JP2008039539A - 光散乱検出装置 - Google Patents

光散乱検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2008039539A
JP2008039539A JP2006213073A JP2006213073A JP2008039539A JP 2008039539 A JP2008039539 A JP 2008039539A JP 2006213073 A JP2006213073 A JP 2006213073A JP 2006213073 A JP2006213073 A JP 2006213073A JP 2008039539 A JP2008039539 A JP 2008039539A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light scattering
light source
sample cell
scattering
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2006213073A
Other languages
English (en)
Inventor
Kunihiko Okubo
邦彦 大久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2006213073A priority Critical patent/JP2008039539A/ja
Priority to EP07113503A priority patent/EP1884762A3/en
Priority to US11/833,659 priority patent/US20080285032A1/en
Priority to CNA2007101382978A priority patent/CN101118210A/zh
Publication of JP2008039539A publication Critical patent/JP2008039539A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/02Investigating particle size or size distribution
    • G01N15/0205Investigating particle size or size distribution by optical means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N2015/0092Monitoring flocculation or agglomeration

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

【課題】幅広い粒径の微粒子の分子量や粒子サイズを一度に測定することで、測定作業を簡単にするとともに時間経過に伴う粒子の結合や乖離等の現象の知見を得易くする。
【解決手段】第1波長を有する第1光源部1の出射光(静的光散乱測定光)と第1波長とは異なる第2波長を有する第2光源部2の出射光(動的光散乱測定光)とを、ビームスプリッタ5で合一させて同軸的に液体試料Sを流す試料セル10に照射する。このとき、静的光散乱測定光の照射面積を広くコヒーレント光である動的光散乱測定光の照射面積は小さく絞る。試料セル10を取り囲むように、第1波長を選択的に検出する検出器12と第2波長を選択的に検出する検出器13とを配置し、検出器11、12と検出器13による検出信号は別々にデータ処理部15で演算処理することで、試料Sに含まれる粒子の分子量や大きさを計算する。
【選択図】図1

