュータ2においてタイムアウトが発生したり、ユーザに不快感を抱かせることを未然にかつ有効に防止し得る光ディスク装置を実現できる。
以上のように本光ディスク装置1では、OPCについては多層光ディスク3の各記録層に対して行う一方、シフト試書きについては記録を開始する記録層に対してのみ行ない、かかるOPCにより得られた各記録層の最適記録パワーと、記録を開始する記録層に対して行なったシフト試書きにより得られた記録パルスの最適パルス状態とに基づいて、他の記録層ごとの記録パルスの最適パルス状態をそれぞれ予測し、予測結果に応じて当該他の記録層に対する記録パルスのパルス状態を調整するため、すべての記録層に対してシフト試書きを行なう場合に比べて格段的にライト準備時間を短縮化させることができる。かくするにつき、ホストコンピュータ2がライト要求を発行してから光ディスク装置1からのライト準備完了の応答を受けるまでに当該ホストコンピュータ2においてタイムアウトが発生したり、ユーザに不快感を抱かせることを未然にかつ有効に防止し得る光ディスク装置を実現できる。
また本光ディスク装置1では、上述のように多層光ディスク3のシフト試書きを行なっていない各記録層についてのレーザ光の記録パルスの最適パルス状態を予測し、当該予測に基づいてレーザ光の記録パルスを制御した後も常に再生信号のジッタを監視し、ジッタが多いときにはその記録層においてシフト試書きを行なうため、ライト準備時間を短縮化させながら、常に高品質の再生信号を得ることができる。
(4)他の実施の形態
なお上述の実施の形態においては、光ディスク装置を図1のように構成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、この他種々の構成の光ディスク装置に広く適用することができる。
なお上述の実施の形態においては、光ディスク装置を図1のように構成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、この他種々の構成の光ディスク装置に広く適用することができる。
また上述の実施の形態においては、多層光ディスク3の各記録層のOPC結果に基づいて(2)式により与えられるXを用いて各記録層における記録パルスの最適パルス状態を予測するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、各記録層における記録パルスの最適パルス状態の予測方法としてはこの他種々の方法を広く適用することができる。
さらに上述の実施の形態においては、記録パルスの立上り端及び立下り端のシフト方向及びシフト量をそれぞれ別個に予測するようにして記録パルスの最適パルス状態を求めるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば記録パルスの立上り端及び立下り端のいずれか一方のシフト方向及びシフト量と、記録パルスのパルス幅を予測するようにして最適パルス状態を求めるようにしても良い。
さらに上述の実施の形態においては、多層光ディスク3の記録を開始する記録層についてのみシフト試書きを行なうようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、かかるシフト試書きを行なう記録層は記録を開始する記録層に限らず、またシフト試書きを行なう記録は1層のみに限らず、要は、多層光ディスク3の一部の記録層についてのみシフト試書きを行なうようにすれば良く、このようにすることによってライト準備時間を短縮化することができる。
さらに上述の実施の形態においては、多層光ディスク3の対応する記録層に情報を記録すると共に当該記録層に記録された情報を再生する記録再生部を、図1のように形成されたディジタル・シグナル・プロセッサ11及び光ピックアップ17などにより構成し、かかる記録再生部を制御する制御部をマイクロコンピュータ10により構成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、これら記録再生部及び制御部の構成としては種々の構成を広く適用することができる。
1……光ディスク装置、2……ホストコンピュータ、3……多層光ディスク、10……マイクロコンピュータ、11……ディジタル・シグナル・プロセッサ、17……光ピックアップ、18……記録信号生成部、19……レーザダイオード駆動回路、20……レーザダイオード、21……対物レンズ、24……再生信号処理部、26……ジッタ取得部、30……最適記録パワー及び最適パルス状態管理テーブル。
Claims (7)
- 複数の記録層を有する多層光ディスクに情報を記録する記録方法において、
前記多層光ディスクの各前記記録層において記録パワーの調整を行なう記録パワー調整処理を実行すると共に、各前記記録層のうちの一部の前記記録層についてのみ記録パルスのパルス状態を調整するシフト試書き処理を実行する第1のステップと、
前記記録パワー調整処理の処理結果及び前記シフト試書き処理の処理結果に基づいて、前記シフト試書き処理を実行していない各前記記録層におけるシフト試書き処理の処理結果を予測する第2のステップと、
前記シフト試書き処理の処理結果又は予測結果に基づいて前記記録パルスのパルス状態を調整しながら、前記多層光ディスクの対応する前記記録層に前記情報を記録する第3のステップと
を備えることを特徴とする記録方法。 - 前記第2のステップでは、
前記記録パルスの立上り端及び立下り端のシフト方向及びシフト量をそれぞれ別個に予測する
ことを特徴とする請求項1に記載の記録方法。 - 前記第2のステップでは、
前記シフト試書き処理を実行した前記記録層よりも前記記録パワー調整処理により得られた記録パワーの調整値が小さい前記記録層については、前記記録パルスの立上り端を当該記録パルスのパルス幅を減らす方向にシフトさせると共に、前記記録パルスの立下り端を前記記録パルスのパルス幅を増やす方向にシフトさせ、前記シフト試書き処理を実行した前記記録層よりも前記記録パワー調整処理により得られた記録パワーの調整値が大きい前記記録層については、前記記録パルスの立上り端を当該記録パルスのパルス幅を増やす方向にシフトさせると共に、前記記録パルスの立下り端を前記記録パルスのパルス幅を減らす方向にシフトさせるように、各前記記録層における前記記録パルスのパルス状態を予測する
ことを特徴とする請求項2に記載の記録方法。 - 前記第1のステップでは、
各前記記録層のうちの記録を開始する前記記録層についてのみ前記シフト試書き処理を実行する
ことを特徴とする請求項1に記載の記録方法。 - 前記第3のステップでは、
前記多層光ディスクに対する前記情報の記録時に、当該多層光ディスクに記録された前記情報を定期的に再生し、再生信号のジッタの値が所定の閾値よりも悪くなったときに、当該記録層に対して前記シフト試書き処理を行い、当該シフト試書き処理の処理結果に基づいて当該記録層に対する前記記録パルスのパルス状態を再設定する
ことを特徴とする請求項1に記載の記録方法。 - 前記第3のステップでは、
前記記録パルスのパルス状態を再設定した前記記録層に対する前記シフト試書き処理の処理結果に基づいて、他の前記記録層に対する前記シフト試書き処理の処理結果を再予測する
ことを特徴とする請求項5に記載の記録方法。 - 複数の記録層を有する多層光ディスクに情報を記録する光ディスク装置において、
前記多層光ディスクの対応する前記記録層に情報を記録すると共に、当該記録層に記録された情報を再生する記録再生部と、
前記記録再生部を制御する制御部と
を備え、
前記制御部は、
前記記録再生部を制御することにより、前記多層光ディスクの各前記記録層において記録パワーの調整を行なう記録パワー調整処理を実行すると共に、各前記記録層のうちの一部の前記記録層についてのみ記録パルスのパルス状態を調整するシフト試書き処理を実行し、
前記記録パワー調整処理の処理結果及び前記シフト試書き処理の処理結果に基づいて、前記シフト試書き処理を実行していない各前記記録層におけるシフト試書き処理の処理結果を予測し、
前記シフト試書き処理の処理結果又は予測結果に基づいて前記記録パルスのパルス状態を調整しながら、前記多層光ディスクの対応する前記記録層に前記情報を記録する
ことを特徴とする光ディスク装置。
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