JP2007531645A - Features in a substrate and method for forming the same - Google Patents

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Abstract

記述される実施形態は、基板(300)内のフィーチャー(905)及びそれを形成する方法に関連する。1つの例示的な実施形態は、第1の基板表面(302)と、概ね反対に位置する第2の基板表面(303)との間に延在する基板(300)と、第1の表面(302)に対して垂直でない穿孔軸に沿って第1の表面(302)内に形成される少なくとも1つのフィーチャー(905)とを含むマイクロデバイスにすることができる。  The described embodiments relate to features (905) in the substrate (300) and methods of forming the same. One exemplary embodiment includes a substrate (300) extending between a first substrate surface (302) and a generally opposite second substrate surface (303), and a first surface ( 302) can be a microdevice that includes at least one feature (905) formed in the first surface (302) along a drill axis that is not perpendicular to 302).

Description

多くのマイクロデバイスが、その中に複数のフィーチャーが形成された基板を備える。従来のフィーチャーの形状、寸法及び/又は向きは、マイクロデバイスの設計に制約を加えることがある。   Many microdevices include a substrate having a plurality of features formed therein. The shape, size and / or orientation of conventional features can place constraints on the design of the microdevice.

図面全体を通して、類似の機構及び構成要素を参照する際に、可能な限り同じ構成要素が用いられる。異なる実施形態を指示するために、アルファベットの添え字が用いられる。   Wherever possible, the same components will be used throughout the drawings to refer to the same features and components. Alphabetic subscripts are used to indicate different embodiments.

以下に記述される実施形態は、基板内にフィーチャーを形成するための方法及びシステムに関連し、そしてそのような基板を組み込んであるマイクロデバイスに関連する。フィーチャー(複数可)が、ブラインドフィーチャー及び貫通フィーチャーを含む、種々の構成を有することができる。ブラインドフィーチャーは、基板の厚みの全体を貫通しない。その厚みの全体を貫通して延在するフィーチャーは、貫通フィーチャーになる。後続の作製工程において、ブラインドフィーチャーをさらに処理して、貫通フィーチャーを形成することもできる。   The embodiments described below relate to methods and systems for forming features in a substrate and to microdevices incorporating such a substrate. The feature (s) can have a variety of configurations, including blind features and penetrating features. Blind features do not penetrate the entire thickness of the substrate. A feature that extends through the entire thickness becomes a penetrating feature. In subsequent fabrication steps, the blind features can be further processed to form penetrating features.

その中に複数のフィーチャーが形成される例示的な基板は、数ある中でも、マイクロチップ及び流体吐出デバイスのような種々のマイクロデバイスにおいて利用することができる。プリントヘッドのような流体吐出デバイスは、印刷の応用形態において利用される。また、流体吐出デバイスは、数ある中でも、医療及び実験の応用形態において利用される。例示的な基板は、種々の他の応用形態において利用することもできる。たとえば、画像表示ディスプレイを形成するために、ディスプレイデバイスが、ガラス基板内に形成される複数のフィーチャーを備えることができる。   Exemplary substrates in which multiple features are formed can be utilized in various microdevices such as microchips and fluid ejection devices, among others. Fluid ejection devices such as printheads are utilized in printing applications. In addition, fluid ejection devices are used in medical and experimental applications, among others. The exemplary substrate can also be utilized in a variety of other applications. For example, to form an image display, a display device can include a plurality of features formed in a glass substrate.

複数のフィーチャーが流体給送スロット(「スロット」)を含む、いくつかの実施形態を以下に示す。これらの技法は、基板内に形成される他のタイプのフィーチャーにも同じように適用することができる。   Several embodiments are shown below in which multiple features include fluid delivery slots (“slots”). These techniques are equally applicable to other types of features formed in the substrate.

スロットが形成される基板は、数ある用途の中でも、インクジェットプリントヘッド及び/又はプリントカートリッジのような流体吐出デバイスに組み込むことができる。以下に記述される種々の構成要素は縮尺通りに描かれていない場合もある。むしろ、含まれる図は、概略的な表現として、本明細書において記述される種々の発明の原理を読者に対して例示することを意図している。   The substrate in which the slot is formed can be incorporated into a fluid ejection device such as an inkjet printhead and / or print cartridge, among other applications. The various components described below may not be drawn to scale. Rather, the included figures are intended as a schematic representation to illustrate to the reader various inventive principles described herein.