Description

本発明は、液体試料中に分散している微粒子の分子量や回転半径等の粒子の大きさを測定するための微粒子検出装置に利用される光散乱検出装置に関する。
従来、液体クロマトグラフィを用いては分離が難しい又は分離が不可能である大きな分子量の成分や不溶性ポリマー或いは微粒子を分離するための手法として、ゲルパーメーションクロマトグラフィ(以下、GPCと略す)やフィールドフローフラクショネーション(以下、FFFと略す)などが知られている。GPCやFFFにより分離された微粒子の検出器として、従来、静的光散乱法の原理に基づく多角度光散乱検出装置が用いられている(特許文献1、2など参照)。多角度光散乱検出装置では、異なる複数の散乱角を以て試料から出て来る光を同時に検出することが可能であり、それら散乱光の強度に基づいてジムプロット(Zimm Plot)法やベリープロット(Berry Plot)法などの演算手法を用いることにより微粒子の分子量や大きさ(回転半径)などを算出することができる(例えば非特許文献1参照)。
上述のような多角度光散乱検出装置は測定対象の微粒子の粒径が10nm程度よりも大きい場合には高い精度を有するものの、粒径が10nm以下であるような超微粒子の粒径の測定には精度が悪く、また演算が非常に複雑になって測定時間も長くなるという問題が起こる。そこで、こうした超微粒子の粒径に相当する情報を求めるには、静的光散乱法ではなく動的光散乱法が有用である(非特許文献2など参照)。動的光散乱法は、溶液中の微粒子の運動が粒子の大きさに依存するブラウン運動に従うものとしてこれに見合った散乱光の揺らぎを測定し、これから散乱光強度の自己相関係数を求め、さらに粒子の拡散係数を計算して粒子の大きさに関する情報を算出する。静的光散乱法と動的光散乱法とでは散乱光強度に基づく演算方法は異なるものの、装置の構成上、両者の光学系は類似しており、従来、両者を1台の装置に組み込んだ複合型の装置が市販されている(例えば非特許文献3など参照)。
但し、静的光散乱法と動的光散乱法とでは、その測定原理の相違のために試料に照射する光束の条件が相違する。即ち、動的光散乱法では信号強度を上げるために試料に照射される光束を非常に小径にまで絞り、局所に光を集めることで感度を高めている。これに対し、静的光散乱法では測定精度を高める必要から試料に照射される光束を広げ、散乱領域の面積を大きくしている。そのため、従来の複合型の光散乱検出装置では、静的光散乱測定時には大きな口径のアパーチャを光路中に挿入し、動的光散乱測定時には狭く小さなアパーチャのマスクを光路中に挿入することで、試料セルの設置位置における光束のサイズを切り替えている。こうした機械的な切替えには時間が掛かるため、GPCやFFFから連続的に流出してくる液体試料中の微粒子の検出は、静的光散乱測定又は動的光散乱測定のいずれか一方でしか行えない。
そのため、例えばクロマトグラフ等により時間経過に伴って成分分離された試料を測定する場合のように、測定対象粒子の粒径が小さなものから大きなものまで変化する場合には、静的光散乱測定を行うように装置を設定しておくと小さなサイズの粒子を検出し損ねるおそれがあり、逆に動的光散乱測定を行うように装置を設定しておくと大きなサイズの粒子を検出できないおそれがある。こうしたことから、同一試料に対する測定を静的光散乱測定と動的光散乱測定とで少なくともそれぞれ1回ずつ行う必要があり、作業が煩雑であるばかりでなく、全く同一条件でGPCやFFFが行えるとは限らないために測定精度を上げることが難しいという問題がある。
また、反応や結合凝縮により液体試料中の粒子の大きさが時間経過に伴って大きく且つ急速に変化してゆくような場合、例えばタンパク質の凝縮や会合、タンパク質フォールディングなどでも同様に、大きなサイズ又は小さなサイズの粒子の見逃しの問題が生じる。
また、粒径が未知である粒子が分散した液体試料を測定する場合、静的光散乱法と動的光散乱法とのいずれが適当であるのかは、いずれかの測定法で以て実際に1回測定を行って結果を見てからでないと分からない。したがって、いずれか一方の測定法で測定した結果、その方法が不適当であることが判明すると再度同じ試料を他方の測定法で測定し直さなければならず、作業が煩雑となる。また試料が貴重であったり微量であったりして再測定が行えないような場合には、適切な結果を得られないということが起こり得る。
米国特許第4541719号明細書 米国特許第5129723号明細書 日本化学会編、「実験化学講座26−高分子化学」、丸善(株)、2005年、p.315-p.323 高分子学会編、「新高分子実験学6」、共立出版(株)、1997年、p.299 「ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000series」、[online]、大塚電子株式会社、[平成18年7月21日検索]、インターネット<http://www.photal.co.jp/product/dls80_0.html#example>
本発明は上記課題を解決するために成されたものであり、その目的とするところは、幅広い粒径を有する粒子の分子量や大きさなどの情報を1回の測定で且つ高い精度で以て得ることができる光散乱検出装置を提供することにある。
上記課題を解決するために成された第1発明は、液体状又は気体状の試料中の微粒子を検出するための光散乱検出装置において、
a)試料を保持する透明な試料セルと、
b)第1波長又は第1波長帯域を有する静的光散乱測定用の光を出射する第1光源手段と、
c)前記第1波長又は第1波長帯域とは異なる第2波長又は第2波長帯域を有する動的光散乱測定用の光を出射する第2光源手段と、
d)前記試料セルを中心に取り囲むように配置され、静的光散乱測定用の光の照射に応じて前記試料セルから周囲に異なる散乱角を以て散乱する光を検出するべく第1波長又は第1波長帯域を選択的に検出可能な複数の検出器から成る第1検出手段と、
e)前記試料セルを中心に取り囲むように配置され、動的光散乱測定用の光の照射に応じて前記試料セルから周囲に異なる散乱角を以て散乱する光を検出するべく第2波長又は第2波長帯域を選択的に検出可能な1乃至複数の検出器から成る第2検出手段と、
f)第1光源手段による静的光散乱測定用の光と第2光源手段による動的光散乱測定用の光が同時に前記試料セルに照射されたときに第1検出手段による検出信号と第2検出手段による検出信号とを並行的に受け、前者に基づいて静的光散乱法による演算を実行するとともに後者に基づいて動的光散乱法による演算を実行する演算処理手段と、
を備えることを特徴としている。
また上記課題を解決するために成された第2発明は、液体状又は気体状の試料中の微粒子を検出するための光散乱検出装置において、
a)試料を保持する透明な試料セルと、
b)静的光散乱測定用の光を出射する第1光源手段、
c)動的光散乱測定用の光を出射する第2光源手段と、
d)第1光源手段による静的光散乱測定用の光と第2光源手段による動的光散乱測定用の光とを時分割で前記試料セルに照射する照射光切替え手段と、
e)前記試料セルを中心に取り囲むように配置され、静的光散乱測定用の光又は動的光散乱用の光の照射に応じて前記試料セルから周囲に異なる散乱角を以て散乱する光を検出する複数の検出器から成る検出手段と、
f)前記照射光切替え手段における照射光の時分割切替えに同期して前記検出手段による検出信号を静的光散乱検出信号と動的光散乱検出信号とに分離して、前者に基づいて静的光散乱法による演算を実行するとともに後者に基づいて動的光散乱法による演算を実行する演算処理手段と、
を備えることを特徴としている。
第1発明に係る光散乱検出装置では、波長又は波長帯域の相違する第1、第2なる2つの光源手段を用意し、それら光源手段からの出射光を同時に同軸的又は非同軸的に試料セルに照射する。同軸的に両光束を照射するためには、例えば、第1光源手段による照射光と第2光源手段による照射光とを同一光路に沿って試料セルに導入する光合一手段をさらに備える構成とするとよい。また、一般的に静的光散乱法の場合には、もともと対象とする粒子のサイズが大きい上に多数の粒子に対する散乱光を同時に測定するほうが精度が高まるため、試料セル中の試料に当たる光束の面積を相対的に大きくする。他方、動的光散乱法の場合には、粒子の運動に伴う散乱光の揺らぎつまり変化を検出するため、その変化が相対的に大きく現れるようにするべく光束の面積を小さくするように絞るとよい。これは第2発明でも同様である。
第1検出手段を構成する各検出器は例えば第1波長又は第1波長帯域を選択的に透過させる光学フィルタを通常の検出器の前(入射光路上)に設けた構成とし、第2検出手段を構成する各検出器は例えば第2波長又は第2波長帯域を選択的に透過させる光学フィルタを通常の検出器の前(入射光路上)に設けた構成とすることができる。もちろん、検出器自体の感度特性をそれぞれの波長又は波長帯域に適合させたものとしてもよい。
第1光源手段及び第2光源手段による両照射光に対し試料セル中の試料からの散乱光は様々な方向に出射し両者の散乱光は重なっているが、第1検出手段は第1波長又は第1波長帯域の光のみを選択的に検出し、第2検出手段は第2波長又は第2波長帯域の光のみを選択的に検出する。即ち、静的光散乱法のための散乱光強度測定と動的光散乱法のための散乱光強度測定とを同時に行いながら、それぞれの散乱光を分離して検出することができる。そして演算処理手段は、第1検出手段による検出信号に対して静的光散乱法に基づく所定のアルゴリズムに則った演算を実行することにより、比較的大きな粒径を有する粒子の分子量や回転半径などを算出し、第2検出手段による検出信号に対して動的光散乱法に基づく所定のアルゴリズムに則った演算を実行することにより、比較的小さな粒径を有する粒子の大きさなどを算出する。
第1発明に係る光散乱検出装置が波長分割(波長帯域分割)により静的光散乱法のための光と動的光散乱法のための光とを分離していたのに対し、第2発明に係る光散乱検出装置では、時分割制御・処理により静的光散乱法による測定と動的光散乱法による測定とを分離する。そのために、照射光切替え手段は第1光源手段による出射光と第2光源手段による出射光とを周期的に切り替え、この切替えに同期して演算処理手段は検出手段による検出信号を静的光散乱検出信号と動的光散乱検出信号とに分離し、前者に対して静的光散乱法に基づく所定のアルゴリズムに則った演算を実行するとともに後者に対して動的光散乱法に基づく所定のアルゴリズムに則った演算を実行する。
