JP2007534151A - 集積した半導体素子を有する太陽電池の直列接続部、その作成方法、及び、直列接続部を有するモジュール - Google Patents
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Abstract
Description
また、本発明は集積した半導体素子を有する太陽電池の直列接続物の作成方法に関する。
また、本発明は直列接続される太陽電池を有する光電池モジュールに関する。
特に、pn接合を形成するために半導体粒子が層構造に組み入れられる光発電の特別な分野では、セルまたはアレイを形成して、より高い電圧を引き出せるように、直列でこれらのセルを接続することとしており、このためには、薄層と半導体粒子の領域を結合するのが実用的とされている。
しかしながら、半導体粒子を取り入れた太陽電池の直列接続の方法に関連する問題については、いまだ満足に解決されていない。
絶縁導体ピンは数100μmのサイズを有する穴に挿入され、これらのピンはフロントでしっかり導電層に接続される(例えば、特許文献1参照。)。
また、アレイの直列接続部は、導体ブリッジをインストールすることによって完成され、その後、手順の最後において各アレイは互いに電気的に分離される。
切断ポイントは、絶縁性があり同時に粘着性のある素材によって閉じ込められている。
したがって、正又は負の電極を有するエリアがシステムの片側に交互に形成され、そして、これらの電極が統合的なコネクションによって接続されることができるようになっている。
このために、電極層は、その表面と、裏面において、交互に断絶されるようになっている。
しかしながら、異なる電極で表面を作成するために異なるタイプの半導体を配置する方法は高価なものとなる。
また、下位のクレームによれば、本発明の好都合な詳細化を得ることができる。
前記分離線の隣、又は、複数の分離線の間のエリアには、半導体素子が組み入れられる。
また、このほか、結果として、導電性素子の一部、及び/又は、半導体素子の一部がカットされるような方法により分離切断部を形成する場合には、前記間隔を設けないことも可能である。
前記導電性素子の例としては、例えば導電性材料で作られた粒子や、導電性材料でコーティングされた粒子である。
本発明の好適な実施例では、前記導電性材料の材料は銅とされる。
また、本発明の特に好適な他の実施例では、I−III−VI族化合物半導体から作られる粒子、又は、I−III−VI族化合物半導体でコーティングされる基層が、半導体素子として利用されるので、半導体素子という表記は、成分を半導体物質とするいかなる素子についても言及することができる。
このことは、連続する分離線が形成されるという利点を有する。
さらに、前記絶縁性支持層に前記導電性素子をペーストのフォームで組み入れることも有効であることが判明している。
また、このことは、前記絶縁性支持層が、素子が組み入れられることになる溝を有するマトリクスである場合には、特に有効である。
この場合、導電性のペーストをマトリクスの片側面につけ、マトリクスの反対側に向かうように前記溝に対して押し付けることで、前記絶縁性支持層の全体を通して導通する導電性の分離線を、マトリクスの両側面に形成することができる。
この半導体素子の一部の除去は、太陽電池のバックコンタクト層に対して接続される半導体素子の表面を露出するために行われる。
この露出する表面についは、好ましくは、半導体素子において、半導体層の下に蒸着されたバックコンタクト層であるため、この場合、前記半導体層の除去が必要となる。
さらに、バックコンタクト層は、前記絶縁性支持層において、前記半導体素子の一部の除去が行われた側に形成され、また、前記絶縁性支持層における前記バックコンタクト層と反対の側には、フロントコンタクト層が形成される。
前記フロントコンタクト層、及び、前記バックコンタクト層は導電体から成る。
また、本発明の特に好適な他の実施例では、前記半導体素子について、バックコンタクト層と半導体層に加え、他の機能層を形成してもよく、この機能層は、前記と同様に、例えば、CdS、真性の酸化亜鉛、及び/又は、透明導電性酸化物(TCO)の層で作ることができる。
ここで、両分離切断部は、前記導電性素子から成る関連する分離線に対し、相反する位置に配置され、また、両分離切断部は、絶縁性支持層に至るまで貫通する。
