JP2009069434A - 表示パネル及びパネル検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】N本の画素制御線と、当該画素制御線と直交するM本の映像信号線と、N本の画素制御線とM本の映像信号線の各交点に配置される画素回路とで構成された表示領域を有するアクティブマトリクス駆動型の表示パネルについて考える。この場合、画素回路内の画素制御線又は映像信号線に位置識別パターンを1又は複数飛ばしで配置する。
【選択図】図3
Description
これに伴い、表示パネルの製造過程でダスト等による配線の断線、隣接配線間でのショート、配線クロス部における層間ショート等の不良発生確率が上昇している。
ところで、昨今のように表示装置が大型であると、レーザー照射口やレーザー照射口に付属するカメラの移動量が多くなる。
また、図1中に示したように、画素ピッチが約200μm程度であるのに対し、カメラ視野の直径は約30μm程度である。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する形態例は、発明の一つの形態例であって、これらに限定されるものではない。
図2に、有機ELパネルモジュール11の平面構成例を示す。有機ELパネルモジュール11は、ガラス基板13上にアクティブ駆動方式に対応した画素回路をマトリクス状に配置した表示領域15を形成した構成を有している。
(B−1)形態例
図3に、形態例に係る有機ELパネルを構成する画素回路の平面構成例を示す。なお、図3には図1との対応部分に同一符号を付して示す。
また例えば、画素単位(この例の場合、3つのサブ画素単位)を単数又は複数単位で位置を特定できるように数k及びzを決定しても良い。
なお、突起パターン31及び33ではなく、アイランド状に位置識別マークを画素回路内に配置することも可能である。
前述の形態例の説明では、位置識別パターンが矩形形状の突起パターンである場合について説明した。
しかし、図6(A)〜図6(E)に示すように、他の形状や構造を採用することもできる。
(C−1)形態例1
図10に、前述した位置識別パターンが表示領域内に形成された有機ELパネル41の検査装置例を示す。なお、図10は、不良画素の位置座標の検出機能を搭載するパネル検査装置を表している。
図10に示すパネル検査装置は、撮像カメラ43、移動部45、パターン比較部47及び位置特定部49で構成される。
また、移動部45は、有機ELパネル41と撮像カメラ43を相対的に移動させる可動デバイスである。
位置特定部49は、移動開始から移動終了までの移動量に基づいて移動開始位置の有機ELパネル内の画素位置を特定する処理ユニットである。
やがて、有機ELパネル41の外縁まで達すると、現在の移動動作を停止する。この時点で、不良箇所からある方向への有機ELパネル外縁までの移動量が確定する。
図12に、前述した位置識別パターンが表示領域内に形成された有機ELパネル51の検査装置例を示す。なお、図12は、事前に与えられた不良箇所に修繕領域を位置合わせする機能を搭載するパネル検査装置を表している。
図12に示すパネル検査装置は、撮像カメラ53、パターン比較部55、位置特定部57及び移動部59で構成される。
また、パターン比較部55は、撮像パターンと位置識別パターンとの比較処理を実行する処理ユニットである。
移動部59は、有機ELパネル51と撮像カメラ53を相対的に移動させる可動デバイスである。
位置座標を取得すると、パネル検査装置は、2つの位置座標のうち一方の位置座標に対応する座標への移動動作を実行する(処理S12)。
(D−1)パネル形態
前述の説明では、図2に示す構成の有機ELパネルモジュール11について説明した。しかし、有機ELパネルモジュール11から走査信号供給TAB17や映像信号供給TAB19等の実装を取り外した形態のパネルにも適用できる。
前述した有機ELパネルモジュール11は、各種の電子機器に実装した商品形態でも流通される。以下、他の電子機器への実装例を示す。
前述した形態例の説明では、表示パネルモジュールが有機ELパネルモジュールの場合について説明した。
しかしながら、前述したパネル構造は、有機ELパネルモジュール以外の自発光表示パネルモジュールや非自発光型表示パネルモジュールにも適用できる。
前述した形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。例えば各種係数と階調レベルの範囲との対応関係は前述した例以外にも適用できる。また、本明細書の記載に基づいて創作される又は組み合わせられる各種の変形例及び応用例も考えられる。
31 突起パターン
33 突起パターン
Claims (13)
- N本の画素制御線と、当該画素制御線と直交するM本の映像信号線と、前記N本の画素制御線と前記M本の映像信号線の各交点に配置される画素回路とで構成された表示領域を有するアクティブマトリクス駆動型の表示パネルにおいて、
前記画素回路内の画素制御線には、位置識別パターンがk本(kは自然数)飛ばしで配置される