照射光切替え手段は、第1光源手段による照射光と第2光源手段による照射光とを選択して同一光路に沿って、つまり同軸的に試料セルに導入するものとすることができるが、時間的に重ならなければ非同軸的に両光束が試料セルに照射される構成としてもよい。動的光散乱測定の場合、散乱光強度の変化を観測する必要があるが、その変化よりも十分に速い速度で照射光の切替えを行うことにより、動的光散乱測定結果における照射光切替えの影響をなくすことができる。また、このような速度で照射光の切替えを行えば、時分割であっても静的光散乱測定と動的光散乱測定とを実質的に同時に行っているとみなすことができる。
このように第1及び第2発明に係る光散乱検出装置によれば、1nm程度又はそれ以下の小さな粒径の粒子から数十μm程度又はそれ以上の大きな粒径の粒子までの広い範囲に亘って1台の装置で同時に分子量や粒子の大きさに関連する情報を取得することができる。したがって、測定対象の粒子に応じて静的光散乱測定と動的光散乱測定とを使い分ける必要がなく、測定作業が簡便になる。
また、静的光散乱法に適した粒子と動的光散乱法に適した粒子とが同時に混在する場合、或いは測定途中に粒径が大きく変化する場合や粒径が不明である場合でも、粒子の検出の漏れや見逃しがなくなり検出精度の向上が図れる。特に、例えばタンパク質などの粒子が結合して、粒子径、分子量、回転半径などが時間的に変化する状態をリアルタイムで追跡することが可能となるため、構造の変化の知見を得ることができるようになる。また、複数の分子の結合や乖離などの状態も同様にリアルタイムで追跡することが可能となる。さらにまた、従来のように幅広い粒径の粒子の大きさに関する情報を取得するために複数回の測定を行う必要がないため、試料が貴重であったり微量であったりする場合でも、確実に粒子の大きさに関する情報を得ることができる。
なお、動的光散乱法による測定では、照明されている領域内での空間的コヒーレンスがないと散乱光強度の相関が得られない。そのため、第2光源手段による照射光はコヒーレント光である必要があり、コヒーレンスの大きなレーザを出射するレーザ光源を用いるとよい。一方、第1光源手段による照射光は必ずしもコヒーレント光である必要はなく、インコヒーレント光を用いてもよい。但し、ここで言うインコヒーレント光は上記コヒーレント光に比べてコヒーレンスが低い光を意味しており、完全インコヒーレント光のみならず、コヒーレント光と完全インコヒーレント光の中間の状態である部分コヒーレント(パーシャルコヒーレント)光も含むものとする。
また、静的光散乱法により分子量や回転半径などを計算するためには試料中の粒子の濃度情報が必要となるが、屈折率計や吸光分光光度計などの濃度測定の可能な装置を別途接続すると装置の大型化・高コスト化を招くのみならず、濃度を散乱光強度と同時に測定できないことによる時間ずれ補正処理が必要となってしまう。そこで、第1及び第2発明に係る光散乱検出装置では、第1光源手段による照射光に対し前記試料セルを透過して来る光を検出する透過光検出手段を備える構成とするとよい。第1光源手段による照射光をインコヒーレント光とした場合、試料を透過してきた光(散乱角度ゼロの散乱光)は試料中の粒子濃度に依存する吸収(散乱)を受けるため、透過光検出手段による検出信号を利用することにより試料中の粒子濃度を算出することができる。そして、これにより算出された濃度値を静的光散乱法による演算に利用して、分子量や粒子の大きさなどを求めることが可能となる。
まず第1発明に係る光散乱検出装置の一実施例である複合型光散乱検出装置について図に基づいて説明する。図1は本実施例の複合型光散乱検出装置の全体構成図、図2は試料セルにおける照射光の状態を示す図である。
本実施例の複合型光散乱検出装置においては、液体試料Sが供給される周囲が透明であるフローセル(又は角形セル、試験管様セルなどの液体試料を収容するセルでもよい)である試料セル10を中心にした円周E上に、透過光検出器11と複数の静的光散乱用検出器12と複数の動的光散乱用検出器13とが試料セル10を取り囲むように配置されている。複数の静的光散乱用検出器12は互いに所定角度間隔θ1であり、複数の動的光散乱用検出器13は互いに所定角度間隔θ2である。ここでは、透過光検出器11、静的光散乱用検出器12、動的光散乱用検出器13は検出器自体は同一であって、透過光検出器11及び静的光散乱用検出器12は、後述するように第1波長を選択的に通過させる光学特性を有する光学フィルタ12aをその前方に備え、動的光散乱用検出器13は、後述するように第2波長を選択的に通過させる光学特性を有する光学フィルタ13aをその前方に備える。
試料セル10に光を照射するために、第1波長の光を出射する第1光源部1と、第1波長とは重ならない(分離可能である)第2波長の光を出射する第2光源部2とを備える。第1光源部はコヒーレント光であるレーザ光を出射するレーザ光源でもよいし、コヒーレンスが相対的に低いインコヒーレント光を出射するインコヒーレント光源でもよい。但し、後述するように透過光検出器11による検出信号に基づいて試料濃度を求めるには、照射光のコヒーレンスが低いほうが好ましい。したがって、濃度測定を同時に行う場合には、第1光源部1はインコヒーレント光源であるのが好ましい。一方、第2光源部2はコヒーレンスの高いレーザ光を出射するレーザ光源である。
第1光源部1から出射されレンズ3で集光されて光路L1に沿って進む光と、第2光源部2から出射されてレンズ4で集光されて光路L2に沿って進む光とは、本発明における光合一手段としてのビームスプリッタ5により重畳され、同一光軸を有する光路L3へと送られる。光路L3上には別のビームスプリッタ6が配置され、試料セル10に照射される光の一部がビームスプリッタ6で分割・反射され、さらに部分反射鏡(又はビームスプリッタ)7で2つに分割されて第1、第2強度モニタ用検出器8、9に導入される。第1強度モニタ用検出器8は光学フィルタ8aにより選択的に通過された第1波長の光強度を検出するものであり、第2強度モニタ用検出器9は光学フィルタ9aにより選択的に通過された第2波長の光強度を検出するものである。この強度モニタ用検出器8、9の検出信号は後述するデータ処理部15に入力され、光源部1、2の発光強度の変動を補正するために利用される。
光路L3に沿って照射光は試料セル10の中心に照射される。このとき、第1光源部1による照射光は、散乱に供する体積が比較的大きくなるように、図2に示す如く比較的大きな面積Paで且つ液体試料Sに確実に光が当たるようにレンズ3により集光される。これは、静的光散乱測定では散乱体積中の粒子数が多いほど検出信号のSN比が良好になるためである。一方、第2光源部2による照射光は、同じように試料セル10の中心に合うようにレンズ4により集光されるが、その光束は絞られ、試料セル10の位置において照射面積Pbは先の面積Paに比較してかなり小さくされている。これは、動的光散乱測定では、照明されている領域が狭いほうが該領域からの信号強度が高くなるためである。
同軸的に同時に試料セル10中の液体試料Sに照射された第1光源部1による照射光(静的光散乱測定光)と第2光源部2による照射光(動的光散乱測定光)とに対し、液体試料S中の散乱粒子からの散乱光はそれぞれの照射光の波長のものが、粒子の大きさ(回転半径、流体半径など)、形状、或いは屈折率などの特性を反映した強度や角度を以て周囲に出射する。その散乱光の中で、透過光検出器11及び複数の静的光散乱用検出器12は第1光源部1による照射光に対応した散乱光のみを選択的に検出し、複数の動的光散乱用検出器13は第2光源部2による照射光に対応した散乱光のみを選択的に検出する。
透過光検出器11及び複数の静的光散乱用検出器12による検出信号はデータ処理部15に機能として含まれる静的光散乱演算処理部16に入力され、一方、複数の動的光散乱用検出器13による検出信号は同じくデータ処理部15に機能として含まれる動的光散乱演算処理部17に入力されている。静的光散乱演算処理部16及び動的光散乱演算処理部17はそれぞれ入力された検出信号に基づいて所定のアルゴリズムに則った演算処理を実行し、その結果として粒子の分子量や大きさなどに関する情報を算出して出力する。
例えば図示しないGPCやFFFにより成分分離された液体試料が所定流量で以て試料セル10に供給されるとき、同時刻に試料セル10内に存在する液体試料Sに対する静的光散乱測定のための散乱光強度と動的光散乱のための散乱光強度とを取得することができる。また、両散乱光は波長により完全に分離されているため、検出器12では第1光源部1による照射光に由来する散乱光のみを、検出器13では第2光源部2による照射光に由来する散乱光のみを検出することができる。
静的光散乱演算処理部16で実行される演算処理の詳細については、特許文献1、2、非特許文献1、2などに開示されているように周知のものであるが、概略的に説明すると、複数の散乱角度θに対し、溶媒の影響を除いた粒子のみの散乱、即ち過剰(excess)レーリー比ΔR(θ)は次の(1)式で表される。
K・C/ΔR(θ)=1/M・P(θ)+2A・Q(θ)・C+O(C) …(1)
ここで、Kは実験的に決まる定数、Cは粒子の濃度、Mは粒子の分子量、Aは粒子の回転半径、P(θ)は分子内干渉因子、Q(θ)は分子間干渉因子である。過剰レーリー比ΔR(θ)は、上述のような通常の散乱光の検出により次の(2)式から求まるレーリー比R(θ)から溶媒の影響を除いたものである。
R=I・r/I・V …(2)
ここで、I:入射光強度、r:試料セルから検出器までの距離、I:散乱光強度、V:散乱体積である。
上記(1)、(2)式により複数の散乱角度θの過剰レーリー比ΔR(θ)が求まるから、濃度ゼロ(C=0)と角度ゼロ(θ=0)をジムプロット(Zimm Plot)やべーリープロット(Berry Plot)などの既存の手法を用いて外挿することで分子間干渉又は分子内干渉の効果を消し、次の(3)、(4)式に従って分子量Mや回転半径Aを算出する。
K・C/ΔR(C=0)=1/M・P(0)=1/M …(3)
KC/ΔR(θ=0)=1/M+2A・C …(4)
