JP2008020774A - 電子装置及び表示装置 - Google Patents

電子装置及び表示装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2008020774A
JP2008020774A JP2006193812A JP2006193812A JP2008020774A JP 2008020774 A JP2008020774 A JP 2008020774A JP 2006193812 A JP2006193812 A JP 2006193812A JP 2006193812 A JP2006193812 A JP 2006193812A JP 2008020774 A JP2008020774 A JP 2008020774A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
electrode layer
capacitor
insulating film
interlayer insulating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2006193812A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsutoshi Miyasaka
光敏 宮坂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2006193812A priority Critical patent/JP2008020774A/ja
Publication of JP2008020774A publication Critical patent/JP2008020774A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Electrochromic Elements, Electrophoresis, Or Variable Reflection Or Absorption Elements (AREA)

Abstract

【課題】保持電荷の減少による画像表示への影響を軽減した電子装置と表示装置を提供する事を目的とする。
【解決手段】半導体装置14とキャパシタ15とを備える電子装置20にて、半導体装置14は半導体膜26と、ゲート絶縁膜25と、ゲート電極Gと、ドレイン電極Dと、ソース電極Sと、第一層間絶縁膜21と、第二層間絶縁膜24とを備え、キャパシタ15は互いに並列接続した第一キャパシタと第二キャパシタとから成り、第一キャパシタは第一電極層18と第二電極層19、並びに第一誘電体膜とから成り、第二キャパシタは第三電極層22と第四電極層23、並びに第二誘電体膜とから成り、第二電極層19と第三電極層22とが電気的に接続して居る。
【選択図】図1

