JP2008196905A - コンタクトプローブ、その使用方法及びその製造方法 - Google Patents
コンタクトプローブ、その使用方法及びその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008196905A JP2008196905A JP2007030885A JP2007030885A JP2008196905A JP 2008196905 A JP2008196905 A JP 2008196905A JP 2007030885 A JP2007030885 A JP 2007030885A JP 2007030885 A JP2007030885 A JP 2007030885A JP 2008196905 A JP2008196905 A JP 2008196905A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- contact probe
- contact
- metal conductor
- shape
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
【解決手段】ピン形状の金属導体2の外周に絶縁被膜3を有する胴体部Aと、金属導体2の両端に絶縁被膜3を有しない端部Bとを有し、その両端に加重を与えてたわませることにより被測定体に対する接触圧力を得て電気特性を測定する方式のコンタクトプローブにおいて、そのコンタクトプローブ1の端部Bの片側又は両側が、半球形状、針状、円錐形状又は平坦形状からなり、コンタクトプローブ1の胴体部Aが、絶縁被膜3の一部分の厚さが薄い凹形状のストッパー部4又は絶縁被膜3の一部分が除去された凹形状のストッパー部4を1箇所以上有するように構成することにより、上記課題を解決した。
【選択図】図1
Description
図1は本発明のコンタクトプローブの一例を示す概略図であり、同図(a)は全体の正面図を表し、同図(b)は端部の拡大断面図を表し、同図(c)は凹形状のストッパー部の拡大断面図を表している。また、図2及び図3は、本発明のコンタクトプローブを備えたプローブユニットを用いて被測定体の電気特性を検査する方法を説明するための模式断面図である。本発明のコンタクトプローブ1(以下、単に「プローブ1」ということがある。)は、図1に示すように、ピン形状の金属導体2の外周に絶縁被膜3を有する胴体部Aと、金属導体2の両端に絶縁被膜3を有しない端部Bとを有し、その両端に加重を与えてたわませることにより被測定体に対する接触圧力を得て電気特性を測定する方式のコンタクトプローブである。本発明において、端部Bの片端又は両端は、半球形状、針状、円錐形状又は平坦形状になっており、また、その胴体部Aは、絶縁被膜3の一部分の厚さが薄い凹形状のストッパー部4又は絶縁被膜3の一部分が除去された凹形状のストッパー部4を1箇所以上有している。
次に、本発明のコンタクトプローブの製造方法について説明する。図5は、本発明のプローブの製造方法の一例を示す工程フロー図である。本発明のプローブ1の製造方法は、図5に示すように、上記本発明のプローブ1を製造する方法であって、金属導体2の外周に絶縁被膜3を形成する絶縁被膜形成工程と、絶縁被膜3が形成された金属導体2を切断する切断工程と、切断された絶縁被膜付き金属導体2の片側又は両側の端部Bを研削加工して、半球形状、針状、円錐形状、頂部に半球形状ないし平坦形状を有する円錐形状、及び平坦形状から選ばれるいずれかの形状にする研削加工工程と、絶縁被膜3の一部分をレーザにより薄くし又は除去して凹形状のストッパー部4を形成するストッパー部形成工程と、を有している。
次に、上述した本発明のプローブを用いた電気特性の検査方法について、図2と図3を参照して説明する。本発明のプローブ1は、プローブユニット10に装着されて回路基板等の被測定体の電気特性の良否の検査に利用される。プローブユニット10は、図2に示すように、複数本から数千本のプローブ1と、プローブ1を被測定体11の電極12にガイドするプレート20と、プローブ1を検査装置のリード線50にガイドするプレート30とを備えている。検査装置側のプレート30は、プローブ1の外径よりも若干大きい案内穴を有し、その案内穴は一本一本のプローブ1の金属導体2をリード線50にガイドする。被測定体側のプレート20は、プローブ1の外径よりも若干大きい案内穴を有し、その案内穴は一本一本のプローブ1の金属導体2を電極12にガイドする。そして、本発明のプローブ1を装着するプローブユニット10は、プローブ1の外径よりもわずかに大きい穴が空いた少なくとも3枚のプレート30を有することに構造上の特徴がある。
金属導体2として、予め真直度が曲率半径Rで1500mmに直線矯正された長尺の真直ベリリウム銅線(外径0.10mm)を用いた。また、絶縁被膜用の塗料として、ポリウレタン樹脂系のエナメル塗料(東特塗料株式会社製、商品名;TPU5100)を用い、図示しない絶縁被膜焼付装置により厚さ0.015mmのポリウレタン被膜3を連続的に焼付け、絶縁被膜付き真直ベリリウム銅線(以下、絶縁真直ベリリウム銅線と略記する)を製造した。
レーザ加工後、露出した金属導体2にめっき処理を施してニッケルめっき層(膜厚1.7μm)及び金めっき層(膜厚0.3μm)からなる2層のめっき層(総膜厚2μm)を形成した他は、実施例1と同様にして、実施例2に係るコンタクトプローブ1を作製した。
2 金属導体
2a,2b 端部
3 絶縁被膜
3a,3b 端面
4 凹形状のストッパー部