なお、上記演算のために濃度Cの値が必要となるが、照射光がインコヒーレント光である場合に透過光検出器11で得られた散乱角度ゼロの散乱光(実質的に透過光)強度は散乱体積中に存在する粒子の数に依存したものとなるため、これから濃度を求めることができる。そして、これにより求めた濃度値を上記のような粒子の分子量や回転半径の算出に利用することができる。もちろん、この濃度値は別に設けた屈折率計や吸光分光光度計による検出結果を利用して求めたものでもよい。
一方、動的光散乱演算処理部17で実行される演算処理の詳細についても、非特許文献1、2などに開示されているように周知のものである。概略的に説明すると、時刻t及び時刻t+tでの散乱光強度I(t)及びI(t+t)を用いて、自己相関関数G(t)は次の(5)式で表される。
G(t)=<I(t)・I(t+t)>t0/<I(t)>t0 …(5)
ここで<…>t0はtに関する長時間(散乱光の揺らぎに対して長時間)平均を表す。自己相関係数G(t)からは並進相互拡散係数が求まり、この並進相互拡散係数が粒子の流体力学的半径に依存するため、相関関数を求めることにより、これから流体力学的半径つまり粒子の大きさを算出することができる。また、粒子の大きさにより散乱角度が相違するため、複数の検出器13で得られる検出信号を解析することにより、異なる粒子の大きさを同時に測定することができる。
以上のように本実施例による複合型光散乱検出装置によれば、実質的に同時に幅広い粒径の粒子の分子量や大きさ(回転半径、流体力学的半径など)に関する情報を得ることができる。
ところで、動的光散乱測定では、照明されている領域内での散乱光の空間的コヒーレンスがないと散乱光強度の相関が得られないため、散乱のための照明領域内でのコヒーレンスの高さは不可欠である。即ち、散乱領域内の両端の2点でコヒーレンスが検出器の検出面全面において高くなるようにしておく必要があり、いまコヒーレンスを少なくとも0.88とするには、検出面の対角長をLcとすると、次の(6)式の条件を満たす必要がある。
Lc=λ・r/2π・ρ=0.16λ・r/ρ …(6)
ここで、r:試料セル10から検出器13までの距離、ρ:試料Sにおいて照明された領域の半径、である。上記(6)式より、
ρ・Lc=0.16・λ・r
であるから、ρを十分に小さくするか、或いはrを大きくとることが必要となる。
即ち、動的光散乱測定のためには試料セル10から検出器13までの距離rを大きくすることが望ましく、静的光散乱測定と動的光散乱測定とでは演算は独立であるため、試料セル10から検出器12までの距離と試料セル10から検出器13までの距離は同一である必要はない。そこで、上記実施例による複合型光散乱検出装置の光学系の構成は図3に示すように変形することができる。この変形例では、透過光検出器11と複数の静的光散乱用検出器12は試料セル10を取り囲むように円周E1上に配置され、複数の動的光散乱用検出器13は同じく試料セル10を取り囲むように、円周E1と同心であって半径が大きな円周E2上に配置されている。これにより、試料セル10から検出器13までの距離が長くなり、散乱光のコヒーレンスを高くすることができる。
また、上記実施例では、波長の相違する2つの照射光を同軸的に試料セル10に照射していたが、必ずしも同軸的である必要はない。図4は入射光学系を変形した複合型光散乱検出装置の構成を示す図である。試料セル10に対し、第1光源部1による照射光は光路L1に沿って、第2光源部2による照射光は光路L2に沿って別々に入射する。この構成でも、上記実施例と同様の測定が行えることは言うまでもない。
また、図1、図3、図4の構成では、光源部1、2と試料セル10と検出器11、12、13とは同一平面上に配置されるようにしている。これにより、装置の構成上、光学設計や製造が容易になり、また演算処理部16、17での演算アルゴリズムをたてる上での理論計算も容易になるが、上記各部材を同一平面上に配置することは必須ではない。また、照射光の電気ベクトルの偏光方向は、上記平面に垂直な方向でも該平面内にあってもよい。もちろん、それぞれに応じて演算処理のための理論計算を変更する必要がある。さらには、計算は複雑になるものの、静的光散乱の場合、散乱角度θさえ決まれば、試料セル10と各検出器12との間の距離は異なる(つまり同一半径の円周上にない)ようにしてもよい。同様に、動的光散乱の場合も、コヒーレンス条件さえ満たせば、それぞれの検出器13と試料セル10との間の距離が相違していても大きな影響は及ぼさない。
また、動的光散乱測定の場合、複数の散乱角度で散乱光強度を検出するのではなく、1個の検出器のみで散乱光を検出して粒子の大きさを計算することも可能ではある。但し、その場合には、上述のように多角度で検出する場合に比べれば、高い精度で算出可能な粒子の大きさの範囲が狭くなる。
また場合によっては、液体試料Sから蛍光やラマン光などが散乱光の検出に障害となる程度の強度で出る場合がある。第1光源部1による出射光と第2光源部2による出射光とのより長い波長の側が影響を受けるが、通常、ラマン散乱光はレーリー散乱光よりも数桁以上強度が低く問題となることはないものの、蛍光は、含まれる蛍光発光体の濃度が高い場合に問題となる可能性がある。その影響を受けないようにするためには、天然に存在する蛍光励起波長を避け、比較的蛍光体の少ない波長を選択するのが実用的である。また、後述するように第1光源部1と第2光源部2とによる光の照射を同時ではなく時分割で行うようすれば、一般に蛍光の寿命は数n秒と短いので、一方の照射光で励起された蛍光が他方の測定に影響を及ぼすことはなくなる。
次に第2発明に係る光散乱検出装置の一実施例である複合型光散乱検出装置について図5、図6に基づいて説明する。図5は本実施例の複合型光散乱検出装置の全体構成図、図6はセクタ鏡の概略正面図である。上記実施例と同じ又は相当する構成要素には同一符号を付して特に要しない限り説明を省略する。
この実施例の複合型光散乱検出装置では上記実施例と異なり波長分割ではなく時分割で静的光散乱測定と動的光散乱測定とを実行する。したがって、円周E上に配置された検出器11、12は光学フィルタを備えず、感度特性も同等である。但し、照射光によって、試料から誘起される蛍光(長波長側に出る)を除去する目的で、それぞれの光源の波長のみを透過する狭帯域フィルタを用いる。一方、第1光源部1からの出射光と第2光源部2からの出射光との波長は重なっていてもよいが、第2光源部2はレーザ光源であり、第1光源部1はインコヒーレント光源又はレーザ光源である点は上記実施例と同じである。
第1光源部1から出射され光路L1に沿って進む静的光散乱用の光と、第2光源部2から出射されて光路L2に沿って進む動的光散乱測定用の光とは、本発明における照射光切替え手段としてのセクタ鏡20により交互に選択されて、試料セル10に向かう同一光軸を有する光路L3へと送られる。セクタ鏡20は図6に示すように、回転軸20aの周囲に等角度α範囲の反射部20bと透過部20cとが交互に配置された構成を有し、回転軸20aはモータ等の駆動機構21により所定速度で同一方向に回転駆動される。光路L1と光路L2との交差部に透過部20cが来るタイミングでは静的光散乱測定用の照射光が光路L3に送られ、反射部20bが来るタイミングでは動的光散乱測定用の照射光が光路L3に送られるように切り替えられる。
駆動機構21は制御部22の制御の下にセクタ鏡20を一定周期で回転駆動し、制御部22はそのセクタ鏡20の回転位置を把握しているため、制御部22からデータ処理部15に対し、いずれの照射光が試料セル10に照射されている期間であるのかを示すタイミング制御信号が送られる。そして、データ処理部15において信号振分け部18は、上記タイミング制御信号に基づいて複数の検出器11、12による検出信号を静的光散乱演算処理部16と動的光散乱演算処理部17とに交互に振り分ける。即ち、試料セル10に第1光源部1による光(静的光散乱測定光)が照射されている期間では、複数の検出器11、12で検出される散乱光強度は静的光散乱演算処理部16に入力され、試料セル10に第2光源部2による光(動的光散乱測定光)が照射されている期間では、複数の検出器11、12で検出される散乱光強度は動的光散乱演算処理部17に入力される。
静的光散乱演算処理部16と動的光散乱演算処理部17とはそれぞれ上記と同様に散乱光強度に基づいて粒子の分子量や大きさに関する情報を計算により求める。試料セル10への照射光の導入とそれに応じた散乱光の検出とは、静的光散乱測定と動的光散乱測定とで時分割であるが、例えば試料セル10に一定流量で以て液体試料Sが供給されるような場合であっても、その流量よりも十分に速い速度でセクタ鏡20を回転させることにより、実質的に静的光散乱測定と動的光散乱測定とを同時に、つまりは同一試料に対して両測定を行っているものとみなすことができる。
なお、このような時分割処理の場合でも、図5に示したように同軸的に両照射光を試料セル10に導入するのではなく、非同軸的に照射光を導入するようにすることができる。
また、上記実施例はいずれも本発明の一例にすぎないから、上記記載以外の点について本発明の趣旨の範囲で適宜に修正、変更、追加などを行っても、本願特許請求の範囲に包含されることは明らかである。例えば上記実施例では測定対象が液体試料中の粒子であるが、本発明に係る装置は気体試料中の粒子に対しても適用可能である。
第1発明に係る光散乱検出装置の一実施例である複合型光散乱検出装置の全体構成図。 図1に示した複合型光散乱検出装置での試料セルにおける照射光の状態を示す図。 第1発明の他の実施例による複合型光散乱検出装置の全体構成図。 第1発明の他の実施例による複合型光散乱検出装置の全体構成図。 第2発明に係る光散乱検出装置の一実施例である複合型光散乱検出装置の全体構成図。 図5に示した複合型光散乱検出装置でのセクタ鏡の概略平面図。
符号の説明
1…第1光源部
2…第2光源部
3、4…レンズ
5、6…ビームスプリッタ
7…部分反射鏡
8…第1強度モニタ用検出器
9…第2強度モニタ用検出器
10…試料セル
S…液体試料
11…透過光検出器
12…静的光散乱用検出器
13…動的光散乱用検出器
8a、9a、12a、13a…光学フィルタ
15…データ処理部
16…静的光散乱演算処理部
17…動的光散乱演算処理部
18…信号振分け部
20…セクタ鏡
20a…回転軸
20b…反射部
20c…透過部
21…駆動機構
22…制御部