Description

本発明は電気的に書き換え可能な表示装置、並びに此等表示装置に用いられる電子装置に関する。より具体的には薄膜半導体装置とキャパシタとを含む電子装置、及び此の電子装置と電気表示材料とを利用した表示装置に関する。電気表示材料としては液晶や電気泳動材料が挙げられる。取り分け本発明は、帯電微粒子に対して電界印加を制御する事に依り視認状態を変化させる電気泳動表示装置に関する。
電気泳動表示装置は行列状に複数の画素電極が配列された素子基板と、平面状の共通電極が形成された対向基板とから構成されている。素子基板と対向基板とは一定の間隙を保って各々の電極形成面が対向するように貼り合わされている。この間隙に電気泳動材料が挟持されて居る。電気泳動材料は分散媒に帯電微粒子から成る電気泳動粒子を分散させた物である。
斯うした構成にて画素電極と共通電極との間に電位差を与えると、電界の方向に応じて、帯電した電気泳動粒子がどちらか一方の電極に引き寄せられる。電気泳動粒子を着色粒子とし、共通電極と対向基板を透過性材料とすると、対向基板側に引き寄せられた電気泳動粒子の色が見える。斯うして各画素電極に印加する電圧を制御して、画像を表示する事が可能となる。
特開2002−162651号公報 特開2002−169190号公報
しかしながら従来の電気泳動表示装置では、画像保持(維持)期間にスイッチング素子や電気泳動材料を介した漏洩電流が生じ、此に依り画素電極での保持電荷が減少し、共通電極と画素電極との間の電位差が減少して電気泳動粒子が拡散して仕舞うとの課題を有して居た。換言すれば表示画像の明暗度(コントラスト)が徐々に低下し、更に電位差の無い状態が長期間継続すると、電気泳動粒子の拡散に依り画像が完全に消失して仕舞うとの課題が生じて居た。
そこで本発明は上述の諸事情を鑑み、保持電荷の減少による画像表示への影響を軽減する電子装置並びに表示装置を提供する事を目的とする。
上記課題を解決するために、本発明は半導体装置とキャパシタとを備える電子装置であって、半導体装置はソース領域とチャンネル形成領域とドレイン領域とを含む半導体膜と、ゲート絶縁膜と、ゲート電極と、ドレイン領域に接続されたドレイン電極と、ソース領域に接続されたソース電極と、ゲート電極とドレイン電極とを分離する第一層間絶縁膜と、ドレイン電極とソース電極とを分離する第二層間絶縁膜とを備え、該キャパシタは互いに並列接続された第一キャパシタと第二キャパシタとを有し、該第一キャパシタは第一電極層と第二電極層、並びに該第一電極層と該第二電極層とに挟まれた第一誘電体膜とを有し、該第二キャパシタは第三電極層と第四電極層、並びに該第三電極層と該第四電極層とに挟まれた第二誘電体膜とを有し、該第二電極層と該第三電極層とが電気的に接続されていることを特徴とする。
本発明は第一基板と第二基板、及び該第一基板と該第二基板との間に挟持された電気表示材料とを含む表示装置であって、該第一基板には、半導体装置とキャパシタとが形成され、該第二基板には、共通電極が形成され、該半導体装置は、ソース領域とチャンネル形成領域とドレイン領域とを含む半導体膜と、ゲート絶縁膜と、ゲート電極と、該ドレイン領域に接続されたドレイン電極と、該ソース領域に接続されたソース電極と、該ゲート電極と該ドレイン電極とを分離する第一層間絶縁膜と、該ドレイン電極と該ソース電極とを分離する第二層間絶縁膜とを備え、該キャパシタは互いに並列接続された第一キャパシタと第二キャパシタとを有し、該第一キャパシタは、第一電極層と第二電極層、並びに該第一電極層と該第二電極層とに挟まれた第一誘電体膜とを有し、該第二キャパシタは、第三電極層と第四電極層、並びに該第三電極層と該第四電極層とに挟まれた第二誘電体膜とを有し、該第二電極層と該第三電極層とが電気的に接続されており、該第四電極と該共通電極とが電気表示材料を誘電体として挟持するキャパシタを為していることを特徴とする。
また、該電気表示材料は電気泳動材料で有ることを特徴とする。
又本発明の電子装置や表示装置では、第一キャパシタを為す第一電極層は半導体装置のソース領域と同一材料で同一層上に形成されて居ても良い。通常、半導体装置のソース・ドレイン領域は縮退半導体にて形成されるので、その場合、第一キャパシタの第一電極層も縮退半導体となる。半導体装置がガラスやプラスティック等の第一基板に酸化硅素膜等の下地保護膜を介して形成されて居れば、第一電極層もガラスやプラスティック等の第一基板に酸化硅素膜等の下地保護膜を介して形成される。
又本発明の電子装置や表示装置は、第一誘電体膜が半導体装置のゲート絶縁膜と同一材料で同一層上に形成されて居る事をも特徴とする。即ち、ゲート絶縁膜が酸化硅素膜にて半導体膜上に形成されて居れば、第一誘電体膜も同じ酸化硅素膜にて第一電極層を成す半導体膜上に形成される事になる。
更に本発明の電子装置や表示装置は、第二電極層がゲート電極と同一材料で同一層上に形成されて居る事をも特徴とする。ゲート電極が金属材料でゲート酸化膜上に形成されて居れば、第一キャパシタの第二電極層もゲート絶縁膜と同一材料から成る第一誘電体膜上にゲート電極と同じ金属材料から形成される。
