JP2009123853A - Light-emitting apparatus, production method of light-emitting apparatus, and wiring body - Google Patents

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好伸 末広
Seiji Yamaguchi
誠治 山口
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a wiring body capable of suppressing fault caused by an organic residue evaporated during heating a substrate, a light-emitting apparatus and a production method of the light-emitting apparatus. <P>SOLUTION: This light-emitting apparatus includes: an LED element 12; the substrate 11 on which the LED element 12 is mounted on the upper face; a sealing part 13 sealing the LED element 12 on the substrate 11; a pair of electrode patterns 16 formed on the bottom face of the substrate 11 and electrically connected with the LED element 12; a radiating pattern 17 formed on the bottom face of the substrate 11; and an exposing part 17a exposing the substrate 11 and formed in at least any one of the electrode pattern 16 and the radiating pattern 17, wherein even when a gas is generated by the vaporization of an organic residue during heating the substrate, the gas is discharged to the outside through the exposing part 17a. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、LED素子が上面に搭載される基板の下面に、電極パターン及び放熱パターンが形成される発光装置及び発光装置の製造方法に関する。また、基板の表面に配線パターンが形成される配線体に関する。   The present invention relates to a light emitting device in which an electrode pattern and a heat dissipation pattern are formed on a lower surface of a substrate on which an LED element is mounted, and a method for manufacturing the light emitting device. The present invention also relates to a wiring body in which a wiring pattern is formed on the surface of a substrate.

LED素子を基板の上面に搭載し、LED素子を基板上にて封止する発光装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1に記載の発光装置は、上面にLED素子を搭載する多層構造のセラミック基板と、基板の上面および層内に形成される回路パターンと、基板の中間層から露出した底面回路パターンと、LED素子2にて生じた熱を外部へ放散する放熱パターンと、を有している。一般的に、このような発光装置において、基板作製時、電極パターン及び放熱パターンの形成時等に、基板や各パターンに有機残渣が残留する。   There is known a light-emitting device in which an LED element is mounted on an upper surface of a substrate and the LED element is sealed on the substrate (see, for example, Patent Document 1). The light-emitting device described in Patent Document 1 includes a multilayer ceramic substrate on which LED elements are mounted on the upper surface, a circuit pattern formed in the upper surface and the layer of the substrate, a bottom circuit pattern exposed from the intermediate layer of the substrate, And a heat dissipation pattern that dissipates heat generated in the LED element 2 to the outside. Generally, in such a light emitting device, organic residues remain on the substrate and each pattern when the substrate is manufactured, when an electrode pattern and a heat radiation pattern are formed.

有機残渣を除去する方法として、電気絶縁性の樹脂体上に所望の導体パターンを備えた配線体において、前記樹脂体に前記下地金属層の形成前にプラズマ処理あるいは反応性イオンエッチング処理を施す方法が知られている(例えば、特許文献2参照)。
国際公開第04/082036号パンフレット 特開2004−82444号公報
As a method for removing organic residues, in a wiring body having a desired conductor pattern on an electrically insulating resin body, a plasma treatment or a reactive ion etching treatment is performed on the resin body before the formation of the base metal layer. Is known (see, for example, Patent Document 2).
International Publication No. 04/082036 Pamphlet JP 2004-82444 A

特許文献1に記載の発光装置において、基板や各パターンに有機残渣が残留したまま、実装されたLED素子を封止すべく基板及び封止材を加熱すると、有機残渣が気化してしまう。このとき、電極パターン及び放熱パターンの形成面積が大きいと、有機残渣のガスがパターン内に閉じ込められて、各パターンが剥離、***等するなどの不具合が生じる。
しかし、特許文献2に記載の方法を用いたとしても、全ての有機残渣を取り除くことは困難であるし、製造工程が増すために発光装置の製造コストが嵩んでしまう。
In the light emitting device described in Patent Document 1, when the substrate and the sealing material are heated to seal the mounted LED element while the organic residue remains on the substrate and each pattern, the organic residue is vaporized. At this time, if the formation area of the electrode pattern and the heat radiation pattern is large, the organic residue gas is confined in the pattern, causing problems such as peeling and bulging of each pattern.
However, even if the method described in Patent Document 2 is used, it is difficult to remove all organic residues, and the manufacturing process increases, so that the manufacturing cost of the light emitting device increases.

本発明は前記事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、基板を加熱した際に気化する有機残渣により生じる不具合を抑制することのできる配線体、発光装置及び発光装置の製造方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to manufacture a wiring body, a light emitting device, and a light emitting device capable of suppressing problems caused by an organic residue that is vaporized when the substrate is heated. It is to provide a method.

本発明によれば、LED素子と、前記LED素子が上面に搭載される基板と、前記LED素子を前記基板上にて封止する封止部と、前記基板の下面に複数の金属層によって形成され、前記LED素子と電気的に接続される一対の電極パターンと、前記基板の下面に複数の金属層によって形成される放熱パターンと、前記電極パターンと前記放熱パターンの少なくとも一方に形成され、複数の金属層における表層より前記基板側の層又は前記基板を露出させる露出部と、を備えた発光装置が提供される。   According to the present invention, an LED element, a substrate on which the LED element is mounted, a sealing portion that seals the LED element on the substrate, and a plurality of metal layers on the lower surface of the substrate are formed. A pair of electrode patterns electrically connected to the LED element, a heat radiation pattern formed by a plurality of metal layers on the lower surface of the substrate, and formed on at least one of the electrode pattern and the heat radiation pattern. There is provided a light emitting device comprising: a layer closer to the substrate than the surface layer of the metal layer; or an exposed portion exposing the substrate.

また、本発明によれば、上記発光装置を製造するにあたり、前記基板の表面に形成されたレジスト材からなるマスクを利用して前記電極パターン及び前記放熱パターンを形成する工程と、前記電極パターン及び前記放熱パターンが形成された前記基板と、封止材と、を加熱した状態で、前記LED素子を前記封止材により前記基板上にて封止する工程と、を含む発光装置の製造方法が提供される。   According to the present invention, in manufacturing the light emitting device, the step of forming the electrode pattern and the heat dissipation pattern using a mask made of a resist material formed on the surface of the substrate, the electrode pattern and A step of sealing the LED element on the substrate with the sealing material in a state in which the substrate on which the heat dissipation pattern is formed and the sealing material are heated. Provided.

また、本発明によれば、上記発光装置を製造するにあたり、前記基板の表面に形成されたレジスト材からなるマスクを利用して前記電極パターン及び前記放熱パターンを形成する工程と、前記電極パターン及び前記放熱パターンが形成された前記基板と、板状のガラスと、を加熱した状態で、ホットプレス加工により前記LED素子を前記基板上にて前記ガラスで封止する工程と、を含む発光装置の製造方法が提供される。   According to the present invention, in manufacturing the light emitting device, the step of forming the electrode pattern and the heat dissipation pattern using a mask made of a resist material formed on the surface of the substrate, the electrode pattern and A step of sealing the LED element with the glass on the substrate by hot pressing in a state where the substrate on which the heat dissipation pattern is formed and a plate-like glass are heated. A manufacturing method is provided.

また、本発明によれば、基板と、前記基板の表面に複数の金属層によって形成される配線パターンと、前記配線パターンに形成され、複数の金属層における表層より前記基板側の層又は前記基板を露出させる露出部と、を備えた配線体が提供される。   Further, according to the present invention, the substrate, the wiring pattern formed by a plurality of metal layers on the surface of the substrate, the layer closer to the substrate than the surface layer in the plurality of metal layers, or the substrate And an exposed portion that exposes the wiring body.

本発明によれば、基板を加熱した際に気化する有機残渣を露出部を通じて外部へ放出することができるので、有機残渣のガスにより生じる不具合を抑制することができる。   According to the present invention, since an organic residue that is vaporized when the substrate is heated can be discharged to the outside through the exposed portion, problems caused by the organic residue gas can be suppressed.

図1から図4は本発明の第1の実施形態を示し、図1は発光装置の上面図である。尚、各図においては、説明のために、実際の装置の各部寸法と寸法を異にして図示している部分がある。   1 to 4 show a first embodiment of the present invention, and FIG. 1 is a top view of a light emitting device. In each figure, for the sake of explanation, there are parts that are illustrated with different dimensions and dimensions of the actual apparatus.

図1に示すように、発光装置1は、フリップチップ型のGaN系半導体材料からなるLED素子12と、LED素子12を上面に搭載するセラミック基板11と、セラミック基板11の上面に形成されLED素子12へ電力へ供給するための上面パターン14と、LED素子12及び上面パターン14をセラミック基板11上にて封止する封止部13と、を備えている。本実施形態においては、1つの発光装置1に、前後及び左右に600μmの間隔で3列ずつ並ぶ計9つのLED素子12が搭載される。各LED素子12は、上面パターン14により電気的に直列に接続されている。   As shown in FIG. 1, the light emitting device 1 includes an LED element 12 made of a flip-chip GaN-based semiconductor material, a ceramic substrate 11 on which the LED element 12 is mounted, and an LED element formed on the upper surface of the ceramic substrate 11. 12 is provided with a top surface pattern 14 for supplying power to 12 and a sealing portion 13 for sealing the LED element 12 and the top surface pattern 14 on the ceramic substrate 11. In the present embodiment, a total of nine LED elements 12 arranged in three rows at 600 μm intervals in the front-rear and left-right directions are mounted on one light-emitting device 1. Each LED element 12 is electrically connected in series by the upper surface pattern 14.