Claims (8)

  1. 液体状又は気体状の試料中の微粒子を検出するための光散乱検出装置において、
    a)試料を保持する透明な試料セルと、
    b)第1波長又は第1波長帯域を有する静的光散乱測定用の光を出射する第1光源手段と、
    c)前記第1波長又は第1波長帯域とは異なる第2波長又は第2波長帯域を有する動的光散乱測定用の光を出射する第2光源手段と、
    d)前記試料セルを中心に取り囲むように配置され、静的光散乱測定用の光の照射に応じて前記試料セルから周囲に異なる散乱角を以て散乱する光を検出するべく第1波長又は第1波長帯域を選択的に検出可能な複数の検出器から成る第1検出手段と、
    e)前記試料セルを中心に取り囲むように配置され、動的光散乱測定用の光の照射に応じて前記試料セルから周囲に異なる散乱角を以て散乱する光を検出するべく第2波長又は第2波長帯域を選択的に検出可能な1乃至複数の検出器から成る第2検出手段と、
    f)第1光源手段による静的光散乱測定用の光と第2光源手段による動的光散乱測定用の光が同時に前記試料セルに照射されたときに第1検出手段による検出信号と第2検出手段による検出信号とを並行的に受け、前者に基づいて静的光散乱法による演算を実行するとともに後者に基づいて動的光散乱法による演算を実行する演算処理手段と、
    を備えることを特徴とする光散乱検出装置。
  2. 液体状又は気体状の試料中の微粒子を検出するための光散乱検出装置において、
    a)試料を保持する透明な試料セルと、
    b)静的光散乱測定用の光を出射する第1光源手段、
    c)動的光散乱測定用の光を出射する第2光源手段と、
    d)第1光源手段による静的光散乱測定用の光と第2光源手段による動的光散乱測定用の光とを時分割で前記試料セルに照射する照射光切替え手段と、
    e)前記試料セルを中心に取り囲むように配置され、静的光散乱測定用の光又は動的光散乱用の光の照射に応じて前記試料セルから周囲に異なる散乱角を以て散乱する光を検出する複数の検出器から成る検出手段と、
    f)前記照射光切替え手段における照射光の時分割切替えに同期して前記検出手段による検出信号を静的光散乱検出信号と動的光散乱検出信号とに分離して、前者に基づいて静的光散乱法による演算を実行するとともに後者に基づいて動的光散乱法による演算を実行する演算処理手段と、
    を備えることを特徴とする光散乱検出装置。
  3. 第1光源手段及び第2光源手段による照射光はともにコヒーレント光であることを特徴とする請求項1又は2に記載の光散乱検出装置。
  4. 第1光源手段による照射光はインコヒーレント光であり、第2光源手段による照射光はコヒーレント光であることを特徴とする請求項1又は2に記載の光散乱検出装置。
  5. 前記試料セルにおいて第1光源手段による照射光の光束のサイズは第2光源手段による照射光の光束のサイズよりも大きいことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載に光散乱検出装置。
  6. 前記第1光源手段による照射光と前記第2光源手段による照射光とを同一光路に沿って前記試料セルに導入する光合一手段をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の光散乱検出装置。
  7. 前記照射光切替え手段は、前記第1光源手段による照射光と前記第2光源手段による照射光とを選択して同一光路に沿って前記試料セルに導入するものであることを特徴とする請求項2に記載の光散乱検出装置。
  8. 第1光源手段による照射光に対し前記試料セルを透過して来る光を検出する透過光検出手段を備えることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の光散乱検出装置。