又本発明の電子装置や表示装置は第二キャパシタを為す第三電極層が半導体装置のドレイン電極と同一材料で同一層上に形成されて居る事をも特徴とする。本発明では第一層間絶縁膜がゲート電極とドレイン電極とを分離する。例えばゲート電極上に第一層間絶縁膜が形成され、その第一層間絶縁膜上にドレイン電極が配線され得る。此の場合、第三電極層も第一層間絶縁膜上に形成される。ドレイン電極が金属材料にて形成されれば、第三電極層も矢張りドレイン電極と同じ金属材料にて形成される事になる。本発明では、半導体装置のゲート電極とドレイン電極とが第一層間絶縁膜にて分離されるので、第一キャパシタの第二電極層と第二キャパシタの第三電極層も同じ第一層間絶縁膜にて分離される。更に本発明では第二電極層と第三電極層とが電気的に接続されるので、此等の電極は第一層間絶縁膜に開口されたコンタクトホールにて電気的な導通が取られる事に成る。
又本発明の電子装置や表示装置は、第二誘電体膜が第二層間絶縁膜と同一材料で同一層上に形成されて居る事をも特徴とする。即ち、第二層間絶縁膜がポリイミド樹脂やアクリル樹脂などのプラスティック樹脂にてドレイン電極上に形成されて居れば、第二誘電体膜も同じプラスティック樹脂にてドレイン電極と同一材料から成る第三電極層上に形成される。
更に本発明の電子装置や表示装置は、第四電極層がソース電極と同一材料で同一層上に形成されて居る事をも特徴とする。ソース電極が透明導電性物質等の導電材料で第二層間絶縁膜上に形成されて居れば、第二キャパシタの第四電極層も第二層間絶縁膜と同一材料から成る第二誘電体膜上にソース電極と同一の導電材料から形成される。半導体装置のソース電極と第二キャパシタの第四電極とを画素電極として兼用する事も可能である。
本発明の電子装置や表示装置では第一キャパシタと第二キャパシタとが互いに並列接続されて居るので、前述の如く第一キャパシタ第二電極と第二キャパシタ第三電極とが電気的に導通が取られ、更に第一キャパシタ第一電極と第二キャパシタ第四電極とが電気的に導通が取られる事に成る。
又本発明は、上述した電子装置や表示装置を備えた電子機器でもある。ここで「電子機器」は、上述した電子装置や表示装置を備えるあらゆる機器を含む物で、ディスプレイ装置やテレビジョン装置、或いは電子ペーパ、時計、電卓、携帯電話、携帯情報端末等を含む。又「機器」との一般概念からはずれる物、例えば可撓性のある紙状乃至はフィルム状の物体や、此等の物体が貼り付けられた壁面等の不動産に属する物質、或いは車両や飛行体、船舶等の移動体に属する物も含む。
本発明に依れば各画素に設けられたキャパシタを大容量とする事が可能となるので、例えば記憶装置や表示装置に適応した際に電荷の保持特性が良好となる。逆に所定のキャパシタ容量を得るのに、相対的に小型なキャパシタとする事が可能となり、記憶装置の集積度向上や表示装置の解像度向上が可能となる。表示装置の場合、解像度の向上は面積階調に好都合で、美しい表示が得られる事となる。
以下に図面を参照して本発明の好適な実施形態を説明するが、以下の実施形態はあくまでも例示に過ぎず、本発明は本発明の趣旨を逸脱せぬ範囲で種々に変更可能な物である。
尚、本明細書では半導体装置のソース領域とドレイン領域とを区別せず、便宜上一方の領域をソース領域と名付け、他方の領域をドレイン領域と名付ける。物理的に厳密を期すならば、トランジスタのソース領域とドレイン領域とは、N型トランジスタでは電位の低い方がソース領域と定義され、P型トランジスタでは電位の高い方がソース領域と定義される。しかしどちらの領域の電位が高くなるかは動作状態に応じて変化する。その為にソース領域とドレイン領域とは一つのトランジスタ内で常に入れ替わり得る。本明細書では説明を明瞭とする目的でこうした厳密性を排し、便宜上一方の領域をソース領域と呼び、他方の領域をドレイン領域と呼ぶことにする。又ソース電極とはソース領域に電気的に接続する電極を意味し、ドレイン電極とはドレイン領域に電気的に接続する電極を意味する。ソース領域やドレイン領域は半導体膜に作られるが、ソース電極やドレイン電極は金属等の導電性物質から成る。
図1に本発明の実施形態としての表示装置を示す。本実施形態は、第一基板11と第二基板12、及び此等第一基板11と第二基板12との間に挟持された電気表示材料13を含む表示装置10に主として関する。第一基板11には半導体装置14とキャパシタ15とを含む画素素子が複数個形成され、第二基板12には共通電極17が形成される。第一基板11の画素素子は通常、行列状に配置されており、此故に第一基板11はアクティブ・マトリックス基板とも呼ばれる電子装置20である。本発明は斯うした電子装置20にも関する。以下、明細書では表示装置10と表示装置10に用いられる電子装置(アクティブ・マトリックス基板)20を例として説明するが、これ以外にも電子装置20としてはキャパシタを利用する記憶装置などにも本発明は適応できる。表示装置10に用いられる電気表示材料としては第一基板11と第二基板12との間に発生する電場に応じて表示を変える物が本発明に適しており、取り分け電気表示材料13が電気泳動材料で有る場合に本発明の効果は大きくなる。従って、本発明は電気泳動材料が用いられる電気泳動表示装置に最も適している。電気泳動材料は流動性を有する分散媒中に帯電した微粒子(電気泳動粒子)を含有する。電気泳動表示装置は第一基板11と第二基板12との間に電気泳動材料が挟持され、第一基板11と第二基板12との間に発生する電場に応じて帯電微粒子の空間的分布状態を変える。この空間的分布状態の変化を利用して電気泳動表示装置は画像を表示ならしめる。図1では第一基板11に設けられた画素電極(第四電極層23)と第二基板12に設けられた共通電極17との間で縦方向に粒子の分布を変えて居るが、本発明は水平方向に粒子の分布を変える電気泳動表示装置にも有効である。微粒子が一種類で正又は負の一方に帯電している一粒子系も、或いは二種類の微粒子が異なった色を有し、それぞれが反対の極性に帯電する二粒子系も本発明では有効である。なお、電気表示材料13は、液晶で有っても良い。
