JP2009080115A - 入口スリットを有する分光計および該入口スリットの製造 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 63
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 2
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 2
- 238000004080 punching Methods 0.000 claims description 2
- 238000010924 continuous production Methods 0.000 claims 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 abstract 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000004737 colorimetric analysis Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J3/0202—Mechanical elements; Supports for optical elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
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- G01J3/0256—Compact construction
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- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
【解決手段】分光計は、ハウジング1と、入口スリット4と、ハウジング内に配置され、測定光を光電子検出素子に結像させる回折格子3とを有しており、検出素子はハウジング内に配置され、ハウジングおよび基板2は、規定された相互位置決めのための互いに協働する位置決め手段5a;5b;5c;5dによって相互連結される。入口スリット、基板の位置決め手段および検出素子を受容して取り付けるための保持手段6a;6bは、基板の恒久的な部分であり、レーザービーム切断または液体ジェット切断といった成形技術により、基板から、正確かつ適切に、規定された相互位置に作成される。基板の位置決め手段および検出素子のための保持手段のうちの少なくとも一つは、弾性要素として設けられる。
【選択図】図1
Description
入口スリットは高価な個別部品である。個別部品を相互関係において正確に位置決めするための調整は非常に複雑である。分光計を小型化するため入口スリットと検出素子との間の距離の縮小は、小幅に限定される。
−基板からタブを打ち抜くまたは切断し、さらに、基板の平面から離れるようにタブを曲げる;
−作成されるスリットの幅に応じた分だけタブを圧縮する;
−基板の平面に戻るようにタブをプレスする;
−スリット、または入口スリットの開口部を完成させる。
特に大量の数を安価に製造するという目的において、入口スリットと、基板の位置決め手段と、基板から離れた、精密に規定された相互位置に検出素子を保持するための手段とを、成形技術を用いた製造手法により少ない作業で形成することが有利である場合がある。
以下で、例示的な実施形態を参照して本発明をさらに詳細に説明する。
図4に、成形により基板2の材料から形成され、基板2の凹部に挿入されるハウジング1のピン8bと弾性接触する位置決め手段5bおよび5dの拡大図を示す。
例えば、図5aは第1の方法の工程を示しており、ここでは、タブ9が基板2から打ち抜きまたは切断され、基板2の平面から離れるように曲げられる(図5aの下方向に)。
図7に示したタブ12の範囲はカーブ13および直線によって限定され、そのセンタビット14の範囲はカーブ13によって限定される。入口スリット4の開口部は、基板2の縁部4aおよびタブ12の縁部12aによって形成される。
基板2のタブとして、例えば正方形の外形などの他の適当な外形も十分有効に考えられる。
2…基板
3…回折格子
4…入口スリット
4a…縁部
5a;5b…位置決め手段
6a;6b…保持手段
7…検出素子
8a;8b…ピン
9…タブ
9a…縁部
10…矢印
11…センタビット
12…タブ
12a…縁部
13…カーブ
14…センタビット
15…タブ
15a…縁部
16…中立線
Claims (6)
- 入口スリットを有する分光計および該入口スリットの製造であって、該分光計が、ハウジングと、測定光を入れるための入口スリットと、該ハウジングの内側に配置され、該測定光を分割して光電子検出素子上で結像させるための結像用回折格子とを有し、該検出素子が該ハウジングの内側に配置されており、該ハウジングおよび基板が、規定された相互位置決めのための互いに協働する位置決め手段によって相互連結される、入口スリットを有する分光計および該入口スリットの製造において、
該入口スリット(4)、該基板(2)の該位置決め手段(5a;5b;5c;5d)、および、該検出素子(7)を受容して取り付けるための保持手段(6a;6b)が、該基板(2)の恒久的な(一体の)部分であり、これらが、レーザービームまたは液体ジェット切断といった成形技術により、該基板(2)から、正確かつ適切に、規定された相互位置に形成され、
該基板(2)の該位置決め手段(5a;5b;5c;5d)および該検出素子(7)のための該保持手段(6a;6b)のうちの少なくとも一つが弾性要素として設けられる
ことを特徴とする、入口スリットを有する分光計および該入口スリットの製造。 - 前記入口スリット(4)が、以下の連続した方法の工程:
前記基板(2)からタブ(9;12;15)を打ち抜くまたは切断し、前記基板(2)の平面から離れるように該タブ(9;12;15)を曲げる工程と;
作成されるべき前記スリット(4)の幅に応じた分だけ該タブ(9;12;15)を圧縮する工程と;
前記基板(2)の平面に戻るように該タブ(9;12;15)をプレスすることにより、前記入口スリット(4)の開口部を完成させる工程と、
によって前記基板(2)内に作成されることを特徴とする、請求項1に記載の入口スリットを有する分光計。 - 前記入口スリット(4)がレーザービーム切断または液体ジェット切断により前記基板(2)内に作成されることを特徴とする、請求項1に記載の入口スリットを有する分光計。
- 前記入口スリット(4)、前記基板(2)の前記位置決め手段(5a;5b;5c;5d)、および前記検出素子(7)のための前記保持手段(6a;6b)が、成形技術を用いた製造手法により、精密に規定された相互位置に前記基板(2)から作成されることを特徴とする、請求項1乃至3の少なくとも1項に記載の入口スリットを有する分光計。
- 前記入口スリット(4)の範囲を限定する前記タブ(9;12;15)が、台形、正方形または長方形の形状、あるいは、カーブおよび直線で構成される形状であることを特徴とする、請求項1乃至4の少なくとも1項に記載の入口スリットを有する分光計。
- 前記基板(2)が、金属から、適当なプラスチック材料から、または、セラミック材料から作成されることを特徴とする、請求項1乃至5の少なくとも1項に記載の入口スリットを有する分光計。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102007045668A DE102007045668A1 (de) | 2007-09-25 | 2007-09-25 | Spektrometer mit Eintrittsspalt und die Herstellung des Eintrittsspaltes |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009080115A true JP2009080115A (ja) | 2009-04-16 |
JP2009080115A5 JP2009080115A5 (ja) | 2011-10-27 |
Family
ID=40129049
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008245782A Pending JP2009080115A (ja) | 2007-09-25 | 2008-09-25 | 入口スリットを有する分光計および該入口スリットの製造 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8102526B2 (ja) |
EP (1) | EP2042844A3 (ja) |
JP (1) | JP2009080115A (ja) |
DE (1) | DE102007045668A1 (ja) |
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2007
- 2007-09-25 DE DE102007045668A patent/DE102007045668A1/de not_active Withdrawn
-
2008
- 2008-08-30 EP EP20080015369 patent/EP2042844A3/de not_active Withdrawn
- 2008-09-24 US US12/236,889 patent/US8102526B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2008-09-25 JP JP2008245782A patent/JP2009080115A/ja active Pending
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2042844A2 (de) | 2009-04-01 |
US20090103089A1 (en) | 2009-04-23 |
DE102007045668A1 (de) | 2009-04-02 |
US8102526B2 (en) | 2012-01-24 |
EP2042844A3 (de) | 2013-04-24 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110912 |
|
A621 | Written request for application examination |
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|
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121023 |
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|
A602 | Written permission of extension of time |
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