しかしながら、太陽電池の形態における、導電性素子から成る分離線のパターンや、それらの間のエリアは、自由に選択されることができるので、例えば、曲がった分離線も可能である。
本発明の特に好適な実施例では、球状、又は、粒状の半導体素子は、この素子のために準備された溝を有する絶縁性支持層のマトリクスに組み入れられることとする。
前記半導体素子は、例えば、加熱、及び/又は、プレスの手段によって、前記絶縁性支持層に組み入れることができる。
フロントコンタクト層、及び、バックコンタクト層を形成するためは、問題となる層のタイプに応じて適用され得る、様々な物理蒸着(PVD)、及び/又は、化学気相蒸着法(CVD)や、他の手法を使用することができる。
例えば、導電性の接着剤が使用される場合、接着剤の上でブラッシング、又は、スプレッディングすることが有効であることが判明している。
しかしながら、前記導電性素子から次の領域にあるフロントコンタクト層の半導体素子への電流の更なる流れは、第一の分離切断部によって遮られるため、前記電流は前記導電性素子を介してバックコンタクト層へ流される。
ここで、バックコンタクト層を通過する電流の流れは、バックコンタクト層にある第二の分離切断部によって遮られる。
したがって、導電性素子から成る分離線の間では、太陽電池として機能するとともに、互いに直列に接続されるエリアが形成される。
また、前記パターンには、前記導電性素子から成り、幅Bを有する連続した分離線が少なくとも一つ要求され、その列の隣、あるいは、複数の列の間のエリアには、前記半導体素子が組み入れられている。
また、2つの分離切断部は、導電性素子から成る分離線に沿ってそれぞれ作られ、第一の分離切断部はフロントコンタクト層に形成され、第二の分離切断部はバックコンタクト層に形成される。
また、両分離切断部は、導電性素子のそれぞれの列に対し相反する位置に配置され、また、両分離切断部は、絶縁性支持層に至るまで貫通する。
前記半導体素子が、例えば、バックコンタクト層と半導体層でコーティングされた基層である場合、前記コーティングは、前記半導体素子から、太陽電池のバックコンタクト層と接続できるバックコンタクトを構成する表面を形成するまで、除去される。
バックコンタクト層と半導体層に加え、半導体素子に他の機能層がある場合では、これらは同様に、前記バックコンタクトを構成する表面を露出させるまで除去される。
また、必要となる導電素子は、様々なフォーム、異なった方法で組み入れることができ、また、分離切断部の形成も、同様に、簡単なプロセスステップで行える。
例えば、溝を形成した絶縁性支持層のマトリクスに適用されるペーストが、導電素子として使用される場合では、絶縁性支持層を介して接合される二つの分離線を簡単な方法で作成することができる。
また、導電性素子だけが組み入れられるので、追加的な素材の要求も少ない。
また、全体的な構造の弱化が非常にわずかであるため、形成される分離切断部は、総合的なアレンジメントに影響しない。
図1の(a)から(c)は、球状の半導体、及び、導電性の粒子(導電性素子)の絶縁性支持層への組み込みについての実施例を示す。
ここで、前記絶縁性支持層としては、フレキシブルなフィルムが有効であることが判明している。
また、前記絶縁性支持層は、前記導電性素子を押し付けることができるように、熱可塑性の材料から成ることが望ましい。
ここで、ポリマーは特に実用的であると判明しており、例えば、エポキシ、ポリカーボネート、ポリエステル、ポリウレタン、ポリアクリル酸、及び/又は、ポリイミド類を含むグループのポリマーなどである。
また、純粋な球状に加えて、起伏のある粒状のような不規則形状を持つものであってもよい。
また、これらには、例えば、立方体、平行六面体、ピラミッドも含まれる。
したがって、銅などの導電体で作られる球体や粒子は、導電性素子20として使用できる。
また、本発明の別の特に好適な実施例では、前記導電性素子は、分離線21の形の帯体、又は、ペーストのフォームで組み入れられる。
本発明の特に好適な実施例では、前記半導体物質は、例えば、銅・インジウム・ジセレニド、銅・インジウム・二硫化物、銅・インジウム・ガリウム・ジセレニド、又は、銅・インジウム・ガリウム・ジセレニド・二硫化物、などのI−III−VI族化合物半導体のクラスから成るものである。
本発明の別の実施例では、前記半導体素子はシリコン半導体から成る。
これらは、固形材料で作られた半導体、又は、半導体物質によってコーティングされた基層コアとすることができる。