LED素子12は、サファイア(Al)からなる成長基板の表面に、III族窒化物系半導体をエピタキシャル成長させることにより、バッファ層と、n型層と、MQW層と、p型層とがこの順で形成されている。このLED素子12は、700℃以上でエピタキシャル成長され、その耐熱温度は600℃以上であり、低融点の熱融着ガラスを用いた封止加工における加工温度に対して安定である。また、LED素子12は、p型層の表面に設けられるp側電極と、p側電極上に形成されるp側パッド電極と、を有するとともに、p型層からn型層にわたって一部をエッチングすることにより露出したn型層に形成されるn側電極を有する。p側パッド電極とn側電極には、それぞれバンプ18(図1中不図示)が形成される。本実施形態においては、LED素子12は、厚さ100μmで346μm角に形成される。 The LED element 12 includes a buffer layer, an n-type layer, an MQW layer, and a p-type layer by epitaxially growing a group III nitride semiconductor on the surface of a growth substrate made of sapphire (Al 2 O 3 ). They are formed in this order. This LED element 12 is epitaxially grown at 700 ° C. or higher, its heat-resistant temperature is 600 ° C. or higher, and is stable with respect to the processing temperature in the sealing process using the low melting point heat-sealing glass. In addition, the LED element 12 includes a p-side electrode provided on the surface of the p-type layer and a p-side pad electrode formed on the p-side electrode, and a part thereof is etched from the p-type layer to the n-type layer. The n-side electrode is formed on the exposed n-type layer. Bumps 18 (not shown in FIG. 1) are formed on the p-side pad electrode and the n-side electrode, respectively. In the present embodiment, the LED element 12 has a thickness of 100 μm and a 346 μm square.

セラミック基板11は、アルミナ(Al)の多結晶焼結材料からなり、上面視四角形状に形成される。本実施形態においては、セラミック基板11は、厚さ方向(上下方向)寸法が0.25mm、一辺の寸法が3.15mmの上面視正方形状に形成される。 The ceramic substrate 11 is made of a polycrystalline sintered material of alumina (Al 2 O 3 ) and is formed in a square shape when viewed from above. In the present embodiment, the ceramic substrate 11 is formed in a square shape in a top view having a thickness direction (vertical direction) dimension of 0.25 mm and a side dimension of 3.15 mm.

図2は発光装置の模式縦断面図である。
図2に示すように、セラミック基板11は、多層構造であり、上面が全面にわたって平坦に形成されている。上面パターン14は、LED素子12と電気的に接続され、セラミック基板11の厚さ方向へ延びるビアパターン15を介して一対の電極パターン16と電気的に接続される。上面パターン14は、セラミック基板11の上面の外縁と離隔して形成されている。配線パターンとしての電極パターン16は、セラミック基板11の下面の所定方向両端に形成され、一方が正電極、他方が負電極をなす。また、セラミック基板11の下面における各電極パターン16の間には、放熱パターン17が形成される。
FIG. 2 is a schematic longitudinal sectional view of the light emitting device.
As shown in FIG. 2, the ceramic substrate 11 has a multilayer structure, and the upper surface is formed flat over the entire surface. The upper surface pattern 14 is electrically connected to the LED element 12 and is electrically connected to the pair of electrode patterns 16 via the via pattern 15 extending in the thickness direction of the ceramic substrate 11. The upper surface pattern 14 is formed apart from the outer edge of the upper surface of the ceramic substrate 11. The electrode pattern 16 as a wiring pattern is formed on both ends of the lower surface of the ceramic substrate 11 in a predetermined direction, one being a positive electrode and the other being a negative electrode. A heat radiation pattern 17 is formed between the electrode patterns 16 on the lower surface of the ceramic substrate 11.

上面パターン14、ビアパターン15、電極パターン16及び放熱パターン17は、導電性の金属からなる。本実施形態においては、上面パターン14、電極パターン16及び放熱パターン17は、セラミック基板11の表面に形成されるCu層21と、Cu層21の表面を覆う薄膜状のNiメッキ層22と、Niメッキ層22の表面を覆う薄膜状のAgメッキ層23と、を含んでいる。また、ビアパターン15は、Cu及びNiからなり、セラミック基板11を厚さ方向に貫通するビアホールに設けられる。   The upper surface pattern 14, the via pattern 15, the electrode pattern 16, and the heat dissipation pattern 17 are made of a conductive metal. In the present embodiment, the upper surface pattern 14, the electrode pattern 16, and the heat dissipation pattern 17 include a Cu layer 21 formed on the surface of the ceramic substrate 11, a thin Ni plating layer 22 that covers the surface of the Cu layer 21, Ni And a thin-film Ag plating layer 23 covering the surface of the plating layer 22. The via pattern 15 is made of Cu and Ni, and is provided in a via hole penetrating the ceramic substrate 11 in the thickness direction.

封止部13は、ZnO−B−SiO−Nb−NaO−LiO系の熱融着ガラスからなる。尚、ガラスの組成はこれに限定されるものではなく、例えば、熱融着ガラスは、LiOを含有していなくてもよいし、任意成分としてZrO、TiO等を含んでいてもよい。図2に示すように、封止部13は、セラミック基板11と全面的に接合されており、セラミック基板11上に直方体状に形成され、セラミック基板11の上面からの高さが0.5mmとなっている。封止部13の側面は、ホットプレス加工によってセラミック基板11と接着された板ガラスが、セラミック基板11とともにダイサー(dicer)でカットされることにより形成される。また、封止部13の上面は、ホットプレス加工によってセラミック基板11と接着された板ガラスの一面である。この熱融着ガラスは、ガラス転移温度(Tg)が490℃、屈伏点(At)が520℃、100℃〜300℃における熱膨張率(α)が6×10−6/℃、屈折率が1.7となっている。 The sealing portion 13 is made of ZnO—B 2 O 3 —SiO 2 —Nb 2 O 5 —Na 2 O—Li 2 O-based heat fusion glass. The composition of the glass is not limited to this. For example, the heat-sealing glass may not contain Li 2 O, or may contain ZrO 2 , TiO 2 or the like as an optional component. Good. As shown in FIG. 2, the sealing portion 13 is joined to the ceramic substrate 11 entirely, is formed in a rectangular parallelepiped shape on the ceramic substrate 11, and the height from the upper surface of the ceramic substrate 11 is 0.5 mm. It has become. The side surface of the sealing portion 13 is formed by cutting a plate glass bonded to the ceramic substrate 11 by hot pressing together with the ceramic substrate 11 with a dicer. The upper surface of the sealing portion 13 is one surface of a plate glass bonded to the ceramic substrate 11 by hot pressing. This heat-fusible glass has a glass transition temperature (Tg) of 490 ° C., a yield point (At) of 520 ° C., a coefficient of thermal expansion (α) at 100 ° C. to 300 ° C. of 6 × 10 −6 / ° C., and a refractive index. It is 1.7.

また、封止部13には蛍光体13aが分散されている。蛍光体13aは、MQW層から発せられる青色光により励起されると、黄色領域にピーク波長を有する黄色光を発する黄色蛍光体である。本実施形態においては、蛍光体13aとしてYAG(Yttrium Aluminum Garnet)蛍光体が用いられる。尚、蛍光体13aは、珪酸塩蛍光体や、YAGと珪酸塩蛍光体を所定の割合で混合したもの等であってもよい。   Further, the phosphor 13 a is dispersed in the sealing portion 13. The phosphor 13a is a yellow phosphor that emits yellow light having a peak wavelength in a yellow region when excited by blue light emitted from the MQW layer. In the present embodiment, a YAG (Yttrium Aluminum Garnet) phosphor is used as the phosphor 13a. The phosphor 13a may be a silicate phosphor or a mixture of YAG and silicate phosphor at a predetermined ratio.

図3は発光装置の下面図である。
図3に示すように、各電極パターン16及び放熱パターン17は、平面視にて矩形状に形成される。各電極パターン16は、セラミック基板11の下面の一方向(図3中左右方向)両端側に一対に形成され、他方向(図3中上下方向)に延びるよう形成されている。本実施形態においては、各電極パターン16は、セラミック基板11の下面の周縁と離隔して形成されている。また、放熱パターン17は、各電極パターン16と間隔をおいてセラミック基板11の下面の一方向中央側に形成される。放熱パターン17もまた、セラミック基板11の下面の周縁と離隔して形成されている。
FIG. 3 is a bottom view of the light emitting device.
As shown in FIG. 3, each electrode pattern 16 and heat dissipation pattern 17 are formed in a rectangular shape in plan view. Each electrode pattern 16 is formed in a pair on both ends in one direction (left and right direction in FIG. 3) on the lower surface of the ceramic substrate 11 and extends in the other direction (up and down direction in FIG. 3). In the present embodiment, each electrode pattern 16 is formed apart from the periphery of the lower surface of the ceramic substrate 11. In addition, the heat radiation pattern 17 is formed on the one-way center side of the lower surface of the ceramic substrate 11 with a space from each electrode pattern 16. The heat radiation pattern 17 is also formed apart from the peripheral edge of the lower surface of the ceramic substrate 11.