− 例示的なプリンティングデバイス −
図1は、1つの例示的なプリントカートリッジを利用することができる1つの例示的なプリンティングデバイスの概略図を示す。この実施形態では、プリンティングデバイスはプリンタ100を含む。ここに図示されるプリンタは、インクジェットプリンタの形で具現される。プリンタ100は、白黒及び/又はカラーで印刷することができる。用語「プリンティングデバイス」は、その機能の少なくとも一部を果たすためにスロット付基板(複数可)を利用する任意のタイプのプリンティングデバイス及び/又は画像形成デバイスを指している。そのようなプリンティングデバイスの例は、限定はしないが、プリンタ、ファクシミリ装置及び写真複写機を含むことができる。この例示的なプリンティングデバイスでは、スロット付基板は、プリントカートリッジに組み込まれるプリントヘッドの一部を含んでおり、その一例が以下に記述される。
− Exemplary printing device −
FIG. 1 shows a schematic diagram of one exemplary printing device that can utilize one exemplary print cartridge. In this embodiment, the printing device includes a printer 100. The printer shown here is embodied in the form of an inkjet printer. The printer 100 can print in black and white and / or color. The term “printing device” refers to any type of printing device and / or imaging device that utilizes slotted substrate (s) to perform at least some of its functions. Examples of such printing devices can include, but are not limited to, printers, facsimile machines, and photocopiers. In this exemplary printing device, the slotted substrate includes a portion of a print head that is incorporated into a print cartridge, an example of which is described below.

− 例示的な製品及び方法 −
図2は、1つの例示的なプリンティングデバイスにおいて利用することができる1つの例示的なプリントカートリッジ202の概略図を示す。そのプリントカートリッジは、プリントヘッド204と、該プリントヘッドを支持するカートリッジ本体206を有している。このプリントカートリッジ202では、単一のプリントヘッド204が用いられるが、他の例示的な構成は、単一のプリントカートリッジ上で多数のプリントヘッドを利用してもよい。
-Exemplary products and methods-
FIG. 2 shows a schematic diagram of one exemplary print cartridge 202 that can be utilized in one exemplary printing device. The print cartridge includes a print head 204 and a cartridge main body 206 that supports the print head. Although this print cartridge 202 uses a single printhead 204, other exemplary configurations may utilize multiple printheads on a single print cartridge.

プリントカートリッジ202は、カートリッジ本体206内に内蔵型の流体又はインク供給源を有するように構成される。別法では、又はそれに加えて、他のプリントカートリッジ構成は、外部の供給源から流体を取り込むように構成することができる。当業者には、他の例示的な構成も理解されよう。以下の説明では、用語「インク」が利用されるが、流体吐出デバイスは、様々な範囲の流体を給送できることを理解されたい。   Print cartridge 202 is configured to have a built-in fluid or ink supply within cartridge body 206. Alternatively, or in addition, other print cartridge configurations can be configured to draw fluid from an external source. Those skilled in the art will appreciate other exemplary configurations. In the following description, the term “ink” is utilized, but it should be understood that a fluid ejection device can deliver a range of fluids.

プリンタ100が適切に機能するために、プリントカートリッジ202は信頼性があることが望ましい。さらに、製造中にプリントカートリッジが故障すると、製造コストが高くなる。プリントカートリッジの故障は、プリントカートリッジの構成要素の故障に起因する可能性が高い。そのような構成要素の故障は、亀裂が生じることによって引き起こされる可能性がある。そのような事情に鑑みて、以下に記述される種々の実施形態は、亀裂を生じる傾向を減少させたプリントヘッドを提供することができる。   In order for the printer 100 to function properly, it is desirable that the print cartridge 202 be reliable. Further, if the print cartridge fails during manufacturing, the manufacturing cost increases. A print cartridge failure is likely due to a print cartridge component failure. Such component failure can be caused by cracking. In view of such circumstances, the various embodiments described below can provide a printhead with a reduced tendency to crack.

プリントカートリッジ202の信頼性は、プリントカートリッジ内に、特にプリントヘッド204内に含まれる気泡によって影響を及ぼされる可能性もある。数ある原因の中でも、気泡は、インク内で、プリンティングデバイスの動作の副産物として形成される可能性が高い。たとえば、インクがプリントヘッドの1つ又は複数の発射室から吐出されるときに、プリンティングデバイスのプリントカートリッジにおける吐出工程の副産物として、気泡が形成されることがある。   The reliability of the print cartridge 202 can also be affected by air bubbles contained within the print cartridge, particularly within the print head 204. Among other causes, bubbles are likely to form in the ink as a byproduct of the operation of the printing device. For example, when ink is ejected from one or more firing chambers of a print head, air bubbles may be formed as a by-product of the ejection process in the print cartridge of the printing device.

気泡がプリントヘッド内に蓄積すると、気泡は、発射室のいくつか又は全てへのインクの流れを遮断することがあり、それによりプリントヘッドが機能不良を生ずることもある。後に明らかになるように、いくつかの実施形態は、プリントヘッドから気泡を排出し、そのような機能不良が生じる可能性を減らすことができる。   As bubbles accumulate in the printhead, the bubbles can block the flow of ink to some or all of the firing chambers, which can cause the printhead to malfunction. As will become apparent later, some embodiments can expel air bubbles from the printhead and reduce the likelihood of such malfunctions.

さらに、プリントカートリッジの設計においては、そのコストを低減することが望ましい。そのようなコストを低減するための1つの方法は、プリントヘッド204の寸法を小さくすることであり、それにより材料コスト及び製造コストを削減することである。   Furthermore, it is desirable to reduce the cost in the design of print cartridges. One way to reduce such costs is to reduce the size of the printhead 204, thereby reducing material and manufacturing costs.

図3は、図2に示されるような例示的なプリントヘッド204の一部の概略的な断面図を示す。図3Aは、代替のプリントヘッド構成を示しており、端部給送構造と呼ばれる場合もある。   FIG. 3 shows a schematic cross-sectional view of a portion of an exemplary printhead 204 as shown in FIG. FIG. 3A shows an alternative printhead configuration, sometimes referred to as an end feed structure.

図3は、一つの軸を横切るように、第1の基板表面(「第1の表面」)302に対して直交するように見た図であり、その軸は、図3が示される紙面に入り込むように、そして突出するように延在する。この特定の実施形態では、この軸は、第1の表面と第2の表面との間に存在するとともにそれらの表面に対して概ね平行に延在する長軸である。ここで、基板300は、第1の表面302と、第2の基板表面(「第2の表面」)303との間に延在する厚みtを有する。この実施形態では、流体給送スロット(「スロット」)を含む3つのフィーチャー305a〜cが、第1の表面302と第2の表面303との間で基板300を貫通する。本実施形態を説明する上で、用語「スロット」及び「フィーチャー」は同じ意味で利用される。他のフィーチャータイプの例が、図9A、図9B及び図10A、図10Bを参照して後に記述される。   FIG. 3 is a view as viewed perpendicular to the first substrate surface (“first surface”) 302 so as to cross one axis, and the axis is in the plane of FIG. It extends so as to enter and protrude. In this particular embodiment, this axis is a major axis that exists between the first and second surfaces and extends generally parallel to the surfaces. Here, the substrate 300 has a thickness t that extends between a first surface 302 and a second substrate surface (“second surface”) 303. In this embodiment, three features 305 a-c that include fluid feed slots (“slots”) penetrate the substrate 300 between the first surface 302 and the second surface 303. In describing this embodiment, the terms “slot” and “feature” are used interchangeably. Examples of other feature types will be described later with reference to FIGS. 9A, 9B and 10A, 10B.

この特定の実施形態において、基板300はシリコンを含み、ドープすることができるか、又はドープしないままにすることもできる。他の基板材料は、限定はしないが、ガリウムヒ素、ガリウムリン、インジウムリン、ガラス、石英、セラミック又は他の材料を含むことができる。   In this particular embodiment, the substrate 300 comprises silicon and can be doped or left undoped. Other substrate materials can include, but are not limited to, gallium arsenide, gallium phosphide, indium phosphide, glass, quartz, ceramic, or other materials.

基板厚tは、意図する応用形態のために適した任意の適当な寸法を有することができる。実施形態に応じて、基板厚tは、100マイクロメ−トルより薄い厚さから2000マイクロメ−トル以上の厚さにまで及ぶことができる。1つの例示的な実施形態は、約675マイクロメ−トル厚である基板を利用することができる。本明細書では単一の基板が説明されるが、他の適当な実施形態は、製造中に、及び/又は仕上げられた製造物において多数の層を有する基板を含んでもよい。たとえば、1つのそのような実施形態は、第1の構成要素と、処理中の或る時点において除去される第2の犠牲構成要素とを有する基板を用いてもよい。   The substrate thickness t can have any suitable dimension suitable for the intended application. Depending on the embodiment, the substrate thickness t can range from a thickness of less than 100 micrometers to a thickness of 2000 micrometers or more. One exemplary embodiment can utilize a substrate that is approximately 675 micrometers thick. Although a single substrate is described herein, other suitable embodiments may include a substrate having multiple layers during manufacture and / or in the finished product. For example, one such embodiment may use a substrate having a first component and a second sacrificial component that is removed at some point during processing.

