JP2008505329A - 被試験デバイスの出力信号の評価 - Google Patents
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Abstract
【選択図】 図1
Description
2 第1差分計算手段
3 基準信号
4 差分信号
5 積分手段
6 積分差分信号
7 比較手段
8 出力信号
9 スイッチ
10 出力信号
11 クロックライン
11a、11b クロック周期
22 オーバーサンプリング手段
Claims (12)
- 被試験デバイス(DUT)の出力信号を評価する方法であって、前記被試験デバイス(DUT)は自動試験装置(ATE)によって供給される入力信号に応じて前記出力信号を出力し、前記方法が、
前記被試験デバイス(DUT)の出力信号と基準信号との差を表す差分信号を生成するステップと、
各クロック周期中に前記差分信号を積分して、積分の結果積分差分信号を生成するステップと、
前記各クロック周期中に前記被試験デバイスの前記出力信号に割り当てられるビットレベルに関して、前記積分差分信号を評価するステップと、を含む方法。 - 前記評価するステップが、前記積分差分信号を少なくとも1つの比較信号と比較するステップを含むことを特徴とすることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記比較を連続して行うことにより、連続した比較信号を生成し、前記被試験デバイス(DUT)の前記出力信号を評価するために、前記連続した比較信号を所定の時点でサンプリングすることを特徴とする、請求項2に記載の方法。
- 前記差分信号の前記積分を連続して実行することを特徴とする、請求項1から3のいずれかに記載の方法。
- 前記積分差分信号を周期的に所定値にリセットし、好ましくは各クロック周期に一旦ゼロ値にリセットすることを特徴とする、請求項1から4のいずれかに記載の方法。
- 前記基準信号が所定の閾値信号であることを特徴とする、請求項1から5のいずれかに記載の方法。
- 差分信号を生成する前記ステップが、前記被試験デバイス(DUT)の前記出力と前記所定の閾値信号との比較であることを特徴とする、請求項6に記載の方法。
- 前記比較を連続的に行い、前記比較の出力信号をオーバーサンプリングし、前記評価が前記被試験デバイス(DUT)の前記出力信号と前記所定の閾値信号との前記比較のオーバーサンプリングした出力信号に基づくことを特徴とする、請求項7に記載の方法。
- 前記基準信号が、前記各クロック周期における前記被試験デバイスの前記出力信号に対する予測ビット値を表すバイナリ信号であることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記バイナリ信号の低レベル又は高レベルの少なくとも一方が調整可能であることを特徴とする、請求項9に記載の方法。
- 好ましくはデータキャリアに格納され、コンピュータ等のデータ処理システムにおいて実行する際に、請求項1から9のいずれかの方法を実行する、ソフトウェアプログラム又はプロダクト。
- 被試験デバイス(DUT)の出力信号を評価するシステムであって、前記被試験デバイス(DUT)は自動試験装置(ATE)によって供給される入力信号に応じて前記出力信号を出力し、前記システムが、
前記被試験デバイス(DUT)の前記出力信号と基準信号との差を表す差分信号を生成する手段と、
各クロック周期中に前記差分信号を積分して、積分の結果積分差分信号を生成する、手段と、
前記各クロック周期中に前記被試験デバイス(DUT)の前記出力信号に割り当てられるビットレベルに関して、前記積分差分信号を評価する手段と、を含むシステム。
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---|---|---|---|---|
WO2010054669A1 (en) | 2008-11-11 | 2010-05-20 | Verigy (Singapore) Pte.Ltd. | Re-configurable test circuit, method for operating an automated test equipment, apparatus, method and computer program for setting up an automated test equipment |
US8825446B2 (en) * | 2010-12-23 | 2014-09-02 | Texas Instruments Incorporated | Independently based diagnostic monitoring |
US9470753B2 (en) * | 2012-11-07 | 2016-10-18 | Cascade Microtech, Inc. | Systems and methods for testing electronic devices that include low power output drivers |
DE102013209309A1 (de) * | 2013-05-21 | 2014-11-27 | Zf Friedrichshafen Ag | Verfahren und Schaltung zur Bewertung pulsweitenmodulierter Signale |
BR102014031426B1 (pt) | 2014-12-15 | 2018-07-24 | Jjgc Ind E Comercio De Materiais Dentarios S/A | implante |
US11092656B2 (en) * | 2015-05-12 | 2021-08-17 | Texas Instruments Incorporated | Fluxgate magnetic field detection method and circuit |
CN106896309B (zh) * | 2015-12-17 | 2019-08-06 | 上海和辉光电有限公司 | 信号处理装置及方法、信号偏移检测***及方法 |
US10002650B1 (en) * | 2016-12-21 | 2018-06-19 | Mediatek Inc. | Signal quality detection circuit for generating signal quality detection result according to two-dimensional nominal sampling point pattern and associated signal quality detection method |
EP3508865B1 (en) * | 2018-01-08 | 2022-07-20 | Delta Electronics (Thailand) Public Co., Ltd. | Method for estimating a signal property |
US11032725B1 (en) * | 2020-03-18 | 2021-06-08 | Litepoint Corporation | System and method for testing data packet signal transceivers with a tester using externally initiated and self-terminating test control sequences |
CN112462257B (zh) * | 2020-11-06 | 2021-12-10 | 珠海格力电器股份有限公司 | 电机端电压检测方法、装置、电路及空调*** |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6149561A (ja) * | 1984-08-17 | 1986-03-11 | Hitachi Ltd | A/d変換器装置 |
JPH09197018A (ja) * | 1996-01-23 | 1997-07-31 | Advantest Corp | 半導体試験装置の比較器 |