第一基板11には複数の画素16が行列状に配置され、電子装置20を為して居る。図1では斯うした電子装置20を用いた表示装置10を示しており、電子装置20の一画素分が描かれて居る。電子装置20を為す各画素16は少なくとも薄膜半導体装置などの半導体装置14とキャパシタ15とを備えて居る。半導体装置14は、ソース領域とチャンネル形成領域とドレイン領域とを含む半導体膜26と、ゲート絶縁膜25と、ゲート電極Gとを有し、所謂電界効果型トランジスタを為す。トランジスタはそのドレイン領域に接続するドレイン電極Dと、ソース領域に接続するソース電極Sと、第一層間絶縁膜21と、第二層間絶縁膜24とを含む。第一層間絶縁膜21はゲート電極Gとドレイン電極Dとを分離し、第二層間絶縁膜24はドレイン電極Dとソース電極Sとを分離する。一方、各画素16を構成するキャパシタ15は、図示しない互いに並列接続した第一キャパシタと第二キャパシタとから成る。第一キャパシタは第一電極層18と第二電極層19、並びに第一電極層18と第二電極層19とに挟まれた第一誘電体膜とから成る。又、第二キャパシタは第三電極層22と第四電極層23、並びに第三電極層22と第四電極層23とに挟まれた第二誘電体膜とからなる。本発明では第一キャパシタと第二キャパシタとが並列接続しているので、第一キャパシタの第二電極層19と第二キャパシタの第三電極層22とが電気的に接続して居り、第一キャパシタの第一電極層18と第二キャパシタの第四電極層23とが電気的に接続している。斯うした電子装置20を利用して表示装置10を為す場合、第一基板11の各画素16に形成された第四電極層23と第二基板に形成された共通電極17とが電気表示材料13を誘電体として挟持する新たなキャパシタを為す。図1では電気表示材料13として電気泳動材料が例示されているが、液晶等の電界応答型の表示材料ならば本発明を適応し得る。又本発明の電子装置20を記憶装置として利用する場合、図1の電気泳動材料の代わりに強誘電体を用いて強誘電体記憶装置とする事も出来るし、本願発明の電子装置20を単独で用いてキャパシタに電荷を貯める記憶装置(例えば、Dynamic Random Access Memory: DRAM)とする事も出来る。なお、電子装置20を記憶装置として用いる場合、各画素16は各記憶素子と呼び変えられる。
図2に本発明を表示装置に用いた場合の一画素分の等価回路を示す。半導体装置としては薄膜トランジスタ(TFT)が使用され、電気表示材料として電気泳動材料42を使用して居る。画素は行列状に配置され、図2はi行j列に位置する画素30の回路図を示す。TFTのゲート電極Gはi行目の走査線に接続され、ドレイン電極Dはj列目の信号線に接続される。TFTのソース電極Sは画素電極を為し、第二基板の共通電極41とで電気泳動材料42を挟持して表示用のキャパシタ40をなす。共通電極41は全画素に共通な電位(共通電極電位)を取る。TFTのソース領域と容量基準線との間には情報保持用のキャパシタが形成されて居る。キャパシタは第一キャパシタ31と第二キャパシタ32とが並列接続されて、容量を大きくして居る。第一キャパシタ31は第一電極層33と第一誘電体膜34、及び第二電極層35から成り、第一電極層33がソース領域に接続し、第二電極層35が容量基準線39に接続する。同様に第二キャパシタ32は第四電極層36と第二誘電体膜37、及び第三電極層38から成り、第四電極層36がソース領域に接続し、第三電極層38が容量基準線39に接続する。容量基準線39には容量に対する基準電位(容量基準電位)が付与される。容量基準電位は共通電極電位と同じであっても構わないし、接地電位又は電源電位(Vdd)に固定されていても構わない。i行j列の画素に画像信号(所定の電位)を書き込む場合には、i行目の走査線を選択してTFTをオン状態とし、j列目の信号線より画像信号に対応する電位を表示用のキャパシタと情報保持用のキャパシタとに与える。本発明では情報保持用のキャパシタが第一キャパシタと第二キャパシタとの並列接続に成って居る為に容量が大きく、保持電荷の漏洩等に依る減少を抑制出来るとの効果が得られる。保持電荷減少を抑制出来るので(電荷保持特性が向上するので)、表示画像の明暗度は高く保たれ、画像消失の問題も発生しにくくなる。
