JP4263165B2 - 光記録再生装置 - Google Patents

Description

本発明は、光記録再生装置に関し、特に、層方向に複数の記録層が配された光記録媒体に情報を記録再生する際に用いて好適なものである。

現在、ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等、様々な光記録メディアが商品化され普及している。これら記録メディアのうち、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ等の追記型メディアや、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷ等の書き換え型メディアでは、レーザパワーを最適値に設定する処理が行われた後に、記録動作が実行される。たとえば、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒにおいては、β法に従ってパワー設定が行われる（特許文献１）。すなわち、予めディスク上に設定されたパワー調整エリアに所定パワーにて試し書きが行われ、その再生ＲＦ信号（アシンメトリ）からβ値を求め、求めたβ値と、当該ディスクにて要求される目標β値（βｔ）とを比較して、記録時の最適パワーが設定される。

図１０にβ値の算出方法を示す。図示の如く、β値は、基準電位Ｉrefに対するアシンメトリの振幅値Ｉtop、Ｉbtmから、β＝（Ｉtop＋Ｉbtm）／（Ｉtop−Ｉbtm）を演算することにより求められる。

試し書き時のレーザパワーは、初期値として、予めディスクのリードインに記録されている初期パワー、あるいは、ドライブ側にて予め設定しておいた初期パワーに設定される。この初期パワーＰｗ１にて試し書きを行ってβ値を取得し、取得したβ値と目標値βｔとを比較して、次の試し書きにて用いられるレーザパワーＰｗ２が求められる。そして、求めたパワーＰｗ２にて再度試し書きを行ってさらにβ値が取得される。

試し書き回数が２回の場合には、図１１に示すように、パワーＰｗ１、Ｐｗ２にて試し書きを行い、そこで得られたβ１、β２を直線近似し、この近似直線上、βｔを与えるレーザパワーが求められる。求めたレーザパワーは、そのまま最適レーザパワーとして設定されるか、あるいは、このパワーを最適レーザパワーとして設定できるかの検証が行われる。かかる検証においては、再度、このレーザパワーにて試し書きが行われ、これを再生したときのエラーレートが取得される。そして、このエラーレートが閾値よりも小さいかの判別が行われ、閾値よりも小さいときに、このレーザパワーが最適レーザパワーとして設定される。

ところで、最近、片面に複数の記録層が配されたディスクが開発され商品化されている。たとえば、以下の特許文献２には、２つの記録層が片面に配されたＤＶＤ−Ｒとそのドライブ装置が記載されている。
特開２００２−２６０２３０号公報 特開２００３−３４６３４８号公報

このようにディスク片面に複数の記録層が配されている場合、それぞれの記録層について最適レーザパワーの設定処理を行う必要がある。しかし、この場合、上記のパワー設定処理を各記録層に対して実行すると、パワー設定処理に長時間を要するとの問題が生じる。たとえば、上記のようにβ値の取得動作を２回に制限した場合でも、その後に検証を行うと、各記録層について３回の試し書きとその再生処理が必要となる。よって、記録層が２層の場合には、合計６回の試し書きとその再生処理が必要となってしまう。

そこで、本発明は、かかる問題を解消し、最適パワー設定処理を迅速且つ円滑に行い得る光記録再生装置を提供することを課題とする。

上記課題に鑑み本発明は、それぞれ以下の特徴を有する。

請求項１の発明は、複数の記録層が積層方向に配された光記録媒体に情報を記録再生する光記録再生装置において、記録層ｎにテスト記録を行った結果から取得した最適パワーＰｗｐｎの設定値を、他の記録層ｍに対する前記テスト記録の初期パワー値として用いて、当該他の記録層ｍに対する最適パワーＰｗｐｍの設定を行うレーザパワー設定手段を備え、前記レーザパワー設定手段は、前記記録層ｎにテスト記録を行った結果から複数のβ値を取得する手段と、前記複数のβ値から記録パワーとβ値の関係を近似する近似直線Ｌｎを求める手段と、前記近似直線Ｌｎと目標β値から記録層ｎの最適パワーの設定値Ｐｗｐｎを求める手段と、前記近似直線Ｌｎの傾きＩｎを求める手段と、前記他の記録層ｍに対する前記テスト記録の初期パワー値として前記最適パワーの設定値Ｐｗｐｎを設定する手段と、前記他の記録層ｍに対する前記テスト記録の結果からβ値を取得する手段と、前記他の記録層ｍに対するテスト記録の結果から取得したβ値と前記傾きＩｎから記録パワーとβ値の関係を近似する近似直線Ｌｍを求める手段と、前記近似直線Ｌｍと目標β値から前記他の記録層ｍの最適パワーの設定値Ｐｗｐｍを求める手段とを有することを特徴とする。