ことを特徴とする表示パネル。 - N本の画素制御線と、当該画素制御線と直交するM本の映像信号線と、前記N本の画素制御線と前記M本の映像信号線の各交点に配置される画素回路とで構成された表示画面領域を有するアクティブマトリクス駆動型の表示パネルにおいて、
前記画素回路内の映像信号線には、位置識別パターンがz本(zは自然数)飛ばしで配置される
ことを特徴とする表示パネル。 - 請求項1又は2に記載の表示パネルにおいて、
前記位置識別パターンは、表示領域の全域に分散的に配置される
ことを特徴とする表示パネル。 - 請求項1又は2に記載の表示パネルにおいて、
前記位置識別パターンは、凸形状である
ことを特徴とする表示パネル。 - 請求項1又は2に記載の表示パネルにおいて、
前記位置識別パターンは、凹形状である
ことを特徴とする表示パネル。 - 請求項1又は2に記載の表示パネルは、自発光型の表示パネルである
ことを特徴とする表示パネル。 - 請求項1又は2に記載の表示パネルは、有機EL表示パネルである
ことを特徴とする表示パネル。 - 請求項1又は2に記載の表示パネルは、非自発光型の表示パネルである
ことを特徴とする表示パネル。 - 請求項1又は2に記載の表示パネルにおいて、
前記位置識別パターンは、少なくとも特定の位置識別用とその他の位置識別用とで異なる構造を使用する
ことを特徴とする表示パネル。 - N本の画素制御線と、当該画素制御線と直交するM本の映像信号線と、前記N本の画素制御線と前記M本の映像信号線の各交点に配置される画素回路とで構成された表示領域を有するアクティブマトリクス駆動型の表示パネルを検査対象とするパネル検査装置において、
前記画素回路内の画素制御線に、位置識別パターンがk本(kは自然数)飛ばしで配置される場合にあって、パネル検査中に不良箇所が検出されたとき、
不良箇所の周辺領域を探索範囲として前記位置識別パターンを検索し、最初の検出位置と不良箇所との第1のオフセット量を検出する第1のオフセット量検出部と、
前記最初の検出位置から前記画素制御線と直交する方向にk+1本ずつ検出領域を移動し、表示領域端部までの移動回数を求め、当該移動回数に相当する第2のオフセット量を検出する第2のオフセット量検出部と
前記第1及び第2のオフセット量に基づいて、前記画素制御線と直交する方向に対する不良箇所の座標位置を算出する座標位置算出部と
を有することを特徴とするパネル検査装置。 - N本の画素制御線と、当該画素制御線と直交するM本の映像信号線と、前記N本の画素制御線と前記M本の映像信号線の各交点に配置される画素回路とで構成された表示領域を有するアクティブマトリクス駆動型の表示パネルを検査対象とするパネル検査装置において、
前記画素回路内の映像信号線に、位置識別パターンがz本(zは自然数)飛ばしで配置される場合にあって、パネル検査中に不良位置が検出されたとき、
不良箇所の周辺領域を探索範囲として前記位置識別パターンを検索し、最初の検出位置と不良箇所との第1のオフセット量を検出する第1のオフセット量検出部と、
前記最初の検出位置から前記映像信号線と直交する方向にz+1本ずつ検索領域を移動し、表示領域端部までの移動回数を求め、当該移動回数に相当する第2のオフセット量を検出する第2のオフセット量検出部と
前記第1及び第2のオフセット量に基づいて、不良検出位置の前記映像信号線と直交する方向に対する座標位置を算出する座標位置算出部と
を有することを特徴とするパネル検査装置。 - N本の画素制御線と、当該画素制御線と直交するM本の映像信号線と、前記N本の画素制御線と前記M本の映像信号線の各交点に配置される画素回路とで構成された表示領域を有するアクティブマトリクス駆動型の表示パネルを検査対象とするパネル検査装置において、
前記画素回路内の画素制御線に、位置識別パターンがk本(kは自然数)飛ばしで配置される場合にあって、検査対象画素の画素制御線方向の位置座標が与えられたとき、
前記位置座標に応じ、前記画素制御線のk+1本分に相当する移動量単位で撮像領域を移動させる第1の移動部と、
前記画素制御線のk+1本分未満の移動量で撮像領域を移動させる第2の移動部と
を有することを特徴とするパネル検査装置。 - N本の画素制御線と、当該画素制御線と直交するM本の映像信号線と、前記N本の画素制御線と前記M本の映像信号線の各交点に配置される画素回路とで構成された表示領域を有するアクティブマトリクス駆動型の表示パネルを検査対象とするパネル検査装置において、
前記画素回路内の映像信号線に、位置識別パターンがz本(zは自然数)飛ばしで配置される場合にあって、検査対象画素の映像信号線方向の位置座標が与えられたとき、
前記位置座標に応じ、前記映像信号線のz+1本分に相当する移動量単位で撮像領域を移動させる第1の移動部と、
前記映像信号線のz+1本分未満の移動量で撮像領域を移動させる第2の移動部と
を有することを特徴とするパネル検査装置。
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