JP2009063387A - X線断層撮像装置およびx線断層撮像方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】複数の被検査体3の投影データよりその被検査体3の内部構造データを再構成するX線断層撮像装置であって、X線源1と、被検査体3の透過X線を撮像する二次元検出手段4と、X線源1のX線焦点1aと二次元検出手段4との間に配置され、被検査体3を載置してX線源1から出射されたX線により形成される円錐の底面の中心とX線焦点を結ぶ線分とほぼ平行な回転軸R2を中心に、設定された角度変位で回転する回転機構と、回転軸R2に対し、被検査体3をその回転軸R2を中心線とする所定角度の頂角を持つ仮想円錐の円錐面10に接した状態に把持する把持手段とを備える。
【選択図】図5
Description
本実施形態は、上述した実施形態においてX線管1を水平面内でX線焦点1aをほぼ回転中心にして所定の角度回転させた場合の例である。図10〜図13において、図1〜図9に対応する部分には同一符号を付している。
Claims (7)
- 複数の被検査体の投影データより前記被検査体の内部構造データを再構成するX線断層撮像装置であって、
X線源と、
被検査体の透過X線を撮像する二次元検出手段と、
前記X線源のX線焦点と前記二次元検出手段との間に配置され、前記被検査体を載置して前記X線源から出射されたX線により形成される円錐の底面の中心と前記X線焦点を結ぶ線分とほぼ平行な回転軸を中心に、設定された角度変位で回転する回転機構と、
前記被検査体を、前記回転軸に対し、前記回転軸を中心線とする所定角度の頂角を持つ仮想円錐の円錐面にほぼ接する状態に把持する把持手段と、
を備えるX線断層撮像装置。 - 前記被検査体は平板状である
請求項1に記載のX線断層撮像装置。 - 前記二次元検出手段の検出面は、前記X線焦点を含み前記回転軸とほぼ直交するミッドプレーンに対してほぼ垂直、かつ、前記X線焦点と前記回転軸を含む平面とほぼ垂直である、
請求項2に記載のX線断層撮像装置。 - 前記仮想円錐の頂角の角度は、前記被検査体を前記角度変位で回転させて、前記二次元検出手段により前記被検査体の表裏両面方向を交替的に透視観察できる所定の範囲である、
請求項3に記載のX線断層撮像装置。 - 前記回転軸を中心線とする前記仮想円錐の頂角の角度をθ度としたとき、
前記仮想円錐の頂角の角度θは、110°<θ≦150°である
請求項4に記載のX線断層撮像装置。 - 前記ミッドプレーンおよび前記二次元検出手段の検出面とほぼ垂直な平面において、前記X線源が、前記X線焦点を通り前記ミッドプレーンおよび前記二次元検出手段の検出面とほぼ垂直な平面にほぼ垂直な直線を回転中心として、(π−θ)/2度回転している、
請求項4に記載のX線断層撮像装置。 - X線源と、被検査体の透過X線を撮像する二次元検出手段と、前記X線源のX線焦点と前記二次元検出手段との間に配置され、前記被検査体を載置して前記X線源から出射されたX線により形成される円錐の底面の中心と前記X線焦点を結ぶ線分とほぼ平行な回転軸を中心に、設定された角度変位で回転する回転機構と、を備えるX線断層撮像装置によるX線断層撮像方法であって、
前記被検査体を、前記回転軸に対し、前記回転軸を中心線とする所定角度の頂角を持つ仮想円錐の円錐面にほぼ接する状態に固定するステップと、
前記回転軸を中心に設定された角度変位で前記被検査体を回転させ、前記被検査体の投影データを取得するステップと、
各角度変位の被検査体の投影データより前記被検査体の内部構造データを再構成するステップと、
を含むX線断層撮像方法。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105445295A (zh) * | 2014-09-26 | 2016-03-30 | 德律科技股份有限公司 | 检验***及检验***的控制方法 |
JP2017026609A (ja) * | 2015-07-22 | 2017-02-02 | テスト リサーチ, インク. | 測定方法及び装置 |
CN107796761A (zh) * | 2017-09-06 | 2018-03-13 | 中国科学院光电研究院 | 一种超快激光定点照射装置 |
CN110095479A (zh) * | 2019-02-20 | 2019-08-06 | 江苏能建机电实业集团有限公司 | 一种铝型材无损检测设备 |
JP2019191072A (ja) * | 2018-04-27 | 2019-10-31 | 東芝Itコントロールシステム株式会社 | Ct撮影装置及び撮影方法 |
JP2023505662A (ja) * | 2019-12-11 | 2023-02-10 | 同方威視技術股▲分▼有限公司 | 放射線源コンポーネントの調節位置決め装置及び方法並びに放射走査結像機器 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0692944B2 (ja) * | 1986-07-30 | 1994-11-16 | 株式会社日立製作所 | X線断層撮影装置 |
JP2004325247A (ja) * | 2003-04-24 | 2004-11-18 | Shimadzu Corp | 傾斜型ct装置 |
JP2007017304A (ja) * | 2005-07-08 | 2007-01-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | X線検査装置およびx線検査方法 |
-
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0692944B2 (ja) * | 1986-07-30 | 1994-11-16 | 株式会社日立製作所 | X線断層撮影装置 |
JP2004325247A (ja) * | 2003-04-24 | 2004-11-18 | Shimadzu Corp | 傾斜型ct装置 |
JP2007017304A (ja) * | 2005-07-08 | 2007-01-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | X線検査装置およびx線検査方法 |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016070909A (ja) * | 2014-09-26 | 2016-05-09 | テスト リサーチ, インク. | 検査システム及び検査システムの制御方法 |
US9791387B2 (en) | 2014-09-26 | 2017-10-17 | Test Research, Inc. | Inspection system and method for controlling the same |
CN105445295A (zh) * | 2014-09-26 | 2016-03-30 | 德律科技股份有限公司 | 检验***及检验***的控制方法 |
JP2017026609A (ja) * | 2015-07-22 | 2017-02-02 | テスト リサーチ, インク. | 測定方法及び装置 |
US9841387B2 (en) | 2015-07-22 | 2017-12-12 | Test Research, Inc. | Inspection method and device |
CN107796761A (zh) * | 2017-09-06 | 2018-03-13 | 中国科学院光电研究院 | 一种超快激光定点照射装置 |
CN107796761B (zh) * | 2017-09-06 | 2020-05-05 | 中国科学院光电研究院 | 一种超快激光定点照射装置 |
JP7148267B2 (ja) | 2018-04-27 | 2022-10-05 | 東芝Itコントロールシステム株式会社 | Ct撮影装置及び撮影方法 |
JP2019191072A (ja) * | 2018-04-27 | 2019-10-31 | 東芝Itコントロールシステム株式会社 | Ct撮影装置及び撮影方法 |
CN110095479A (zh) * | 2019-02-20 | 2019-08-06 | 江苏能建机电实业集团有限公司 | 一种铝型材无损检测设备 |
CN110095479B (zh) * | 2019-02-20 | 2022-01-04 | 江苏能建机电实业集团有限公司 | 一种铝型材无损检测设备 |
JP2023505662A (ja) * | 2019-12-11 | 2023-02-10 | 同方威視技術股▲分▼有限公司 | 放射線源コンポーネントの調節位置決め装置及び方法並びに放射走査結像機器 |
JP7446428B2 (ja) | 2019-12-11 | 2024-03-08 | 同方威視技術股▲分▼有限公司 | 放射線源コンポーネントの調節位置決め装置及び方法並びに放射走査結像機器 |
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