請求項２の発明は、複数の記録層が積層方向に配された光記録媒体に情報を記録再生する光記録再生装置において、記録層ｎにテスト記録を行った結果から取得した最適パワーＰｗｐｎの設定値を、他の記録層ｍに対する前記テスト記録の初期パワー値として用いて、当該他の記録層ｍに対する最適パワーＰｗｐｍの設定を行うレーザパワー設定手段を備え、前記レーザパワー設定手段は、前記他の記録層ｍに対する前記テスト記録の初期パワー値として前記記録層ｎに対する最適パワーの設定値Ｐｗｐｎを設定する手段と、前記初期パワー値によるテスト記録の結果から、前記他の記録層ｍに対する更なるテスト記録のパワー値を設定する手段と、前記初期パワーによるテスト記録と前記更なるテスト記録の結果に基づき記録パワーと前記他の記録層ｍの特性パラメータの関係Ｒｍを近似する手段と、前記関係Ｒｍと前記特性パラメータの目標値から前記他の記録層ｍの最適パワーＰｗｐｍを求める手段とを有することを特徴とする。

請求項３の発明は、請求項２の光記録再生装置において、前記レーザパワー設定手段は、前記記録層ｎにテスト記録を行った結果から複数のβ値を取得する手段と、前記複数のβ値から前記記録層ｎにおける記録パワーとβ値の関係を近似する近似直線Ｌｎを求める手段と、前記近似直線Ｌｎと目標β値から前記記録層ｎの最適パワーの設定値Ｐｗｐｎを求める手段と、前記他の記録層ｍに対する前記テスト記録の初期パワー値として前記最適パワーの設定値Ｐｗｐｎを設定する手段と、前記設定された初期パワー値によるテスト記録の結果から、前記他の記録層ｍに対する更なるテスト記録のパワー値を設定する手段と、前記初期パワー値によるテスト記録および前記更なるテスト記録の結果に基づき前記他の記録層ｍに対する複数のβ値を取得する手段と、前記他の記録層ｍに対する複数のβ値から当該他の記録層ｍにおける記録パワーとβ値の関係を近似する近似直線Ｌｍを求める手段と、前記近似直線Ｌｍと目標β値から前記他の記録層ｍの最適パワーの設定値Ｐｗｐｍを求める手段とを有することを特徴とする。

本発明によれば、記録層ｍに対するテスト記録の初期パワーとして記録層ｎの最適パワーの設定値を用いるようにしたため、予めドライブに設定された設定値等を画一的に用いる場合に比べ、当該ディスクの特性に応じたパワー設定を行うことができる。その結果、記録層ｍに対する最適パワー設定を、より円滑かつ迅速に行うことができる。

特に、請求項２、３の発明によれば、記録層ｍにおけるテスト記録を省略することができ、これにより、最適パワー設定動作の迅速化を図ることができる。また、このとき、記録層ｎにおける関係Ｒｎないし近似直線Ｌｎをもとに、記録層ｍの関係Ｒｍないし近似直線Ｌｍを求め、求めた関係Ｒｍないし近似直線Ｌｍをもとに記録層ｍの最適パワーＰｗｐｍを求めるようにしているため、求めた最適パワーＰｗｐｍを所期の最適パワーに略整合させることができる。したがって、これら発明によれば、最適パワー設定動作の迅速化と、効率化ないし円滑化を同時に図ることができる。

本発明の特徴ないし効果は、以下に示す実施形態の説明によって更に明らかとなろう。ただし、以下の実施形態は、あくまでも、本発明の一つの実施形態であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以下の実施の形態に記載されたものに制限されるものではない。

なお、本発明における各手段の機能は、以下の実施形態では、主として、コントローラ１１１にて達成されている。

以下、本発明の実施形態につき図面を参照して説明する。なお、本実施形態は、片面に２層の記録層を備えたＤＶＤ＋Ｒに情報を記録再生する光ディスク装置に本発明を適用したものである。

まず、図１に実施形態に係る光ディスクの構成を示す。同図に示す如く、光ディスク１は、基板１１と、基板１１上に形成された第１の記録層１２と、第１の記録層１２上に形成された半透過反射層１３と、半透過反射層１３上に形成されたスペーサ１４と、スペーサ１４上に形成された第２の記録層１５と、第２の記録層１５上に形成された反射層１６と、反射層１６上に形成された保護層１７と、保護層１７上に形成された印刷層１８を具備している。

第１の記録層１２および第２の記録層１５には、内周から外周に向かって螺旋状のトラックが形成されており、このトラックに対してデータの記録再生が行われる。ここで、第１の記録層１２におけるトラックと第２の記録層１５におけるトラックは、巻き方向が逆になっている。第１の記録層１２および第２の記録層１５に対する情報の記録／再生時において、ディスクは同一方向に回転される。このとき、第１の記録層１２においては内周から外周方向に向かって記録が行われ、また、第２の記録層において外周から内周方向に向かって記録が行われる。