次に図3を用いて本発明の実施形態としての電子装置20の構造並びに製造方法を説明する。第一基板11上に形成された第一キャパシタを為す第一電極層33は、半導体装置のソース領域と同一材料で同一層上に形成されて居ても良い(図3(a))。同一材料とは同じ材質を利用して居るとの意味で、材質間の量比は異なり得る。例えば、シリコンにドナーイオンを添加してソース領域や第一電極層33を作る場合、ソース領域と第一電極層33とでシリコン中のドナーイオン濃度が異なって居ても同一材料である。同様に、シリコンゲルマンを半導体として用いる場合にシリコンとゲルマンとの比がソース領域と第一電極層33とで異なって居ても同一材料である。通常、半導体装置のソース・ドレイン領域は、縮退半導体にて形成されるので、第一キャパシタの第一電極層33も縮退半導体とするのが好ましい。縮退半導体を第一電極層33に用いれば第一キャパシタの容量を大きく取られるとの効果がある。此に対して、第一電極層33は半導体装置のチャンネル形成領域と同一材料で有っても構わない。チャンネル形成領域と同じ半導体膜(非縮退半導体)を第一電極層33に用いれば、第二電極層35を形成した後にイオン注入法でソース・ドレイン領域をゲート電極に対して自己整合的に形成出来、製造工程が簡略になるとの効果が認められる。半導体装置がガラスやプラスティック等の第一基板11に酸化硅素膜等の下地保護膜を介して形成されて居れば、第一電極層33もガラスやプラスティック等の第一基板11に酸化硅素膜等の下地保護膜を介して形成される。第一誘電体膜は半導体装置のゲート絶縁膜47と同一材料で同一層上に形成される。例えば、ゲート絶縁膜47が酸化硅素膜にて半導体膜48上に形成されて居れば、第一誘電体膜も同じ酸化硅素膜にて第一電極層33を成す半導体膜48上に形成される。
更に、電子装置20や表示装置10は、第二電極層35がゲート電極Gと同一材料で同一層上に形成される。ゲート電極Gがアルミニウムやタンタル、銅と云った金属材料でゲート酸化膜上に形成されて居れば、第一キャパシタの第二電極層35もゲート絶縁膜47と同一材料から成る第一誘電体膜34上にゲート電極Gと同じ金属材料から形成される。斯うした構成を取る事で簡単工程にて大きな容量を有する第一キャパシタが形成される。ゲート電極Gと第二電極層35を形成後に第一層間絶縁膜45を成膜する(図3(a)に示す)。第一層間絶縁膜45は酸化珪素膜(SiOx、xは2以下の正数)等の比較的誘電率が小さい絶縁材料を用いて500nm以上に厚く堆積する。酸化珪素膜以外に第一層間絶縁膜45としてはフッ素添加酸化珪素膜(SiOF)や炭素添加酸化珪素膜(SiOC)等が用いられる。第一層間絶縁膜45はゲート電極Gとドレイン電極50(図3(c)に示す)を分離し、本願構成ではゲート電極Gと同一材料から成る走査線とドレイン電極50と同一材料から成る信号線を分離する。低誘電率の絶縁体を厚く堆積する事で信号線と走査線との間に生ずる寄生容量を最小と出来、電子装置20や表示装置10の高速動作並びに低消費電力動作に結びつく。
第一層間絶縁膜45形成後にトランジスタ部とキャパシタ部とにコンタクトホール51,52を開口する(図3(b))。トランジスタ部では第一層間絶縁膜45とゲート絶縁膜47とを貫通してソース領域とドレイン領域に達するコンタクトホール51を、キャパシタ部では第一層間絶縁膜45を貫通して第二電極層35に達するコンタクトホール52を開ける。次にドレイン電極50や信号線、第三電極層38(図3(c)に示す)となる導電性物質を成膜し、更にパターニングを施す事で此等の電極や配線を作成する。要するに第二キャパシタを為す第三電極層38は半導体装置のドレイン電極50や信号線と同一材料で同一層上に形成される。此処の例では第一層間絶縁膜45がゲート電極Gとドレイン電極50とを分離して居る。実際、ゲート電極G上に第一層間絶縁膜45が形成され、その第一層間絶縁膜45上にドレイン電極50が配線されて居る。此の場合、第三電極層38も第一層間絶縁膜45上に形成される。ドレイン電極50がアルミニウムや銅と云った金属材料にて形成されれば、第三電極層38も矢張りドレイン電極50と同じ金属材料にて形成される事になる。本例では、半導体装置のゲート電極Gとドレイン電極50とが第一層間絶縁膜45にて分離されるので、第一キャパシタの第二電極層35と第二キャパシタの第三電極層38も同じ第一層間絶縁膜45にて分離される。更に本例では、第二電極層35と第三電極層38とが電気的に接続されるので、此等の電極は第一層間絶縁膜45に開口されたコンタクトホール51,52にて電気的な導通が取られる事に成る。
その後、第二層間絶縁膜49を堆積する(図3(c))。本例の電子装置20や表示装置10では、第二誘電体膜(図示せず)が第二層間絶縁膜49と同一材料で同一層上に形成される。即ち、第二層間絶縁膜49がポリイミド樹脂やアクリル樹脂などのプラスティック樹脂にてドレイン電極50上に形成されて居れば、第二誘電体膜も同じプラスティック樹脂にてドレイン電極50と同一材料から成る第三電極層38上に形成される。第二層間絶縁膜49としてはあらゆる絶縁膜が使用可能だが、誘電率が第一層間絶縁膜45よりも大きい材料がより好ましく、可能な範囲で薄い方が好ましい。第二層間絶縁膜49は第一層間絶縁膜45よりも薄いのが好ましい。此は第二層間絶縁膜49が第二キャパシタの第二誘電体膜としても機能する為、此の条件により第二キャパシタの容量を大きく出来るからである。第二層間絶縁膜49となる高誘電率絶縁膜としては、窒化シリコン膜や、ポリマー樹脂に高誘電率フィラーを含有した複合材料などが使用できる。複合材料に使用されるポリマー樹脂としてはエポキシ樹脂やイミド樹脂、アクリル樹脂、ビニル樹脂、ウレタン樹脂等が、高誘電率フィラーとしてはチタン酸バリウム(BaTiO3)のナノ粒子(粒径が20nmから100nm)等が用いられる。