JP2006213073A 2006-08-04 2006-08-04 光散乱検出装置 Withdrawn JP2008039539A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006213073A JP2008039539A (ja) 2006-08-04 2006-08-04 光散乱検出装置
EP07113503A EP1884762A3 (en) 2006-08-04 2007-07-31 Light Scattering Detector
US11/833,659 US20080285032A1 (en) 2006-08-04 2007-08-03 Light scattering detector
CNA2007101382978A CN101118210A (zh) 2006-08-04 2007-08-03 光散射检测器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006213073A JP2008039539A (ja) 2006-08-04 2006-08-04 光散乱検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008039539A true JP2008039539A (ja) 2008-02-21

Family

ID=38476063

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006213073A Withdrawn JP2008039539A (ja) 2006-08-04 2006-08-04 光散乱検出装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20080285032A1 (ja)
EP (1) EP1884762A3 (ja)
JP (1) JP2008039539A (ja)
CN (1) CN101118210A (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009131175A1 (ja) * 2008-04-25 2009-10-29 新日本製鐵株式会社 金属材料中微粒子の粒度分布測定方法
JP2011013162A (ja) * 2009-07-03 2011-01-20 Fujifilm Corp 低コヒーレンス光源を用いた動的光散乱測定装置及び光散乱強度測定方法
KR101103324B1 (ko) 2010-03-05 2012-01-11 에스엔유 프리시젼 주식회사 원자력 현미경
JP2012519838A (ja) * 2009-03-04 2012-08-30 マルベルン インスツルメンツ リミテッド 粒子特性の測定
JP2012519839A (ja) * 2009-03-04 2012-08-30 マルベルン インスツルメンツ リミテッド 粒子特性の測定
JP2012194165A (ja) * 2011-03-16 2012-10-11 Eiko Furukawa 走査型顕微光散乱測定解析装置および光散乱解析方法
JP2014530736A (ja) * 2011-10-28 2014-11-20 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ エーロゾル流の解析と制御
JP2017512301A (ja) * 2014-02-28 2017-05-18 ライフ テクノロジーズ コーポレーション フローサイトメータにおける光学系のためのシステム、方法、及び装置
KR101932456B1 (ko) * 2017-11-30 2019-03-20 케이앤제이엔지니어링 주식회사 지하철 미세먼지 모니터링 장치
KR20190093121A (ko) * 2018-01-31 2019-08-08 지크 엔지니어링 게엠베하 미세먼지를 측정하기 위한 분석 장치
JP2020020706A (ja) * 2018-08-02 2020-02-06 株式会社島津製作所 光散乱検出装置
WO2021048962A1 (ja) * 2019-09-11 2021-03-18 株式会社島津製作所 光散乱検出装置
WO2022168554A1 (ja) 2021-02-02 2022-08-11 富士フイルム株式会社 光計測装置