また、トラックは、径方向に蛇行（ウォブル）しており、このウォブルによってアドレス情報が保持されている。すなわち、ＡＤＩＰ（Address in pre-groove）と呼ばれる位相変調区間が、単調蛇行区間中に一定周期で挿入されており、かかる位相変調区間をビームが走査するとき、その反射光強度の変化からトラック上のアドレス情報が読み取られ再生される。また、リードインゾーンのＡＤＩＰには、当該ディスクに対する種々の制御データが位相変調によって記録されており、その中に、当該ディスクを製造したディスク製造業者の識別情報（マニュファクチャＩＤ）等が含まれている。

図２に、光ディスク１のエリアフォーマットを示す。

図示の如く、第１の記録層１２（レイヤー１）は、内周から外周方向に、インナードライブエリア１、リードインゾーン、データゾーン、ミドルゾーン１、アウタードライブエリア１に領域分割されている。また、第２の記録層１５（レイヤー２）は、内周から外周方向に、インナードライブエリア２、リードアウトゾーン、データゾーン、ミドルゾーン２、アウタードライブエリア２に領域分割されている。さらに、インナードライブエリア１、２とアウタードライブエリア１、２は、種々のゾーンに区分されており、このうち、インナーディスクテストゾーンおよびアウターディスクテストゾーンを用いて、レーザパワーの初期設定（ＯＰＣ：Optimum Write Power Control）が行われる。

図３に、実施形態に係る光ディスク装置の構成を示す。

図示の如く、光ディスク装置は、ＥＣＣエンコーダ１０１と、変調回路１０２と、レーザ駆動回路１０３と、レーザパワー調整回路１０４と、光ピックアップ１０５と、信号増幅回路１０６と、復調回路１０７と、ＥＣＣデコーダ１０８と、サーボ回路１０９と、ＡＤＩＰ再生回路１１０と、コントローラ１１１とを具備している。

ＥＣＣエンコーダ１０１は、入力された記録データに対し誤り訂正符号の付加等のエンコード処理を施し、変調回路１０２へと出力する。変調回路１０２は、入力された記録データに所定の変調を施し、さらに記録信号を生成してレーザ駆動回路１０３に出力する。レーザ駆動回路１０３は、記録時には変調回路１０２からの記録信号に応じた駆動信号を半導体レーザ１０５ａに出力し、再生時には一定強度のレーザ光を出射するための駆動信号を半導体レーザ１０５ａに出力する。ここで、レーザパワーは、レーザパワー調整回路１０４によって調整・設定されたレーザパワーに設定される。

レーザパワー調整回路１０４は、コントローラ１１１からの設定値に応じて、記録および再生時のレーザパワーを初期設定するとともに、設定したレーザパワーを、コントローラ１１１から供給される調整値に応じて適宜調整し、これをレーザ駆動回路１０３に供給する。ここで、レーザパワーの設定（ＯＰＣ）は、当該ディスクの目標β値（βｔ）をもとに行われる。すなわち、コントローラ１１１は、当該ディスクのβ値（βt）を取得し、取得したβtをもとに、当該ディスクに対する記録レーザパワーを最適パワーに設定する。ＯＰＣの詳細については後述する。

なお、記録時においては、段階的に複数の強度レベルを有するパルス状のレーザ光がトラック上に照射される。すなわち、レーザパワー調整回路１０４は、予め規定されたパルス波形（ストラテジ）のレーザ光が光ピックアップ１０５から出射されるようレーザ駆動回路１０３を制御する。レイヤー１とレイヤー２のストラテジは相違しており、これにより、レーザ光に対するレイヤー１とレイヤー２の感度が同一となるよう調整されている。レイヤー１およびレイヤー２のストラテジに関する情報は、上記リードインゾーンのＡＤＩＰに含まれている。レーザパワー調整回路１０４は、かかるストラテジ情報に応じて、記録動作時におけるレイヤー１とレイヤー２のストラテジを設定する。

光ピックアップ１０５は、半導体レーザ１０５ａおよび光検出器１０５ｂを備え、レーザ光をトラック上に収束させることにより、ディスクに対するデータの書き込み／読み出しを行う。なお、光ピックアップ１０５は、この他、トラックに対するレーザ光の照射状態を調整するための対物レンズアクチュエータと、半導体レーザ１０５ａから出射されたレーザ光を対物レンズに導き、且つ、ディスク１００からの反射光を光検出器１０５ｂに導くための光学系等を備えている。

