JP2008209298A - 測距装置及び測距方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】発光部26と、発光部26から出射される光を強度変調して第1変調光12A〜第4変調光12Dとして出射させる発光制御部28と、第1変調光12A〜第4変調光12Dの基準時から照射開始時までの時間的長さを制御する開始時間制御部64とを有する発光手段14と、第1変調光12A〜第4変調光12Dにより照射された被検出物16からの反射光18を受光する受光手段20と、第1変調光12A〜第4変調光12Dと反射光18の位相差から被検出物16までの距離を算出する演算手段22とを有する。受光手段20は、照射開始時を基準として一定周期ごとに設定された露光期間において反射光18の光量をサンプリングする。
【選択図】図1
Description
被検出物202からの反射光は、光学系206を介して撮像素子204の受光面に結像される。撮像素子204の受光面には複数の画素(フォトダイオード)が2次元的に配列されており、各画素について上式による位相遅れφを求めることにより、被検出物202の立体的な構造を検出できる。
(1)前記発光手段は、第1照射開始の基準時から所定期間にわたって第1変調光を出射し、第2照射開始の基準時から前記所定期間にわたって前記第1変調光と前記基準時から照射開始時までの時間的長さが異なる第2変調光を出射し、
(2)前記受光手段は、前記第1照射開始時から前記所定期間にわたって、前記第1変調光により照射された前記被検出物からの第1反射光を受光し、前記第2照射開始時から前記所定期間にわたって、前記第2変調光により照射された前記被検出物からの第2反射光を受光し、
(3)前記演算手段は、少なくとも前記第1変調光と前記第1反射光の位相差と、前記第2変調光と前記第2反射光の位相差とに基づいて、前記被検出物までの距離を演算する。
(1)前記発光ステップは、第1照射開始の基準時から所定期間にわたって第1変調光を出射し、第2照射開始の基準時から前記所定期間にわたって前記第1変調光と前記基準時から照射開始時までの時間的長さが異なる第2変調光を出射し、
(2)前記受光ステップは、前記第1照射開始時から前記所定期間にわたって、前記第1変調光により照射された前記被検出物からの第1反射光を受光し、前記第2照射開始時から前記所定期間にわたって、前記第2変調光により照射された前記被検出物からの第2反射光を受光し、
(3)前記演算ステップは、少なくとも前記第1変調光と前記第1反射光の位相差と、前記第2変調光と前記第2反射光の位相差とに基づいて、前記被検出物までの距離を演算する。
ここで、Aは第2画像データDc2のサンプリング値S2に対応し、−Aは第4画像データDc4のサンプリング値S4に対応し、Bは第3画像データDc3のサンプリング値S3に対応し、−Bは第1画像データDc1のサンプリング値S1に対応することから、(1)式は以下の式(2)に書き換えることができる。
そして、変調光12の1周期をTとしたとき、変調光12を出射してから反射光18が受光されるまでの遅延時間τは、
τ=T×(φ/2π)
で求めることができる。
L=(τ×c)/2
で求めることができる。
12…変調光 14…発光手段
16…被検出物 18…反射光
20…受光手段 22…演算手段
24…同期信号発生部 26…発光部
28…発光制御部 30…撮像素子
32…光学系 34…撮像素子制御部
36…アナログ信号処理部 38…A/D変換部
40…バッファメモリ 58…距離演算部
64…開始時間制御部 65…無効期間設定部
70…露光期間変更部 72…第1基準時変更部
74…第1情報テーブル 76…メモリ
78…操作部 80…露光期間演算部
82…第1基準時演算部 84…露光タイミング変更部
86…波長変更部 88…第2基準時変更部
89…開始時間変更部 90…第2情報テーブル
92…露光タイミング演算部 94…波長演算部
96…第2基準時演算部 97…開始時間演算部
98…差分演算部 100…開始時間補正部
Claims (25)
- 強度変調され、且つ、基準時から照射開始時までの時間的長さがそれぞれ異なる複数の変調光をシリーズに出射する発光手段と、
前記変調光により照射された被検出物からの反射光を受光する受光手段と、
前記変調光と前記反射光の位相差から前記被検出物までの距離を算出する演算手段とを有することを特徴とする測距装置。 - 請求項1記載の測距装置において、
前記発光手段は、
発光部と、前記発光部から出射される光を強度変調して前記変調光として出射させる発光制御部とを有し、
さらに、前記発光制御部は、前記変調光の基準時から照射開始時までの時間的長さを制御する開始時間制御部を有することを特徴とする測距装置。 - 請求項1又は2記載の測距装置において、
前記受光手段は、前記基準時を基準として一定周期ごとに設定された露光期間において前記反射光の光量をサンプリングすることを特徴とする測距装置。 - 請求項3記載の測距装置において、
前記受光手段は、前記一定周期ごとに設定された露光期間のうち、前記基準時から少なくとも照射開始時までの時間的長さに含まれる露光期間でのサンプリングを行わないように設定する無効期間設定部を有することを特徴とする測距装置。 - 請求項3又は4記載の測距装置において、