このために、例えば、スキャタリング、散布、及び/又は、プリントといった手法により、前記素子を絶縁性支持層に押し入れることができる。
また、前記絶縁性支持層に素子を押し込むために、前記絶縁性支持層を加熱することができる。
前記素子は、例えば補助手段を利用して、希望のパターンに配置することができ、これにより、これら素子を、絶縁性支持層の表面上、又は、絶縁性支持層の中に位置させることができる。
また、前記素子を絶縁性支持層に組み入れるために、加熱、及び/又は、プレスの処理を行うことができる。
また、例えば、導電性素子としてペーストが使用される場合では、そのペーストをマトリクスの特定の領域に付け、その後、そこにある溝に押し込むといったことができる。
また、前記絶縁性支持層の両側面に、前記溝を介して互いに接続されている分離線21を形成するために、前記ペーストを前記絶縁性支持層の裏側に付することもできる。
ここで、前記分離線が本質的に直線であるということは、直線から僅かに外れたものをも含む。
また、ある場合において、各太陽電池の間において幾何学上、異なった輪郭が形成される場合では、例えば、曲がった分離線などのように、導電性素子の列について、異なるコースを選択することもできる。
また、前記導電性素子の列の幅Bは、望ましくは、10μmから3mmの大きさにあることとし、使用される導電性素子の寸法に応じ、一つ、又は、それ以上の導電性素子によって定義される。
本発明の特に好適な実施例では、前記分離線の幅は、10μmと30μmの間とされる。
また、球状、又は、粒状の粒子が導電性素子として使用される場合では、分離線の幅は使用される粒子の直径の関数となる。
また、その結果、分離線の幅は、特に10μmと500μmの間であって、導電性の球体の一つ以上の直径の大きさとなることもできる。
分離線の隣のエリア、又は、いくつかの分離線の間のエリアには、半導体素子が組み入れられている。
一つの太陽電池の幅は、1mmから3cmの大きさに制限されることが望ましい。
本発明の特に好適な実施例では、一つの太陽電池の幅は3mmと5mmの間とする。
このようにして直列接続が形成されている絶縁性支持層の幅は、望ましくは、5cmから30cmの大きさにあり、好ましくは約10cmの幅の複数の太陽電池を直列接続した帯状のモジュールを有することが、特に有効であることが判明している。
本発明の特に好適な実施例では、まず、絶縁性支持層10の片側面から材料が除去される。
この側の面では、組み入れられた素子の一部が同様に除去されるような層の厚さになるまで、除去される。
同様に除去される素子の部位は、イラスト(a)において、導電性素子と半導体素子の2個の素子について破線で残された輪郭にて示している。
しかしながら、この絶縁性支持層の片側面の除去の工程は、この片側面にバックコンタクト層50が形成される前の段階における他のタイミングで実施することもできる。
また、前記導電性素子、半導体素子、及び/又は、絶縁性支持層は、例えば、研磨、ポリッシュ加工のような機械的な方法、エッチングのような化学的、又は、湿式化学手段(工程)による方法、例えば、適当な波長又は波長範囲を有するレーザ又は放射の手段によるフォトリソグラフィ又は熱エネルギー入力による方法、又は、他の熱的な方法によって、除去できる。
例えば、球状、又は、粒状の基層コアが使用され、それが少なくとも一つのバックコンタクト層、及び、少なくとも一つの半導体層でコーティングされる場合には、前記基層コアのバックコンタクト層と太陽電池のバックコンタクト層の間の接合を成立させるため、前記基層コア側のバックコンタクト層が露出するように、除去が行われる。
また、本発明の特に好適な実施例では、前記半導体素子は、モリブデンから成るバックコンタクト層と、半導体でコーティングされるガラス製の基層コアから成る。
この場合、絶縁性支持層の除去は、素子のモリブデン層が露出されることになる層厚まで行われる。
各半導体素子の埋め込まれた深さが異なる場合、又は、素子のサイズが異なる場合では、全ての半導体素子のコーティングが、そのバックコンタクト層に至る所まで除去されていない、といった可能性が存在することになる。
金属などの伝導性の物質は、このバックコンタクト層の材料として使用することができる。
また、透明導電性酸化物(TCO)、又は、様々なポリマーのクラスからの物質を使用することも可能である。
特に適当な材料として、例えば、炭素、インジウム、ニッケル、モリブデン、鉄、ニッケルクロム、銀、アルミニウム、及び/又は、対応する合金、又は、酸化物などの導電性の粒子が提供された、エポキシ樹脂、ポリウレタン、及び/又は、ポリイミド類がある。