放熱パターン17は、平面視にて各LED素子12の少なくとも一部と重なるよう形成される。本実施形態においては、放熱パターン17は、一方向中央側に位置するLED素子12の全部と重なり、一方向両端側に位置するLED素子12の内側と重なっている。放熱パターン17には、セラミック基板11を露出させる露出部としての孔部17aが形成されている。セラミック基板11と、セラミック基板11の表面(下面)に形成される放熱パターン17と、放熱パターン17に形成されセラミック基板11を露出させる孔部17aと、で配線体を構成している。孔部17aは、平面視にて各LED素子12と重ならないように複数形成されている。本実施形態においては、各孔部17aは、平面視円形を呈し、一方向に2列並び、他方向に等間隔で4列並んで計8つ形成されている。8つの孔部17aのうち4つは、平面視中央に位置するLED素子12と、セラミック基板11の四隅側に位置する各LED素子12との中間位置に形成されている。   The heat dissipation pattern 17 is formed so as to overlap at least a part of each LED element 12 in plan view. In the present embodiment, the heat radiation pattern 17 overlaps all of the LED elements 12 positioned on the center side in one direction, and overlaps the inner side of the LED elements 12 positioned on both ends in one direction. The heat radiation pattern 17 is formed with a hole 17a as an exposed portion for exposing the ceramic substrate 11. The ceramic substrate 11, the heat radiation pattern 17 formed on the surface (lower surface) of the ceramic substrate 11, and the holes 17a formed in the heat radiation pattern 17 and exposing the ceramic substrate 11 constitute a wiring body. A plurality of hole portions 17a are formed so as not to overlap each LED element 12 in plan view. In the present embodiment, each of the hole portions 17a has a circular shape in plan view, and is formed in a total of eight rows, arranged in two rows in one direction and arranged in four rows at equal intervals in the other direction. Four of the eight hole portions 17 a are formed at intermediate positions between the LED element 12 located in the center in plan view and the LED elements 12 located on the four corner sides of the ceramic substrate 11.

図4は、発光装置の実装基板への実装状態の一例を示す縦断面図である。
図4に示すように、この実装基板31は、金属からなる基板本体32と、基板本体32上に形成され樹脂からなる絶縁層33と、絶縁層33上に形成され金属からなる回路パターン34と、を有している。基板本体32は、例えば銅(熱伝導率:380W・m−1・K−1)からなり、各ガラス封止LED2の放熱パターン17とはんだ材36を介して接続される。絶縁層33は、例えばポリイミド樹脂、エポキシ樹脂等からなり、導電性を有する基板本体32と回路パターン34との絶縁を図る。回路パターン34は、表面(上面)に薄膜状のAu層34aを有するCu層34bからなり、各ガラス封止LED2の電極パターン16とはんだ材37を介して接続される。
FIG. 4 is a vertical cross-sectional view illustrating an example of a mounting state of the light emitting device on the mounting substrate.
As shown in FIG. 4, the mounting substrate 31 includes a substrate body 32 made of metal, an insulating layer 33 made of resin formed on the substrate body 32, and a circuit pattern 34 made of metal formed on the insulating layer 33. ,have. The substrate body 32 is made of, for example, copper (thermal conductivity: 380 W · m −1 · K −1 ), and is connected via the heat radiation pattern 17 of each glass-sealed LED 2 and the solder material 36. The insulating layer 33 is made of, for example, a polyimide resin, an epoxy resin, or the like, and insulates the conductive substrate body 32 from the circuit pattern 34. The circuit pattern 34 includes a Cu layer 34b having a thin Au layer 34a on the surface (upper surface), and is connected to the electrode pattern 16 of each glass-sealed LED 2 via a solder material 37.

尚、図4には発光装置1が搭載される実装基板31の一例を図示しており、発光装置1が搭載される実装基板31は任意に変更可能である。例えば、実装基板31が、回路パターン34を被覆する白色のレジスト層を備えたものであってもよいし、例えばアルミベース基板のように銅以外の金属をベースとした基板であってもよい。さらに、実装基板31を、ポリイミドや液晶ポリマーをベースとしたフレキシブル基板としてももよい。   FIG. 4 shows an example of the mounting substrate 31 on which the light emitting device 1 is mounted, and the mounting substrate 31 on which the light emitting device 1 is mounted can be arbitrarily changed. For example, the mounting substrate 31 may include a white resist layer that covers the circuit pattern 34, or may be a substrate based on a metal other than copper, such as an aluminum base substrate. Further, the mounting substrate 31 may be a flexible substrate based on polyimide or liquid crystal polymer.

以上のように構成された発光装置1では、実装基板31を通じて各電極パターン16に電圧が印加されると、各LED素子12から青色光が発せられる。そして、青色光の一部が蛍光体13aにより黄色に変換され、発光装置1からは青色光と黄色光の組合せにより白色光が発せられる。また、各LED素子12にて生じた熱は、放熱パターン17を介して基板本体32に伝達される。このとき、放熱パターン17の孔部17aが各LED素子12の真下に形成されていないので、各LED素子12から基板本体32への伝熱効率は良好である。   In the light emitting device 1 configured as described above, when a voltage is applied to each electrode pattern 16 through the mounting substrate 31, blue light is emitted from each LED element 12. A part of the blue light is converted to yellow by the phosphor 13a, and white light is emitted from the light emitting device 1 by a combination of blue light and yellow light. Further, the heat generated in each LED element 12 is transmitted to the substrate body 32 via the heat dissipation pattern 17. At this time, since the hole 17a of the heat radiation pattern 17 is not formed directly under each LED element 12, the heat transfer efficiency from each LED element 12 to the substrate body 32 is good.

ここで、封止部13をガラスでなく樹脂としてもよいが、樹脂封止ではLED素子12から発せられる光、熱によっても黄変等の劣化が生じるため、経時的に光量低下や色度変化が生じる。また、封止材の熱膨張率が大きい(例えば、シリコーンでは150〜200×10−6/℃)ことにより、温度変化による膨張収縮が生じるため、LED素子12の電気接続箇所にて断線が生じ易い。このため、本実施形態のようなガラス封止が好ましく、光や熱に対して劣化がなく、また熱膨張率がLED素子12と比較的近い値であるため、電気的断線が生じ難い。尚、ガラスは低融点のガラスに限定されず、例えば、アルコキシドを出発原料として形成されるゾルゲルガラスであってもよい。 Here, the sealing portion 13 may be made of resin instead of glass. However, since resin sealing causes deterioration such as yellowing due to light emitted from the LED element 12 and heat, a decrease in light amount and chromaticity change over time. Occurs. Further, since the thermal expansion coefficient of the encapsulant is large (for example, 150 to 200 × 10 −6 / ° C. for silicone), expansion and contraction due to temperature change occurs, and thus disconnection occurs at the electrical connection portion of the LED element 12. easy. For this reason, glass sealing like this embodiment is preferable, there is no deterioration with respect to light and heat, and since a thermal expansion coefficient is a value comparatively close to LED element 12, it is hard to produce an electrical disconnection. The glass is not limited to a glass having a low melting point, and may be, for example, a sol-gel glass formed using an alkoxide as a starting material.

この発光装置1の製造方法について、図5の工程説明図を参照して以下に説明する。
まず、ZnO−B−SiO−Nb−NaO−LiO系の熱融着ガラスを粉砕して、平均粒径が30μmのガラスの粉末体を生成する。これに、平均粒径が10μmのYAGからなる蛍光体13aを混合し、蛍光体13aがガラスの粉末内に均一に分散された混合粉末を生成する(混合工程)。
A method for manufacturing the light emitting device 1 will be described below with reference to the process explanatory diagram of FIG.
First, a ZnO—B 2 O 3 —SiO 2 —Nb 2 O 5 —Na 2 O—Li 2 O-based thermally fused glass is pulverized to produce a glass powder having an average particle size of 30 μm. This is mixed with a phosphor 13a made of YAG having an average particle size of 10 μm to produce a mixed powder in which the phosphor 13a is uniformly dispersed in a glass powder (mixing step).

混合工程にて生成された混合粉末を荷重を加えながら溶融した後に、この混合粉末を固化して蛍光体分散ガラス43を生成する(ガラス生成工程)。生成された蛍光体分散ガラス43は、封止部13の厚さに対応するよう板状に加工される(板状加工工程)。   After the mixed powder generated in the mixing step is melted while applying a load, the mixed powder is solidified to generate the phosphor-dispersed glass 43 (glass generation step). The produced phosphor dispersed glass 43 is processed into a plate shape corresponding to the thickness of the sealing portion 13 (plate processing step).

