JP2009080029A - X-ray inspection device - Google Patents

X-ray inspection device Download PDF

Info

Publication number
JP2009080029A
JP2009080029A JP2007249902A JP2007249902A JP2009080029A JP 2009080029 A JP2009080029 A JP 2009080029A JP 2007249902 A JP2007249902 A JP 2007249902A JP 2007249902 A JP2007249902 A JP 2007249902A JP 2009080029 A JP2009080029 A JP 2009080029A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
density value
conversion
parameter
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007249902A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Osamu Hirose
修 廣瀬
Koji Iwai
厚司 岩井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ishida Co Ltd
Original Assignee
Ishida Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ishida Co Ltd filed Critical Ishida Co Ltd
Priority to JP2007249902A priority Critical patent/JP2009080029A/en
Publication of JP2009080029A publication Critical patent/JP2009080029A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray inspection device which an operator can flexibly correct an X-ray image. <P>SOLUTION: The X-ray inspection device 10 includes an X-ray irradiator 13, X-ray line sensor 14, an image generating part 21a and an LCD monitor 30. The X-ray irradiator 13 irradiates an X-ray to a commodity G. The X-ray line sensor 14 outputs an X-ray fluoroscopic image signal in accordance with a concentration value Sr of the X-ray transmitted through the commodity G. The image generating part 21a generates an X-ray image based on the concentration value Sr of X-ray. The LCD monitor 30 displays an image correction screen 100 of the X-ray image. The image correction screen 100 accepts at least one setting of: a parameter related to the position of a conversion region of the concentration value Sr; a parameter related to the rate of change Sr of the concentration value Sr in the conversion region of the concentration value Sr; and a parameter related to the position of an intense region of the concentration value Sr included in the conversion region of the concentration value Sr. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、X線検査装置、特に、X線画像の補正機能を有するX線検査装置に関する。   The present invention relates to an X-ray inspection apparatus, and more particularly to an X-ray inspection apparatus having an X-ray image correction function.

食品などの商品の生産ラインにおいては、不良品を出荷しないようにするために、X線検査装置によって検査が為されることがある。このようなX線検査装置は、商品にX線を照射し、商品を透過したX線の濃度値を検出し、検出した濃度値に基づいてX線画像を作成する。例えば、異物混入検査を行う場合には、X線画像上に周囲よりも暗く写る異物の存在を検出したり、形状検査を行う場合には、X線画像上に写る商品の形状を診断したり、数量検査を行う場合には、X線画像上に写る商品の内容物の数を数えたりする。したがって、X線検査の検査精度は、X線画像に大きく依存することになる。   In a production line for commodities such as food, an inspection may be performed by an X-ray inspection apparatus so as not to ship defective products. Such an X-ray inspection apparatus irradiates a product with X-rays, detects a density value of X-rays transmitted through the product, and creates an X-ray image based on the detected density value. For example, when performing a foreign substance contamination inspection, the presence of a foreign object appearing darker than the surroundings on the X-ray image is detected, or when performing a shape inspection, the shape of a product appearing on the X-ray image is diagnosed. When the quantity inspection is performed, the number of contents of the product shown on the X-ray image is counted. Therefore, the inspection accuracy of the X-ray inspection greatly depends on the X-ray image.

特許文献1は、X線画像の補正を自動的に行う技術を開示している。
特開平6−337933号公報
Patent Document 1 discloses a technique for automatically correcting an X-ray image.
JP-A-6-337933

しかしながら、X線画像の補正は、オペレータによって商品ごとに最適に行われることが望ましい。   However, it is desirable that the correction of the X-ray image is optimally performed for each product by the operator.

本発明の課題は、オペレータがX線画像を柔軟に補正することが可能なX線検査装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide an X-ray inspection apparatus in which an operator can flexibly correct an X-ray image.

第1発明にかかるX線検査装置は、X線照射部と、X線検出部と、画像生成部と、表示部とを備える。X線照射部は、物品にX線を照射する。X線検出部は、物品を透過したX線の濃度値に応じた信号を出力する。画像生成部は、X線の濃度値に基づいてX線画像を生成する。表示部は、X線画像の補正画面を表示する。X線画像の補正画面は、第1パラメータ、第2パラメータおよび第3パラメータの少なくとも1つの設定を受け付ける。第1パラメータは、濃度値の変換領域または非変換領域の位置に関するものである。第2パラメータは、濃度値の変換領域における濃度値の変化率に関するものである。第3パラメータは、濃度値の変換領域に含まれる濃度値の強調領域の位置に関するものである。   An X-ray inspection apparatus according to a first invention includes an X-ray irradiation unit, an X-ray detection unit, an image generation unit, and a display unit. The X-ray irradiation unit irradiates the article with X-rays. The X-ray detection unit outputs a signal corresponding to the density value of X-rays that have passed through the article. The image generation unit generates an X-ray image based on the X-ray density value. The display unit displays an X-ray image correction screen. The X-ray image correction screen accepts at least one setting of the first parameter, the second parameter, and the third parameter. The first parameter relates to the position of the density value conversion area or non-conversion area. The second parameter relates to the change rate of the density value in the density value conversion region. The third parameter relates to the position of the density value emphasis area included in the density value conversion area.

このX線検査装置の表示部には、X線画像の補正画面が表示される。そして、この補正画面は、濃度値の変換領域または非変換領域の位置、濃度値の変換領域における濃度値の変化率、および、濃度値の変換領域に含まれる濃度値の強調領域の位置の少なくとも1つの設定を受け付ける。   An X-ray image correction screen is displayed on the display unit of the X-ray inspection apparatus. The correction screen includes at least the position of the density value conversion area or the non-conversion area, the change rate of the density value in the density value conversion area, and the position of the density value enhancement area included in the density value conversion area. One setting is accepted.

これにより、オペレータは、X線画像を柔軟に補正することができる。   Thereby, the operator can correct | amend an X-ray image flexibly.

第2発明にかかるX線検査装置は、第1発明にかかるX線検査装置であって、良否判断部をさらに備える。良否判断部は、X線画像の補正画面を介して設定された第1パラメータ、第2パラメータおよび第3パラメータの少なくとも1つに基づいて変換された濃度値に基づいて、物品の良否を判断する。   An X-ray inspection apparatus according to a second aspect of the present invention is the X-ray inspection apparatus according to the first aspect of the present invention, further comprising a pass / fail judgment unit. The quality determination unit determines the quality of the article based on the density value converted based on at least one of the first parameter, the second parameter, and the third parameter set via the X-ray image correction screen. .

X線画像の補正画面を介して上記パラメータが設定されると、当該パラメータに基づいて濃度値の変換規則(例えば、濃度変換曲線)が定まる。そして、このX線検査装置では、この変換規則に従って変換された濃度値に基づいて、物品の良否が判断される。   When the above parameters are set via the X-ray image correction screen, a density value conversion rule (for example, a density conversion curve) is determined based on the parameters. In this X-ray inspection apparatus, the quality of the article is determined based on the density value converted according to the conversion rule.

第3発明にかかるX線検査装置は、第1発明または第2発明にかかるX線検査装置であって、X線画像の補正画面は、第1パラメータの設定を受け付ける。   An X-ray inspection apparatus according to a third aspect is the X-ray inspection apparatus according to the first aspect or the second aspect, wherein the X-ray image correction screen receives the setting of the first parameter.

このX線検査装置では、X線画像の補正画面が、濃度値の変換領域または非変換領域の位置の設定を受け付ける。   In this X-ray inspection apparatus, the X-ray image correction screen accepts the setting of the position of the density value conversion area or non-conversion area.

第4発明にかかるX線検査装置は、第1発明または第2発明にかかるX線検査装置であって、X線画像の補正画面は、第2パラメータの設定を受け付ける。   An X-ray inspection apparatus according to a fourth aspect is the X-ray inspection apparatus according to the first aspect or the second aspect, wherein the X-ray image correction screen accepts the setting of the second parameter.

このX線検査装置では、X線画像の補正画面が、濃度値の変換領域における濃度値の変化率の設定を受け付ける。   In this X-ray inspection apparatus, the X-ray image correction screen accepts the setting of the density value change rate in the density value conversion region.

第5発明にかかるX線検査装置は、第1発明または第2発明にかかるX線検査装置であって、X線画像の補正画面は、第3パラメータの設定を受け付ける。   An X-ray inspection apparatus according to a fifth aspect of the present invention is the X-ray inspection apparatus according to the first or second aspect of the present invention, wherein the X-ray image correction screen receives the setting of the third parameter.