Families Citing this family (56)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8094299B2 (en) * 2008-07-24 2012-01-10 Beckman Coulter, Inc. Transducer module
WO2010036736A2 (en) 2008-09-25 2010-04-01 Varian, Inc Light scattering flow cell device
US7982875B2 (en) * 2009-06-15 2011-07-19 Wyatt Technology Corporation Method and apparatus for measuring the scattered light signals from a liquid sample
WO2011004781A1 (ja) 2009-07-10 2011-01-13 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
US8811914B2 (en) * 2009-10-22 2014-08-19 At&T Intellectual Property I, L.P. Method and apparatus for dynamically processing an electromagnetic beam
US8233673B2 (en) 2009-10-23 2012-07-31 At&T Intellectual Property I, L.P. Method and apparatus for eye-scan authentication using a liquid lens
US20120288409A1 (en) * 2010-01-29 2012-11-15 Hitachi High-Technologies Corporation Analysis device
EP2365313B1 (en) * 2010-03-12 2015-08-26 LS Instruments AG Cross-correlation dynamic light scattering (DLS) method and system
KR20110111948A (ko) * 2010-04-06 2011-10-12 삼성전기주식회사 입자 측정장치
US8417121B2 (en) 2010-05-28 2013-04-09 At&T Intellectual Property I, L.P. Method and apparatus for providing communication using a terahertz link
US8515294B2 (en) 2010-10-20 2013-08-20 At&T Intellectual Property I, L.P. Method and apparatus for providing beam steering of terahertz electromagnetic waves
CN102297823B (zh) * 2011-05-17 2013-01-02 上海理工大学 基于带通滤波的动态光散射纳米颗粒测量方法及装置
TWI435080B (zh) * 2011-06-09 2014-04-21 Univ Nat Pingtung Sci & Tech 細胞或粒子檢測裝置
CN102288566A (zh) * 2011-07-29 2011-12-21 肖才斌 一种便携式多功能分析仪及其测试方法
CN102323193A (zh) * 2011-08-17 2012-01-18 佛山科学技术学院 一种激光散射法空气颗粒分布测量方法及装置
GB2494733A (en) 2011-09-14 2013-03-20 Malvern Instr Ltd Measuring particle size distribution by light scattering
EP2584353B1 (de) * 2011-10-18 2018-01-24 Postnova Analytics GmbH Blendensystem für Vielwinkellichtstreudetektoren
EP2830959A1 (en) * 2012-03-27 2015-02-04 Tetra Laval Holdings & Finance SA A sensor arrangement for measuring the concentration of a substance
US9459206B2 (en) * 2012-05-02 2016-10-04 Datacolor Holding Ag System and apparatus for measurement of light scattering from a sample
CN102692367B (zh) * 2012-06-14 2014-02-12 南京中医药大学 纳米粒子辨识***装置及其识别方法
US10788416B2 (en) * 2013-10-03 2020-09-29 Rosemount Inc. Multiple wavelength light source for colorimetric measurement
JP6691043B2 (ja) * 2013-11-05 2020-04-28 マルバーン インストゥルメンツ リミテッド 粒子特性評価装置
CN105738260A (zh) * 2014-12-08 2016-07-06 阿里巴巴集团控股有限公司 移动终端以及通过移动终端检测空气指数的方法
JP6936229B2 (ja) 2015-09-23 2021-09-15 マルバーン パナリティカル リミテッド 粒子特性評価
US11002655B2 (en) 2015-09-23 2021-05-11 Malvern Panalytical Limited Cuvette carrier
SI3150988T1 (sl) * 2015-10-01 2021-08-31 Nano Temper Technologies Gmbh Sistem in postopek za optično merjenje stabilnosti in agregacije delcev
US10119910B2 (en) * 2015-10-09 2018-11-06 Malvern Panalytical Limited Particle characterisation instrument
CN105606500B (zh) * 2015-11-24 2018-10-30 北京大方科技有限责任公司 一种烟气探测设备
GB201604460D0 (en) 2016-03-16 2016-04-27 Malvern Instr Ltd Dynamic light scattering
SG11201808342QA (en) * 2016-03-30 2018-10-30 Agency Science Tech & Res A system and method for fluid analysis
CN105973772A (zh) * 2016-07-01 2016-09-28 丹东百特仪器有限公司 一种动态、静态光散射结合的激光粒度仪
EP3279635B1 (en) * 2016-08-04 2022-06-01 Malvern Panalytical Limited Method, processor and machine-readable, non-transient storage medium for characterising particles suspended in a fluid dispersant
EP3309536A1 (en) * 2016-10-11 2018-04-18 Malvern Panalytical Limited Particle characterisation instrument
TWI773721B (zh) * 2017-01-20 2022-08-11 日商東京威力科創股份有限公司 異物檢測裝置、異物檢測方法及記憶媒體
EP3379232A1 (en) 2017-03-23 2018-09-26 Malvern Panalytical Limited Particle characterisation
US11187661B2 (en) * 2017-07-05 2021-11-30 Saudi Arabian Oil Company Detecting black powder levels in flow-lines
CN111164418A (zh) * 2017-08-10 2020-05-15 先进的聚合物监测技术股份有限公司 别名/积分通量分析 用于在制造过程中表征和控制生物聚合物和合成聚合物的装置和方法
KR102326680B1 (ko) * 2017-09-14 2021-11-15 삼성전자주식회사 소재 물성 검사 장치
CN107782642A (zh) * 2017-09-27 2018-03-09 华中科技大学 一种多峰值颗粒群粒径分布检测装置
WO2019115694A1 (en) * 2017-12-15 2019-06-20 Alexander Bergmann Particulate matter sensor
CN108287126B (zh) * 2018-03-23 2021-07-09 中国计量科学研究院 纳米颗粒粒径测量***
CN108693142B (zh) * 2018-06-11 2020-10-30 重庆大学 一种基于光学散射原理的pm2.5检测方法
WO2020021682A1 (ja) * 2018-07-26 2020-01-30 株式会社島津製作所 光散乱検出装置
CN112513612A (zh) * 2018-08-01 2021-03-16 株式会社岛津制作所 光散射检测装置
CN111642134B (zh) 2019-01-02 2023-04-14 M & J科学有限责任公司 光散射检测器及其样品池
KR102488993B1 (ko) 2019-01-02 2023-01-17 엠 앤 제이 사이언티픽, 엘엘씨 광 산란 검출기 및 광 산란 검출기를 위한 방법
JP7192675B2 (ja) * 2019-06-26 2022-12-20 株式会社島津製作所 光散乱検出装置および光散乱検出方法
CN111103217B (zh) * 2019-12-27 2022-12-27 合肥工业大学 一种快速响应的高精度光散射浊度计测量装置
CN111272615B (zh) * 2020-02-21 2024-03-08 陕西佰傲再生医学有限公司 一种凝胶粒径分布检测方法
GB2599651A (en) * 2020-10-06 2022-04-13 Andor Tech Limited Confocal Raman analysing apparatus and method
CN112504922B (zh) * 2020-10-20 2022-09-02 华南师范大学 一种大气颗粒物粒径分布的在线测量***及方法
CN113155683B (zh) * 2021-05-17 2024-03-15 北京市人工影响天气中心 一种云粒子散射函数的探测***、方法和装置
CN113310862B (zh) * 2021-05-28 2022-03-22 中国矿业大学 一种基于拉曼光谱连续检测空气颗粒物的装置及方法
CN113533244A (zh) * 2021-06-18 2021-10-22 中国科学院深圳先进技术研究院 一种红细胞比容的检测方法、装置、终端和可读存储介质
CN116793907B (zh) * 2022-03-16 2024-05-14 上海勘测设计研究院有限公司 一种多方位衍射散射式粒度仪及颗分检测方法
CN114659948B (zh) * 2022-03-17 2023-10-13 江苏安环职业健康技术服务有限公司 一种作业场所金属粉尘检测***