別の可能性として、真性の導電性のポリマーが含まれる。
これには、例えば、PANisのグループのポリマーが含まれる。
スパッタリングや蒸発コーティングなどのPVD法、又は、PE−CVD等のCVD法や、MO−PVD法、さらには、バックコンタクト層の材料に適合させられる別の技術により、バックコンタクト層を形成することができる。
これは、フロントコンタクト層の材料に適合させられる他の方法と同様に、PVD法、又は、CVD法によって行うことができる。
また、フロントコンタクト層の材料には、例えば、アルミニウムを混合した酸化亜鉛(ZnO:Al)(AZOと呼ばれる)、インジウムすず酸化物(ITO)、又は、フッ素を混合した酸化スズ(SnO2:F)などの、様々な透明導電性酸化物(TCO)を使用できる。
それは、望ましくは、その導電性が問題となる半導体に好ましく適合する透明なフロントコンタクト層を利用することが好適であることが判明している。
これには、例えば、CdSから成るバッファ層、真性の酸化亜鉛を有するものから成るもの、及び/又は、他のTCO層が含まれる。
また、本発明の特に好適な実施例では、これらの機能層は、太陽電池を作り出すための他の蒸着の必要性をなくすため、使用される半導体素子の上に予め蒸着される。
ここで、分離切断部60はフロントコンタクト層40に形成され、分離切断部61は、バックコンタクト層50に形成され、前記漁分離切断部60・61は、前記導電性素子20の列の異なる側に配置される。
また、前記分離切断部は、例えば、カッティングやスコーリングによる手法、また、例えば、レーザカッティング等の熱エネルギー入力によるもの、また、フォトリソグラフィックのプロセスによる他の手段によるもの、によって形成することができる。
しかしながら、フロントコンタクト層やμmのレンジであり、前記分離切断部60・61の必要な深さは非常に小さいものであることから、この工程は任意なものとなる。
また、光電池モジュールの実施例によって、それは一つ以上の直列接続を含むことができる。
電流の流れのコースは、結果として、図3(b)の複数の矢印で示されるごとくとなる。
この実施例で示される構成では、負のフロントコンタクト層が上側にあり、正のバックコンタクト層が下側にある。
前記第一の分離切断部60によってこれを越える電流の流れが遮られるので、電流は、フロントコンタクト層の半導体素子30、導電性素子20を介し、バックコンタクト層50へと流される。
バックコンタクト層50を通る電流の流れは、第二の分離切断部61によって遮られる。
これは、例えば、個々の直列接続が幅5cmから30cmの大きさの間で帯状を構成するように、また、サブモジュールが屋根板構造の端を形成するように互いに重なり合わさるようにして、形成することができる。
このことは、図4に示されている。
したがって、バックコンタクト層は、フロントコンタクト層の上に横たわり、個々のモジュールは、順番に、直列で接続される。
前記フロントコンタクト層と前記バックコンタクト層の連絡は、銀のエポキシドなどの導電性の接着剤の手段によって行うことができる。
20 導電性素子、導体要素
21 分離線
30 球状、又は粒状の半導体素子
40 フロントコンタクト層
50 バックコンタクト層
60・61 分離切断部
Claims (66)
- 集積した半導体素子を有する太陽電池の直列接続物の作成方法において、
一つ以上の導電性素子(20)の絶縁性支持層(10)に対する、パターンに従った組み入れであって、前記導電性素子(20)は、少なくとも前記絶縁性支持層(10)の片側面からはみ出し、前記パターンは、一つ以上の導電性素子(20)から成る、特定の幅を有する分離線(21)を少なくとも一つ有するものと、
複数の球状、又は、粒状の半導体素子(30)の絶縁性支持層(10)に対する、パターンに従った組み入れであって、前記半導体素子(30)は、少なくとも前記絶縁性支持層(10)の片側面からはみ出し、前記パターンには、導電性素子(20)から成る分離線(21)の隣、又は、複数の分離線(21)の間に、前記半導体素子(30)が組み入れられるエリアが構成されるものと、
前記絶縁性支持層(10)の片側における半導体素子(30)の一部の除去と、
前記半導体素子(30)の一部が除去される側における前記絶縁性支持層(10)の表面に対するバックコンタクト層(50)の形成と、