4a,4b 端面
10 プローブユニット
11 被測定体
12 電極
20 被測定体側のプレート
30 検査装置側のプレート
31,33 プレート
32 位置決めプレート
34 段差部
40 リード線用の保持板
50 リード線
A 胴体部
B 端部
W ストッパー部の幅
L1〜L4 金属導体の長さ
Claims (5)
- ピン形状の金属導体の外周に絶縁被膜を有する胴体部と、前記金属導体の両端に絶縁被膜を有しない端部とを有し、前記両端に加重を与えてたわませることにより被測定体に対する接触圧力を得て電気特性を測定する方式のコンタクトプローブにおいて、
前記コンタクトプローブの端部の片側又は両側が、半球形状、針状、円錐形状又は平坦形状からなり、
前記コンタクトプローブの胴体部が、前記絶縁被膜の一部分の厚さが薄い凹形状のストッパー部又は前記絶縁被膜の一部分が除去された凹形状のストッパー部を1箇所以上有することを特徴とするコンタクトプローブ。 - 前記ストッパー部が、前記コンタクトプローブの全長を1としたとき、片端から1/3以内の位置に設けられていることを特徴とする請求項1に記載のコンタクトプローブ。
- 請求項1又は2に記載のコンタクトプローブを用いると共に、当該コンタクトプローブの外径よりもわずかに大きい穴が空いた少なくとも3枚のプレートを有するプローブユニットを用いたコンタクトプローブの使用方法であって、
前記コンタクトプローブを前記プレートの穴へ差し込んで、前記コンタクトプローブに設けられた凹形状のストッパー部を前記プレートのうちの真ん中に位置する位置決め用プレートに対向するように組み込み、
その後に、前記対向位置に組み込まれた位置決め用プレートのみをわずかにオフセットさせて、前記ストッパー部に前記位置決め用プレートが納まるようにして前記コンタクトプローブを固定し、
その状態で前記コンタクトプローブが使用されることを特徴とするコンタクトプローブの使用方法。 - 前記ストッパー部が、前記コンタクトプローブの全長を1としたとき、被測定体の反対側の端から1/3以内の位置に設けられており、
当該位置に対向するように前記位置決め用プレートが配置されていることを特徴とする請求項3に記載のコンタクトプローブの使用方法。 - 請求項1又は2に記載のコンタクトプローブの製造方法であって、
金属導体の外周に絶縁被膜を形成する絶縁被膜形成工程と、
絶縁被膜が形成された金属導体を切断する工程と、
切断された絶縁被膜付き金属導体の片端又は両端について、前記金属導体の端部を研削加工して、半球形状、針状、円錐形状、頂部に半球形状ないし平坦形状を有する円錐形状、及び平坦形状から選ばれるいずれかの形状にする工程と、
前記絶縁被膜の一部分をレーザにより薄くし又は除去して凹形状のストッパー部を形成する工程と、を有することを特徴とするコンタクトプローブの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007030885A JP5027522B2 (ja) | 2007-02-09 | 2007-02-09 | プローブユニット及びそのプローブユニットを用いたコンタクトプローブの使用方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007030885A JP5027522B2 (ja) | 2007-02-09 | 2007-02-09 | プローブユニット及びそのプローブユニットを用いたコンタクトプローブの使用方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008196905A true JP2008196905A (ja) | 2008-08-28 |
JP5027522B2 JP5027522B2 (ja) | 2012-09-19 |
Family
ID=39755999
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007030885A Active JP5027522B2 (ja) | 2007-02-09 | 2007-02-09 | プローブユニット及びそのプローブユニットを用いたコンタクトプローブの使用方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5027522B2 (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013003002A (ja) * | 2011-06-17 | 2013-01-07 | Hioki Ee Corp | プローブユニットおよび回路基板検査装置 |
GB2496985A (en) * | 2011-11-28 | 2013-05-29 | Ibm | Top corner rounding of damascene wire for insulator crack suppression |
CN104849515A (zh) * | 2014-02-13 | 2015-08-19 | 日本电产理德株式会社 | 检查用触头和具备其的检查夹具及检查用触头的制造方法 |
KR20170044361A (ko) * | 2015-10-15 | 2017-04-25 | 한국전기연구원 | 반도체 검사용 프로브 핀 제조방법 |
JP2018059797A (ja) * | 2016-10-05 | 2018-04-12 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置及び電気的接続装置の製造方法 |