このX線検査装置では、X線画像の補正画面が、濃度値の変換領域に含まれる濃度値の強調領域の位置の設定を受け付ける。   In this X-ray inspection apparatus, the X-ray image correction screen accepts the setting of the position of the density value enhancement region included in the density value conversion region.

第6発明にかかるX線検査装置は、第1発明から第5発明のいずれかにかかるX線検査装置であって、X線画像の補正画面は、複数の変換領域に対する第1パラメータ、第2パラメータおよび第3パラメータの少なくとも1つの設定を受け付ける。   An X-ray inspection apparatus according to a sixth aspect of the present invention is the X-ray inspection apparatus according to any one of the first to fifth aspects of the present invention, wherein the X-ray image correction screen includes the first parameter for the plurality of conversion regions, the second At least one setting of the parameter and the third parameter is accepted.

このX線検査装置では、濃度値の階調の中に複数の変換領域を設けることができる。これにより、オペレータは、X線画像をより柔軟に補正することができる。   In this X-ray inspection apparatus, a plurality of conversion regions can be provided in the gradation of density values. Thereby, the operator can correct | amend an X-ray image more flexibly.

第7発明にかかるX線検査装置は、第1発明から第6発明のいずれかにかかるX線検査装置であって、X線画像の補正画面には、当該補正画面を介して設定された第1パラメータ、第2パラメータおよび第3パラメータの少なくとも1つに基づいて変換された濃度値に基づくX線画像が表示される。   An X-ray inspection apparatus according to a seventh aspect of the present invention is the X-ray inspection apparatus according to any of the first to sixth aspects of the present invention, wherein the X-ray image correction screen is set via the correction screen. An X-ray image based on the density value converted based on at least one of the first parameter, the second parameter, and the third parameter is displayed.

X線画像の補正画面を介して上記パラメータが設定されると、当該パラメータに基づいて濃度値の変換規則(例えば、濃度変換曲線)が定まる。そして、このX線検査装置では、この変換規則に従って変換された濃度値に基づくX線画像が生成され、X線画像の補正画面に表示される。したがって、オペレータは、自らが設定したパラメータによる影響をリアルタイムに確認しながら、最終的に選択すべきパラメータを決定することができる。   When the above parameters are set via the X-ray image correction screen, a density value conversion rule (for example, a density conversion curve) is determined based on the parameters. In this X-ray inspection apparatus, an X-ray image based on the density value converted according to the conversion rule is generated and displayed on the X-ray image correction screen. Therefore, the operator can determine the parameter to be finally selected while checking the influence of the parameter set by the operator in real time.

第8発明にかかるX線検査装置は、第3発明にかかるX線検査装置であって、第1パラメータは、濃度値の変換領域または非変換領域の上限位置および下限位置の少なくとも一方に関するものである。   An X-ray inspection apparatus according to an eighth aspect is the X-ray inspection apparatus according to the third aspect, wherein the first parameter relates to at least one of an upper limit position and a lower limit position of the density value conversion region or the non-conversion region. is there.

このX線検査装置では、X線画像の補正画面が、濃度値の変換領域または非変換領域の上限位置および下限位置の少なくとも一方の入力を受け付ける。すなわち、オペレータは、X線画像の補正画面を介して、濃度値の変換領域または非変換領域の位置を設定することができる。   In this X-ray inspection apparatus, the X-ray image correction screen accepts input of at least one of the upper limit position and the lower limit position of the density value conversion area or non-conversion area. That is, the operator can set the position of the density value conversion area or non-conversion area via the X-ray image correction screen.

本発明にかかるX線検査装置の表示部には、X線画像の補正画面が表示される。そして、この補正画面は、濃度値の変換領域または非変換領域の位置、濃度値の変換領域における濃度値の変化率、濃度値の変換領域に含まれる濃度値の強調領域の位置の少なくとも1つの設定を受け付ける。これにより、オペレータは、X線画像を柔軟に補正することができる。   An X-ray image correction screen is displayed on the display unit of the X-ray inspection apparatus according to the present invention. The correction screen includes at least one of the position of the density value conversion area or the non-conversion area, the change rate of the density value in the density value conversion area, and the position of the density value enhancement area included in the density value conversion area. Accept settings. Thereby, the operator can correct | amend an X-ray image flexibly.

以下、図面を参照して、本発明の一実施形態にかかるX線検査装置10について説明する。   Hereinafter, an X-ray inspection apparatus 10 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

<X線検査装置の構成>
図1に、X線検査装置10の外観を示す。X線検査装置10は、食品などの商品Gの生産ラインに組み込まれており、連続的に搬送されてくる商品Gに対してX線を照射することにより、商品Gの品質検査を行う装置である。X線検査装置10は、品質検査の1つとして、例えば、商品Gへの異物の混入の有無を検査する。この異物混入検査において主として検出対象となる異物は、X線を大きく減衰させ得る金属片である。
<Configuration of X-ray inspection apparatus>
FIG. 1 shows the appearance of the X-ray inspection apparatus 10. The X-ray inspection apparatus 10 is an apparatus for inspecting the quality of the product G by irradiating the product G that is continuously conveyed with X-rays, which is incorporated in the production line of the product G such as food. is there. For example, the X-ray inspection apparatus 10 inspects the presence or absence of foreign matter in the product G as one of quality inspections. In this foreign matter contamination inspection, the foreign matter that is mainly a detection target is a metal piece that can greatly attenuate X-rays.

検体である商品Gは、図4に示すように、前段コンベア60によってX線検査装置10のところまで運ばれてくる。商品Gは、X線検査装置10において良品または不良品に分類される。X線検査装置10での品質検査の結果は、X線検査装置10の下流側に配置されている振分機構70に送られる。振分機構70は、X線検査装置10において良品と判断された商品Gを正規のラインコンベア80へと送り、X線検査装置10において不良品と判断された商品Gを不良品貯留コンベア90へと送る。   As shown in FIG. 4, the product G as a specimen is carried to the X-ray inspection apparatus 10 by the front conveyor 60. The product G is classified as a non-defective product or a defective product in the X-ray inspection apparatus 10. The result of the quality inspection performed by the X-ray inspection apparatus 10 is sent to a distribution mechanism 70 disposed on the downstream side of the X-ray inspection apparatus 10. The distribution mechanism 70 sends the product G determined to be a non-defective product in the X-ray inspection apparatus 10 to the regular line conveyor 80, and the product G determined to be a defective product in the X-ray inspection apparatus 10 to the defective product storage conveyor 90. And send.

図1、図2および図5に示すように、X線検査装置10は、シールドボックス11、コンベア12、X線照射器13、X線ラインセンサ14、タッチパネル機能付きのLCDモニタ30、制御コンピュータ20などから構成されている。   As shown in FIGS. 1, 2, and 5, the X-ray inspection apparatus 10 includes a shield box 11, a conveyor 12, an X-ray irradiator 13, an X-ray line sensor 14, an LCD monitor 30 with a touch panel function, and a control computer 20. Etc.

(1)シールドボックス
シールドボックス11の両側面には、商品Gをシールドボックス11の内外に搬入出させるための開口11aが形成されている。開口11aは、シールドボックス11の外部へのX線の漏洩を防止するために、遮蔽ノレン16により塞がれている。遮蔽ノレン16は、鉛を含むゴムから成形されており、商品Gが開口11aを通過する際に商品Gによって押しのけられる。
(1) Shield box On both side surfaces of the shield box 11, openings 11 a for carrying the product G in and out of the shield box 11 are formed. The opening 11 a is blocked by a shielding nolen 16 in order to prevent leakage of X-rays to the outside of the shield box 11. The shielding nolen 16 is molded from rubber containing lead, and is pushed away by the product G when the product G passes through the opening 11a.

そして、シールドボックス11内には、コンベア12、X線照射器13、X線ラインセンサ14、制御コンピュータ20等が収容されている。また、シールドボックス11の正面上部には、LCDモニタ30の他、キーの差し込み口および電源スイッチ等が配置されている。   In the shield box 11, a conveyor 12, an X-ray irradiator 13, an X-ray line sensor 14, a control computer 20 and the like are accommodated. Further, in addition to the LCD monitor 30, a key slot, a power switch, and the like are disposed on the upper front portion of the shield box 11.