蛍光体分散ガラス43とは別個に、ビアホールが形成され、複数の発光装置1のセラミック基板11がマトリクス状態で配列形成された連結基板41を用意する。ここで、連結基板41として、例えば、プラズマ加工により表面を粗面化し、銅箔を貼り付けたものを用いる。次いで、連結基板41に樹脂のレジスト材により上面パターン14、ビアパターン15、電極パターン16及び放熱パターン17に対応したマスクを連結基板41の上面及び下面に形成する。このレジスト材としては、例えば、ゴム系レジスト、ノボラック樹脂等を用いることができる。また、レジスト剥離剤として、例えばアルキルベンゼンスルホン酸等を成分とした有機酸素の薬液、有機アミンと極性溶剤との混合物等を用いることができる。また、マスクの形成方法としては、例えば、フォトレジスト法、スクリーン印刷レジスト法等を用いることができる。この後、マスクを除去することにより、Cu層21が形成される。そして、連結基板41の上面及び下面にNiメッキを施することにより、Cu層21上にNiメッキ層22が形成される。   Separately from the phosphor-dispersed glass 43, a connection substrate 41 in which via holes are formed and the ceramic substrates 11 of the plurality of light emitting devices 1 are arranged in a matrix is prepared. Here, as the connection substrate 41, for example, a surface roughened by plasma processing and a copper foil attached is used. Next, masks corresponding to the upper surface pattern 14, the via pattern 15, the electrode pattern 16, and the heat dissipation pattern 17 are formed on the upper surface and the lower surface of the connection substrate 41 using a resin resist material on the connection substrate 41. As this resist material, for example, a rubber resist, a novolac resin, or the like can be used. Further, as the resist stripping agent, for example, a chemical solution of organic oxygen containing alkylbenzene sulfonic acid or the like as a component, a mixture of an organic amine and a polar solvent, or the like can be used. Moreover, as a mask formation method, for example, a photoresist method, a screen printing resist method, or the like can be used. Thereafter, the Cu layer 21 is formed by removing the mask. Then, the Ni plating layer 22 is formed on the Cu layer 21 by performing Ni plating on the upper surface and the lower surface of the connection substrate 41.

このようにNiメッキ層22を形成した後、連結基板41の上面及び下面にAgメッキを施して、Agメッキ層23が形成される。以上のようにCu層21、Niメッキ層22及びAgメッキ層23を形成することにより、上面パターン14、ビアパターン15、電極パターン16及び放熱パターン17を形成する(パターン形成工程)。   After forming the Ni plating layer 22 in this way, Ag plating is performed on the upper and lower surfaces of the connecting substrate 41 to form the Ag plating layer 23. By forming the Cu layer 21, the Ni plating layer 22, and the Ag plating layer 23 as described above, the upper surface pattern 14, the via pattern 15, the electrode pattern 16, and the heat radiation pattern 17 are formed (pattern formation step).

図6は、複数の発光装置のセラミック基板が互いに連結された状態を示し、ダイサーによる分割前の連結基板の下面図である。図6には、一方向及び他方向に4つのセラミック基板11が連結された連結基板41を示している。
本実施形態においては、図6に示すように、連結基板41の外縁側に、電極パターン16及び放熱パターン17よりも大きな複数のダミーパターン42が形成されている。連結基板41における各ダミーパターン42の形成部位には、図示しないダミービアホールが形成されている。各ダミーパターン42は、電極パターン16及び放熱パターン17と同様にCu層21、Niメッキ層22、Agメッキ層23を有し、パターン形成工程にて電極パターン16及び放熱パターン17と同時に形成される。各ダミーパターン42には、孔部のような基板下面を露出させる露出部は形成されていない。
FIG. 6 is a bottom view of a connection substrate before being divided by a dicer, showing a state in which ceramic substrates of a plurality of light emitting devices are connected to each other. FIG. 6 shows a connection substrate 41 in which four ceramic substrates 11 are connected in one direction and the other direction.
In the present embodiment, as shown in FIG. 6, a plurality of dummy patterns 42 larger than the electrode pattern 16 and the heat dissipation pattern 17 are formed on the outer edge side of the connection substrate 41. Dummy via holes (not shown) are formed at the portions where the dummy patterns 42 are formed on the connection substrate 41. Each dummy pattern 42 has a Cu layer 21, a Ni plating layer 22, and an Ag plating layer 23 like the electrode pattern 16 and the heat dissipation pattern 17, and is formed simultaneously with the electrode pattern 16 and the heat dissipation pattern 17 in the pattern forming process. . Each dummy pattern 42 is not formed with an exposed portion that exposes the lower surface of the substrate, such as a hole.

次に、連結基板41の上面パターン14に複数のLED素子2を例えばAuからなるバンプ18によって電気的に接合する(素子実装工程)。本実施形態においては、p側1点、n側1点の合計2点のバンプ接合が施される。   Next, the plurality of LED elements 2 are electrically joined to the upper surface pattern 14 of the connection substrate 41 by bumps 18 made of, for example, Au (element mounting process). In the present embodiment, bump bonding is performed at a total of two points, one point on the p side and one point on the n side.

図7はホットプレス加工の状態を示す模式説明図である。
次いで、各LED素子12を実装した連結基板41を下金型91、板状の蛍光体分散ガラス43を上金型92にセットする。下金型91及び上金型92にはそれぞれヒータが配置され、各金型91,92で独立して温度調整される。そして、図7に示すように、略平坦な連結基板41の上面に蛍光体分散ガラス43を重ねて、下金型91及び上金型92を加圧し、窒素雰囲気中でホットプレス加工を行う。本実施形態においては、予熱ステージを設けて連結基板41及び蛍光体分散ガラス43を400℃〜500℃に予め加熱しておき、600℃で蛍光体分散ガラス43と連結基板41とに圧力を加える。これにより、LED素子12が搭載された連結基板41に蛍光体分散ガラス43が融着され、LED素子12は連結基板41上で蛍光体分散ガラス43により封止される(ガラス封止工程)。本実施形態においては、加圧圧力を20〜40kgf/cm程度として加工を行っている。ここで、ホットプレス加工は、各部材に対して不活性な雰囲気中で行えばよく、窒素雰囲気の他に例えば真空中で行うようにしてもよい。
FIG. 7 is a schematic explanatory view showing the state of hot pressing.
Next, the connecting substrate 41 on which the LED elements 12 are mounted is set in the lower mold 91, and the plate-like phosphor-dispersed glass 43 is set in the upper mold 92. A heater is disposed in each of the lower mold 91 and the upper mold 92, and the temperatures of the molds 91 and 92 are independently adjusted. Then, as shown in FIG. 7, the phosphor-dispersed glass 43 is placed on the upper surface of the substantially flat connecting substrate 41, the lower mold 91 and the upper mold 92 are pressurized, and hot pressing is performed in a nitrogen atmosphere. In the present embodiment, a preheating stage is provided, and the connection substrate 41 and the phosphor dispersion glass 43 are preheated to 400 ° C. to 500 ° C., and pressure is applied to the phosphor dispersion glass 43 and the connection substrate 41 at 600 ° C. . Thereby, the phosphor dispersion glass 43 is fused to the connection substrate 41 on which the LED elements 12 are mounted, and the LED elements 12 are sealed on the connection substrate 41 by the phosphor dispersion glass 43 (glass sealing step). In the present embodiment, the processing is performed at a pressure of about 20 to 40 kgf / cm 2 . Here, the hot pressing process may be performed in an inert atmosphere with respect to each member, and may be performed in, for example, a vacuum in addition to the nitrogen atmosphere.

連結基板41にはCu層21とNiメッキ層22との間にパターン形成工程にて用いた樹脂からなるレジスト材やメッキ処理時の薬液が残留しており、ホットプレス加工時にレジスト材及び薬液の有機残渣が300℃を超える温度で分解し気化してガスが発生する。また、連結基板41は、多層構造であるとともに、ビアホールが形成されていることから、連結基板41にパターン形成時やメッキ処理時の薬液が残存していることがある。この薬液が残存している場合には、この薬液の有機残渣も気化してガスが発生する。放熱パターン17内にて発生したガスは、各孔部17a及び放熱パターン17の外縁から外部へ放出される。また、各電極パターン16内にて発生したガスは、電極パターン16の外縁から外部へ放出される。各電極パターン16は、放熱パターン17よりも小さく、内部にガスが溜まらない程度の面積に形成されている。   Resist material made of the resin used in the pattern forming process and chemical solution at the time of the plating process remain between the Cu layer 21 and the Ni plating layer 22 on the connection substrate 41, and the resist material and the chemical solution are removed during hot press processing. The organic residue decomposes and vaporizes at a temperature exceeding 300 ° C. to generate gas. In addition, since the connection substrate 41 has a multilayer structure and via holes are formed, there may be a case where a chemical solution is left on the connection substrate 41 during pattern formation or plating. When this chemical solution remains, the organic residue of this chemical solution is also vaporized to generate gas. The gas generated in the heat radiation pattern 17 is discharged to the outside from the outer edges of the hole portions 17a and the heat radiation pattern 17. Further, the gas generated in each electrode pattern 16 is released from the outer edge of the electrode pattern 16 to the outside. Each electrode pattern 16 is smaller than the heat dissipating pattern 17 and is formed in an area such that gas does not accumulate inside.