信号増幅回路１０６は、光検出器１０５ｂから受信した信号を増幅および演算処理して各種信号を生成し、これを対応する回路に出力する。復調回路１０７は、信号増幅回路１０６から入力された再生ＲＦ信号を復調して再生データを生成し、ＥＣＣデコーダ１０８に出力する。ＥＣＣデコーダ１０８は、復調回路１０７から入力されたデータに対し誤り訂正等のデコード処理を施し、後段回路に出力する。

サーボ回路１０９は、信号増幅回路１０６から入力されたフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号からフォーカスサーボ信号およびトラッキングサーボ信号を生成し、光ピックアップ１０５の対物レンズアクチュエータに出力する。また、信号増幅回路１０６から入力されたウォブル信号からモータサーボ信号を生成し、ディスク駆動モータに出力する。

ＡＤＩＰ再生回路１１０は、信号増幅回路１０６から入力されたウォブル信号からアドレス情報および各種コントロール情報を再生し、これらをコントローラ１１１に出力する。

コントローラ１１１は、内蔵メモリに各種データを格納するとともに、あらかじめ設定されたプログラムに従って、各部を制御する。

なお、コントローラ１１１には、マニュファクチャＩＤと目標β値（βt）とを対応付けたβ値テーブルが保持されている。コントローラ１１１は、当該ディスクのリードインゾーン（ＡＤＩＰ）から取得したマニュファクチャＩＤと、上記β値テーブルとを比較し、対応する目標β値（βt）を読み出してレーザパワー調整回路１０４に出力する。これをもとに、レーザパワー調整回路１０４は、記録レーザパワーの初期設定を行う。

図４および図５に、ＯＰＣ時における動作フローチャートを示す。

図４を参照して、初期パワーの設定動作が開始されると、コントローラ１１１は、当該ディスクのマニュファクチャＩＤをもとにβ値テーブルから当該ディスクの目標β値（βｔ）を読み出す（Ｓ１０１）。なお、対応するマニュファクチャＩＤがβ値テーブルに含まれていない場合には、平均的なβ値をβ値テーブルから読み出す。β値テーブルには、このような場合に対処できるよう、汎用的に用いられる平均的なβ値が格納されている。

さらに、コントローラ１１１は、内臓メモリに予め格納されている初期パワーＰｗ０をレイヤー１に対するＯＰＣ動作時の最初のテストパワーＰｗ１１に設定し（Ｓ１０２）、このテストパワーＰｗ１１にて、レイヤー１のテストゾーン（通常は、インナーディスクテストゾーンを使用）にテストデータを書き込む（Ｓ１０３）。そして、書き込んだテストデータを再生してβ値を算出し、算出したβ値をβ１１として設定する（Ｓ１０４）。

しかる後、コントローラ１１１は、β１１と目標β値（βｔ）の差Δβを求め（Ｓ１０５）、求めたΔβがあらかじめ設定した閾値Δβｓよりも小さいかを判別する（Ｓ１０６）。ここで、｜Δβ｜≧βｓであれば、Δβの符号（正負）と大きさをもとに、最適パワーに近づく方向に、テストパワーＰｗ１１を再設定し（Ｓ１０７）、再設定後のテストパワーＰｗ１１にてＳ１０３以下の処理を繰り返す。

他方、｜Δβ｜＜βｓであれば、Δβの符号（正負）と大きさをもとに、次のテストパワーＰｗ１２を設定し（Ｓ１０８）、設定後のテストパワーＰｗ１２にて、上記と同様、レイヤー１のテストゾーンにテストデータを書き込む（Ｓ１０９）。そして、書き込んだテストデータを再生してβ値を算出し、算出したβ値をβ１２として設定する（Ｓ１１０）。

しかる後、コントローラ１１１は、上記図１１に示す如くして、β１１とβ１２を直線近似し、この近似直線上、目標β値（βｔ）を与えるレーザパワーを最適パワーＰｗｐとして算出する（Ｓ１１１）。次いで、このパワーＰｗｐにて、レイヤー１のテストゾーンにテストデータを書き込み（Ｓ１１２）、さらに、これを再生したときのエラーレートＥをＥＣＣデコーダ１０８から取得する（Ｓ１１３）。そして、取得したエラーレートＥが閾値Ｅｓ未満であるかを判別し（Ｓ１１４）、閾値Ｅｓ未満でなければ、Ｓ１０３に戻り、上記処理を繰り返す。一方、Ｅ＜Ｅｓであれば、パワーＰｗｐをレイヤー１の最適パワーＰｗｐ１に設定した後（Ｓ１１５）、レイヤー２のパワー設定処理に移行する。