(2)コンベア
コンベア12は、シールドボックス11内において商品Gを搬送するものであり、図1に示すように、シールドボックス11の両側面に形成された開口11aを貫通するように配置されている。そして、コンベア12は、コンベアモータ12a(図5参照)によって駆動される駆動ローラによって無端状のベルトを回転させながら、ベルト上に載置された商品Gを搬送する。
(2) Conveyor The conveyor 12 conveys the product G in the shield box 11, and is disposed so as to penetrate through the openings 11a formed on both side surfaces of the shield box 11, as shown in FIG. . And the conveyor 12 conveys the goods G mounted on the belt, rotating an endless belt with the drive roller driven by the conveyor motor 12a (refer FIG. 5).

コンベア12による搬送速度は、オペレータが入力した設定速度になるように、制御コンピュータ20によるコンベアモータ12aのインバータ制御によって細かく制御される。また、コンベアモータ12aには、コンベア12による搬送速度を検出して制御コンピュータ20に送るエンコーダ12b(図5参照)が装着されている。   The conveyance speed by the conveyor 12 is finely controlled by the inverter control of the conveyor motor 12a by the control computer 20 so as to be the set speed input by the operator. The conveyor motor 12a is equipped with an encoder 12b (see FIG. 5) that detects the conveying speed of the conveyor 12 and sends it to the control computer 20.

(3)X線照射器
X線照射器13は、図2に示すように、コンベア12の中央部の上方に配置されているX線源であり、下方のX線ラインセンサ14に向けて扇状の照射範囲XにX線を照射する。
(3) X-ray irradiator As shown in FIG. 2, the X-ray irradiator 13 is an X-ray source disposed above the central portion of the conveyor 12 and is fan-shaped toward the lower X-ray line sensor 14. X-rays are irradiated to the irradiation range X.

(4)X線ラインセンサ
X線ラインセンサ14は、図3に示すように、コンベア12の下方に配置されており、主として多数の画素センサ14aから構成されている。これらの画素センサ14aは、コンベア12による搬送方向に直交する向きに一直線に水平配置されている。また、各画素センサ14aは、商品Gやコンベア12を透過したX線を検出し、X線の明るさ(濃度値Sr)を示すX線透視像信号を出力する。
(4) X-ray line sensor As shown in FIG. 3, the X-ray line sensor 14 is arrange | positioned under the conveyor 12, and is mainly comprised from many pixel sensors 14a. These pixel sensors 14 a are horizontally arranged in a straight line in a direction orthogonal to the conveying direction by the conveyor 12. Each pixel sensor 14a detects X-rays transmitted through the product G and the conveyor 12, and outputs an X-ray fluoroscopic image signal indicating the brightness (density value Sr) of the X-rays.

(5)LCDモニタ
LCDモニタ30は、フルドット表示の液晶ディスプレイであり、X線画像や商品Gの良否判断の結果を表示する。また、LCDモニタ30は、タッチパネル機能も有しており、品質検査時に必要となる検査パラメータの入力をオペレータに促す画面を表示し、オペレータからの検査パラメータの入力を受け付ける。特に、LCDモニタ30は、X線画像の補正を可能にする画像補正画面100(後述する)を表示し、オペレータからの濃度値Srを変換するためのパラメータの入力を受け付ける。
(5) LCD monitor The LCD monitor 30 is a full-dot liquid crystal display, and displays an X-ray image and a result of quality determination of the product G. The LCD monitor 30 also has a touch panel function, displays a screen that prompts the operator to input inspection parameters necessary for quality inspection, and accepts input of inspection parameters from the operator. In particular, the LCD monitor 30 displays an image correction screen 100 (described later) that enables X-ray image correction, and accepts input of parameters for converting the density value Sr from the operator.

(6)制御コンピュータ
制御コンピュータ20は、図5に示すように、CPU(中央演算処理装置)21、ROM(リードオンリーメモリ)22、RAM(ランダムアクセスメモリ)23、HDD(ハードディスク)25および記憶メディア等を挿入するためのドライブ24を搭載している。
(6) Control Computer As shown in FIG. 5, the control computer 20 includes a CPU (Central Processing Unit) 21, a ROM (Read Only Memory) 22, a RAM (Random Access Memory) 23, an HDD (Hard Disk) 25, and a storage medium. The drive 24 for inserting etc. is mounted.

CPU21では、ROM22やHDD25に格納されている各種プログラムが実行される。HDD25には、検査パラメータや品質検査の結果が保存蓄積される。検査パラメータについては、LCDモニタ30のタッチパネル機能を使ったオペレータからの入力によって変更が可能である。オペレータは、これらのデータがHDD25だけでなくドライブ24に挿入された記憶メディアにも保存蓄積されるように設定することができる。   In the CPU 21, various programs stored in the ROM 22 and the HDD 25 are executed. The HDD 25 stores and accumulates inspection parameters and quality inspection results. The inspection parameter can be changed by an input from the operator using the touch panel function of the LCD monitor 30. The operator can set so that these data are stored and accumulated not only in the HDD 25 but also in a storage medium inserted in the drive 24.

さらに、制御コンピュータ20は、LCDモニタ30でのデータ表示を制御する表示制御回路(図示せず)、LCDモニタ30を介してオペレータによりキー入力されたデータを取り込むキー入力回路(図示せず)、プリンタ等の外部機器やLAN(ローカルエリアネットワーク)等のネットワークとの接続を可能にする通信ポート(図示せず)なども備えている。   Further, the control computer 20 includes a display control circuit (not shown) for controlling data display on the LCD monitor 30, a key input circuit (not shown) for capturing data keyed by the operator via the LCD monitor 30, A communication port (not shown) that enables connection to an external device such as a printer or a network such as a LAN (local area network) is also provided.

そして、制御コンピュータ20の各部21〜25は、アドレスバスやデータバス等のバスラインを介して相互に接続されている。   And each part 21-25 of the control computer 20 is mutually connected via bus lines, such as an address bus and a data bus.

また、制御コンピュータ20は、コンベアモータ12a、エンコーダ12b、光電センサ15、X線照射器13、X線ラインセンサ14、LCDモニタ30等に接続されている。   The control computer 20 is connected to a conveyor motor 12a, an encoder 12b, a photoelectric sensor 15, an X-ray irradiator 13, an X-ray line sensor 14, an LCD monitor 30, and the like.

光電センサ15は、検体である商品Gが扇状のX線の照射範囲X(図2参照)を通過するタイミングを検知するための同期センサであり、主として、コンベア12を挟んで配置される一対の投光器および受光器から構成されている。   The photoelectric sensor 15 is a synchronous sensor for detecting the timing when the product G as a specimen passes through the fan-shaped X-ray irradiation range X (see FIG. 2), and is mainly a pair of sensors arranged with the conveyor 12 interposed therebetween. It consists of a projector and a light receiver.

<X線検査装置の動作>
制御コンピュータ20のHDD25には、画像生成モジュールおよび良否判断モジュールを含む検査プログラムが格納されている。そして、制御コンピュータ20のCPU21は、これらのプログラムモジュールを読み出して実行することにより、画像生成部21aおよび良否判断部21b(図5参照)として動作する。
<Operation of X-ray inspection apparatus>
The HDD 25 of the control computer 20 stores an inspection program including an image generation module and a pass / fail judgment module. Then, the CPU 21 of the control computer 20 operates as an image generation unit 21a and a pass / fail judgment unit 21b (see FIG. 5) by reading and executing these program modules.

画像生成部21aは、検体である商品GのX線画像を生成し、良否判断部21bは、商品Gの良否を判断する。以下、画像生成部21aおよび良否判断部21bの動作の詳細について説明する。   The image generation unit 21a generates an X-ray image of the product G as a specimen, and the quality determination unit 21b determines the quality of the product G. Details of the operations of the image generation unit 21a and the pass / fail judgment unit 21b will be described below.

(1)画像生成部
画像生成部21aは、商品Gが扇状のX線の照射範囲X(図2参照)を通過するときにX線ラインセンサ14の各画素センサ14aから出力されるX線透視像信号を細かい時間間隔で取得し、取得した濃度値Srに基づいて商品GのX線画像を生成する。なお、商品Gが扇状のX線の照射範囲Xを通過するタイミングは、光電センサ15からの信号により判断される。
(1) Image Generation Unit The image generation unit 21a performs X-ray fluoroscopy that is output from each pixel sensor 14a of the X-ray line sensor 14 when the product G passes through the fan-shaped X-ray irradiation range X (see FIG. 2). Image signals are acquired at fine time intervals, and an X-ray image of the product G is generated based on the acquired density value Sr. The timing at which the product G passes through the fan-shaped X-ray irradiation range X is determined by a signal from the photoelectric sensor 15.