このとき、各ダミーパターン42を観察することにより、ホットプレス加工時の各電極パターン16及び放熱パターン17の品質、信頼性等について評価を行うことができる。各ダミーパターン42は、露出部が形成されていないことから、有機残渣のガスによる剥離、***等が生じやすくなっている。従って、各ダミーパターン42に不具合が生じなければ、電極パターン16及び放熱パターン17の比較的高い品質、信頼性等が保証される。各ダミーパターン42に不具合が生じた場合であっても、電極パターン16及び放熱パターン17に剥離、***等が生じることはないが、有機残渣が多い連結基板41であることを知ることができる。尚、各ダミーパターン42は、互いに形成面積、形状等が異なるようにし、互いに別個の条件で不具合を評価できるようにしておくことが好ましい。   At this time, by observing each dummy pattern 42, it is possible to evaluate the quality, reliability, and the like of each electrode pattern 16 and heat radiation pattern 17 during hot pressing. Since each dummy pattern 42 is not formed with an exposed portion, peeling of the organic residue due to gas, bulging, and the like are likely to occur. Therefore, if no defect occurs in each dummy pattern 42, the relatively high quality, reliability, etc. of the electrode pattern 16 and the heat dissipation pattern 17 are guaranteed. Even if a defect occurs in each dummy pattern 42, the electrode pattern 16 and the heat radiation pattern 17 do not peel off or rise, but it can be known that the connecting substrate 41 has a large amount of organic residue. Note that it is preferable that the dummy patterns 42 have different formation areas, shapes, and the like so that defects can be evaluated under different conditions.

ホットプレス加工により、蛍光体分散ガラス43は連結基板41とこれらに含まれる酸化物を介して接着される。ここで、ホットプレス加工での熱融着ガラスの粘度は10〜10ポアズとすることが好ましい。この粘度範囲とすることにより、粘度が低いことに起因するガラスの上金型92へ接合、ガラスの外部流出等を抑制して歩留まりを良好にすることができるとともに、粘度が高いことに起因するガラスの連結基板41への接合力低下、各バンプ18のつぶれ量の増大等を抑制することができる。 The phosphor-dispersed glass 43 is bonded to the connection substrate 41 via the oxide contained therein by hot pressing. Here, it is preferable that the viscosity of the heat-fusible glass in the hot press processing is 10 5 to 10 7 poise. By setting this viscosity range, it is possible to improve the yield by suppressing bonding of the glass to the upper mold 92 due to low viscosity, glass outflow, etc., and high viscosity. It is possible to suppress a decrease in bonding strength of glass to the connecting substrate 41, an increase in the amount of crushing of each bump 18, and the like.

また、連結基板41は多結晶アルミナで表面が粗面状に形成されており、蛍光体分散ガラス43側の接合部の界面が連結基板41の表面に沿って粗面状に形成される。これは、例えば、ホットプレス加工時に圧力を加えることにより実現される。ここで、粗面化された多結晶アルミナの凹みにガラスが十分入り込む状態であれば、ホットプレス加工時の圧力条件や温度条件は任意である。この結果、封止部13とセラミック基板11との間に隙間のない状態となり、封止部13とセラミック基板11との接合強度を担保することができる。   The connection substrate 41 is made of polycrystalline alumina and has a rough surface, and the interface of the bonding portion on the phosphor-dispersed glass 43 side is formed in a rough shape along the surface of the connection substrate 41. This is realized, for example, by applying pressure during hot pressing. Here, as long as the glass sufficiently enters the dent of the roughened polycrystalline alumina, the pressure condition and temperature condition at the time of hot pressing are arbitrary. As a result, there is no gap between the sealing portion 13 and the ceramic substrate 11, and the bonding strength between the sealing portion 13 and the ceramic substrate 11 can be ensured.

ここで、連結基板41及び蛍光体分散ガラス43を予め加熱することなくホットプレス加工を行ってもよいし、プレス後に徐冷ステージを設けて蛍光体分散ガラス43の冷却速度を制御するようにしてもよい。尚、連結基板41を予め加熱してホットプレス加工を行うと、予め加熱しない場合に比して電極パターン16及び放熱パターン17に剥離、***等が生じ難くなることが確認されている。また、予熱ステージ及び徐冷ステージにおいてプレスすることも可能であり、ホットプレス加工時の工程は適宜に変更可能である。   Here, hot pressing may be performed without heating the connecting substrate 41 and the phosphor-dispersed glass 43 in advance, or a slow cooling stage is provided after pressing to control the cooling rate of the phosphor-dispersed glass 43. Also good. It has been confirmed that when the connecting substrate 41 is preheated and hot pressing is performed, the electrode pattern 16 and the heat radiation pattern 17 are less likely to be peeled off, raised, or the like as compared with the case where the connecting substrate 41 is not preheated. Moreover, it is also possible to press in a preheating stage and a slow cooling stage, and the process at the time of a hot press process can be changed suitably.

以上の工程で、複数の発光装置1が横方向に連結された状態の図7に示すような中間体51が作製される。この後、蛍光体分散ガラス43と一体化された連結基板41をダイサー(dicer)にセットして、発光装置1の単位ごとに蛍光体分散ガラス43及び連結基板41を分割して発光装置1が完成する(ダイシング工程)。封止部13及びセラミック基板11がともにダイサーによりカットされることで、セラミック基板11及び封止部13の側面が面一となる。   Through the above steps, the intermediate body 51 as shown in FIG. 7 in a state where the plurality of light emitting devices 1 are connected in the lateral direction is manufactured. Thereafter, the connecting substrate 41 integrated with the phosphor dispersed glass 43 is set on a dicer, and the phosphor dispersed glass 43 and the connecting substrate 41 are divided for each unit of the light emitting device 1 to form the light emitting device 1. Completed (dicing process). Since both the sealing part 13 and the ceramic substrate 11 are cut by a dicer, the side surfaces of the ceramic substrate 11 and the sealing part 13 are flush with each other.

このように、本実施形態によれば、放熱パターン17に孔部17aを形成したので、放熱パターン17の形成部位にて発生したガスを確実に外部へ放出することができる。従って、放熱パターン17の形成部位に溜まったガスにより放熱パターン17が剥離、***等するようなことはなく、ガスに起因する放熱パターン17の不具合を防止して、発光装置1の歩留まりを向上させることができる。   Thus, according to the present embodiment, since the hole portion 17a is formed in the heat radiation pattern 17, the gas generated at the site where the heat radiation pattern 17 is formed can be reliably discharged to the outside. Therefore, the heat radiation pattern 17 is not peeled off or raised due to the gas accumulated in the portion where the heat radiation pattern 17 is formed, and the defect of the heat radiation pattern 17 due to the gas is prevented, thereby improving the yield of the light emitting device 1. be able to.

また、各電極パターン16及び放熱パターン17をセラミック基板11の外縁から離隔して形成したので、連結基板41において隣接するセラミック基板11同士で電極パターン16又は放熱パターン17が連続的に形成されることはなく、連結基板41に連続的に形成される電極パターン16及び放熱パターン17の面積を小さくすることができる。従って、各電極パターン16及び放熱パターン17の形成部位に溜まったガスに起因する各電極パターン16及び放熱パターン17の不具合を防止して、発光装置1の歩留まりを向上させることができる。   In addition, since each electrode pattern 16 and the heat radiation pattern 17 are formed apart from the outer edge of the ceramic substrate 11, the electrode pattern 16 or the heat radiation pattern 17 is continuously formed between the adjacent ceramic substrates 11 in the connection substrate 41. In other words, the area of the electrode pattern 16 and the heat radiation pattern 17 continuously formed on the connection substrate 41 can be reduced. Therefore, the defect of each electrode pattern 16 and the heat radiation pattern 17 resulting from the gas accumulated in the formation site of each electrode pattern 16 and the heat radiation pattern 17 can be prevented, and the yield of the light emitting device 1 can be improved.

さらに、封止部13を樹脂よりもセラミックに熱膨張率が近いガラスとすることにより、ホットプレス加工により高温で接着された後、常温あるいは低温状態としても剥離、クラック等の接着不良が生じにくい。ここで、ガラスは引っ張り応力にはクラックが生じ易いが、圧縮応力にはクラックは生じにくく、封止部13のガラスをセラミック基板11に対し熱膨張率が小さいものとすることが好ましい。   Furthermore, the sealing part 13 is made of glass having a thermal expansion coefficient closer to that of ceramic than resin, so that after bonding at high temperature by hot pressing, adhesion failure such as peeling and cracking hardly occurs even at room temperature or low temperature. . Here, the glass is likely to crack in the tensile stress, but is not likely to crack in the compressive stress, and the glass of the sealing portion 13 preferably has a smaller thermal expansion coefficient than the ceramic substrate 11.

また、各LED素子12は、フリップ実装することによりワイヤを不要とできるので、高粘度状態のガラスによる封止加工に対しても各LED素子12とセラミック基板11との間の電気的な不具合を生じない。LED素子12の電極とセラミック基板11の上面パターン14をワイヤで電気的に接続するフェイスアップ型のLED素子を封止する場合、ガラス封止加工時にワイヤの潰れや変形を生じることがある。また、ワイヤのボンディングスペースが不要で、かつ、ガラスとセラミックの強固な接合によって、わずかなスペースでの接着でも界面剥離が生じないので、発光装置1を小型とすることができる。   Moreover, since each LED element 12 can make a wire unnecessary by carrying out flip mounting, the electrical malfunction between each LED element 12 and the ceramic board | substrate 11 also with respect to the sealing process by the glass of a high viscosity state. Does not occur. When sealing a face-up type LED element in which the electrode of the LED element 12 and the upper surface pattern 14 of the ceramic substrate 11 are electrically connected by a wire, the wire may be crushed or deformed during glass sealing. In addition, no wire bonding space is required, and interface peeling does not occur even when bonding is performed in a small space due to the strong bonding between glass and ceramic. Therefore, the light emitting device 1 can be downsized.