図５を参照して、レイヤー２のパワー設定処理では、まず、先に求めたβ１、β２から、上記図１１に示す近似直線の傾きＩａを求める（Ｓ２０１）。次いで、上記レイヤー１の最適パワーＰｗｐ１をレイヤー２に対するＯＰＣ動作時のテストパワーＰｗ２１に設定し（Ｓ２０２）、このテストパワーＰｗ２１にて、レイヤー２のテストゾーン（通常は、インナーディスクテストゾーンを使用）にテストデータを書き込む（Ｓ２０３）。そして、書き込んだテストデータを再生してβ値を算出し、算出したβ値をβ２１として設定する（Ｓ２０４）。

しかる後、コントローラ１１１は、β２１と目標β値（βｔ）の差Δβを求め（Ｓ２０５）、求めたΔβがあらかじめ設定した閾値Δβｓよりも小さいかを判別する（Ｓ２０６）。ここで、｜Δβ｜≧βｓであれば、Δβの符号（正負）と大きさをもとに、最適パワーに近づく方向に、テストパワーＰｗ２１を再設定し（Ｓ２０７）、再設定後のテストパワーＰｗ２１にてＳ２０３以下の処理を繰り返す。

他方、｜Δβ｜＜βｓであれば、上記Ｓ２０１で求めた傾きＩａとβ２１から近似直線を求め、この近似直線上、目標β値（βｔ）を与えるレーザパワーを最適パワーＰｗｐとして算出する（Ｓ２０８）。次いで、このパワーＰｗｐにて、レイヤー２のテストゾーンにテストデータを書き込み（Ｓ２０９）、さらに、これを再生したときのエラーレートＥをＥＣＣデコーダ１０８から取得する（Ｓ２１０）。そして、取得したエラーレートＥが閾値Ｅｓ未満であるかを判別し（Ｓ２１１）、閾値Ｅｓ未満でなければ、Ｓ２０３に戻り、上記処理を繰り返す。一方、Ｅ＜Ｅｓであれば、パワーＰｗｐをレイヤー２の最適パワーＰｗｐ２に設定し（Ｓ２１２）、当該ディスクに対するＯＰＣ動作を終了する。

本実施例によれば、レイヤー２に対するＯＰＣ動作において、近似直線の算出を１回のテスト記録のみで行えるため、レイヤー２に対するＯＰＣ処理の簡素化および迅速化を図ることができる。このとき、レイヤー１に対する最適パワーＰｗｐ１を初期パワーとしてβ値の取得を行うようにしたことから、β値の値を目標β値（βｔ）に接近させることができ、近似直線を所期の近似直線に近いものとすることができる。よって、上記のようにＯＰＣ時に１回のテスト記録のみしか行わなくとも、レイヤー２に対する最適パワー設定を円滑かつ良好に行うことができる。

上記実施の形態では、レイヤー２に対するＯＰＣ動作において、傾きＩａとβ２１から近似直線を求めるようにしたが、レイヤー１に対するＯＰＣ動作と同様、２つのβ値を取得し、これをもとに近似直線を求めるようにすることもできる。

図６に、この場合の動作フローチャートを示す。

上記の如くしてレイヤー１に対するパワー設定処理が終了した後、レイヤー２のパワー設定処理が開始されると、レイヤー１の最適パワーＰｗｐ１をレイヤー２に対する最初のテストパワーＰｗ２１に設定し（Ｓ３０１）、このテストパワーＰｗ２１にて、レイヤー２のテストゾーン（通常は、インナーディスクテストゾーンを使用）にテストデータを書き込む（Ｓ３０２）。そして、書き込んだテストデータを再生してβ値を算出し、算出したβ値をβ２１として設定する（Ｓ３０３）。

しかる後、コントローラ１１１は、β１１と目標β値（βｔ）の差Δβを求め（Ｓ３０４）、求めたΔβがあらかじめ設定した閾値Δβｓよりも小さいかを判別する（Ｓ３０５）。ここで、｜Δβ｜≧βｓであれば、Δβの符号（正負）と大きさをもとに、最適パワーに近づく方向に、テストパワーＰｗ２１を再設定し（Ｓ３０６）、再設定後のテストパワーＰｗ２１にてＳ３０２以下の処理を繰り返す。

他方、｜Δβ｜＜βｓであれば、Δβの符号（正負）と大きさをもとに、次のテストパワーＰｗ２２を設定し（Ｓ３０７）、設定後のテストパワーＰｗ２２にて、上記と同様、レイヤー２のテストゾーンにテストデータを書き込む（Ｓ３０８）。そして、書き込んだテストデータを再生してβ値を算出し、算出したβ値をβ２２として設定する（Ｓ３０９）。