より具体的には、画像生成部21aは、各画素センサ14aから得られるX線の濃度値Srに関する細かい時間間隔毎のデータをマトリクス状に時系列につなぎ合わせることにより、商品Gを写すX線画像を生成する。   More specifically, the image generation unit 21a connects X-ray density values Sr obtained from each pixel sensor 14a in fine time intervals in a time series in a matrix form, thereby copying the product G. Generate an image.

また、画像生成部21aは、濃度値Srをつなぎ合わせたX線画像の他に、濃度値Srを所定の変換規則に従って変換した濃度値Scをつなぎ合わせたX線画像をも生成する。かかる変換規則は、品質検査前のオペレータによるX線画像の補正時に設定され、HDD25に記憶されている。X線画像の補正の詳細については、後述する。   In addition to the X-ray image obtained by connecting the density values Sr, the image generation unit 21a also generates an X-ray image obtained by connecting density values Sc obtained by converting the density values Sr according to a predetermined conversion rule. Such a conversion rule is set when the X-ray image is corrected by the operator before the quality inspection, and is stored in the HDD 25. Details of the correction of the X-ray image will be described later.

(2)良否判断部
良否判断部21bは、商品Gに対して異物混入検査、形状検査、数量検査等を行って、商品Gの良否を判断する。異物混入検査を行う場合には、X線画像上に周囲よりも暗く写る異物の存在を検出したり、形状検査を行う場合には、X線画像上に写る商品Gの形状を診断したり、数量検査を行う場合には、X線画像上に写る商品Gの内容物の数を数えたりする。商品Gに対してどの品質検査を実行するのかは、オペレータの設定入力により決定される。また、1つの商品Gに対して複数の品質検査を実行することも可能である。
(2) Pass / Fail Judgment Unit The pass / fail judgment unit 21b performs a foreign matter contamination inspection, a shape inspection, a quantity inspection, and the like on the product G to determine the quality of the product G. When performing a foreign matter contamination inspection, the presence of a foreign matter appearing darker than the surroundings on the X-ray image is detected, or when performing shape inspection, the shape of the product G appearing on the X-ray image is diagnosed, When the quantity inspection is performed, the number of contents of the product G appearing on the X-ray image is counted. Which quality inspection is to be performed on the product G is determined by an operator setting input. It is also possible to execute a plurality of quality inspections for one product G.

良否判断部21bにより商品Gが不良品であると判断されると、その旨が制御コンピュータ20から振分機構70へと伝えられる。商品Gが不良品であることを認識した振分機構70は、当該商品Gを不良品貯留コンベア90に振り分ける。   If the quality determination unit 21b determines that the product G is defective, the control computer 20 notifies the distribution mechanism 70 of that fact. The distribution mechanism 70 that has recognized that the product G is a defective product distributes the product G to the defective product storage conveyor 90.

以下、各品質検査の詳細について説明する。なお、制御コンピュータ20に新しいプログラムモジュールをインストールすることにより、商品Gに対して以下に説明する以外の品質検査を実行することも可能である。   Details of each quality inspection will be described below. It is also possible to execute a quality inspection other than that described below on the product G by installing a new program module in the control computer 20.

a)異物混入検査
良否判断部21bは、画像生成部21aと同様に、商品Gが扇状のX線の照射範囲X(図2参照)を通過するときにX線ラインセンサ14の各画素センサ14aから出力されるX線透視像信号を細かい時間間隔で取得する。そして、濃度値Srを所定の変換規則に従って変換した濃度値Scを所定の閾値と比較し、少なくとも1つの濃度値Scが所定の閾値よりも暗いと判断される場合には、商品Gに異物が混入しているものと判断し、全ての濃度値Scが閾値よりも明るいと判断される場合には、商品Gには異物が混入していないものと判断する。
a) Foreign matter mixing inspection The quality determination unit 21b, like the image generation unit 21a, detects each pixel sensor 14a of the X-ray line sensor 14 when the product G passes through the fan-shaped X-ray irradiation range X (see FIG. 2). X-ray fluoroscopic image signals output from are acquired at fine time intervals. Then, the density value Sc obtained by converting the density value Sr according to a predetermined conversion rule is compared with a predetermined threshold value, and if it is determined that at least one density value Sc is darker than the predetermined threshold value, the product G has a foreign object. If it is determined that all the density values Sc are brighter than the threshold value, it is determined that no foreign matter is mixed in the product G.

b)形状検査
良否判断部21bは、変換後の濃度値Scに基づいて画像生成部21aにより生成された商品GのX線画像に対して画像処理を施し、商品Gの割れ欠けを検出する。当該形状検査で採用される画像処理の方式には、パターンマッチング方式、周囲長計測方式等がある。これらの方式で判断した結果、1つでも不良と判断されるものがあれば、その商品Gは不良品と判断される。
b) Shape Inspection The quality determination unit 21b performs image processing on the X-ray image of the product G generated by the image generation unit 21a on the basis of the converted density value Sc, and detects cracks in the product G. Image processing methods employed in the shape inspection include a pattern matching method and a perimeter measurement method. As a result of determination by these methods, if even one item is determined to be defective, the product G is determined to be defective.

パターンマッチング方式は、予め商品Gの正常状態および異常状態の少なくとも一方におけるX線画像を判断基準としてHDD25に格納しておき、商品GのX線画像と判断基準となるX線画像とを照合する方式である。   In the pattern matching method, an X-ray image in at least one of a normal state and an abnormal state of the product G is stored in the HDD 25 as a determination criterion in advance, and an X-ray image of the product G is compared with an X-ray image serving as a determination criterion. It is a method.

周囲長計測方式は、X線画像上に現れる商品Gの周囲長と、正常状態における商品Gの周囲長とを比較する方式である。正常状態における商品Gの周囲長は、予めHDD25に格納されている。   The perimeter measurement method is a method of comparing the perimeter of the product G appearing on the X-ray image with the perimeter of the product G in a normal state. The perimeter of the product G in the normal state is stored in the HDD 25 in advance.

c)数量検査
良否判断部21bは、変換後の濃度値Scに基づいて画像生成部21aにより生成された商品GのX線画像に対して画像処理を施し、商品Gに含まれる内容物の個数を検査する。
c) Quantity Inspection The quality determination unit 21b performs image processing on the X-ray image of the product G generated by the image generation unit 21a based on the converted density value Sc, and the number of contents contained in the product G Inspect.

当該数量検査では、X線画像上に現れる商品Gの内容物の個数がカウントされ、当該個数が正常であるか否かが判断される。正常状態における商品Gの内容物の個数は、予めHDD25に格納されている。   In the quantity inspection, the number of contents of the product G appearing on the X-ray image is counted, and it is determined whether or not the number is normal. The number of contents of the product G in the normal state is stored in the HDD 25 in advance.

(3)画像補正画面
以下、図6および図7を参照して、画像補正画面100について説明する。画像補正画面100は、品質検査前のオペレータによるX線画像の補正時に、LCDモニタ30に表示される画面である。X線画像の補正とは、X線画像の各画素に対応する濃度値Srの変換規則を定義することを言う(変換後の濃度値をScとする)。
(3) Image Correction Screen Hereinafter, the image correction screen 100 will be described with reference to FIGS. 6 and 7. The image correction screen 100 is a screen displayed on the LCD monitor 30 when correcting an X-ray image by an operator before quality inspection. X-ray image correction means defining a conversion rule for the density value Sr corresponding to each pixel of the X-ray image (the converted density value is Sc).

例えば、X線画像上に暗く写る商品Gへの異物の混入の有無を検査しようとする場合には、X線画像上の暗い画素(濃度値Srの低い画素)どうしを微細に判別することが重要となる。このような場合には、明るいところでの濃度値よりも、暗いところでの濃度値の方が相対的に細かく表現されるように、X線画像を補正することが適切である。   For example, when it is intended to inspect the presence of foreign matter in the product G that appears dark on the X-ray image, it is possible to finely distinguish between dark pixels (pixels having a low density value Sr) on the X-ray image. It becomes important. In such a case, it is appropriate to correct the X-ray image so that the density value in the dark place is expressed more finely than the density value in the bright place.