尚、前記実施形態においては、孔部17aを放熱パターン17にのみ形成したものを示したが、例えば図8に示すように、各電極パターン16に孔部16aを形成してもよい。図8の発光装置1では、各電極パターン16の形成部位にて生じたガスは、孔部16aを通じて外部へ放出される。ここで、ホットプレス時における有機残渣のガス発生量については、セラミック基板11の形状、洗浄条件等や、電極パターン形成時におけるレジスト材の材質、マスク除去方法等、種々の条件に依存している。図8に示す発光装置1であれば、ガス発生量が比較的多く、面積が比較的小さな各電極パターン16に***が生じやすい場合であっても、各電極パターン16に生じる不具合を防止することができる。   In the above embodiment, the hole portion 17a is formed only in the heat radiation pattern 17, but the hole portion 16a may be formed in each electrode pattern 16 as shown in FIG. In the light-emitting device 1 of FIG. 8, the gas generated at the site where each electrode pattern 16 is formed is released to the outside through the hole 16a. Here, the gas generation amount of the organic residue at the time of hot pressing depends on various conditions such as the shape of the ceramic substrate 11, the cleaning conditions, the material of the resist material at the time of forming the electrode pattern, the mask removing method, and the like. . In the case of the light emitting device 1 shown in FIG. 8, it is possible to prevent a problem that occurs in each electrode pattern 16 even when the electrode pattern 16 that has a relatively large gas generation amount and a relatively small area is likely to be raised. Can do.

図9から図11は本発明の第2の実施形態を示すもので、図9は発光装置の上面図である。
図9に示すように、発光装置201は、複数のLED素子12と、各LED素子12を一列に上面に搭載するセラミック基板211と、セラミック基板211の上面に形成され各LED素子12へ電力へ供給するための上面パターン214と、各LED素子12及び上面パターン214をセラミック基板211上にて封止する封止部213と、を備えている。本実施形態においては、1つの発光装置201に、セラミック基板211の延在方向に一列に並ぶ計6つのLED素子21が搭載される。各LED素子12は、上面パターン214により電気的に直列に接続されている。
9 to 11 show a second embodiment of the present invention, and FIG. 9 is a top view of the light emitting device.
As shown in FIG. 9, the light emitting device 201 includes a plurality of LED elements 12, a ceramic substrate 211 on which the LED elements 12 are mounted in a row on a top surface, and a power formed on the top surface of the ceramic substrate 211 to each LED element 12. An upper surface pattern 214 for supply and a sealing portion 213 for sealing each LED element 12 and the upper surface pattern 214 on the ceramic substrate 211 are provided. In the present embodiment, a total of six LED elements 21 arranged in a line in the extending direction of the ceramic substrate 211 are mounted on one light emitting device 201. Each LED element 12 is electrically connected in series by the upper surface pattern 214.

セラミック基板211は、アルミナ(Al)の多結晶焼結材料からなり、厚さ方向(上下方向)寸法が0.25mm、短辺の寸法が0.75mm、長辺の寸法が5.0mmの上面視長方形状に形成される。 The ceramic substrate 211 is made of a polycrystalline sintered material of alumina (Al 2 O 3 ), has a thickness direction (vertical direction) dimension of 0.25 mm, a short side dimension of 0.75 mm, and a long side dimension of 5. It is formed in a rectangular shape with a top view of 0 mm.

図10は発光装置の模式縦断面図である。
図10に示すように、セラミック基板211は、上面が全面にわたって平坦に形成されている。上面パターン214は、各LED素子12と電気的に接続され、セラミック基板211の厚さ方向へ延びるビアパターン215を介して一対の電極パターン216と電気的に接続される。電極パターン216は、セラミック基板211の下面の延在方向両端に形成され、一方が正電極、他方が負電極をなす。また、セラミック基板211の下面における各電極パターン216の間には、放熱パターン217が形成される。
FIG. 10 is a schematic longitudinal sectional view of the light emitting device.
As shown in FIG. 10, the ceramic substrate 211 has an upper surface formed flat over the entire surface. The upper surface pattern 214 is electrically connected to each LED element 12 and is electrically connected to the pair of electrode patterns 216 via the via pattern 215 extending in the thickness direction of the ceramic substrate 211. The electrode patterns 216 are formed at both ends of the lower surface of the ceramic substrate 211 in the extending direction, and one of them forms a positive electrode and the other forms a negative electrode. In addition, heat radiation patterns 217 are formed between the electrode patterns 216 on the lower surface of the ceramic substrate 211.

上面パターン214、ビアパターン215、電極パターン216及び放熱パターン217は、導電性の金属からなる。本実施形態においては、上面パターン214、電極パターン216及び放熱パターン217は、セラミック基板211の表面に形成されるCu下地層221と、Cu下地層221の表面を覆う薄膜状のCuメッキ層222と、Cuメッキ層222の表面を覆う薄膜状のAuメッキ層223と、を含んでいる。また、ビアパターン215は、Cuからなり、セラミック基板211を厚さ方向に貫通するビアホールに設けられる。   The upper surface pattern 214, the via pattern 215, the electrode pattern 216, and the heat dissipation pattern 217 are made of a conductive metal. In the present embodiment, the upper surface pattern 214, the electrode pattern 216, and the heat dissipation pattern 217 include a Cu base layer 221 formed on the surface of the ceramic substrate 211, and a thin-film Cu plating layer 222 that covers the surface of the Cu base layer 221. And a thin-film Au plating layer 223 that covers the surface of the Cu plating layer 222. The via pattern 215 is made of Cu, and is provided in a via hole that penetrates the ceramic substrate 211 in the thickness direction.

封止部213は、ZnO−B−SiO−Nb−NaO−LiO系の熱融着ガラスからなる。尚、ガラスの組成はこれに限定されるものではない。図10に示すように、封止部213は、セラミック基板211と全面的に接合されており、セラミック基板211上に直方体状に形成され、セラミック基板211の上面からの高さが0.5mmとなっている。また、封止部213には蛍光体13aが分散されている。 The sealing portion 213 is made of ZnO—B 2 O 3 —SiO 2 —Nb 2 O 5 —Na 2 O—Li 2 O-based heat-sealing glass. The composition of the glass is not limited to this. As shown in FIG. 10, the sealing portion 213 is bonded to the ceramic substrate 211 entirely, is formed in a rectangular parallelepiped shape on the ceramic substrate 211, and the height from the upper surface of the ceramic substrate 211 is 0.5 mm. It has become. In addition, the phosphor 13 a is dispersed in the sealing portion 213.

図11は発光装置の下面図である。
図11に示すように、各電極パターン216及び放熱パターン217は、平面視にて矩形状に形成される。各電極パターン216は、セラミック基板211の下面の延在方向両端側に一対に形成されている。本実施形態においては、各電極パターン216は、セラミック基板211の下面の周縁と離隔して形成されている。また、放熱パターン217は、各電極パターン216と間隔をおいてセラミック基板211の延在方向中央側に形成される。放熱パターン217もまた、セラミック基板211の下面の周縁と離隔して形成されている。
FIG. 11 is a bottom view of the light emitting device.
As shown in FIG. 11, each electrode pattern 216 and heat radiation pattern 217 are formed in a rectangular shape in plan view. Each electrode pattern 216 is formed in a pair on both ends in the extending direction of the lower surface of the ceramic substrate 211. In the present embodiment, each electrode pattern 216 is formed separately from the peripheral edge of the lower surface of the ceramic substrate 211. Further, the heat dissipation pattern 217 is formed on the center side in the extending direction of the ceramic substrate 211 with a space from each electrode pattern 216. The heat radiation pattern 217 is also formed separately from the peripheral edge of the lower surface of the ceramic substrate 211.

本実施形態においては、放熱パターン217には、セラミック基板211を露出させる露出部としての溝部219が形成される。放熱パターン217は、溝部219により複数の分割パターン217a,217bに分割される。具体的に、放熱パターン217は、各LED素子12に対応してセラミック基板211の延在方向に6つに分割して形成され、当該延在方向両端側に位置する2つの第1分割パターン217aと、当該延在方向中央側に位置する4つの第2分割パターン217bと、を有している。各第1分割パターン217aと各第2分割パターン217bとは、延在方向と直交する方向へ延びパターンが形成されていない溝部219により隔離されている。各溝部219は、各LED素子12と平面視にて重ならないよう形成される。各第2分割パターン217bは、各LED素子12と平面視で重なるよう形成され、各LED素子12より大きな正方形状を呈している。各第1分割パターン217aは、セラミック基板11の延在方向について、各第2分割パターン217bよりも小さく形成され、一部が各LED素子12と平面視で重なるよう形成される。   In the present embodiment, the heat radiation pattern 217 is formed with a groove 219 as an exposed portion that exposes the ceramic substrate 211. The heat radiation pattern 217 is divided into a plurality of division patterns 217 a and 217 b by the groove 219. Specifically, the heat dissipation pattern 217 is divided into six in the extending direction of the ceramic substrate 211 corresponding to each LED element 12, and two first divided patterns 217a located on both ends of the extending direction. And four second division patterns 217b located on the center side in the extending direction. Each first divided pattern 217a and each second divided pattern 217b are separated by a groove portion 219 extending in a direction orthogonal to the extending direction and having no pattern formed thereon. Each groove portion 219 is formed so as not to overlap each LED element 12 in plan view. Each second division pattern 217 b is formed so as to overlap with each LED element 12 in a plan view, and has a larger square shape than each LED element 12. Each first divided pattern 217a is formed to be smaller than each second divided pattern 217b in the extending direction of the ceramic substrate 11 and partially overlaps each LED element 12 in plan view.