しかる後、コントローラ１１１は、上記図１１に示す如くして、β２１とβ２２を直線近似し、この近似直線上、目標β値（βｔ）を与えるレーザパワーを最適パワーＰｗｐとして算出する（Ｓ３１０）。次いで、このパワーＰｗｐにて、レイヤー２のテストゾーンにテストデータを書き込み（Ｓ３１１）、さらに、これを再生したときのエラーレートＥをＥＣＣデコーダ１０８から取得する（Ｓ３１２）。そして、取得したエラーレートＥが閾値Ｅｓ未満であるかを判別し（Ｓ３１３）、閾値Ｅｓ未満でなければ、Ｓ３０２に戻り、上記処理を繰り返す。一方、Ｅ＜Ｅｓであれば、パワーＰｗｐをレイヤー２の最適パワーＰｗｐ２に設定した後（Ｓ３１４）、当該ディスクに対するＯＰＣ動作を終了する。

本実施例によれば、上記実施例１に比べ、レイヤー２に対するＯＰＣ動作時に、β値取得のためのテスト記録が１回多くなるとのデメリットが生じる。しかし、この場合でも、レイヤー１の最適パワーＰｗｐ１をレイヤー２に対するＯＰＣ動作時の初期パワーとして用いるため、これにより得られるβ値の値を目標β値（βｔ）に接近させることができ、その後のテスト記録に円滑に移行することができる。よって、レイヤー２に対するＯＰＣの初期パワーとして予めドライブに設定されたパワー等を用いる場合に比べ、レイヤー２に対する最適パワー設定を円滑かつ迅速に行うことができる。

なお、上記実施例１では、図５のＳ２１１にてＥ≧Ｅｓと判別されたときＳ２０３に戻るようにしたが、Ｓ２１１にてＥ≧Ｅｓと判別されたとき、本実施例２による図６の処理フローに移行するようにしても良い。こうすると、Ｓ２１１にてＥ≧Ｅｓと判別された後に、より確実に、レイヤー２に対する最適パワーの設定を行うことができる。

上記実施例１、２では、記録動作時におけるレイヤー１とレイヤー２のパルス波形（ストラテジ）を各レイヤーに適合するよう設定することにより、レーザ光に対するレイヤー１とレイヤー２の感度を均一化するものであった。しかし、光ディスク装置によっては、ストラテジを相違させずに、同一ストラテジにて記録動作を行う場合が想定される。本実施例は、このような光ディスク装置に本発明を適用した場合の形態を例示するものである。

図７に、本実施例における光ディスク装置の構成を示す。ここでは、コントローラ１１１内に、感度換算テーブルがさらに保持されており、この点において、上記実施形態における図３の光ディスク装置とは相違している。その他の構成は、図３の光ディスク装置と同様である。

ここで、感度換算テーブルは、レイヤー１に対するレイヤー２のレーザ光感度の比率と、マニュファクチャＩＤとを対応付けたテーブルである。具体的には、記録動作時におけるパルス波形（ストラテジ）を同一とした場合に、レイヤー１と略同一の記録感度を実現するためには、レイヤー１に対する場合に比べレイヤー２では何％程度のレーザ光強度が必要であるかを、マニュファクチャＩＤに対応付けて格納したテーブルである。

図８に、レイヤー２に対するパワー設定時の処理フローチャートを示す。なお、レイヤー１に対する処理フローは、上記実施例１、２と同様、図４のフローチャートに従って行われる。

図８に示す処理フローでは、実施例１における図５の処理フローにおけるＳ２０２がＳ２２２に置き換えられている。その他の処理ステップは、図５の処理フローと同様である。

コントローラ１１１は、ステップＳ２２２において、当該ディスクのマニュファクチャＩＤをもとに感度換算テーブルから当該ディスクの換算値Ａ（換算率）を読み出す。ここで、換算値Ａは、上述のとおり、記録動作時におけるパルス波形（ストラテジ）を同一とした場合に、レイヤー２ではレイヤー１に対する場合に比べ何％程度のレーザ光強度が必要であるかを示す値となっている。なお、対応するマニュファクチャＩＤが感度換算テーブルに含まれていない場合には、平均的な換算値を感度換算テーブルから読み出す。感度換算テーブルには、このような場合に対処できるよう、汎用的に用いられる平均的な換算値が格納されている。

しかる後、コントローラ１１１は、レイヤー１に対する処理フローにて取得したレイヤー１の最適パワーＰｗｐ１に換算値Ａを乗じ、その算出結果をレイヤー２に対するテストパワーＰｗｐ２１として設定する。以降、コントローラ１１１は、レイヤー２に対するパルス波形（ストラテジ）を同一しつつ、上記実施例１と同様の処理（Ｓ２０３〜Ｓ２１２）を実行して、レイヤー２に対するパワー設定を行う。