オペレータがタッチパネル機能付きのLCDモニタ30を操作して画像補正機能を立ち上げると、X線検査装置10の各部12〜14等がウォームアップを始めるとともに、LCDモニタ30上には画像補正画面100の初期画面が表示される。この初期画面には、オペレータに商品Gの撮影を行うことを促すメッセージが表示されている。そして、オペレータが当該メッセージに従ってテスト用の商品Gをコンベア12上に載せると、当該商品Gは、コンベア12によってシールドボックス11内へと搬送されてゆく。シールドボックス11内では、X線照射器13から放射されるX線による、商品GのX線撮影が行われる。このX線撮影時にX線ラインセンサ14から出力されたX線透視像信号は、その強度に応じた濃度値SrへとA/D変換され、制御コンピュータ20へと送られる。その後、画像補正画面100は、初期画面からメイン画面へと切り替わる。   When the operator operates the LCD monitor 30 with a touch panel function to start up the image correction function, the units 12 to 14 and the like of the X-ray inspection apparatus 10 start warming up and the image correction screen 100 is displayed on the LCD monitor 30. The initial screen is displayed. On this initial screen, a message for prompting the operator to photograph the product G is displayed. When the operator places the test product G on the conveyor 12 in accordance with the message, the product G is transported into the shield box 11 by the conveyor 12. In the shield box 11, X-ray imaging of the product G is performed by X-rays emitted from the X-ray irradiator 13. The X-ray fluoroscopic image signal output from the X-ray line sensor 14 during the X-ray imaging is A / D converted into a density value Sr corresponding to the intensity and sent to the control computer 20. Thereafter, the image correction screen 100 is switched from the initial screen to the main screen.

図7に示すように、画像補正画面100のメイン画面は、大きく3つのエリアA1〜A3に分かれている。   As shown in FIG. 7, the main screen of the image correction screen 100 is roughly divided into three areas A1 to A3.

エリアA1は、商品GのX線画像を表示するためのエリアであり、エリアA2は、濃度変換曲線Lを表示するためのエリアである。エリアA3には、濃度値Srを変換するためのパラメータの設定入力を受け付けるボタン類(表示窓、上下キー、決定ボタンなど)が並んでいる。   The area A1 is an area for displaying the X-ray image of the product G, and the area A2 is an area for displaying the density conversion curve L. In the area A3, buttons (display window, up / down key, determination button, etc.) for receiving a parameter setting input for converting the density value Sr are arranged.

エリアA1に最初に表示されるX線画像は、X線透視像信号の示す濃度値Srに基づくX線画像、すなわち、オペレータが初期画面の誘導に従って撮影した生のX線画像である。   The X-ray image initially displayed in the area A1 is an X-ray image based on the density value Sr indicated by the X-ray fluoroscopic image signal, that is, a raw X-ray image taken by the operator according to the guidance of the initial screen.

そして、オペレータは、エリアA1に表示されているX線画像を見ながら、エリアA3のボタン類を操作し、3つのパラメータ「変換上限リミット」「変換レベル」「強調下限リミット」を変更してゆく。これらのパラメータは、濃度値Srを濃度値Scに変換するための変換規則である、濃度変換曲線Lを定義するためのパラメータである。そして、オペレータによるこれらのパラメータの変更に伴って、エリアA1のX線画像とエリアA2の濃度変換曲線Lとは、当該変更を反映したものにリアルタイムに更新されてゆく。すなわち、エリアA1のX線画像と、エリアA2に示される濃度変換曲線Lと、エリアA3のボタン類とは、同期している。   Then, the operator operates the buttons of the area A3 while viewing the X-ray image displayed in the area A1, and changes the three parameters “conversion upper limit”, “conversion level”, and “emphasis lower limit”. . These parameters are parameters for defining the density conversion curve L, which is a conversion rule for converting the density value Sr to the density value Sc. As these parameters are changed by the operator, the X-ray image of area A1 and the density conversion curve L of area A2 are updated in real time to reflect the change. That is, the X-ray image of area A1, the density conversion curve L shown in area A2, and the buttons of area A3 are synchronized.

ここで、用語の説明を行う。濃度変換曲線Lとは、変換前後の濃度値Sr,Scの相関を示すものであり、横軸に変換前の濃度値Srをとり、縦軸に変換後の濃度値Scをとったものである。つまり、濃度値Srの変化率=(変換後の濃度値Sc)/(変換前の濃度値Sr)=1となるところでは、濃度値Srは変換されない。したがって、濃度変換曲線Lが直線Sc=Srとなる場合には、X線画像が全く補正されず、生の濃度値Srないし生のX線画像に対して良否判定部21bによる品質検査(異物検査、形状検査、数量検査等)が実行されることになる。   Here, terms are explained. The density conversion curve L indicates the correlation between the density values Sr and Sc before and after conversion. The density value Sr before conversion is taken on the horizontal axis, and the density value Sc after conversion is taken on the vertical axis. . That is, the density value Sr is not converted where the change rate of the density value Sr = (density value Sc after conversion) / (density value Sr before conversion) = 1. Therefore, when the density conversion curve L is the straight line Sc = Sr, the X-ray image is not corrected at all, and quality inspection (foreign matter inspection) by the pass / fail judgment unit 21b is performed on the raw density value Sr or the raw X-ray image. , Shape inspection, quantity inspection, etc.) will be executed.

次に、「変換レベル」とは、濃度値Srの変化の度合いのことである。図7(a)は、「変換レベル」を「0」(最小)から「3」(最大)の4段階に変更したときの濃度変換曲線Lの様子を示している。なお、最左の状態は、濃度値Srが全く変換されていない(濃度値Srの変化率が常に1の)初期状態であり、右の状態へ進むほど、濃度値Srの暗い領域における濃度変換曲線Lの傾きが急になり、明るい領域における濃度変換曲線Lの傾きが緩やかになるようになっている。   Next, the “conversion level” is the degree of change in the density value Sr. FIG. 7A shows a state of the density conversion curve L when the “conversion level” is changed from four levels of “0” (minimum) to “3” (maximum). Note that the leftmost state is an initial state in which the density value Sr is not converted at all (the change rate of the density value Sr is always 1), and the density conversion in the dark region of the density value Sr is advanced toward the right state. The slope of the curve L becomes steep, and the slope of the density conversion curve L in a bright region becomes gentle.

次に、「変換上限リミット」とは、濃度値Srの変換領域の上限値のことである。濃度値Srの変換領域とは、濃度値Srの変換が行われる(変化率が1でない)領域のことであり、言い代えると、濃度変換曲線Lが直線Sc=Srとならない濃度値Srの領域のことである。したがって、濃度値Srが「変換上限リミット」を超える領域、すなわち、濃度値Srの変換が行われない(変化率が1である)非変換領域では、濃度変換曲線Lは直線Sc=Srとなる。   Next, the “conversion upper limit” is the upper limit value of the conversion area of the density value Sr. The density value Sr conversion area is an area where the density value Sr is converted (the rate of change is not 1). In other words, the density value Sr area where the density conversion curve L does not become the straight line Sc = Sr. That is. Therefore, in the region where the density value Sr exceeds the “conversion upper limit”, that is, in the non-conversion region where the density value Sr is not converted (change rate is 1), the density conversion curve L is a straight line Sc = Sr. .

図7(b)は、「変換上限リミット」を4段階に変更したときの濃度変換曲線Lの様子を示している。「変換上限リミット」が「100」(最大)の場合には、非変換領域が存在せず、「変換上限リミット」が「100」から「0」(最小)へと変化するにつれて変換領域が除々に狭くなってゆき、「変換上限リミット」が「0」となると、変換領域が存在しなくなる。   FIG. 7B shows a state of the density conversion curve L when the “conversion upper limit” is changed in four stages. When the “conversion upper limit” is “100” (maximum), there is no non-conversion area, and the conversion area gradually increases as the “conversion upper limit” changes from “100” to “0” (minimum). When the “conversion upper limit” becomes “0”, the conversion area does not exist.

次に、「強調下限リミット」とは、濃度値Srの変換領域における濃度値Srの強調領域の下限値のことである。また、濃度値Srの強調領域とは、濃度変換曲線Lの傾きが相対的に急となる濃度値Srの領域のことである。したがって、強調領域に属する濃度値Srを有するX線画像上の画素どうしは、X線画像の補正によって互いの濃淡の差がより明瞭になる。   Next, the “enhancement lower limit” is the lower limit value of the emphasis area of the density value Sr in the density value Sr conversion area. The emphasis area of the density value Sr is an area of the density value Sr where the gradient of the density conversion curve L is relatively steep. Accordingly, the pixels on the X-ray image having the density value Sr belonging to the emphasis region have a clearer difference in light and shade due to the correction of the X-ray image.