以上のように構成された発光装置201では、各電極パターン216に電圧が印加されると、各LED素子12から青色光が発せられる。そして、青色光の一部が蛍光体13aにより黄色に変換され、発光装置201からは青色光と黄色光の組合せにより白色光が発せられる。また、各LED素子12にて生じた熱は、放熱パターン217を介して外部へ伝達される。このとき、溝部219が各LED素子12の真下に形成されていないので、各LED素子12から外部への伝熱効率は良好である。   In the light emitting device 201 configured as described above, blue light is emitted from each LED element 12 when a voltage is applied to each electrode pattern 216. A part of the blue light is converted to yellow by the phosphor 13a, and white light is emitted from the light emitting device 201 by a combination of blue light and yellow light. Further, heat generated in each LED element 12 is transmitted to the outside through the heat radiation pattern 217. At this time, since the groove part 219 is not formed directly under each LED element 12, the heat-transfer efficiency from each LED element 12 to the exterior is favorable.

この発光装置201は、第1の実施形態の発光装置1と同様の工程により製造される。この発光装置201も、連結基板41にはパターン形成工程にて用いたレジスト材やメッキ処理時の薬液が残留しており、ホットプレス加工時にレジスト材等の有機成分が気化してガスが発生する。放熱パターン217の形成部位にて発生したガスは、各溝部219をはじめとする各第1分割パターン217a及び各第2分割パターン217bの外縁から外部へ放出される。   The light emitting device 201 is manufactured by the same process as the light emitting device 1 of the first embodiment. In the light emitting device 201 as well, the resist material used in the pattern forming process and the chemical solution during the plating process remain on the connection substrate 41, and the organic components such as the resist material are vaporized during the hot press processing to generate gas. . The gas generated at the site where the heat radiation pattern 217 is formed is discharged to the outside from the outer edges of the first divided patterns 217a and the second divided patterns 217b including the grooves 219.

このように、本実施形態によれば、放熱パターン217を溝部219により分割したので、放熱パターン217の形成部位にて発生したガスを確実に外部へ放出することができる。従って、放熱パターン217の形成部位に溜まったガスにより放熱パターン217が***するようなことはなく、ガスに起因する放熱パターン217の不具合を防止して、発光装置201の歩留まりを向上させることができる。   Thus, according to this embodiment, since the heat radiation pattern 217 is divided by the groove portion 219, the gas generated at the site where the heat radiation pattern 217 is formed can be reliably discharged to the outside. Therefore, the heat radiation pattern 217 does not rise due to the gas accumulated in the formation region of the heat radiation pattern 217, and the defect of the heat radiation pattern 217 due to the gas can be prevented, and the yield of the light emitting device 201 can be improved. .

尚、第2の実施形態においては、放熱パターン217を溝部219により分割形成するものを示したが、例えば図12に示すように、放熱パターン317に孔部317aを形成してもよい。孔部317aの形状は任意であるが、図12の発光装置301においては、孔部317aはセラミック基板211の延在方向と直交する方向に延びるスリット状に形成される。この場合も、平面視にて隣接する各LED素子12の中間に孔部317aを形成することが望ましい。また、放熱パターンに孔部と溝部の両方を形成したり、電極パターンに孔部を形成してもよい。   In the second embodiment, the heat radiation pattern 217 is formed by dividing the groove portion 219. However, for example, as shown in FIG. 12, a hole portion 317a may be formed in the heat radiation pattern 317. The shape of the hole 317 a is arbitrary, but in the light emitting device 301 of FIG. 12, the hole 317 a is formed in a slit shape extending in a direction orthogonal to the extending direction of the ceramic substrate 211. Also in this case, it is desirable to form the hole 317a in the middle of each LED element 12 adjacent in plan view. Moreover, you may form both a hole part and a groove part in a thermal radiation pattern, or may form a hole part in an electrode pattern.

また、前記各実施形態においては、セラミック基板11,211の上面が平坦なものを示したが、封止部13,213を受容する凹部が形成されたものであってもよい。また、板状の蛍光体分散ガラス43がホットプレス加工により連結基板41と接合されるものを示したが、ガラスと蛍光体の混合粉末を減圧高温雰囲気にて連結基板41上で溶融固化することによりガラスを連結基板41に融着してもよい。さらには、封止部13,213を樹脂としてもよい。   In the above embodiments, the ceramic substrates 11 and 211 have a flat top surface. However, the ceramic substrates 11 and 211 may have recesses for receiving the sealing portions 13 and 213. Moreover, although the plate-like phosphor-dispersed glass 43 is shown to be joined to the connection substrate 41 by hot pressing, the mixed powder of glass and phosphor is melted and solidified on the connection substrate 41 in a reduced pressure and high temperature atmosphere. The glass may be fused to the connecting substrate 41 by the above. Furthermore, the sealing portions 13 and 213 may be made of resin.

また、前記各実施形態においては、発光装置1,201から白色光が発せられるものを示したが、例えば、封止部13,213に蛍光体13aが含まれない構成として、発光装置1,201から青色光が発せられるようにしてもよい。また、LED素子12をフリップチップ型としたものを示したが、フェイスアップ型としてもよい。さらに、1つのセラミック基板11,211に搭載されるLED素子12の個数、LED素子12の配置状態は任意である。このように、発光装置1,201の細部構成、発光色等については適宜に変更が可能である。さらにまた、ガラスより信頼性等が劣るものの、封止部13,213を樹脂としてもよい。   Moreover, in each said embodiment, although what emitted white light from the light-emitting devices 1 and 201 was shown, for example, as the structure by which the fluorescent substance 13a is not included in the sealing parts 13 and 213, the light-emitting devices 1 and 201 are shown. From the above, blue light may be emitted. Moreover, although the LED element 12 is shown as a flip-chip type, it may be a face-up type. Furthermore, the number of LED elements 12 mounted on one ceramic substrate 11, 211 and the arrangement state of the LED elements 12 are arbitrary. As described above, the detailed configuration, emission color, and the like of the light emitting devices 1 and 201 can be appropriately changed. Furthermore, although the reliability etc. are inferior to glass, the sealing parts 13 and 213 are good also as resin.

また、前記各実施形態においては、セラミック基板11,211がアルミナ(Al)からなるものを示したが、アルミナ以外のセラミックから構成するようにしてもよい。アルミナより熱伝導性に優れる高熱伝導性材料からなるセラミック基板として、例えば、BeO(熱膨張率α:7.6×10−6/℃、熱伝導率:250W/(m・k))を用いても良い。さらに、他の高熱伝導性基板として、例えばW−Cu基板を用いても良い。W−Cu基板としては、W90−Cu10基板(熱膨張率α:6.5×10−6/℃、熱伝導率:180W/(m・k))、W85−Cu15基板(熱膨張率α:7.2×10−6/℃、熱伝導率:190W/(m・k))を用いることにより、ガラス封止部との良好な接合強度を確保しながら高い熱伝導性を付与することができ、LEDの大光量化、高出力化に余裕をもって対応することが可能になる。 In the above embodiments, the ceramic substrates 11 and 211 are made of alumina (Al 2 O 3 ), but may be made of ceramics other than alumina. For example, BeO (thermal expansion coefficient α: 7.6 × 10 −6 / ° C., thermal conductivity: 250 W / (m · k)) is used as a ceramic substrate made of a high thermal conductivity material that is superior in thermal conductivity to alumina. May be. Furthermore, for example, a W—Cu substrate may be used as another highly heat conductive substrate. As a W-Cu substrate, a W90-Cu10 substrate (thermal expansion coefficient α: 6.5 × 10 −6 / ° C., thermal conductivity: 180 W / (m · k)), a W85-Cu15 substrate (thermal expansion coefficient α: By using 7.2 × 10 −6 / ° C. and thermal conductivity: 190 W / (m · k)), it is possible to impart high thermal conductivity while ensuring good bonding strength with the glass sealing portion. Therefore, it is possible to cope with an increase in the amount of light and output of the LED with a margin.