本実施例によれば、上記実施例１と同様、レイヤー２に対するＯＰＣ動作において、近似直線の算出を１回のテスト記録のみで行えるため、レイヤー２に対するＯＰＣ処理の簡素化および迅速化を図ることができる。このとき、レイヤー１に対する最適パワーＰｗｐ１に当該ディスクの換算値Ａを乗じて得たパワーを初期パワーに設定してβ値の取得を行うようにしたことから、β値の値を当該ディスクの目標β値（βｔ）に接近させることができ、近似直線を所期の近似直線に近いものとすることができる。よって、ＯＰＣ時に１回のテスト記録のみしか行わなくとも、レイヤー２に対する最適パワー設定を円滑かつ良好に行うことができる。

なお、本実施例は、レイヤー２に対するＯＰＣ動作において、傾きＩａとβ２１から近似直線を求めるものであるが、上記実施例２の場合と同様、２つのβ値を取得し、これをもとに近似直線を求めるようにすることもできる。

図９に、かかる場合の処理フローを示す。本処理フローでは、実施例２における図６の処理フローにおけるＳ３０１がＳ３２１に置き換えられている。その他の処理ステップは、図６の処理フローと同様である。すなわち、Ｓ３２１では、当該ディスクのマニュファクチャＩＤをもとに感度換算テーブルから当該ディスクの換算値Ａが読み出される。そして、レイヤー１に対する処理フローにて取得されたレイヤー１の最適パワーＰｗｐ１に換算値Ａが乗算され、その算出結果がレイヤー２に対するテストパワーＰｗｐ２１として設定される。以降、レイヤー２に対するパルス波形（ストラテジ）を同一しつつ、上記実施例２と同様の処理（Ｓ３０２〜Ｓ３１４）が実行され、レイヤー２に対するパワー設定が行われる。

この場合、上記実施例２と同様、レイヤー２に対する最適パワー設定を円滑かつ迅速に行えるとの効果を奏することができる。

なお、上記実施例３では、Ｓ２１１にてＥ≧Ｅｓと判別されたときＳ２０３に戻るようにしたが、Ｓ２１１にてＥ≧Ｅｓと判別されたとき、図９に示す処理フローに移行するようにしても良い。こうすると、Ｓ２１１にてＥ≧Ｅｓと判別された後に、より確実に、レイヤー２に対する最適パワーの設定を行うことができる。

以上、本発明の実施形態ならびに実施例について説明したが、本発明は、これらに限定されるものではなく、他に種々の変更が可能である。

たとえば、上記では、ＤＶＤ＋Ｒとそれに対する光ディスク装置を例示したが、ＤＶＤ−ＲＷ等、他の光ディスクおよびその記録再生装置に本発明を適用することも勿論可能である。

また、上記では、記録層が片面に２層配された光ディスクを例示したが、記録層の数は２層に限定されるものではなく、３層以上の記録層が片面に配された光ディスクおよびその記録再生装置に本発明を適用することもできる。この場合、たとえば、１層目に対するＯＰＣにて取得した最適パワーＰｗｐ１を、２層目、３層目、…に対するＯＰＣの初期パワーに用い、あるいは、１層目に対するＯＰＣにて取得した最適パワーＰｗｐ１を２層目に対するＯＰＣの初期パワーに用い、２層目に対するＯＰＣにて取得した最適パワーＰｗｐ２を３層目に対するＯＰＣの初期パワーに用いるといった具合に、隣接する記録層に対するＯＰＣにて取得した最適パワーＰｗｐｎを次の記録層ｎ＋１に対するＯＰＣの初期パワーに用いるようにしても良い。後者の場合には、前者の場合に比べ、初期パワーによるテスト記録によって取得したβ値の値を目標β値（βｔ）に接近させることができ、近似直線を所期の近似直線に近いものとすることができるものと想定できる。よって、各レイヤーに対する最適パワー設定を円滑かつ良好に行うことができるようになる。

なお、３層以上の記録層が片面に配されている場合、通常のＯＰＣを行う記録層は１層のみに限られるものではなく、たとえば、５層の記録層を備える場合に、１層目と５層目の記録層に対しては、図４に従う通常のＯＰＣを行い、２、３、４層目の記録層に対しては、図５に従うＯＰＣを行うようにすることもできる。

さらに、一方の面にのみ記録層を有するディスクの他、貼り合わせ等によって両方の面に記録層が形成された光ディスクおよびその記録再生装置に本発明を適用することもできる。この場合、たとえば、各面に対して上記実施形態に従うＯＰＣ動作が実行される。この他、エリアフォーマットや各層におけるトラックの巻き方向等も上記実施形態に限定されるものではない。さらに、上記では、最適パワーＰｗｐの算出後、試し書きによって最適パワーＰｗｐの設定の可否を検証するようにしたが、かかる検証処理を省略し、算出した最適パワーをそのまま各レイヤーの最適パワーとして設定するようにすることもできる。