図7(c)は、「強調下限リミット」を4段階に変更したときの濃度変換曲線Lの様子を示している。「強調下限リミット」が「0」(最小)の場合には、濃度変換曲線Lが左端から上に凸の形状を描くように切り立ち、「強調下限リミット」が「0」から「100」(最大)へと変化するにつれて、濃度変換曲線Lの切り立つ点が除々に右側へとシフトしてゆく。   FIG. 7C shows the state of the density conversion curve L when the “enhancement lower limit” is changed in four stages. When the “emphasis lower limit” is “0” (minimum), the density conversion curve L is cut so as to draw a convex shape upward from the left end, and the “emphasis lower limit” is changed from “0” to “100” ( As the value changes to (maximum), the point at which the density conversion curve L stands is gradually shifted to the right.

なお、濃度変換曲線Lは、連続曲線であり、変換領域において滑らかである。   The density conversion curve L is a continuous curve and is smooth in the conversion region.

そして、オペレータは、3つのパラメータを自在に変化させつつ、自身の経験等に基づいて最も検査精度が高くなるであろうと判断されるX線画像を選び出すと、当該X線画像が表示されている状態でエリアA3の決定ボタンを押す。これにより、X線画像の補正が完了する。   Then, when the operator freely changes the three parameters and selects an X-ray image that is determined to have the highest inspection accuracy based on his / her experience, the X-ray image is displayed. In the state, press the decision button of area A3. Thereby, the correction of the X-ray image is completed.

続いて、オペレータは、続く品質検査で用いられる検査パラメータ(例えば、異物混入検査で用いられる、濃度値Scとの比較対象となる閾値)を、補正後のX線画像を見ながら設定する。   Subsequently, the operator sets inspection parameters used in the subsequent quality inspection (for example, a threshold value to be compared with the density value Sc used in the contamination inspection) while viewing the corrected X-ray image.

検査パラメータの設定が終わり、オペレータがX線検査装置10に対して品質検査を開始させるための操作を行うと、X線検査装置10は品質検査モードへと移行する。   When the setting of the inspection parameters is completed and the operator performs an operation for starting the quality inspection on the X-ray inspection apparatus 10, the X-ray inspection apparatus 10 shifts to the quality inspection mode.

<X線検査装置の特徴>
X線検査装置10では、画像補正画面100を介したオペレータによるX線画像の補正が可能になっている。そして、画像補正画面100は、オペレータに対して3つのパラメータ「変換上限リミット」「変換レベル」「強調下限リミット」の設定入力を受け付けている。
<Characteristics of X-ray inspection equipment>
In the X-ray inspection apparatus 10, an X-ray image can be corrected by an operator via the image correction screen 100. Then, the image correction screen 100 accepts setting inputs of three parameters “conversion upper limit”, “conversion level”, and “emphasis lower limit” to the operator.

「変換上限リミット」の調整は、濃度値Srの変換領域の位置指定(逆に言うと、濃度値Srの非変換領域の位置指定でもある)を可能にしており、さらに、濃度値Srの明るい領域に対しては補正を行わずに、濃度値Srの暗い領域に対してのみ補正を行うことも可能にしている。したがって、画像補正画面100は、X線画像上に暗く写る部位を微細に判別したい場合の補正に特に適していると言うことができる。なお、X線画像上に暗く写る部位を微細に判別したい場合とは、例えば、高密度で厚みのある商品Gに混入した異物を検出したい場合などである。   Adjustment of the “conversion upper limit” makes it possible to specify the position of the conversion area of the density value Sr (in other words, to specify the position of the non-conversion area of the density value Sr), and to further increase the density value Sr. It is also possible to perform correction only for the dark area of the density value Sr without correcting the area. Therefore, it can be said that the image correction screen 100 is particularly suitable for correction when it is desired to finely determine a portion that appears dark on an X-ray image. The case where it is desired to finely discriminate a portion that appears dark on the X-ray image is, for example, a case where it is desired to detect foreign matter mixed in a product G having a high density and a thickness.

また、「変換レベル」の調整は、濃度値Srの変換領域における濃度値Srの変化の程度を選択することを可能にしている。   Further, the adjustment of the “conversion level” makes it possible to select the degree of change in the density value Sr in the density value Sr conversion region.

また、「強調下限リミット」の調整は、濃度値Srの強調領域の位置指定(逆に言うと、濃度値Srの非強調領域の位置指定でもある)を可能にしている。なお、濃度値Srの強調領域とは、濃度変換曲線Lの傾きが特に急となる濃度値Srの領域のことである。すなわち、X線画像上に特定の暗さレベルで写る部位を特に詳細に観察することを可能にしている。   Further, the adjustment of the “enhancement lower limit” enables the specification of the position of the emphasized area of the density value Sr (in other words, the position specification of the non-emphasized area of the density value Sr). The emphasized region of the density value Sr is a region of the density value Sr where the gradient of the density conversion curve L is particularly steep. That is, it is possible to observe in particular detail a part that appears on the X-ray image at a specific darkness level.

これにより、濃度値Srの変換規則の設定の自由度が高まり、オペレータは、X線画像を柔軟に補正することができる。   As a result, the degree of freedom in setting the conversion rule for the density value Sr increases, and the operator can flexibly correct the X-ray image.

(2)
X線検査装置10では、濃度値Srの変換規則を濃度変換曲線Lとして可視化している。そして、画像補正画面100を介して上記3つのパラメータが変更されると、画像補正画面100上に変更後のパラメータに基づく濃度変換曲線LおよびX線画像がリアルタイムに表示される。これにより、オペレータは、自らが設定したパラメータによる影響をリアルタイムに確認しながら、最終的に選択すべきパラメータを決定することができるようになっている。
(2)
In the X-ray inspection apparatus 10, the conversion rule of the density value Sr is visualized as a density conversion curve L. When the above three parameters are changed via the image correction screen 100, the density conversion curve L and the X-ray image based on the changed parameters are displayed on the image correction screen 100 in real time. As a result, the operator can determine the parameter to be finally selected while confirming the influence of the parameter set by the operator in real time.

<変形例>
(1)
濃度変換曲線Lを変形させる方法は上述したものに限られず、任意の方法で画像変換曲線Lを変形させてX線画像の補正(コントラスト調整、明るさ調整、ガンマ補正等)を行うことができる。例えば、以下の方法が考えられる。
<Modification>
(1)
The method of deforming the density conversion curve L is not limited to that described above, and the X-ray image can be corrected (contrast adjustment, brightness adjustment, gamma correction, etc.) by deforming the image conversion curve L by any method. . For example, the following method can be considered.

a)
上記実施形態において、「変換上限リミット」に加えて、あるいは、代わりとして、濃度値Srの変換領域の下限値を定める「変換下限リミット」を直接的に設定入力可能となっていてもよい。
a)
In the above embodiment, in addition to or instead of the “conversion upper limit”, the “conversion lower limit” that defines the lower limit value of the conversion region of the density value Sr may be directly set and input.

X線画像上に明るく写る商品Gの割れ欠けを検出する場合などのように、X線画像上において比較的明るく写る部位を微細に判別したい場合がある。このような場合には、特に、「変換上限リミット」よりも「変換下限リミット」を指定可能な方が有利である。   There may be a case where it is desired to finely discriminate a portion that appears relatively bright on the X-ray image, such as when detecting a crack or chip of the product G that appears bright on the X-ray image. In such a case, it is particularly advantageous that the “conversion lower limit” can be specified rather than the “conversion upper limit”.

b)
上記実施形態において、「強調下限リミット」に加えて、あるいは、代わりとして、濃度値Srの強調領域の上限値を定める「強調上限リミット」を直接的に設定入力可能となっていてもよい。
b)
In the above embodiment, in addition to or instead of “enhancement lower limit”, “enhancement upper limit” that determines the upper limit value of the emphasis region of density value Sr may be directly set and input.