また、前記各実施形態においては、露出部がセラミック基板を露出させるものを示したが、複数の金属層における表層より基板側の層を露出させる構成であってもよい。複数の金属層からなる電極パターン及び放熱パターンは、Cu−Ni−Ag又はCu−Cu−Auの層構成に限定されるものではなく、例えばW−Ni−Au等のように他の層構成であってもよい。電極パターン及び放熱パターンが他の層構成をとる場合であっても、各金属層の層間に有機残渣が生じた際に、気化したガスを露出部から外部へ放出することができる。要は、基板と、基板の表面に複数の金属層により形成される配線パターンと、配線パターンに形成され複数の金属層における表層より前記基板側の層又は基板を露出させる露出部と、を備えた配線体を有していればよい。また、配線体の用途もLED素子の搭載に限定されるものでなく、他の光学素子や電子部品に用いられるものであっても、基板加熱時に有機残渣のガスを露出部を通じて外部へ放出することができる。さらには、各電極パターン,放熱パターンの材質も任意であるし、その他、具体的な細部構造等についても適宜に変更可能であることは勿論である。   In each of the above embodiments, the exposed portion exposes the ceramic substrate. However, a configuration in which a layer closer to the substrate than the surface layer of the plurality of metal layers may be exposed. The electrode pattern and heat dissipation pattern composed of a plurality of metal layers are not limited to the Cu—Ni—Ag or Cu—Cu—Au layer configuration, but may be other layer configurations such as W—Ni—Au. There may be. Even when the electrode pattern and the heat dissipation pattern have other layer configurations, when an organic residue is generated between the metal layers, the vaporized gas can be discharged from the exposed portion to the outside. In short, a substrate, a wiring pattern formed of a plurality of metal layers on the surface of the substrate, and an exposed portion that exposes the layer on the substrate side or the substrate from the surface layer of the plurality of metal layers formed in the wiring pattern. It is only necessary to have a wiring body. Also, the use of the wiring body is not limited to the mounting of the LED element, and even if it is used for other optical elements and electronic components, the organic residue gas is released to the outside through the exposed portion when the substrate is heated. be able to. Furthermore, the material of each electrode pattern and heat dissipation pattern is also arbitrary, and it is needless to say that other specific detailed structures can be appropriately changed.

本発明の第1の実施形態を示す発光装置の上面図である。It is a top view of the light-emitting device showing the first embodiment of the present invention. 発光装置の模式縦断面図である。It is a model longitudinal cross-sectional view of a light-emitting device. 発光装置の下面図である。It is a bottom view of a light-emitting device. 発光装置の実装基板への実装状態の一例を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows an example of the mounting state to the mounting substrate of a light-emitting device. 発光装置の製造方法の工程説明図である。It is process explanatory drawing of the manufacturing method of a light-emitting device. ダイサーによる分割前の連結基板の下面図である。It is a bottom view of the connection board | substrate before the division | segmentation by a dicer. ホットプレス加工の状態を示す模式説明図である。It is model explanatory drawing which shows the state of a hot press process. 第1の実施形態の変形例を示す発光装置の下面図である。It is a bottom view of the light-emitting device which shows the modification of 1st Embodiment. 本発明の第2の実施形態を示す発光装置の上面図である。It is a top view of the light-emitting device which shows the 2nd Embodiment of this invention. 発光装置の模式縦断面図である。It is a model longitudinal cross-sectional view of a light-emitting device. 発光装置の下面図である。It is a bottom view of a light-emitting device. 第2の実施形態の変形例を示す発光装置の下面図である。It is a bottom view of the light-emitting device which shows the modification of 2nd Embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

1 発光装置
11 セラミック基板
12 LED素子
13 封止部
13a 蛍光体
14 上面パターン
15 ビアパターン
16 電極パターン
16a 孔部
17 放熱パターン
17a 孔部
18 バンプ
21 Cu層
22 Niメッキ層
23 Agメッキ層
31 実装基板
32 基板本体
33 絶縁層
34 回路パターン
34a Au層
34b Cu層
41 連結基板
42 ダミーパターン
43 蛍光体分散ガラス
51 中間体
201 発光装置
211 セラミック基板
213 封止部
214 上面パターン
215 ビアパターン
216 電極パターン
217 放熱パターン
217a 第1分割パターン
217b 第2分割パターン
219 溝部
223 Auメッキ層
301 発光装置
317 放熱パターン
317a 孔部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Light-emitting device 11 Ceramic substrate 12 LED element 13 Sealing part 13a Phosphor 14 Upper surface pattern 15 Via pattern 16 Electrode pattern 16a Hole part 17 Heat radiation pattern 17a Hole part 18 Bump 21 Cu layer 22 Ni plating layer 23 Ag plating layer 31 Mounting board 32 Substrate body 33 Insulating layer 34 Circuit pattern 34a Au layer 34b Cu layer 41 Connecting substrate 42 Dummy pattern 43 Phosphor dispersed glass 51 Intermediate 201 Light emitting device 211 Ceramic substrate 213 Sealing portion 214 Upper surface pattern 215 Via pattern 216 Electrode pattern 217 Heat dissipation Pattern 217a First division pattern 217b Second division pattern 219 Groove 223 Au plating layer 301 Light emitting device 317 Heat radiation pattern 317a Hole

Claims (9)

LED素子と、
前記LED素子が上面に搭載される基板と、
前記LED素子を前記基板上にて封止する封止部と、
前記基板の下面に複数の金属層によって形成され、前記LED素子と電気的に接続される一対の電極パターンと、
前記基板の下面に複数の金属層によって形成される放熱パターンと、
前記電極パターンと前記放熱パターンの少なくとも一方に形成され、複数の金属層における表層より前記基板側の層又は前記基板を露出させる露出部と、を備えた発光装置。
An LED element;
A substrate on which the LED element is mounted;
A sealing portion for sealing the LED element on the substrate;
A pair of electrode patterns formed on the lower surface of the substrate by a plurality of metal layers and electrically connected to the LED elements;
A heat dissipation pattern formed by a plurality of metal layers on the lower surface of the substrate;
A light emitting device comprising: an exposed portion that is formed on at least one of the electrode pattern and the heat dissipation pattern and exposes the substrate side layer or the substrate from the surface layer of a plurality of metal layers.
前記放熱パターンは、平面視にて、少なくとも一部が前記LED素子と重なるよう形成され、
前記露出部は、平面視にて、前記LED素子と重ならないよう形成される請求項1に記載の発光装置。
The heat dissipation pattern is formed so that at least a part thereof overlaps the LED element in plan view,
The light emitting device according to claim 1, wherein the exposed portion is formed so as not to overlap the LED element in a plan view.
前記封止部はガラスである請求項2に記載の発光装置。   The light emitting device according to claim 2, wherein the sealing portion is made of glass. 前記LED素子を複数備える請求項3に記載の発光装置。   The light emitting device according to claim 3, comprising a plurality of the LED elements. 前記露出部は、前記電極パターンと前記放熱パターンの少なくとも一方に形成された孔部を有する請求項4に記載の発光装置。   The light emitting device according to claim 4, wherein the exposed portion has a hole formed in at least one of the electrode pattern and the heat dissipation pattern. 前記露出部は、前記放熱パターンに形成され該放熱パターンを複数の分割パターンに分割する溝部を有する請求項5または6に記載の発光装置。   The light emitting device according to claim 5, wherein the exposed portion includes a groove portion that is formed in the heat dissipation pattern and divides the heat dissipation pattern into a plurality of division patterns. 請求項1から6のいずれか1項に記載の発光装置を製造するにあたり、
前記基板の表面に形成されたレジスト材からなるマスクを利用して前記電極パターン及び前記放熱パターンを形成する工程と、
前記電極パターン及び前記放熱パターンが形成された前記基板と、封止材と、を加熱した状態で、前記LED素子を前記封止材により前記基板上にて封止する工程と、を含む発光装置の製造方法。
In manufacturing the light emitting device according to any one of claims 1 to 6,
Forming the electrode pattern and the heat dissipation pattern using a mask made of a resist material formed on the surface of the substrate;
A step of sealing the LED element on the substrate with the sealing material in a state in which the substrate on which the electrode pattern and the heat radiation pattern are formed and a sealing material are heated. Manufacturing method.
請求項3から6のいずれか1項に記載の発光装置を製造するにあたり、
前記基板の表面に形成されたレジスト材からなるマスクを利用して前記電極パターン及び前記放熱パターンを形成する工程と、
前記電極パターン及び前記放熱パターンが形成された前記基板と、板状のガラスと、を加熱した状態で、ホットプレス加工により前記LED素子を前記基板上にて前記ガラスで封止する工程と、を含む発光装置の製造方法。
In manufacturing the light emitting device according to any one of claims 3 to 6,
Forming the electrode pattern and the heat dissipation pattern using a mask made of a resist material formed on the surface of the substrate;
Sealing the LED element with the glass on the substrate by hot pressing in a state where the substrate on which the electrode pattern and the heat dissipation pattern are formed and a plate-like glass are heated. A manufacturing method of a light emitting device including the same.
基板と、
前記基板の表面に複数の金属層によって形成される配線パターンと、
前記配線パターンに形成され、複数の金属層における表層より前記基板側の層又は前記基板を露出させる露出部と、を備えた配線体。
A substrate,
A wiring pattern formed by a plurality of metal layers on the surface of the substrate;
A wiring body comprising: an exposed portion that is formed in the wiring pattern and exposes the substrate side layer or the substrate from the surface layer of a plurality of metal layers.
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