本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。

実施形態に係る光ディスクの構成を示す図 実施形態に係る光ディスクのエリアフォーマットを示す図 実施形態に係る光ディスク装置の構成を示す図 実施例１に係るレイヤー１のパワー設定処理を示すフローチャート 実施例１に係るレイヤー２のパワー設定処理を示すフローチャート 実施例２に係るレイヤー２のパワー設定処理を示すフローチャート 実施例３に係る光ディスク装置の構成を示す図 実施例３に係るレイヤー２のパワー設定処理を示すフローチャート 実施例２に係るレイヤー２のパワー設定処理を示すフローチャート β値の算出方法を説明する図 β値の近似直線と最適パワーＰｗｐの算出方法を説明する図

符号の説明

１０３ レーザ駆動回路
１０４ レーザパワー調整回路
１１１ コントローラ

Claims (3)

1. 複数の記録層が積層方向に配された光記録媒体に情報を記録再生する光記録再生装置において、
   記録層ｎにテスト記録を行った結果から取得した最適パワーＰｗｐｎの設定値を、他の記録層ｍに対する前記テスト記録の初期パワー値として用いて、当該他の記録層ｍに対する最適パワーＰｗｐｍの設定を行うレーザパワー設定手段を備え、
   前記レーザパワー設定手段は、
   前記記録層ｎにテスト記録を行った結果から複数のβ値を取得する手段と、
   前記複数のβ値から記録パワーとβ値の関係を近似する近似直線Ｌｎを求める手段と、
   前記近似直線Ｌｎと目標β値から記録層ｎの最適パワーの設定値Ｐｗｐｎを求める手段と、
   前記近似直線Ｌｎの傾きＩｎを求める手段と、
   前記他の記録層ｍに対する前記テスト記録の初期パワー値として前記最適パワーの設定値Ｐｗｐｎを設定する手段と、
   前記他の記録層ｍに対する前記テスト記録の結果からβ値を取得する手段と、
   前記他の記録層ｍに対するテスト記録の結果から取得したβ値と前記傾きＩｎから記録パワーとβ値の関係を近似する近似直線Ｌｍを求める手段と、
   前記近似直線Ｌｍと目標β値から前記他の記録層ｍの最適パワーの設定値Ｐｗｐｍを求める手段とを有する、
   ことを特徴とする光記録再生装置。
2. 複数の記録層が積層方向に配された光記録媒体に情報を記録再生する光記録再生装置において、
   記録層ｎにテスト記録を行った結果から取得した最適パワーＰｗｐｎの設定値を、他の記録層ｍに対する前記テスト記録の初期パワー値として用いて、当該他の記録層ｍに対する最適パワーＰｗｐｍの設定を行うレーザパワー設定手段を備え、
   前記レーザパワー設定手段は、
   前記他の記録層ｍに対する前記テスト記録の初期パワー値として前記記録層ｎに対する最適パワーの設定値Ｐｗｐｎを設定する手段と、
   前記初期パワー値によるテスト記録の結果から、前記他の記録層ｍに対する更なるテスト記録のパワー値を設定する手段と、
   前記初期パワーによるテスト記録と前記更なるテスト記録の結果に基づき記録パワーと前記他の記録層ｍの特性パラメータの関係Ｒｍを近似する手段と、
   前記関係Ｒｍと前記特性パラメータの目標値から前記他の記録層ｍの最適パワーＰｗｐｍを求める手段とを有する、
   ことを特徴とする光記録再生装置。
3. 請求項２において、
   前記レーザパワー設定手段は、
   前記記録層ｎにテスト記録を行った結果から複数のβ値を取得する手段と、
   前記複数のβ値から前記記録層ｎにおける記録パワーとβ値の関係を近似する近似直線Ｌｎを求める手段と、
   前記近似直線Ｌｎと目標β値から前記記録層ｎの最適パワーの設定値Ｐｗｐｎを求める手段と、
   前記他の記録層ｍに対する前記テスト記録の初期パワー値として前記最適パワーの設定値Ｐｗｐｎを設定する手段と、
   前記設定された初期パワー値によるテスト記録の結果から、前記他の記録層ｍに対する更なるテスト記録のパワー値を設定する手段と、
   前記初期パワー値によるテスト記録および前記更なるテスト記録の結果に基づき前記他の記録層ｍに対する複数のβ値を取得する手段と、
   前記他の記録層ｍに対する複数のβ値から当該他の記録層ｍにおける記録パワーとβ値の関係を近似する近似直線Ｌｍを求める手段と、
   前記近似直線Ｌｍと目標β値から前記他の記録層ｍの最適パワーの設定値Ｐｗｐｍを求める手段とを有する、
   ことを特徴とする光記録再生装置。

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