X線画像上に明るく写る商品Gの割れ欠けを検出する場合などのように、X線画像上において比較的明るく写っている部位を微細に判別したい場合がある。このような場合には、特に、「強調下限リミット」よりも「強調上限リミット」を指定可能な方が有利である。   There may be a case where it is desired to finely discriminate a portion that appears relatively bright on the X-ray image, such as when a crack of a product G that appears bright on the X-ray image is detected. In such a case, it is particularly advantageous that the “enhancement upper limit” can be designated rather than the “enhancement lower limit”.

c)
上記実施形態では、指定可能な濃度値Srの変換領域の数は1つと定まっていたが、複数の変換領域を指定できるようになっていてもよい。さらに、変換領域の数自体を指定できるようになっていてもよい。
c)
In the above embodiment, the number of conversion areas of the density value Sr that can be specified is determined to be one, but a plurality of conversion areas may be specified. Further, the number of conversion areas themselves may be designated.

この場合、例えば、図8に示すような画像補正画面200を用いることが考えられる。画像補正画面200も、商品GのX線画像を表示するためのエリアA1と、濃度変換曲線Lを表示するためのエリアA2と、濃度値Srを変換するためのパラメータの設定入力を受け付けるボタン類(表示窓、上下キー、決定ボタンなど)の並ぶエリアA3とを有している。画像補正画面100との差異は、エリアA3にある。   In this case, for example, it is conceivable to use an image correction screen 200 as shown in FIG. The image correction screen 200 also includes an area A1 for displaying the X-ray image of the product G, an area A2 for displaying the density conversion curve L, and buttons for receiving parameter setting input for converting the density value Sr. And an area A3 in which (display window, up / down key, determination button, etc.) are arranged. The difference from the image correction screen 100 is in area A3.

画像補正画面200のエリアA3には、変換領域の上限値および下限値を自在に入力可能な入力窓が存在している。そして、これらの入力窓に変換領域の上限値および下限値を入力したオペレータが登録ボタンを押すと、当該変換領域が登録され、当該登録がエリアA2の濃度変換曲線LとエリアA1のX線画像とに反映される。また、エリアA3には定義済みの変換領域が表示され、オペレータが定義済みの変換領域を認識し易くなっている。そして、既に定義済みの変換領域と重複しない領域に対して同様に変換領域を定義していくことにより、オペレータは変換領域の数を増やしてゆくことができる。   In the area A3 of the image correction screen 200, there is an input window in which the upper limit value and the lower limit value of the conversion area can be freely input. When the operator who has input the upper limit value and the lower limit value of the conversion area into these input windows presses the registration button, the conversion area is registered, and the registration is the density conversion curve L of area A2 and the X-ray image of area A1. And reflected in. In addition, a defined conversion area is displayed in area A3, so that the operator can easily recognize the defined conversion area. The operator can increase the number of conversion areas by defining conversion areas in the same way for areas that do not overlap with already defined conversion areas.

d)
上記実施形態において、変形例c)と同様に、濃度値Srの強調領域についても、2つ以上指定できるようになっていてもよいし、その数自体も指定できるようになっていてもよい。
d)
In the above embodiment, similarly to the modification c), two or more emphasis areas of the density value Sr may be designated, or the number itself may be designated.

e)
上記実施形態において、濃度値Srの変換領域の幅を直接的に設定入力可能となっていてもよい。
e)
In the above embodiment, it may be possible to directly set and input the width of the conversion region of the density value Sr.

f)
上記実施形態において、濃度値Srの強調領域の幅を直接的に設定入力可能となっていてもよい。
f)
In the above embodiment, the width of the emphasis region of the density value Sr may be directly set and input.

g)
上記実施形態では、3つのパラメータ「変換上限リミット」「変換レベル」「強調下限リミット」の設定入力が可能であるが、このうちのいくつかのパラメータの設定入力機能が削除されてもよい。すなわち、3つのパラメータ「変換上限リミット」「変換レベル」「強調下限リミット」のうち、「変換上限リミット」、「変換レベル」、「強調下限リミット」、「変換上限リミット」および「変換レベル」、「変換レベル」および「強調下限リミット」、あるいは、「強調下限リミット」および「変換上限リミット」の設定入力のみを受け付けるようになっていてもよい。
g)
In the above-described embodiment, setting input of three parameters “conversion upper limit”, “conversion level”, and “emphasis lower limit” is possible, but setting input functions of some of these parameters may be deleted. That is, among the three parameters “conversion upper limit”, “conversion level”, and “emphasis lower limit”, “conversion upper limit”, “conversion level”, “emphasis lower limit”, “conversion upper limit” and “conversion level”, Only the setting input of “conversion level” and “enhancement lower limit” or “enhancement lower limit” and “conversion upper limit” may be accepted.

(2)
上記実施形態において、濃度変換曲線Lに重ねて、画像補正画面100のエリアA2に、濃度値Srのヒストグラムが表示されるようになっていてもよい。
(2)
In the above embodiment, the histogram of the density value Sr may be displayed in the area A2 of the image correction screen 100 so as to overlap the density conversion curve L.

さらに、上記パラメータが入力されたときに、濃度値Srのヒストグラムが表示されたままであっていてもよいし、変換後の濃度値Scのヒストグラムの表示に切り替わってもよい。   Furthermore, when the parameter is input, the histogram of the density value Sr may remain displayed or may be switched to display of the histogram of the density value Sc after conversion.

(3)
上記実施形態では、良否判断部21bによる異物混入検査が画素単位(濃度値Sc単位)で行われているが、X線画像単位で行われてもよい。
(3)
In the above embodiment, the foreign matter mixing inspection by the pass / fail judgment unit 21b is performed in pixel units (density value Sc units), but may be performed in X-ray image units.

この場合、例えば、良否判断部21bは、画像生成部21aにより生成された変換後の濃度値Scに基づく商品GのX線画像に対して画像処理を施し、商品Gに含まれる異物を検出する。当該異物混入検査で採用される画像処理の方式には、例えば、トレース検出方式、2値化検出方式等がある。これらの方式で判断した結果、1つでも不良と判断されるものがあれば、その商品Gは不良品と判断される。   In this case, for example, the quality determination unit 21b performs image processing on the X-ray image of the product G based on the converted density value Sc generated by the image generation unit 21a, and detects a foreign matter included in the product G. . Examples of the image processing method employed in the foreign substance contamination inspection include a trace detection method and a binarization detection method. As a result of determination by these methods, if even one item is determined to be defective, the product G is determined to be defective.

トレース検出方式は、商品Gの大まかな厚さに沿って予め閾値を設定しておき、商品GのX線画像上に当該閾値よりも暗く現れる、所定の面積を有する領域が存在した場合に商品Gに異物が混入していると判断する方式である。この方式では、比較的小さな異物を検出することが可能である。   In the trace detection method, a threshold is set in advance along the rough thickness of the product G, and a product having a predetermined area that appears darker than the threshold on the X-ray image of the product G exists. In this method, it is determined that foreign matter is mixed in G. In this method, it is possible to detect a relatively small foreign object.

2値化検出方式は、商品GのX線画像上に予め設定した閾値よりも暗く現れる、所定の面積を有する領域が存在した場合に商品Gに異物が混入していると判断する方式である。この方式では、比較的大きい異物を検出することが可能である。   The binarization detection method is a method for determining that a foreign object is mixed in the product G when there is a region having a predetermined area that appears darker than a preset threshold on the X-ray image of the product G. . With this method, it is possible to detect a relatively large foreign object.

また、上記方式において、X線画像上にマスクを設定することも可能である。マスクは、例えば、商品Gが容器に包装されている場合にX線画像上の当該容器に対応する領域に対して設定される。   In the above method, it is also possible to set a mask on the X-ray image. For example, when the product G is packaged in a container, the mask is set for an area corresponding to the container on the X-ray image.

(4)
上記実施形態において、良否判断部21bが、変形例(3)とは別の態様で、濃度値Scに基づく商品GのX線画像に対して画像処理を施し、商品Gに含まれる異物を検出するようになっていてもよい。例えば、検査対象のX線画像を予め設定されている正常状態のX線画像と比較するパターンマッチング方法が採用されてもよい。
(4)
In the above embodiment, the pass / fail judgment unit 21b performs image processing on the X-ray image of the product G based on the density value Sc in a manner different from that of the modification (3), and detects a foreign matter contained in the product G. You may come to do. For example, a pattern matching method for comparing an X-ray image to be inspected with a preset normal X-ray image may be employed.