JP2001324552A (ja) * | 2000-04-06 | 2001-11-22 | Advantest Corp | 電源電流測定ユニット及び半導体テストシステム |
JP2002156403A (ja) * | 2000-11-20 | 2002-05-31 | Advantest Corp | 電子デバイスの試験装置 |
JP2002250754A (ja) * | 2001-02-26 | 2002-09-06 | Yokogawa Electric Corp | 半導体テスト装置 |
JP2002296329A (ja) * | 2001-03-30 | 2002-10-09 | Agilent Technologies Japan Ltd | 集積回路の試験装置 |
JP2003149297A (ja) * | 2001-11-15 | 2003-05-21 | Yokogawa Electric Corp | Icテスタ及びdutカード |
JP2003240821A (ja) * | 2002-02-14 | 2003-08-27 | Yokogawa Electric Corp | Icテスタ |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4001818A (en) * | 1975-10-22 | 1977-01-04 | Storage Technology Corporation | Digital circuit failure detector |
JPS607049A (ja) * | 1983-06-24 | 1985-01-14 | Hitachi Ltd | 電位測定装置 |
US4641246A (en) * | 1983-10-20 | 1987-02-03 | Burr-Brown Corporation | Sampling waveform digitizer for dynamic testing of high speed data conversion components |
EP0541839B1 (en) | 1991-11-11 | 1993-07-28 | Hewlett-Packard GmbH | Apparatus for generating test signals |
DE4305442C2 (de) | 1993-02-23 | 1999-08-05 | Hewlett Packard Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen eines Testvektors |
US5638005A (en) * | 1995-06-08 | 1997-06-10 | Schlumberger Technologies Inc. | Predictive waveform acquisition |
EP0882991B1 (en) | 1997-05-22 | 1999-03-17 | Hewlett-Packard Company | Decompression circuit |
DE69700660T2 (de) | 1997-05-30 | 2000-02-10 | Hewlett-Packard Co., Palo Alto | Mehrkanalanordnung mit einem unabhängigen Taktsignal pro Kanal |
EP0864977B1 (en) | 1997-09-13 | 1999-07-14 | Hewlett-Packard Company | Memory latency compensation |
EP0859318B1 (en) | 1997-09-13 | 1999-07-14 | Hewlett-Packard Company | Optimized memory organization in a multi-channel computer architecture |
JP2001021609A (ja) * | 1999-07-07 | 2001-01-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路の検査方法 |
EP1127602A3 (en) | 2000-02-17 | 2001-12-19 | Stanadyne Automotive Corp. | Multi-configurable cartridge filter base and manufacturing method thereof |
DE60001254T2 (de) | 2000-06-16 | 2003-07-10 | Agilent Technologies, Inc. (N.D.Ges.D.Staates Delaware) | Testgerät für integrierte Schaltungen mit Multiportprüffunktionalität |
US6700401B2 (en) * | 2001-02-28 | 2004-03-02 | Advanced Micro Devices, Inc. | Reduced noise line drivers and method of operation |
TWI260415B (en) * | 2004-03-31 | 2006-08-21 | Nanya Technology Corp | Apparatus and method for testing semiconductor device |
US7652494B2 (en) * | 2005-07-01 | 2010-01-26 | Apple Inc. | Operating an integrated circuit at a minimum supply voltage |
US7394277B2 (en) * | 2006-04-20 | 2008-07-01 | Advantest Corporation | Testing apparatus, testing method, jitter filtering circuit, and jitter filtering method |
US8269520B2 (en) * | 2009-10-08 | 2012-09-18 | Teradyne, Inc. | Using pattern generators to control flow of data to and from a semiconductor device under test |
-
2004
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6149561A (ja) * | 1984-08-17 | 1986-03-11 | Hitachi Ltd | A/d変換器装置 |
JPH09197018A (ja) * | 1996-01-23 | 1997-07-31 | Advantest Corp | 半導体試験装置の比較器 |
JP2001324552A (ja) * | 2000-04-06 | 2001-11-22 | Advantest Corp | 電源電流測定ユニット及び半導体テストシステム |
JP2002156403A (ja) * | 2000-11-20 | 2002-05-31 | Advantest Corp | 電子デバイスの試験装置 |
JP2002250754A (ja) * | 2001-02-26 | 2002-09-06 | Yokogawa Electric Corp | 半導体テスト装置 |
JP2002296329A (ja) * | 2001-03-30 | 2002-10-09 | Agilent Technologies Japan Ltd | 集積回路の試験装置 |
JP2003149297A (ja) * | 2001-11-15 | 2003-05-21 | Yokogawa Electric Corp | Icテスタ及びdutカード |
JP2003240821A (ja) * | 2002-02-14 | 2003-08-27 | Yokogawa Electric Corp | Icテスタ |
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