WO2019039233A1 (ja) * | 2017-08-24 | 2019-02-28 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置 |
WO2020012799A1 (ja) * | 2018-07-13 | 2020-01-16 | 日本電産リード株式会社 | 検査治具、及び検査装置 |
WO2022074888A1 (ja) * | 2020-10-05 | 2022-04-14 | 東京特殊電線株式会社 | コンタクトプローブ |
WO2022196119A1 (ja) * | 2021-03-19 | 2022-09-22 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブおよびプローブカード |
JP7471148B2 (ja) | 2020-06-01 | 2024-04-19 | 株式会社Totoku | プローブ針及びプローブユニット |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06289052A (ja) * | 1993-04-02 | 1994-10-18 | Sakaki Yano | プローブの固定構造及びこの構造に用いるプローブ |
JPH11258295A (ja) * | 1997-11-05 | 1999-09-24 | Feinmetall Gmbh | 通電装置 |
JP2005114393A (ja) * | 2003-10-03 | 2005-04-28 | Totoku Electric Co Ltd | リード線付きコンタクトプローブおよびその製造方法 |
JP2007017219A (ja) * | 2005-07-06 | 2007-01-25 | Totoku Electric Co Ltd | 絶縁被膜付きプローブ針及びその製造方法 |
-
2007
- 2007-02-09 JP JP2007030885A patent/JP5027522B2/ja active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06289052A (ja) * | 1993-04-02 | 1994-10-18 | Sakaki Yano | プローブの固定構造及びこの構造に用いるプローブ |
JPH11258295A (ja) * | 1997-11-05 | 1999-09-24 | Feinmetall Gmbh | 通電装置 |
JP2005114393A (ja) * | 2003-10-03 | 2005-04-28 | Totoku Electric Co Ltd | リード線付きコンタクトプローブおよびその製造方法 |
JP2007017219A (ja) * | 2005-07-06 | 2007-01-25 | Totoku Electric Co Ltd | 絶縁被膜付きプローブ針及びその製造方法 |
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013003002A (ja) * | 2011-06-17 | 2013-01-07 | Hioki Ee Corp | プローブユニットおよび回路基板検査装置 |
GB2496985A (en) * | 2011-11-28 | 2013-05-29 | Ibm | Top corner rounding of damascene wire for insulator crack suppression |
CN104849515A (zh) * | 2014-02-13 | 2015-08-19 | 日本电产理德株式会社 | 检查用触头和具备其的检查夹具及检查用触头的制造方法 |
JP2015152391A (ja) * | 2014-02-13 | 2015-08-24 | 日本電産リード株式会社 | 検査用接触子及びそれを備えた検査治具、並びに検査用接触子の製造方法 |
TWI640781B (zh) * | 2014-02-13 | 2018-11-11 | 日商日本電產理德股份有限公司 | 檢測用接觸件及具有該接觸件的檢測夾具與檢測用接觸件的製造方法 |
KR102212982B1 (ko) | 2015-10-15 | 2021-02-04 | 한국전기연구원 | 반도체 검사용 프로브 핀 제조방법 |
KR20170044361A (ko) * | 2015-10-15 | 2017-04-25 | 한국전기연구원 | 반도체 검사용 프로브 핀 제조방법 |
JP2018059797A (ja) * | 2016-10-05 | 2018-04-12 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置及び電気的接続装置の製造方法 |
WO2019039233A1 (ja) * | 2017-08-24 | 2019-02-28 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置 |
JP2019039753A (ja) * | 2017-08-24 | 2019-03-14 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置 |
TWI682180B (zh) * | 2017-08-24 | 2020-01-11 | 日商日本麥克隆尼股份有限公司 | 電性連接裝置 |