前記半導体素子(30)の除去が全くされていない側における前記絶縁性支持層(10)の表面に対する導電性のフロントコンタクト層(40)の形成と、
導電性素子(20)から成る分離線(21)に沿った2つの分離切断部(60・61)の形成であって、第一の分離切断部(60)はフロントコンタクト層(40)に形成され、第二の分離切断部(61)はバックコンタクト層(50)に形成され、前記両分離切断部(60・61)は、関連する前記分離線(21)の相反する位置に配置され、前記両分離切断部(60・61)は、絶縁性支持層(10)に至るまで貫通するものと、
を有することを特徴とする太陽電池の直列接続物の作成方法。 - 前記パターンにおいて、導電性素子(20)から成る分離線(21)と、前記分離線(21)の隣であって、半導体素子(30)が組み入れられるエリアの間に、間隔が形成される、
ことを特徴とする、請求項1に記載の方法。 - 球状、又は、粒状の半導体素子(30)は、少なくとも一つのバックコンタクト層と、少なくとも一つの半導体層が、その上にコーティングされる基層コアから成る、ことを特徴とする、請求項1又は請求項2に記載の方法。
- 前記球状、又は、粒状の半導体素子(30)は、他の機能層を有する、ことを特徴とする、請求項3に記載の方法。
- 前記球状、又は、粒状の半導体素子(30)は、CdSから成るバッファ層を有する、ことを特徴とする、請求項4に記載の方法。
- 前記球状、又は、粒状の半導体素子(30)は、真性の酸化亜鉛を有するものから成る層を有する、ことを特徴とする、請求項4又は請求項5に記載の方法。
- 前記球状、又は、粒状の半導体素子(30)は、透明導電性酸化物(TCO)から成る層を有する、ことを特徴とする、請求項4乃至請求項6に記載の方法。
- 前記半導体素子(30)の一部が、当該半導体素子(30)の前記バックコンタクト層が露出するまで除去される、ことを特徴とする、請求項3乃至請求項7のいずれか一項に記載の方法。
- 前記半導体素子(30)の一部の除去に加え、前記導電性素子(20)の一部も除去される、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項8のいずれか一項に記載の方法。
- 前記半導体素子(30)の一部の除去に加え、前記絶縁性支持層(10)の一部が除去される、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項9のいずれか一項に記載の方法。
- 前記フロントコンタクト層(40)、前記バックコンタクト層(50)に加え、他の機能層も蒸着される、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項10のいずれか一項に記載の方法。
- 前記導電性素子(20)、及び/又は、前記半導体素子(30)は、その後にそれらが前記絶縁性支持層(10)に対して組み入れられる、スキャタリング、散布、及び/又は、プリントの手法によって、前記絶縁性支持層(10)に対し組み入れられる、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項11のいずれか一項に記載の方法。
- 球状、又は、粒状の導電性素子(20)が、粒子のフォームで、前記絶縁性支持層(10)に組み入れられる、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項12のいずれか一項に記載の方法。
- 一つ以上の帯体のフォームの導電性素子(20)が、前記絶縁性支持層(10)に組み入れられる、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項13のいずれか一項に記載の方法。
- 一つ以上の導電性素子(20)が、ペーストのフォームで、前記絶縁性支持層(10)に組み入れられる、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項14のいずれか一項に記載の方法。
- 前記導電性素子(20)、及び/又は、前記半導体素子(30)が、他の補助手段によってパターンに配置され、前記素子(20・30)が、前記絶縁性支持層(10)の表面、及び/又は、内部へ配置される、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項15のいずれか一項に記載の方法。
- 前記絶縁性支持層(10)は、前記素子(20・30)が組み入れられる溝を有するマトリクスである、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項16のいずれか一項に記載の方法。
- 前記素子(20・30)は、加熱、及び/又は、プレスの手段によって、前記絶縁性支持層(10)に組み入れられる、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項17のいずれか一項に記載の方法。
- 前記導電性素子(20)から成る分離線(21)が、本質的に直線状である、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項18のいずれか一項に記載の方法。
- 前記導電性素子(20)から成る分離線(21)が、互いに反対側に配置される前記絶縁性支持層(10)の両端の間に跨っている、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項19のいずれか一項に記載の方法。
- 前記素子(20・30)、及び/又は、前記絶縁性支持層(10)の除去は、研磨、ポリッシュ、熱エネルギー入力、及び/又は、フォトリソグラフィックのプロセスの手法により行われる、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項21に記載の方法。
- バックコンタクト層(50)、及び、フロントコンタクト層(40)は、問題となる層のタイプに適合するPVD法、CVD法、又は、他の方法により蒸着される、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項21のいずれか一項に記載の方法。
- 前記分離切断部(60・61)は、カッティング、スコーリング、エッチング、熱エネルギー入力、又は、フォトリソグラフィックのプロセスにより、形成される、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項22のいずれか一項に記載の方法。
- 前記分離線(21)の幅は、10μmから3mmの間にあって、特に、10μmから500μmの間にある、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項23のいずれか一項に記載の方法。
- 二つの分離線(21)の間の距離は、1mmから3cmの間にあり、特に、3mmから5mmの間にある、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項24のいずれか一項に記載の方法。
- 集積した半導体素子を有する太陽電池の直列接続部であって、
一つ以上の導電性素子(20)がパターンに従って組み入れられる絶縁性支持層(10)であって、前記導電性素子(20)は、少なくとも前記絶縁性支持層(10)の片側面からはみ出し、前記パターンは、一つ以上の導電性素子(20)から成る、特定の幅を有する分離線(21)を少なくとも一つ有するものと、
絶縁性支持層(10)内の、複数の球状、又は、粒状の半導体素子(30)であって、前記半導体素子(30)は、少なくとも前記絶縁性支持層(10)の片側面からはみ出し、前記半導体素子(30)は、分離線(21)の隣、又は、複数の分離線(21)の間に、前記半導体素子(30)が組み入れられるエリアのあるパターンを構成するものと、
前記素子(20・30)が層からはみ出る絶縁性支持層(10)の片側面の導電性のフロントコンタクト層(40)と、
前記フロントコンタクト層(40)の反対側の導電性バックコンタクト層(50)と、
導電性素子(20)の列に沿った、2つの分離切断部(60・61)であって、第一の分離切断部(60)はフロントコンタクト層(40)に形成され、第二の分離切断部(61)は前記バックコンタクト層に形成され、前記両分離切断部は、関連する導電性素子(20)の列の相反する位置に配置され、前記両分離切断部(60・61)は、絶縁性支持層(10)に至るまで貫通するものと
を少なくとも有することを特徴とする直列接続部。 - 請求項1乃至請求項25のいずれか一項に記載の方法により生産される、ことを特徴とする、請求項26に記載の直列接続部。
- 前記導電性素子(20)から成る分離線(21)と、前記分離線(21)の隣であって、半導体素子(30)が組み入れられるエリアの間に、間隔が形成される、ことを特徴とする、請求項26又は請求項27に記載の直列接続部。
- 前記絶縁性支持層(10)が、熱可塑性の材料から成る、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項28に記載の直列接続部。
- 前記絶縁性支持層(10)が、エポキシ、ポリウレタン、ポリアクリル酸、ポリカーボネート、ポリエステル、及び/又は、ポリイミド類を含むグループのポリマーから成る、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項29のいずれか一項に記載の直列接続部。
- 導電性素子(20)が、ペースト状である、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項30のいずれか一項に記載の直列接続部。
- 導電性素子(20)が、帯体で形成される、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項31に記載の直列接続部。
- 導電性素子(20)が、球状、又は、粒状の粒子で形成される、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項32に記載の直列接続部。
- 前記導電性素子(20)は、固形の導電体で作られ、又は、前記導電性素子(20)は、導電性の素材でコーティングされる基層コアから成る、ことを特徴とする、請求項33に記載の直列接続部。
- 前記導電性素子(20)は、固形の銅で作られる、ことを特徴とする、請求項34に記載の直列接続部。
- 導電性素子(20)は、銅でコーティングされた基層コアから成る、ことを特徴とする、請求項34に記載の直列接続部。
- 前記半導体素子(30)が、固形の半導体材料から成る、又は、前記半導体素子(30)が、半導体材料でコーティングされる基層コアから成る、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項36のいずれか一項に記載の直列接続部。
- 前記半導体素子(30)が、固形のI−III−VI族化合物半導体から成る、ことを特徴とする、請求項37に記載の直列接続部。
- 前記半導体素子(30)は、球状、又は、粒状の基層コアであって、少なくとも、一つのI−III−VI族化合物半導体によってコーティングされるものから成る、ことを特徴とする、請求項37に記載の直列接続部。
- I−III−VI族化合物半導体は、銅・インジウム・ジセレニド、銅・インジウム・二硫化物、銅・インジウム・ガリウム・ジセレニド、又は、銅・インジウム・ガリウム・ジセレニド・二硫化物を含むグループから成る、ことを特徴とする、請求項38又は請求項39に記載の直列接続部。
- 前記半導体素子は、少なくとも一つの導電性バックコンタクト層と、少なくとも一つの半導体層によってコーティングされる基層コアから成る、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項40に記載の直列接続部。
- 前記半導体素子(30)は、モリブデン及びI−III−VI族化合物半導体から成る導電性バックコンタクト層によって、少なくともコーティングされる基層コアから成る、ことを特徴とする、請求項41に記載の直列接続部。
- 前記半導体素子(30)は、他の機能層を有する、ことを特徴とする、請求項41又は請求項42に記載の直列接続部。
- 前記半導体素子(30)は、CdSから成るバッファ層を有する、ことを特徴とする、請求項43に記載の直列接続部。
- 前記半導体素子(30)は、真性の酸化亜鉛を有するものから成る層を有する、ことを特徴とする、請求項43又は請求項44に記載の直列接続部。
- 前記半導体素子(30)は、透明導電性酸化物(TCO)から成る層を有する、ことを特徴とする、請求項43乃至請求項45のいずれか一項に記載の直列接続部。
- 太陽電池のバックコンタクト層(50)が形成されている絶縁性支持層(10)の側において、球状、又は、粒状をしている半導体素子(30)の少なくとも一つが表面を有し、該表面を通じて、前記太陽電池のバックコンタクト層(50)と半導体素子(30)のバックコンタクト層の間の直接的な接続が確立されるものである、ことを特徴とする、請求項41乃至請求項46のいずれか一項に記載の直列接続部。
- 導電性素子(20)から成る前記分離線(21)が、本質的に直線状である、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項47のいずれか一項に記載の直列接続部。
- 前記導電性素子(20)から成る前記分離線(21)が、前記絶縁性支持層(10)において、互いに反対側にある関係の縁の間に跨っている、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項48のいずれか一項に記載の直列接続部。
- 前記分離線(21)の幅は、10μmから3mmの大きさの間にあり、特に、10μmから500μmの間にある、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項49のいずれか一項に記載の直列接続部。
- 二つある前記分離線(21)の間の幅は、1mmから3cmの大きさの間にあり、特に、3mmから5mmの間にある、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項50のいずれか一項に記載の直列接続部。
- 前記フロントコンタクト層(40)は、導電性の材料から成る、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項51に記載の直列接続部。
- 前記フロントコンタクト層(40)は、透明導電性酸化物(TCO)から成る、ことを特徴とする、請求項52に記載の直列接続部。
- 前記バックコンタクト層(50)は、導電性の材料から成る、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項53に記載の直列接続部。
- 前記バックコンタクト層(50)は、金属、透明導電性酸化物(TCO)、又は、導電性のポリマーから成る、ことを特徴とする、請求項54に記載の直列接続部。
- 前記バックコンタクト層(50)は、炭素、インジウム、ニッケル、銀、モリブデン、鉄、ニッケルクロム、アルミニウム、及び/又は、対応する合金、又は、酸化物を含むグループの導電性の粒子が提供された、エポキシ樹脂、ポリウレタン、及び/又は、ポリイミド類を含むグループのポリマーから成る、ことを特徴とする、請求項55に記載の直列接続部。
- 前記バックコンタクト層(50)は、真性の導電性のポリマーから成る、ことを特徴とする、請求項54に記載の直列接続部。
- 前記バックコンタクト層(50)は、PANisグループのポリマーで構成される、ことを特徴とする、請求項57に記載の直列接続部。
- 前記フロントコンタクト層(40)、及び、前記バックコンタクト層(50)に加え、前記直列接続部は、他の機能層を有している、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項58に記載の直列接続部。
- 前記分離切断部(60・61)は、絶縁材料によって埋められる、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項59に記載の直列接続部。
- 直列接続は帯状である、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項60のいずれか一項に記載の直列接続部。
- 前記直列接続の幅は、5cmから30cmの間の大きさにあり、特に、約10cmである、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項61に記載の直列接続部。
- 前記バックコンタクト層(50)が、他の直列接続のフロントコンタクト層に接続される形態で、直列接続が、他の直列接続と接続される、ことを特徴とする、請求項26乃至請求項62に記載の直列接続部。
- 直列接続部が少なくとも他の直列接続に対し、屋根板状の配置で接続され、前記バックコンタクト層(50)が、フロントコンタクト層、又は、他のフロントコンタクト層であって、他の直列接続のバックコンタクト層に置かれている、ことを特徴とする、請求項63に記載の直列接続部。
- 前記バックコンタクト層(50)は、他の直列接続のフロントコンタクト層に対し、導電性の接着剤によって接合されている、ことを特徴とする、請求項63又は請求項64に記載の直列接続部。
- 請求項26乃至請求項65のいずれかに記載の直列接続部を有する、ことを特徴とする、光電池モジュール。
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