JP2009109282A - 赤外スペクトル測定装置および赤外スペクトル測定方法 - Google Patents
赤外スペクトル測定装置および赤外スペクトル測定方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】測定装置本体と、測定装置本体に入口部と出口部を接続した赤外光ファイバーとを備え、本体から赤外光ファイバーの入口部に赤外光を送出して赤外光ファイバーに接触させた試料に導き、試料により影響を受けた赤外光を赤外光ファイバー出口部から測定装置本体に入力させて試料のスペクトルを測定する赤外スペクトル測定装置において、測定装置本体には、赤外スペクトル測定手段と、赤外スペクトル測定手段によって測定されたスペクトルにおいて直線で近似できる波数領域から、近似直線を導出する直線導出手段と、赤外スペクトル測定手段によって測定された試料のスペクトルから近似直線を減算する減算手段とを備える、赤外スペクトル測定装置。
【選択図】図6
Description
11 測定装置本体
12 赤外光ファイバー
13 試料の測定部位
21 赤外光送出部
22 赤外光受光部
23 測定制御部
31 赤外スペクトル測定手段
32 直線導出手段
33 減算手段
34 規格化手段
500 バス
501 CPU
502 ROM
503 RAM
504 HDD(ハードディスクドライブ)
505 HD(ハードディスク)
507 ディスプレイ
508 ネットワークボード
509 キーボード
Claims (6)
- 測定装置本体と、前記測定装置本体に入口部と出口部を接続した赤外光ファイバーとを備え、前記測定装置本体から赤外光ファイバーの入口部に赤外光を送出して赤外光ファイバーに接触させた試料に導き、試料により影響を受けた赤外光を赤外光ファイバーの出口部から前記測定装置本体に入力させて試料のスペクトルを測定する赤外スペクトル測定装置において、前記測定装置本体には、赤外スペクトル測定手段と、前記赤外スペクトル測定手段によって測定されたスペクトルにおいて直線で近似できる波数領域から近似直線を導出する直線導出手段と、前記赤外スペクトル測定手段によって測定された試料のスペクトルから前記近似直線を減算する減算手段とを備えていることを特徴とする赤外スペクトル測定装置。
- 請求項1記載の赤外スペクトル測定装置において、前記直線導出手段は、前記赤外スペクトル測定手段によって試料のスペクトルを測定したときに、試料のスペクトルにおいて直線で近似できる波数領域から、近似直線を導出することを特徴とする赤外スペクトル測定装置。
- 請求項2記載の赤外スペクトル測定装置において、試料のスペクトルにおいて直線で近似できる波数領域は、1700cm-1から2900cm-1までの間の少なくとも一部を含んだ波数領域であることを特徴とする赤外スペクトル測定装置。
- 請求項1に記載の赤外スペクトル測定装置において、前記減算手段で減算処理されたスペクトルに対して強度の規格化を行う規格化手段がさらに設けられていることを特徴とする赤外スペクトル測定装置。
- 測定装置本体から赤外光ファイバーの入口部に赤外光を送出して赤外光ファイバーに接触させた試料に導き、試料により影響を受けた赤外光を赤外光ファイバーの出口部から前記測定装置本体に入力させて試料のスペクトルを測定する赤外スペクトル測定方法において、試料のスペクトルを測定したときに、試料のスペクトルにおいて直線で近似できる波数領域として1700cm-1から2900cm-1までの間の少なくとも一部を含んだ波数領域から近似直線を導出し、測定された試料のスペクトルから前記近似直線を減算することを特徴とする赤外スペクトル測定方法。
- 請求項5に記載の赤外スペクトル測定方法において、さらに、前記減算処理したスペクトルに対して強度の規格化を行うことを特徴とする赤外スペクトル測定方法。
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2007
- 2007-10-29 JP JP2007280530A patent/JP2009109282A/ja active Pending
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