WO2020012799A1 (ja) * | 2018-07-13 | 2020-01-16 | 日本電産リード株式会社 | 検査治具、及び検査装置 |
CN112424615A (zh) * | 2018-07-13 | 2021-02-26 | 日本电产理德股份有限公司 | 检查治具以及检查装置 |
JPWO2020012799A1 (ja) * | 2018-07-13 | 2021-08-02 | 日本電産リード株式会社 | 検査治具、及び検査装置 |
JP7371625B2 (ja) | 2018-07-13 | 2023-10-31 | ニデックアドバンステクノロジー株式会社 | 検査治具、及び検査装置 |
TWI826453B (zh) * | 2018-07-13 | 2023-12-21 | 日商日本電產理德股份有限公司 | 檢查治具以及檢查裝置 |
JP7471148B2 (ja) | 2020-06-01 | 2024-04-19 | 株式会社Totoku | プローブ針及びプローブユニット |
WO2022074888A1 (ja) * | 2020-10-05 | 2022-04-14 | 東京特殊電線株式会社 | コンタクトプローブ |
WO2022196119A1 (ja) * | 2021-03-19 | 2022-09-22 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブおよびプローブカード |
TWI836352B (zh) * | 2021-03-19 | 2024-03-21 | 日商日本麥克隆尼股份有限公司 | 探針及探針卡 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5027522B2 (ja) | 2012-09-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5027522B2 (ja) | プローブユニット及びそのプローブユニットを用いたコンタクトプローブの使用方法 | |
JP2007322369A (ja) | コンタクトプローブ及びその製造方法 | |
JP6305754B2 (ja) | コンタクトプローブユニット | |
JP5903888B2 (ja) | 接続端子及び検査用治具 | |
JP5144997B2 (ja) | コンタクトプローブユニット及びその製造方法 | |
JP2014025737A (ja) | 検査用治具及び接触子 | |
JP4611822B2 (ja) | 絶縁被膜付きプローブ針及びその製造方法 | |
JP2009198238A (ja) | プローブ針及びその製造方法 | |
JP5192899B2 (ja) | プローブ針及びその製造方法 | |
JP2006317412A (ja) | 絶縁被膜付きプローブ針及びその製造方法 | |
JP6371501B2 (ja) | プローブユニット | |
JP2009210443A (ja) | コンタクトプローブ及びその製造方法 | |
JP2006017455A (ja) | プローブ針及びその製造方法 | |
JP6600387B2 (ja) | プローブ及びプローブの接触方法 | |
JP7496716B2 (ja) | プローブユニット及びその製造方法 | |
JP2010091494A (ja) | プローブ針 | |
JP5062355B2 (ja) | 接続端子及び接続端子の製造方法 | |
JP2006098066A (ja) | プローブ針及びその使用方法並びにプローブ針の製造方法 | |
JP2016011925A (ja) | コンタクトプローブ及びコンタクトプローブユニット | |
JP2005114393A (ja) | リード線付きコンタクトプローブおよびその製造方法 | |
JP7008541B2 (ja) | プローブ針 | |
JP7390115B2 (ja) | プローブユニット | |
WO2022074888A1 (ja) | コンタクトプローブ | |
JP2020183912A (ja) | プローブユニット及びそれに用いるプローブ針 | |
JP2023161934A (ja) | コンタクトプローブ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100120 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110912 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110927 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111128 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120619 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120622 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150629 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5027522 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |