JP2008089576A - ガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 GC/ICP−MSにおいて、ICP−MSに導入するアルゴンなどのメイクアップガスを導入する部分に酸素を連続的に或いは特定の時間帯に導入することが有効であり、そのために、酸素透過性チューブ又は酸素透過性膜を用いて、空気中の酸素をガス供給ラインに導入する。透過した酸素を任意の時間帯だけ前記ガス供給ラインに導入するための切替バルブを用いる。
【選択図】 図1
Description
分析対象成分は有機溶媒に溶解された状態で初めにGCに注入される。有機溶媒として、ヘキサンやトルエンなどの炭化水素系の有機溶媒が一般的に用いられており、これがICP−MS内のアルゴンプラズマ中で熱分解することにより炭素となり、ICP−MSのサンプリングコーンやスキマーコーンのオリフィス周辺部に析出して、オリフィスの孔径が徐々に小さくなり、分析感度が低下するという問題があった。
従来、このような原因による炭素の析出を抑える方法としては、酸素ボンベから供給した酸素を、メイクアップガス供給ラインを通して常時導入する方法(非特許文献1)と、何回かの分析が終了する度にICPのトーチ位置をサンプリングコーンから遠くに離すことによってICPに空気を巻き込み、空気中の酸素によってオリフィス周辺部に析出している炭素を燃焼させる方法(非特許文献2)が採用されている。
すなわち、本発明は以下の(1)〜(4)に示すとおりである。
(1)ガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置において、誘導結合プラズマ質量分析装置に導入されるガス或いはプラズマを形成するガスの供給ラインの少なくとも一部に、酸素透過性チューブ又は酸素透過性膜を備えたことを特徴とするガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置。
(2)前記誘導結合プラズマ質量分析装置に導入されるガス或いはプラズマを形成するガスの供給ラインの少なくとも一部が、ガスクロマトグラフの出口から続くガス供給ラインに接続する前のラインの一部であることを特徴とする(1)記載のガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置。
(3)前記誘導結合プラズマ質量分析装置に導入されるガス或いはプラズマを形成するガスの供給ラインの少なくとも一部がガスクロマトグラフの出口から続くガス供給ラインに接続する前のラインの一部であり、この一部が酸素透過性チューブ又は酸素透過性膜を備えている前後を接続するラインに切替バルブを設け、該切替バルブを切り替えることにより、前記酸素透過性チューブ又は酸素透過性膜を備えた部分より、任意の時間帯において酸素の導入を可能とすることを特徴とする、(1)又は(2)記載のガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置。
(4)前記切替バルブを電気信号により切替操作が行われる自動制御装置を備えたことを特徴とする、(3)記載のガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置。
(5)前記切替バルブが溶媒に由来するシグナル強度がある一定強度を超えた場合にICPMSから自動制御装置にトリガー信号が出され、一定強度以下となった場合に再びトリガー信号が出されて、切替操作が行われる(4)に記載のガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置。
(6)前記酸素透過性チューブは二重管構造のチューブとし、外側チューブは酸素透過性チューブとし、内側チューブは酸素不透過性チューブにより構成していることを特徴とする、(1)〜(5)いずれか記載のガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置。
(7)前記切替バルブとプラズマトーチとの間のガス供給ラインの一部に、酸素ガス量の酸素の急激な上昇を緩和するためのバッファー部分を備えたことを特徴とする、(3)〜(6)いずれか記載のガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置。
本発明によれば、誘導結合プラズマ質量分析装置に導入されるガス或いはプラズマを形成するガスの供給ラインの少なくとも一部に、酸素透過性チューブ又は酸素透過性膜を備えた構造とし、酸素分圧の差に応じて、空気中の酸素を、酸素透過性チューブ又は酸素透過性膜を透過させて取り入れらることが可能となり、透過した酸素をプラズマへのガス供給ラインに導入することが可能となる。導入された酸素はプラズマに運ばれ、GCから排出された有機溶媒、あるいはサンプリングコーンやスキマーコーン上に析出した固体状炭素と反応してCO或いはCO2となる。このとき仮に酸素が供給されないとすると、有機溶媒は固体状の炭素としてサンプリングコーンやスキマーコーン上に長時間留まることとなり、分析回数が増えるにつれてその量は増加するため、感度が低下することとなる。一方、酸素が供給される場合には、サンプリングコーン又はスキマーコーン上に析出した固体状炭素は、CO或いはCO2などの気体となるため、短時間のうちに除去され、これによって分析感度が一定に保たれという効果がある。また、切替バルブを用いて、溶媒がプラズマに導入される時間帯とその後の短時間にのみ、酸素をプラズマに導入することによって、炭素の析出を抑えることが可能になるだけでなく、分析対象成分の酸素による感度低下を引き起こすことなく分析することが可能となる効果がある。すなわち、連続的に酸素を導入した場合には、プラズマの特性が、ほぼ100%のアルゴンプラズマの特性とは異なるため感度が低下する場合があることが報告されている(例えば、非特許文献3)が、溶媒がプラズマに導入される時間帯とその後の短時間にのみ酸素を導入し、ガスクロマトグラフで溶媒と分離された分析対象成分がプラズマに導入される時間帯には酸素を導入しないことによって、分析対象成分の酸素による感度低下を引き起こすことなく分析を行うことが可能となる。また、酸素が妨害となる分析対象成分(例えば硫黄化合物)を分析する場合にも、溶媒がプラズマに導入される時間帯とその後の短時間にのみ酸素を導入し、ガスクロマトグラフで溶媒と分離された分析対象成分がプラズマに導入される時間帯には酸素を導入しないことによって、分析対象成分の酸素による妨害を引き起こすことなく分析を行うことが可能となる。以上のように、プラズマに導入されるガス或いはプラズマを形成するガスの供給ラインの少なくとも一部に、酸素透過性チューブ又は酸素透過性膜を備えることにより、酸素ボンベや酸素ガス供給ライン、流量制御器、混合器などを必要とせず、サンプリングコーンやスキマーコーンへの炭素析出を抑えることが可能となる。さらに副次的な効果として、現在、ガスクロマトグラフ/誘導結合プラズマ質量分析装置においては、キセノン(Xe)ガスなどを導入してXe+の信号強度を基にチューニングを行っているが、酸素イオン(O+)或いはCO+やArO+などの酸素を含む分子イオンの信号強度を基にチューニングを行うことが可能となるため、高価なXeガスが不要となる効果もある。
S. M. Gallus, K.G. Heumann: Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 11, 887-892 (1996).のp.889に「It was necessary to stop the O2 gas flow ・・・because a distinct depression of the selenium isotope intensities, by a factor of about three, was found under these conditions compared with use of a pure argon plasma gas.」の記述。
以下では添付の図面を参照して、詳細に説明する。
図1(a)は本発明のガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置の一実施形態を示す図である。
図1(b)は図1(a)の四方切替バルブを切り替えた様子を示す図である。
この酸素導入ユニット6は、メイクアップガス供給ライン1に設置することが、炭素の析出を抑えるうえでは最も効果的である。
場合によっては、補助ガス供給ライン2又はプラズマガス供給ライン3に設置することも可能である。
このとき、分析対象成分7,8,9は相互に分離されると共に、溶媒10とも分離されてICPに導入される。
一方、メイクアップガスであるアルゴン(Ar)は、Arボンベ17から供給され、マスフローコントローラー18で流量を制御されて、切替バルブの実線で示されたラインを通ってGCのプレヒーター21に導入された後、コネクター22から加熱トランスファーチューブ14を通ってICP16に導入される。
この状態では酸素透過性チューブ5にはメイクアップガスは流れていないので、酸素はICPには供給されていない。
切替バルブを切り替えて、図1(b)に示す状態とすることによりArメイクアップガスが酸素透過性チューブ5を流れ、透過性チューブを透過してきた酸素と混合されてICP16に導入される(請求項2の場合に相当)。
酸素を連続的に導入する場合は、常に図1(b)の状態としておけばよい。また、一定の時間帯だけ、例えば溶媒10がICPに導入される時間帯だけ酸素を導入する場合は、その時間帯だけ図1(b)の状態とし、その他の時間帯は図1(a)の状態とすればよい。
有機溶媒は、高温のアルゴンICP中で分解され、酸素がない状態では炭素としてサンプリングコーン24及びスキマーコーン25のオリフィス周辺部に析出するが、酸素が十分に存在する状態ではCO又はCO2となり析出することはない。
酸素透過性チューブとしては、シリコンチューブやテフロン(登録商標)AFチューブ(DuPont社:登録商標)、混合導電性酸素透過チューブなどを用いることができるが、これ以外の酸素透過性が高いチューブを用いることができることは勿論である。
透過する酸素の量は、チューブの外径、チューブの肉厚、チューブの長さ、チューブ本数などを変えることにより必要とされる量に調製することが可能である。また、酸素透過性チューブと接する空気の温度を制御して調製してもよい。また、酸素透過性チューブの替わりに、図2に示す酸素透過性膜26をその一部に用いた酸素透過モジュール27を、プラズマへ供給されるアルゴンのガスラインの一部に設置してもよい(請求項1の場合に相当)。
これらの酸素透過性チューブや酸素透過性膜は、必ずしも酸素のみを透過するものでなく、酸素と同時に他のガス、例えば窒素や二酸化炭素などを、ICPの安定性を損ねない範囲で、透過するものであっても使用することは可能である。
切り替え直後のスパイク状信号を見ていると、かなり小さくなっている状態を観察できる。これはバルブを切り替えるまでの間に、空気からチューブに透過し蓄積されたO2が少ないことを意味している。すなわち内側にO2を透過しないチューブがあるため、O2が溜まる容積は内側と外側のチューブに挟まれた空間に限られ、従ってICPに導入されるO2量も少なくなっている状態を示している。また以上の事例からも容易に推測できるように、内側のチューブは中空のチューブではなく、内部が充填された棒状のチューブでもよい。
以下に、本発明をより具体的な例により詳細に説明する。
サンプリングコーン上に析出した炭素はオレンジ色に光るため、その増減を目視によって確認することができる。
試料として溶媒であるヘキサン1μLをガスクロマトグラフに注入したとき、酸素を導入しないと(すなわち四方切替バルブは図1(a)の状態)、ヘキサン注入後10分間経過しても析出した炭素は残っていたが、酸素を導入すると(すなわち四方切替バルブは図1(b)の状態)、ヘキサン注入の約1分後には析出した炭素は完全に除去されることが確認できた。
分析対象成分として臭素系難燃剤のポリブロモジフェニルエーテル(6種類の異性体からなり各異性体濃度として400 ng/mL)を溶媒であるヘキサンに溶かした試料1μLを、10回連続して注入したときの1回目と10回目のクロマトグラムを図3に示す。ここで図3(a)は1回目のクロマトグラムである。図3(b)はメイクアップガスがテフロン(登録商標)AFチューブを通らない状態で、すなわち酸素を導入しない状態で、連続して10回注入した場合の10回目のクロマトグラムであり、図3(c)はメイクアップガスがテフロン(登録商標)AFチューブを通る、すなわち酸素を導入する状態で、連続して10回注入した場合の10回目のクロマトグラムである。この図から分かるように、酸素を導入しない場合には約20%の感度低下が見られたが、酸素透過性チューブを用いて酸素を導入することによって、炭素の析出を抑え感度の低下を防ぐことができた。
2 補助ガス供給ライン
3 プラズマガス供給ライン
4 切替バルブ
5 酸素透過性チューブ
6 酸素導入ユニット
7,8,9 分析対象成分
10 溶媒
11 ガスクロマトグラフ(GC)
12 インジェクションポート
13 カラム
14 加熱トランスファーチューブ
15 不活性化カラム
16 プラズマ(ICP)
17 Arボンベ
18,19,20 マスフローコントローラー
21 プレヒーター
22 コネクター
23 自動制御装置
24 サンプリングコーン
25 スキマーコーン
26 酸素透過性膜
27 酸素透過モジュール
Claims (7)
- ガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置において、誘導結合プラズマ質量分析装置に導入されるガス或いはプラズマを形成するガスの供給ラインの少なくとも一部に、酸素透過性チューブ又は酸素透過性膜を備えたことを特徴とするガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置。
- 前記誘導結合プラズマ質量分析装置に導入されるガス或いはプラズマを形成するガスの供給ラインの少なくとも一部が、ガスクロマトグラフの出口から続くガス供給ラインに接続する前のラインの一部であることを特徴とする請求項1記載のガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置。
- 前記誘導結合プラズマ質量分析装置に導入されるガス或いはプラズマを形成するガスの供給ラインの少なくとも一部がガスクロマトグラフの出口から続くガス供給ラインに接続する前のラインの一部であり、この一部が酸素透過性チューブ又は酸素透過性膜を備えている前後を接続するラインに切替バルブを設け、該切替バルブを切り替えることにより、前記酸素透過性チューブ又は酸素透過性膜を備えた部分より、任意の時間帯において酸素の導入を可能とすることを特徴とする、請求項1又は2記載のガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置。
- 前記切替バルブを電気信号により切替操作が行われる自動制御装置を備えたことを特徴とする、請求項3記載のガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置。
- 前記切替バルブが溶媒に由来するシグナル強度がある一定強度を超えた場合にICP−MSから自動制御装置にトリガー信号が出され、一定強度以下となった場合に再びトリガー信号が出されて、切替操作が行われる請求項4記載のガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置。
- 前記酸素透過性チューブは二重管構造のチューブとし、外側チューブは酸素透過性チューブとし、内側チューブは酸素不透過性チューブにより構成していることを特徴とする、請求項1〜5いずれか記載のガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置。
- 前記切替バルブとプラズマトーチとの間のガス供給ラインの一部に、酸素ガス量の酸素の急激な上昇を緩和するためのバッファー部分を備えたことを特徴とする、請求項3〜6いずれか記載のガスクロマトグラフに誘導結合プラズマ質量分析装置を結合させた分析装置。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008064488A (ja) * | 2006-09-05 | 2008-03-21 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 誘導結合プラズマ質量分析及び発光分析装置 |
JP2010197207A (ja) * | 2009-02-25 | 2010-09-09 | Shimadzu Corp | 発光分光分析方法及び発光分光分析装置 |
JP2016217836A (ja) * | 2015-05-19 | 2016-12-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 試料断片化装置 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105122053B (zh) * | 2013-04-15 | 2018-11-30 | 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 | 用于同位素比分析仪的进气***和确定同位素比的方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4819291B1 (ja) * | 1969-04-18 | 1973-06-12 | ||
JPH0431759A (ja) * | 1990-05-28 | 1992-02-03 | Yokogawa Electric Corp | 高周波誘導結合プラズマ分析装置 |
JPH06203790A (ja) * | 1993-01-08 | 1994-07-22 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
JPH10321182A (ja) * | 1997-05-16 | 1998-12-04 | Seiko Instr Inc | 誘導結合プラズマ質量及び分光分析装置 |
JP2005083818A (ja) * | 2003-09-05 | 2005-03-31 | Horiba Ltd | Icp分析装置 |
JP2007024787A (ja) * | 2005-07-20 | 2007-02-01 | Ajinomoto Co Inc | 誘導結合プラズマ分析法およびそのための装置 |
JP2008064488A (ja) * | 2006-09-05 | 2008-03-21 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 誘導結合プラズマ質量分析及び発光分析装置 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA2062629C (en) * | 1992-03-10 | 1999-06-15 | John Barry French | Apparatus and method for liquid sample introduction |
JP2931967B2 (ja) | 1997-07-11 | 1999-08-09 | 工業技術院長 | 高沸点気体状分子導入用誘導結合プラズマトーチ |
JP4532780B2 (ja) | 2001-05-25 | 2010-08-25 | アジレント・テクノロジーズ・インク | Gc−icp−ms用プラズマトーチ |
US7220383B2 (en) * | 2001-07-13 | 2007-05-22 | Metara, Inc. | Method and instrument for automated analysis of fluid-based processing systems |
AU2003230081A1 (en) * | 2002-05-15 | 2003-12-02 | Danish Institute Of Agricultural Sciences | Sampling device and method for measuring fluid flow and solute mass transport |
JP4232951B2 (ja) | 2002-11-07 | 2009-03-04 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 誘導結合プラズマトーチ |
FR2859115B1 (fr) * | 2003-08-28 | 2005-10-28 | Centre Nat Rech Scient | Membranes de conduction electronique et oxygene ionique comprenant une couche d'oxyde mixte de vanadium et de magnesium |
JP2006038729A (ja) | 2004-07-29 | 2006-02-09 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 誘導結合プラズマトーチ |
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4819291B1 (ja) * | 1969-04-18 | 1973-06-12 | ||
JPH0431759A (ja) * | 1990-05-28 | 1992-02-03 | Yokogawa Electric Corp | 高周波誘導結合プラズマ分析装置 |
JPH06203790A (ja) * | 1993-01-08 | 1994-07-22 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
JPH10321182A (ja) * | 1997-05-16 | 1998-12-04 | Seiko Instr Inc | 誘導結合プラズマ質量及び分光分析装置 |
JP2005083818A (ja) * | 2003-09-05 | 2005-03-31 | Horiba Ltd | Icp分析装置 |
JP2007024787A (ja) * | 2005-07-20 | 2007-02-01 | Ajinomoto Co Inc | 誘導結合プラズマ分析法およびそのための装置 |
JP2008064488A (ja) * | 2006-09-05 | 2008-03-21 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 誘導結合プラズマ質量分析及び発光分析装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008064488A (ja) * | 2006-09-05 | 2008-03-21 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 誘導結合プラズマ質量分析及び発光分析装置 |
JP2010197207A (ja) * | 2009-02-25 | 2010-09-09 | Shimadzu Corp | 発光分光分析方法及び発光分光分析装置 |
JP2016217836A (ja) * | 2015-05-19 | 2016-12-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 試料断片化装置 |
US11101121B2 (en) | 2015-05-19 | 2021-08-24 | Hitachi High-Tech Corporation | Sample fragmentation device using heating and pressure regulation between sample injector and separation column |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8222596B2 (en) | 2012-07-17 |
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US20120126113A1 (en) | 2012-05-24 |
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