前記受光手段は、外部からの制御信号に基づいて前記露光期間の終端を変更する露光期間変更部を有し、
前記発光手段は、前記露光期間変更部にて変更された前記露光期間に基づいて前記基準時の開始タイミングを変更する基準時変更部を有することを特徴とする測距装置。 - 請求項5記載の測距装置において、
変更された前記露光期間に対応した前記基準時の開始タイミングの情報が登録されたテーブルが記憶されたメモリを有し、
前記基準時変更部は、変更された前記露光期間と前記メモリに記憶された前記テーブルの情報に基づいて、前記基準時の開始タイミングを変更することを特徴とする測距装置。 - 請求項5記載の測距装置において、
変更された前記露光期間に基づいて、前記基準時の開始タイミングを演算する基準時演算部を有し、
前記基準時変更部は、前記基準時演算部からのタイミング情報に基づいて、前記基準時の開始タイミングを変更することを特徴とする測距装置。 - 請求項3又は4記載の測距装置において、
前記受光手段は、外部からの制御信号に基づいて前記露光期間の周期を変更する露光タイミング変更部を有し、
前記発光手段は、前記露光タイミング変更部にて変更された前記露光期間の周期に基づいて前記複数の変調光の各波長を変更する波長変更部と、変更された前記露光期間の周期に基づいて前記基準時の開始タイミングを変更する基準時変更部と、変更された前記露光期間の周期に基づいて前記複数の変調光の前記基準時から照射開始時までの時間的長さを変更する開始時間変更部とを有することを特徴とする測距装置。 - 請求項8記載の測距装置において、
変更された前記露光期間の周期に対応した前記複数の変調光の各波長と、前記基準時の開始タイミングと、前記基準時から照射開始時までの時間的長さの情報が登録されたテーブルが記憶されたメモリを有し、
前記波長変更部は、変更された前記露光期間の周期と前記メモリに記憶された前記テーブルの情報に基づいて、前記複数の変調光の各波長を変更し、
前記基準時変更部は、変更された前記露光期間の周期と前記テーブルの情報に基づいて前記基準時の開始タイミングを変更し、
前記開始時間変更部は、変更された前記露光期間の周期と前記テーブルの情報に基づいて前記複数の変調光の前記基準時から照射開始時までの時間的長さを変更することを特徴とする測距装置。 - 請求項8記載の測距装置において、
変更された前記露光期間の周期に基づいて、前記複数の変調光の各波長を演算する波長演算部と、
変更された前記露光期間の周期に基づいて、前記基準時の開始タイミングを演算する基準時演算部と、
変更された前記露光期間の周期に基づいて、前記複数の変調光の前記基準時から照射開始時までの時間的長さを演算する開始時間演算部とを有することを特徴とする測距装置。 - 請求項1記載の測距装置において、
少なくとも以下の処理を行うことを特徴とする測距装置。
(1)前記発光手段は、第1照射開始の基準時から所定期間にわたって第1変調光を出射し、第2照射開始の基準時から前記所定期間にわたって前記第1変調光と前記基準時から照射開始時までの時間的長さが異なる第2変調光を出射し、
(2)前記受光手段は、前記第1照射開始時から前記所定期間にわたって、前記第1変調光により照射された前記被検出物からの第1反射光を受光し、前記第2照射開始時から前記所定期間にわたって、前記第2変調光により照射された前記被検出物からの第2反射光を受光し、
(3)前記演算手段は、少なくとも前記第1変調光と前記第1反射光の位相差と、前記第2変調光と前記第2反射光の位相差とに基づいて、前記被検出物までの距離を演算する。 - 請求項11記載の測距装置において、
前記受光手段は、前記第1照射開始時を基準として一定周期ごとに設定された露光期間において前記第1反射光の光量をサンプリングし、前記第2照射開始時を基準として前記一定周期ごとに設定された露光期間において前記第2反射光の光量をサンプリングし、
前記演算手段は、前記一定周期ごとに設定された露光期間のうち、前記基準時から照射開始時までの時間的長さに含まれる露光期間でサンプリングされた値を距離演算上、無効にし、
前記演算手段は、前記第1反射光の光量のサンプリング結果を前記所定期間にわたって積算した値を前記第1変調光と前記第1反射光の位相差とし、前記第2反射光の光量のサンプリング結果を前記所定期間にわたって積算した値を前記第2変調光と前記第2反射光の位相差とすることを特徴とする測距装置。 - 請求項1記載の測距装置において、
前記演算手段にて算出された前記被検出物までの距離と、前記被検出物までの実測距離との差に基づいて、前記複数の変調光おける前記基準時から照射開始時までの時間的長さを補正する開始時間補正部を有することを特徴とする測距装置。 - 強度変調され、且つ、基準時から照射開始時までの時間的長さがそれぞれ異なる複数の変調光をシリーズに出射する発光ステップと、
前記変調光により照射された被検出物からの反射光を受光する受光ステップと、
前記変調光と前記反射光の位相差から前記被検出物までの距離を算出する演算ステップとを有することを特徴とする測距方法。 - 請求項14記載の測距方法において、
前記受光ステップは、前記基準時を基準として一定周期ごとに設定された露光期間において前記反射光の光量をサンプリングすることを特徴とする測距方法。 - 請求項15記載の測距方法において、