(5)
上記実施形態において、制御コンピュータ20にかかる処理が、X線検査装置10の本体と別に設けられた装置において実行されるようになっていてもよい。例えば、制御コンピュータ20から各種データがネットワークを介して別体のコンピュータに送られ、上記処理の全部または一部が当該コンピュータにおいて実行されるようになっていてもよい。
(5)
In the above-described embodiment, the process related to the control computer 20 may be executed in an apparatus provided separately from the main body of the X-ray inspection apparatus 10. For example, various data may be sent from the control computer 20 to a separate computer via a network, and all or part of the above processing may be executed in the computer.

本発明は、X線検査装置、特に、食品などの商品の生産ラインに配備されるX線検査装置として有用であり、オペレータがX線画像を柔軟に補正できるようにすることができる。   INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention is useful as an X-ray inspection apparatus, in particular, an X-ray inspection apparatus deployed in a production line for commodities such as food, and allows an operator to flexibly correct an X-ray image.

本発明にかかるX線検査装置の外観斜視図。1 is an external perspective view of an X-ray inspection apparatus according to the present invention. X線検査装置のシールドボックス内部の構成図。The block diagram inside the shield box of a X-ray inspection apparatus. X線検査の原理を示す模式図。The schematic diagram which shows the principle of a X-ray inspection. X線検査装置の前後の構成図。The block diagram before and behind an X-ray inspection apparatus. 制御コンピュータのブロック構成図。The block block diagram of a control computer. 画像補正画面を示す図。The figure which shows an image correction screen. (a)変換レベルを4段階に変更したときの濃度変換曲線Lの様子を示す図。 (b)変換上限リミットを4段階に変更したときの濃度変換曲線Lの様子を示す図。 (c)強調下限リミットを4段階に変更したときの濃度変換曲線Lの様子を示す図。(A) The figure which shows the mode of the density | concentration conversion curve L when changing a conversion level into four steps. (B) The figure which shows the mode of the density | concentration conversion curve L when changing the conversion upper limit in four steps. (C) The figure which shows the mode of the density | concentration conversion curve L when changing an emphasis lower limit to four steps. 変形例(1)c)にかかる画像補正画面を示す図。The figure which shows the image correction screen concerning a modification (1) c).

符号の説明Explanation of symbols

10 X線検査装置
13 X線照射器(X線照射部)
14 X線ラインセンサ(X線検出部)
20 制御コンピュータ
21 CPU
21a 画像生成部
21b 良否判断部
30 LCDモニタ(表示部)
100,200 画像補正画面
Sr 変換前の濃度値
Sc 変換後の濃度値
G 商品(物品)
10 X-ray inspection equipment 13 X-ray irradiator (X-ray irradiator)
14 X-ray line sensor (X-ray detector)
20 control computer 21 CPU
21a Image generation unit 21b Pass / fail judgment unit 30 LCD monitor (display unit)
100, 200 Image correction screen Sr Density value before conversion Sc Density value after conversion G Product (article)

Claims (8)

物品にX線を照射するX線照射部と、
前記物品を透過したX線の濃度値に応じた信号を出力するX線検出部と、
前記濃度値に基づいてX線画像を生成する画像生成部と、
前記X線画像の補正画面を表示する表示部と、
を備え、
前記補正画面は、前記濃度値の変換領域または非変換領域の位置に関する第1パラメータ、前記変換領域における前記濃度値の変化率に関する第2パラメータ、および、前記変換領域に含まれる前記濃度値の強調領域の位置に関する第3パラメータの少なくとも1つの設定を受け付ける、
X線検査装置。
An X-ray irradiation unit for irradiating the article with X-rays;
An X-ray detector that outputs a signal corresponding to a density value of X-rays transmitted through the article;
An image generator for generating an X-ray image based on the density value;
A display unit for displaying a correction screen of the X-ray image;
With
The correction screen includes a first parameter relating to a position of the density value conversion area or non-conversion area, a second parameter relating to a change rate of the density value in the conversion area, and emphasis of the density value included in the conversion area. Accept at least one setting of a third parameter relating to the position of the region;
X-ray inspection equipment.
前記補正画面を介して設定された前記第1パラメータ、前記第2パラメータおよび前記第3パラメータの少なくとも1つに基づいて変換された前記濃度値に基づいて、前記物品の良否を判断する良否判断部、
をさらに備える、
請求項1に記載のX線検査装置。
A quality determination unit that determines the quality of the article based on the density value converted based on at least one of the first parameter, the second parameter, and the third parameter set via the correction screen. ,
Further comprising
The X-ray inspection apparatus according to claim 1.
前記補正画面は、前記第1パラメータの設定を受け付ける、
請求項1または2に記載のX線検査装置。
The correction screen accepts the setting of the first parameter.
The X-ray inspection apparatus according to claim 1 or 2.
前記補正画面は、前記第2パラメータの設定を受け付ける、
請求項1または2に記載のX線検査装置。
The correction screen accepts the setting of the second parameter.
The X-ray inspection apparatus according to claim 1 or 2.
前記補正画面は、前記第3パラメータの設定を受け付ける、
請求項1または2に記載のX線検査装置。
The correction screen accepts the setting of the third parameter.
The X-ray inspection apparatus according to claim 1 or 2.
前記補正画面は、複数の前記変換領域に対する前記第1パラメータ、前記第2パラメータおよび前記第3パラメータの少なくとも1つの設定を受け付ける、
請求項1から5のいずれかに記載のX線検査装置。
The correction screen receives at least one setting of the first parameter, the second parameter, and the third parameter for a plurality of the conversion regions,
The X-ray inspection apparatus according to claim 1.
前記補正画面には、前記補正画面を介して設定された前記第1パラメータ、前記第2パラメータおよび前記第3パラメータの少なくとも1つに基づいて変換された前記濃度値に基づく前記X線画像が表示される、
請求項1から6のいずれかに記載のX線検査装置。
The X-ray image based on the density value converted based on at least one of the first parameter, the second parameter, and the third parameter set via the correction screen is displayed on the correction screen. To be
The X-ray inspection apparatus according to claim 1.
前記第1パラメータは、前記変換領域または前記非変換領域の上限位置および下限位置の少なくとも一方に関するものである、
請求項3に記載のX線検査装置。
The first parameter relates to at least one of an upper limit position and a lower limit position of the conversion area or the non-conversion area.
The X-ray inspection apparatus according to claim 3.
JP2007249902A 2007-09-26 2007-09-26 X-ray inspection device Pending JP2009080029A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007249902A JP2009080029A (en) 2007-09-26 2007-09-26 X-ray inspection device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007249902A JP2009080029A (en) 2007-09-26 2007-09-26 X-ray inspection device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009080029A true JP2009080029A (en) 2009-04-16

Family

ID=40654883

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007249902A Pending JP2009080029A (en) 2007-09-26 2007-09-26 X-ray inspection device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009080029A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017159851A1 (en) * 2016-03-18 2017-09-21 株式会社イシダ Optical inspecting device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017159851A1 (en) * 2016-03-18 2017-09-21 株式会社イシダ Optical inspecting device
JPWO2017159851A1 (en) * 2016-03-18 2019-01-24 株式会社イシダ Optical inspection device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4317566B2 (en) X-ray inspection apparatus and method for generating image processing procedure of X-ray inspection apparatus
AU2006201717B2 (en) X-ray inspection apparatus
JP5864404B2 (en) X-ray inspection equipment
JP5243008B2 (en) X-ray foreign object detection device
JP6546208B2 (en) X-ray inspection device
JP2005003480A (en) X-ray examination apparatus
JP2015137858A (en) Inspection device
JP6483427B2 (en) X-ray inspection equipment
JP6480171B2 (en) X-ray inspection device
JP2009080030A (en) X-ray inspection device
JP2009080029A (en) X-ray inspection device
JP2009080031A (en) X-ray inspection device
WO2017159855A1 (en) X-ray inspection device
JP4291123B2 (en) Radiation foreign matter inspection apparatus and radiation foreign matter inspection method
JP6457854B2 (en) X-ray inspection equipment
JP6861990B2 (en) X-ray inspection equipment
JP4156645B2 (en) X-ray foreign object detection device
JP2008175691A (en) X-ray inspection apparatus and inspection method
JP2021025874A (en) Inspection device
WO2017159856A1 (en) X-ray inspection apparatus
JP2016090494A (en) X-ray inspection device
JP2019107605A (en) Inspection device
JP6144584B2 (en) Damage inspection device
JP2013152127A (en) Density calculation apparatus
JP6774895B2 (en) X-ray inspection equipment