第二層間絶縁膜49堆積後に所定の位置にコンタクトホール53を開口する。本例では少なくともソース領域に電気的に接続可能なコンタクトホール53を第二層間絶縁膜49に開ける。その後第四電極層36を導電材料の堆積とパターニングにより形成する(図3(d))。第四電極層36はソース電極(図示せず)と同一材料で同一層上に形成されて居る。即ち、ソース電極が透明導電性物質等の導電材料で第二層間絶縁膜49上に形成されて居れば、第二キャパシタの第四電極層36も第二層間絶縁膜49と同一材料から成る第二誘電体膜上にソース電極と同一の導電材料から形成される。半導体装置のソース電極と第二キャパシタの第四電極層36とは表示装置10の画素電極として兼用される事も可能である。本例の電子装置20や表示装置10では第一キャパシタと第二キャパシタとが互いに並列接続されて居るので、前述の如く第一キャパシタの第二電極層35と第二キャパシタの第三電極層38とが電気的に導通が取られ、更に第一キャパシタの第一電極層33と第二キャパシタの第四電極層36とが電気的に導通が取られる事に成る。この後必要に応じて保護膜を第四電極層36上に形成し、電子装置20は完成する。
上述の如く本例で説明した電子装置20では画素乃至は記憶素子に使用されるキャパシタの容量を大きくでき、表示装置では明暗度の向上や画像の保持特性を向上させ、記憶装置では集積化や情報の誤認率低下につながる。
(実施例1)
図1に示す断面構造を有する対角2.1インチの電気泳動表示装置を作成した。第一基板11には240行320列の行列状に画素が配置されている。一つの画素は132μmの正方形を為す。薄膜半導体装置は低温工程(工程最高温度が450℃程度)で作成された多結晶シリコンTFTである。TFTは、lightly-doped drain (LDD)構造を取り、低濃度ソース・ドレイン領域には5×1018cm-3の濃度で燐がドープされており、高濃度ソース・ドレイン領域には1×1020cm-3の濃度で燐がドープされて居る。キャパシタの第一電極層は高濃度ソース・ドレイン領域と同じ燐がドープされた多結晶シリコン膜から成る。ゲート絶縁膜と第一誘電体膜は酸化珪素膜から成り、厚みt1は75nm(=7.5×10-8m)である。酸化珪素膜の比誘電率ε1は3.9である。ゲート電極と第二電極層とは共に500nm厚のアルミニウムである。第一キャパシタは第二電極層と第一電極層との重なり部に形成され、その面積A1は凡そ104μm2(=10-82)で有る。従って、第一キャパシタの容量C1は、ε0を真空の誘電率として(ε0=8.85×10-12 Fm-1)、
1=ε0・ε1・A1/t1
=(8.85×10-12Fm-1)×3.9×(10-82)/(7.5×10-8m)
=4.6×10-12F=4.6pF
となる。
ゲート電極と第二電極層とを形成した後に炭素添加酸化珪素膜にて第一層間絶縁膜を800nmの厚みに堆積した。炭素添加酸化珪素膜はテトラエトキシシラン(TEOS)と酸素(O2)を原材料とし、PECVD法にて堆積した。テトラエトキシシランを完全に酸化するにはテトラエトキシシラン1molに対して酸素分子12molが必要になるが、PECVDに依る堆積時に酸素分子を必要量よりも減らす事で(テトラエトキシシラン1molに対して酸素分子12mol未満とする事で)、炭素添加酸化珪素膜が形成される。本実施例ではテトラエトキシシラン1molに対して酸素分子を10molとして(本例ではTEOS=300sccm、O2=3000sccm)第一層間絶縁膜を堆積した。この膜の比誘電率は凡そ3.5である。
第一層間絶縁膜にコンタクトホールを開口した後に500nm厚のアルミニウムでドレイン電極と信号線、並びに第三電極層を作成した。次にトランジスタの第二層間絶縁膜と第二キャパシタ第二誘電体膜と成る絶縁膜を形成した。この絶縁膜はアクリル樹脂にチタン酸バリウムのナノ粒子を10%分散させた物で、比誘電率ε2は凡そ10である。絶縁膜の厚みt2は500nm(=5×10-7m)である。第二キャパシタは第三電極層と第四電極層との重なり部に形成され、その面積A2は凡そ104μm2(=10-82)で有る。従って、第二キャパシタの容量C2は、ε0を真空の誘電率として(ε0=8.85×10-12 Fm-1)、
2=ε0・ε2・A2/t2
=(8.85×10-12Fm-1)×10×(10-82)/(5×10-7m)
=1.8×10-12F=1.8pF
となる。第一キャパシタと第二キャパシタとは並列接続接続されて居るので総容量C=(C1+C2)は6.4pFと大きくなる。従来技術での容量はC1だけだったので、本発明により容量は約40%増大した事になる。
本発明の表示装置を説明する断面図。 本発明の表示装置を説明する回路図。 本発明の電子装置とその製造方法を説明する図。
符号の説明
10…表示装置、11…第一基板、12…第二基板、13…電気表示材料、14…半導体装置、15…キャパシタ、16…画素、17…共通電極、18…第一電極層、19…第二電極層、20…電子装置、21…第一層間絶縁層、22…第三電極層、23…第四電極層、24…第二層間絶縁層、25…ゲート絶縁膜、26…半導体膜、G…ゲート電極、D…ドレイン電極、S…ソース電極。