前記受光ステップは、前記一定周期ごとに設定された露光期間のうち、前記基準時から少なくとも照射開始時までの時間的長さに含まれる露光期間でのサンプリングを行わないように設定する無効期間設定ステップを有することを特徴とする測距方法。 - 請求項15又は16記載の測距方法において、
前記受光ステップは、外部からの制御信号に基づいて前記露光期間の終端を変更する露光期間変更ステップを有し、
前記発光ステップは、前記露光期間変更ステップにて変更された前記露光期間に基づいて前記基準時の開始タイミングを変更する基準時変更ステップを有することを特徴とする測距方法。 - 請求項17記載の測距方法において、
変更された前記露光期間に対応した前記基準時の開始タイミングの情報が登録されたテーブルを用い、
前記基準時変更ステップは、変更された前記露光期間と前記テーブルの情報に基づいて、前記基準時の開始タイミングを変更することを特徴とする測距方法。 - 請求項17記載の測距方法において、
変更された前記露光期間に基づいて、前記基準時の開始タイミングを演算する基準時演算ステップを有し、
前記基準時変更ステップは、前記基準時演算ステップからのタイミング情報に基づいて、前記基準時の開始タイミングを変更することを特徴とする測距方法。 - 請求項15又は16記載の測距方法において、
前記受光ステップは、外部からの制御信号に基づいて前記露光期間の周期を変更する露光タイミング変更ステップを有し、
前記発光ステップは、前記露光タイミング変更ステップにて変更された前記露光期間の周期に基づいて前記複数の変調光の各波長を変更する波長変更ステップと、変更された前記露光期間の周期に基づいて前記基準時の開始タイミングを変更する基準時変更ステップと、変更された前記露光期間の周期に基づいて前記複数の変調光の前記基準時から照射開始時までの時間的長さを変更する開始時間変更ステップとを有することを特徴とする測距方法。 - 請求項20記載の測距方法において、
変更された前記露光期間の周期に対応した前記複数の変調光の各波長と、前記基準時の開始タイミングと、前記基準時から照射開始時までの時間的長さの情報が登録されたテーブルを用い、
前記波長変更ステップは、変更された前記露光期間の周期と前記テーブルの情報に基づいて、前記複数の変調光の各波長を変更し、
前記基準時変更ステップは、変更された前記露光期間の周期と前記テーブルの情報に基づいて前記基準時の開始タイミングを変更し、
前記開始時間変更ステップは、変更された前記露光期間の周期と前記テーブルの情報に基づいて前記複数の変調光の前記基準時から照射開始時までの時間的長さを変更することを特徴とする測距方法。 - 請求項20記載の測距方法において、
変更された前記露光期間の周期に基づいて、前記複数の変調光の各波長を演算する波長演算ステップと、
変更された前記露光期間の周期に基づいて、前記基準時の開始タイミングを演算する基準時演算ステップと、
変更された前記露光期間の周期に基づいて、前記複数の変調光の前記基準時から照射開始時までの時間的長さを演算する開始時間演算ステップとを有することを特徴とする測距方法。 - 請求項14記載の測距方法において、
少なくとも以下の処理を行うことを特徴とする測距方法。
(1)前記発光ステップは、第1照射開始の基準時から所定期間にわたって第1変調光を出射し、第2照射開始の基準時から前記所定期間にわたって前記第1変調光と前記基準時から照射開始時までの時間的長さが異なる第2変調光を出射し、
(2)前記受光ステップは、前記第1照射開始時から前記所定期間にわたって、前記第1変調光により照射された前記被検出物からの第1反射光を受光し、前記第2照射開始時から前記所定期間にわたって、前記第2変調光により照射された前記被検出物からの第2反射光を受光し、
(3)前記演算ステップは、少なくとも前記第1変調光と前記第1反射光の位相差と、前記第2変調光と前記第2反射光の位相差とに基づいて、前記被検出物までの距離を演算する。 - 請求項23記載の測距方法において、
前記受光ステップは、前記第1照射開始時を基準として一定周期ごとに設定された露光期間において前記第1反射光の光量をサンプリングし、前記第2照射開始時を基準として前記一定周期ごとに設定された露光期間において前記第2反射光の光量をサンプリングし、
前記演算ステップは、前記一定周期ごとに設定された露光期間のうち、前記基準時から照射開始時までの時間的長さに含まれる露光期間でサンプリングされた値を距離演算上、無効にし、
前記演算ステップは、前記第1反射光の光量のサンプリング結果を前記所定期間にわたって積算した値を前記第1変調光と前記第1反射光の位相差とし、前記第2反射光の光量のサンプリング結果を前記所定期間にわたって積算した値を前記第2変調光と前記第2反射光の位相差とすることを特徴とする測距方法。 - 請求項14記載の測距方法において、
前記演算ステップにて算出された前記被検出物までの距離と、前記被検出物までの実測距離との差に基づいて、前記複数の変調光おける前記基準時から照射開始時までの時間的長さを補正する開始時間補正ステップを有することを特徴とする測距方法。
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