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4284412A (en) * 1979-07-13 1981-08-18 Ortho Diagnostics, Inc. Method and apparatus for automated identification and enumeration of specified blood cell subclasses
US4541719A (en) * 1982-07-20 1985-09-17 Wyatt Philip J Method and apparatus for characterizing microparticles and measuring their response to their environment
US4616927A (en) * 1984-11-15 1986-10-14 Wyatt Technology Corporation Sample cell for light scattering measurements
DE69129260T2 (de) * 1990-11-03 1998-11-19 Horiba Ltd Gerät zur Messung der Teilchengrössenverteilung
US5129723A (en) * 1991-04-11 1992-07-14 Wyatt Technology Corporation High performance Zimm chromatography--HPZC
JP3662376B2 (ja) * 1996-05-10 2005-06-22 浜松ホトニクス株式会社 内部特性分布の計測方法および装置
US20040004717A1 (en) * 1996-11-13 2004-01-08 Reed Wayne F. Automatic mixing and dilution methods and apparatus for online characterization of equilibrium and non-equilibrium properties of solutions containing polymers and/or colloids
CA2284870C (en) * 1997-03-17 2003-11-25 Tsi Incorporated System for detecting fluorescing components in aerosols
DE19713200C1 (de) * 1997-03-28 1998-06-18 Alv Laser Vertriebsgesellschaf Meßgerät zur Bestimmung der statischen und/oder dynamischen Lichtstreuung
GB2340936B (en) * 1998-08-22 2003-08-13 Malvern Instr Ltd Improvements relating to the measurement of particle size distribution
US6859276B2 (en) * 2003-01-24 2005-02-22 Coulter International Corp. Extracted polarization intensity differential scattering for particle characterization
US7024955B2 (en) * 2003-03-01 2006-04-11 Symyx Technologies, Inc. Methods and systems for dissolution testing

Cited By (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009131175A1 (ja) * 2008-04-25 2009-10-29 新日本製鐵株式会社 金属材料中微粒子の粒度分布測定方法
JP4572001B2 (ja) * 2008-04-25 2010-10-27 新日本製鐵株式会社 金属材料中微粒子の粒度分布測定方法
JPWO2009131175A1 (ja) * 2008-04-25 2011-08-18 新日本製鐵株式会社 金属材料中微粒子の粒度分布測定方法
KR101165162B1 (ko) 2008-04-25 2012-07-11 신닛뽄세이테쯔 카부시키카이샤 금속 재료 중 미립자의 입도 분포 측정 방법
US8384897B2 (en) 2008-04-25 2013-02-26 Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation Method of analyzing particle size distribution of particles in metal material
JP2012519838A (ja) * 2009-03-04 2012-08-30 マルベルン インスツルメンツ リミテッド 粒子特性の測定
JP2012519839A (ja) * 2009-03-04 2012-08-30 マルベルン インスツルメンツ リミテッド 粒子特性の測定
JP2011013162A (ja) * 2009-07-03 2011-01-20 Fujifilm Corp 低コヒーレンス光源を用いた動的光散乱測定装置及び光散乱強度測定方法
US8467067B2 (en) 2009-07-03 2013-06-18 Fujifilm Corporation Dynamic light-scattering measuring apparatus using low-coherence light source and light-scattering measuring method of using the apparatus
KR101103324B1 (ko) 2010-03-05 2012-01-11 에스엔유 프리시젼 주식회사 원자력 현미경
JP2012194165A (ja) * 2011-03-16 2012-10-11 Eiko Furukawa 走査型顕微光散乱測定解析装置および光散乱解析方法
US9599550B2 (en) 2011-10-28 2017-03-21 Koninklijke Philips N.V. Analysis and control of aerosol flow
JP2014530736A (ja) * 2011-10-28 2014-11-20 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ エーロゾル流の解析と制御
JP2017512301A (ja) * 2014-02-28 2017-05-18 ライフ テクノロジーズ コーポレーション フローサイトメータにおける光学系のためのシステム、方法、及び装置
US10473578B2 (en) 2014-02-28 2019-11-12 Life Technologies Corporation Systems, methods, and apparatuses for optical systems in flow cytometers
KR101932456B1 (ko) * 2017-11-30 2019-03-20 케이앤제이엔지니어링 주식회사 지하철 미세먼지 모니터링 장치
KR102155809B1 (ko) 2018-01-31 2020-09-14 지크 엔지니어링 게엠베하 미세먼지를 측정하기 위한 분석 장치
KR20190093121A (ko) * 2018-01-31 2019-08-08 지크 엔지니어링 게엠베하 미세먼지를 측정하기 위한 분석 장치
JP2019148585A (ja) * 2018-01-31 2019-09-05 ジック エンジニアリング ゲーエムベーハーSICK Engineering GmbH 粒子状物質の測定を行うための分析装置
JP2020020706A (ja) * 2018-08-02 2020-02-06 株式会社島津製作所 光散乱検出装置
JP7187874B2 (ja) 2018-08-02 2022-12-13 株式会社島津製作所 光散乱検出装置
WO2021048962A1 (ja) * 2019-09-11 2021-03-18 株式会社島津製作所 光散乱検出装置
JPWO2021048962A1 (ja) * 2019-09-11 2021-11-18 株式会社島津製作所 光散乱検出装置
WO2022168554A1 (ja) 2021-02-02 2022-08-11 富士フイルム株式会社 光計測装置
KR20230125051A (ko) 2021-02-02 2023-08-28 후지필름 가부시키가이샤 광 계측 장치

Also Published As

Publication number Publication date
CN101118210A (zh) 2008-02-06
EP1884762A3 (en) 2009-12-02
US20080285032A1 (en) 2008-11-20
EP1884762A2 (en) 2008-02-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008039539A (ja) 光散乱検出装置
JP2008032548A (ja) 光散乱検出装置
JP4455730B2 (ja) 多走査ビーム反射率を用いる粒子評価のための方法および装置
JP4791625B2 (ja) 分光光度・比濁検出ユニット
JP5366536B2 (ja) ラマン散乱光測定装置
CN103364348A (zh) 用于检测样本内的不均匀性的光学设备,特别是偏振计
CN102128839A (zh) 评估透明材料中的缺陷的方法和执行该方法的仪器
JPH01500852A (ja) 光学分析
JP5828440B1 (ja) 微小粒子測定装置
KR102043765B1 (ko) 다중 측정 라만 분광기
US9594011B2 (en) Method and instrumentation for determining a physical property of a particle
JP2004117298A (ja) 全反射減衰を利用した測定方法および測定装置
JP3365474B2 (ja) 偏光性イメージング装置
JP2012242245A (ja) ラマン散乱光検出装置
US20160376640A1 (en) Determination of exosome purity methods and apparatus
JP3422725B2 (ja) ラマン分光分析と粒度分布測定を同時に行う分析装置
JPH11132950A (ja) 試料の特性を表示するための遠心分析方法
JP2010091428A (ja) 走査光学系
JPH10186240A (ja) 暗視野落射顕微鏡装置
JPH05281130A (ja) 異物検査装置
JP7052925B2 (ja) 光散乱検出装置
JP4140965B2 (ja) 吸光式分析計
JP2007192841A (ja) 全反射減衰を利用した測定方法および測定装置
JP4574962B2 (ja) 小粒子の溶液を特徴付けるための方法および装置
JPH0552654A (ja) 励起波長掃引式ラマン分光装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090204

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20100119