Claims (3)

  1. 半導体装置とキャパシタとを備える電子装置であって、
    該半導体装置はソース領域とチャンネル形成領域とドレイン領域とを含む半導体膜と、ゲート絶縁膜と、ゲート電極と、該ドレイン領域に接続されたドレイン電極と、該ソース領域に接続されたソース電極と、該ゲート電極と該ドレイン電極とを分離する第一層間絶縁膜と、該ドレイン電極と該ソース電極とを分離する第二層間絶縁膜とを備え、
    該キャパシタは、互いに並列接続された第一キャパシタと第二キャパシタとを有し、
    該第一キャパシタは、第一電極層と第二電極層、並びに該第一電極層と該第二電極層とに挟まれた第一誘電体膜とを有し、
    該第二キャパシタは、第三電極層と第四電極層、並びに該第三電極層と該第四電極層とに挟まれた第二誘電体膜とを有し、
    該第二電極層と該第三電極層とが電気的に接続されていることを特徴とする電子装置。
  2. 第一基板と第二基板、及び該第一基板と該第二基板との間に挟持された電気表示材料とを含む表示装置であって、
    該第一基板には、半導体装置とキャパシタとが形成され、
    該第二基板には、共通電極が形成され、
    該半導体装置は、ソース領域とチャンネル形成領域とドレイン領域とを含む半導体膜と、ゲート絶縁膜と、ゲート電極と、該ドレイン領域に接続されたドレイン電極と、該ソース領域に接続されたソース電極と、該ゲート電極と該ドレイン電極とを分離する第一層間絶縁膜と、該ドレイン電極と該ソース電極とを分離する第二層間絶縁膜とを備え、
    該キャパシタは、互いに並列接続された第一キャパシタと第二キャパシタとを有し、
    該第一キャパシタは、第一電極層と第二電極層、並びに該第一電極層と該第二電極層とに挟まれた第一誘電体膜とを有し、
    該第二キャパシタは、第三電極層と第四電極層、並びに該第三電極層と該第四電極層とに挟まれた第二誘電体膜とを有し、
    該第二電極層と該第三電極層とが電気的に接続されており、
    該第四電極と該共通電極とが、該電気表示材料を誘電体として挟持するキャパシタを為していることを特徴とする表示装置。
  3. 前記電気表示材料が、電気泳動材料で有ることを特徴とする請求項2記載の表示装置。
JP2006193812A 2006-07-14 2006-07-14 電子装置及び表示装置 Withdrawn JP2008020774A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006193812A JP2008020774A (ja) 2006-07-14 2006-07-14 電子装置及び表示装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006193812A JP2008020774A (ja) 2006-07-14 2006-07-14 電子装置及び表示装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008020774A true JP2008020774A (ja) 2008-01-31

Family

ID=39076724

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006193812A Withdrawn JP2008020774A (ja) 2006-07-14 2006-07-14 電子装置及び表示装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008020774A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012093793A2 (en) * 2011-01-07 2012-07-12 Korea University Research And Business Foundation Method and apparatus for driving cell array driven by electric field
US8593438B2 (en) 2010-02-19 2013-11-26 Seiko Epson Corporation Electrophoretic display and electronic device
JP2018040888A (ja) * 2016-09-06 2018-03-15 デクセリアルズ株式会社 無機偏光板及びその製造方法
JP2019203957A (ja) * 2018-05-22 2019-11-28 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置及びアレイ基板

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06265939A (ja) * 1993-01-14 1994-09-22 Fujitsu Ltd 液晶表示装置
JPH0926603A (ja) * 1995-05-08 1997-01-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置
JP2001166331A (ja) * 1999-12-03 2001-06-22 Fujitsu Ltd 液晶表示装置
JP2001281684A (ja) * 2000-01-24 2001-10-10 Nec Corp 液晶表示装置及び液晶プロジェクタ装置
JP2002162651A (ja) * 2000-11-24 2002-06-07 Seiko Epson Corp 電気泳動装置及びその製造方法
JP2002169190A (ja) * 2000-12-01 2002-06-14 Seiko Epson Corp 電気泳動装置、これを用いた電子ペーパ、電子ペーパを用いた電子ブック、及び、その製造方法
JP2003091017A (ja) * 2001-09-19 2003-03-28 Casio Comput Co Ltd カラー液晶表示装置
JP2005201961A (ja) * 2004-01-13 2005-07-28 Seiko Epson Corp 液晶装置および投射型表示装置
JP2005308823A (ja) * 2004-04-16 2005-11-04 Seiko Epson Corp 電荷除去回路、電気光学装置および電子機器
JP2006133577A (ja) * 2004-11-08 2006-05-25 Sharp Corp 液晶表示装置用基板及びそれを備えた液晶表示装置及びその駆動方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06265939A (ja) * 1993-01-14 1994-09-22 Fujitsu Ltd 液晶表示装置
JPH0926603A (ja) * 1995-05-08 1997-01-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置
JP2001166331A (ja) * 1999-12-03 2001-06-22 Fujitsu Ltd 液晶表示装置
JP2001281684A (ja) * 2000-01-24 2001-10-10 Nec Corp 液晶表示装置及び液晶プロジェクタ装置
JP2002162651A (ja) * 2000-11-24 2002-06-07 Seiko Epson Corp 電気泳動装置及びその製造方法
JP2002169190A (ja) * 2000-12-01 2002-06-14 Seiko Epson Corp 電気泳動装置、これを用いた電子ペーパ、電子ペーパを用いた電子ブック、及び、その製造方法
JP2003091017A (ja) * 2001-09-19 2003-03-28 Casio Comput Co Ltd カラー液晶表示装置
JP2005201961A (ja) * 2004-01-13 2005-07-28 Seiko Epson Corp 液晶装置および投射型表示装置
JP2005308823A (ja) * 2004-04-16 2005-11-04 Seiko Epson Corp 電荷除去回路、電気光学装置および電子機器
JP2006133577A (ja) * 2004-11-08 2006-05-25 Sharp Corp 液晶表示装置用基板及びそれを備えた液晶表示装置及びその駆動方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8593438B2 (en) 2010-02-19 2013-11-26 Seiko Epson Corporation Electrophoretic display and electronic device
WO2012093793A2 (en) * 2011-01-07 2012-07-12 Korea University Research And Business Foundation Method and apparatus for driving cell array driven by electric field
WO2012093793A3 (en) * 2011-01-07 2012-09-07 Korea University Research And Business Foundation Method and apparatus for driving cell array driven by electric field
US9070327B2 (en) 2011-01-07 2015-06-30 Korea University Research And Business Foundation Method and apparatus for driving cell array driven by electric field
JP2018040888A (ja) * 2016-09-06 2018-03-15 デクセリアルズ株式会社 無機偏光板及びその製造方法
JP2019203957A (ja) * 2018-05-22 2019-11-28 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置及びアレイ基板

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9632389B2 (en) Backplane for electro-optic display
KR101657957B1 (ko) 표시 장치
CN101728383B (zh) 逻辑电路
TWI476905B (zh) 顯示裝置
KR101541474B1 (ko) 액정 표시 장치의 구동 방법
US20140054592A1 (en) Tft-lcd array substrate
CN112103298A (zh) 背板衬底以及使用其的有机发光显示装置
JP6059175B2 (ja) 電気光学ディスプレイ
CN105116642A (zh) 阵列基板及其制作方法、显示装置
TW201205178A (en) Electrophoretic display device and method for manufacturing the same
JP2008020774A (ja) 電子装置及び表示装置
WO2019171198A1 (ja) 半導体装置
JP2009003187A (ja) 液晶表示装置
CN204905257U (zh) 阵列基板、显示装置
CN104733478A (zh) 一种阵列基板及其制作方法、显示装置
JP4748441B2 (ja) 電気泳動表示装置、その製造方法及び電子機器
CN105572981A (zh) 阵列基板、显示面板以及液晶显示装置
CN100593751C (zh) Lcos芯片像素器件结构及其制备方法
US8218097B2 (en) Liquid crystal display
US20090207329A1 (en) Liquid crystal display
CN1560687B (zh) 画素结构及其制造方法
TWI220796B (en) Thin film transistor array panel and method for making the same
KR20200111187A (ko) 반도체 재료 및 반도체 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110927

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111125

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120515

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20120713