この特定の実施形態では、基板の第2の表面303上に、1つ又は複数の薄膜層314が配置される。少なくともいくつかの実施形態では、基板300が流体吐出デバイスに組み込まれるとき、障壁層316及びオリフィス板又はオリフィス層318が、薄膜層314上に配置される。   In this particular embodiment, one or more thin film layers 314 are disposed on the second surface 303 of the substrate. In at least some embodiments, the barrier layer 316 and the orifice plate or orifice layer 318 are disposed on the thin film layer 314 when the substrate 300 is incorporated into a fluid ejection device.

一実施形態では、1つ又は複数の薄膜層314は、1つ又は複数の導電性トレース(図示せず)、及びトランジスタ(図示せず)及び抵抗320のような電気的な構成要素を含むことができる。個々の抵抗は、電気的トレースを介して、選択的に制御することができる。いくつかの実施形態では、薄膜層314は、その中を流体が流れることができる多数の流体給送路322の壁又は表面を、少なくとも部分的に画定することもできる。また薄膜層314は、数ある中でも、フィールド又は熱酸化膜を含むことができる。障壁層316は、多数の発射室324を少なくとも部分的に画定することができる。いくつかの実施形態では、流体給送路322は、障壁層316だけで、又は障壁層316と薄膜層314と組み合わせて画定することができる。オリフィス層318は、多数の発射ノズル326を画定することができる。個々の発射ノズルは、個々の発射室324とそれぞれ位置合わせされることができる。   In one embodiment, the one or more thin film layers 314 include one or more conductive traces (not shown) and electrical components such as transistors (not shown) and resistors 320. Can do. Individual resistances can be selectively controlled via electrical traces. In some embodiments, the thin film layer 314 can also at least partially define the walls or surfaces of multiple fluid delivery channels 322 through which fluid can flow. The thin film layer 314 can include a field or thermal oxide film, among others. The barrier layer 316 can at least partially define a number of firing chambers 324. In some embodiments, the fluid delivery path 322 can be defined with the barrier layer 316 alone or in combination with the barrier layer 316 and the thin film layer 314. The orifice layer 318 can define a number of firing nozzles 326. Individual firing nozzles can each be aligned with individual firing chambers 324.

障壁層316及びオリフィス層318は、任意の適当な方法で形成することができる。1つの特定の実施態様では、障壁層316及びオリフィス層318はいずれも、フォトイメージャブルポリマー材料のような厚膜材料を含む。フォトイメージャブルポリマー材料は、任意の適当な方法で披着することができる。たとえば、その材料は「スピンオン」できることは当業者には理解されよう。   The barrier layer 316 and the orifice layer 318 can be formed by any suitable method. In one particular embodiment, both the barrier layer 316 and the orifice layer 318 comprise a thick film material, such as a photoimageable polymer material. The photoimageable polymer material can be displayed in any suitable manner. For example, those skilled in the art will appreciate that the material can be “spun on”.

スピンオンされた後に、障壁層316をパターニングして、その中に、少なくとも部分的に、給送路及び発射室のような所望のフィーチャーを形成することができる。一実施形態では、障壁層のパターニングされたエリアは、一般的に「ロストワックス」と呼ばれる工程において、犠牲材料で満たすことができる。この実施形態では、オリフィス層318は、障壁層と同じ材料から構成することができ、障壁層316上に形成することができる。1つのこのような例では、オリフィス層の材料は、障壁層上に「スピンオン」することができる。その後、オリフィス層318を必要に応じてパターニングして、個々のチャンバ324上にノズル326を形成することができる。その後、障壁層のチャンバ324及び給送路322から、犠牲材料を除去することができる。   After being spun on, the barrier layer 316 can be patterned to form desired features, such as a feed path and firing chamber, at least partially therein. In one embodiment, the patterned area of the barrier layer can be filled with a sacrificial material in a process commonly referred to as “lost wax”. In this embodiment, the orifice layer 318 can be composed of the same material as the barrier layer and can be formed on the barrier layer 316. In one such example, the material of the orifice layer can be “spun on” onto the barrier layer. Thereafter, the orifice layer 318 can be patterned as needed to form nozzles 326 on the individual chambers 324. The sacrificial material can then be removed from the barrier layer chamber 324 and the feed path 322.

別の実施形態では、障壁層316は厚膜を含み、一方、オリフィス層318は電鋳ニッケル又は他の適当な金属材料を含む。別法では、オリフィス層には、「Kapton」又は「Oriflex」のようなポリマーを用いることができ、レーザアブレーションによってノズルが形成される。他の適当な実施形態は、障壁層及びオリフィス層の両方の機能を果たすオリフィス層を用いることができる。   In another embodiment, the barrier layer 316 includes a thick film, while the orifice layer 318 includes electroformed nickel or other suitable metal material. Alternatively, a polymer such as “Kapton” or “Oriflex” can be used for the orifice layer, and the nozzle is formed by laser ablation. Other suitable embodiments may use an orifice layer that functions as both a barrier layer and an orifice layer.

カートリッジ本体206のハウジング330は、基板の第1の表面302上に配置することができる。いくつかの実施形態では、ハウジング330は、ポリマー、セラミック及び/又は他の適当な材料(複数可)を含むことができる。具体的には示されないが、接着剤を利用して、ハウジング330を基板300に接着するか、又は他の方法で接合することができる。   The housing 330 of the cartridge body 206 can be disposed on the first surface 302 of the substrate. In some embodiments, the housing 330 can include a polymer, ceramic, and / or other suitable material (s). Although not specifically shown, the adhesive may be utilized to bond the housing 330 to the substrate 300 or otherwise join.

動作時に、インクのような流体が、カートリッジ本体206からスロット305a〜cに入ることができる。その後、流体は、個々の給送路322を通って、個々の発射室324に流れ込むことができる。個々の抵抗320又は他の吐出手段の中に電流を流すときに、発射室から流体を吐出することができる。電流は、発射室内に収容される、或る量の流体をその沸点まで加熱して、その流体が膨張して、それぞれ配置されるノズル326から流体の一部を吐出するほど十分に、抵抗を加熱することができる。その後、吐出された流体の代わりに、給送路322から次の流体を補うことができる。   In operation, fluid, such as ink, can enter the slots 305a-c from the cartridge body 206. The fluid can then flow through individual feed channels 322 into individual firing chambers 324. Fluid can be discharged from the firing chamber when current is passed through the individual resistors 320 or other discharge means. The current is sufficiently resistive to heat a volume of fluid contained in the launch chamber to its boiling point, causing the fluid to expand and eject a portion of the fluid from each disposed nozzle 326. Can be heated. Thereafter, the next fluid can be supplemented from the feed path 322 instead of the discharged fluid.

図3Aに示されるように、スロット305b1は、第1の表面302と第2の表面303との間に延在する。スロット305a1、305c1は、第2の表面に対して直交するか、又は直角以外の角度を成す第1の側壁340及び第2の側壁342から、第2の表面303まで延在する。そのような構成によれば、小さなプリントヘッドダイサイズを用いて、より大きなダイサイズと同じ機能を提供できるようになる。 As shown in FIG. 3A, the slot 305 b 1 extends between the first surface 302 and the second surface 303. The slots 305a 1 , 305c 1 extend from the first side wall 340 and the second side wall 342 perpendicular to the second surface or at an angle other than a right angle to the second surface 303. Such a configuration can provide the same functionality as a larger die size using a smaller printhead die size.

図4は、図3に示される基板300の概略図を示す。この実施形態では、各スロット305a〜cはそれぞれ、穿孔軸b1、b2及びb3に沿って、基板300を貫通して延在する。穿孔軸は、第1の表面及び第2の表面と交差し、スロットを通して流体を流したい方向に概ね対応することができる。スロット305bは、第2の表面303に対して垂直である穿孔軸b2に沿って延在する。スロット305a及び305cは、第2の表面303に対して垂直でない穿孔b1、b3に沿って延在する。個々のスロット305a、305cは、第2の表面303に対して角度α1、α2を成す。 FIG. 4 shows a schematic diagram of the substrate 300 shown in FIG. In this embodiment, each of the slots 305a~c along the drilling axis b 1, b 2 and b 3, extending through the substrate 300. The perforation axis can generally correspond to the direction in which the fluid is to flow through the slot, intersecting the first surface and the second surface. The slot 305b extends along a drilling axis b 2 that is perpendicular to the second surface 303. Slots 305a and 305c extend along perforations b 1 , b 3 that are not perpendicular to second surface 303. The individual slots 305 a and 305 c form angles α 1 and α 2 with respect to the second surface 303.

角度α1、α2は第2の表面303に対して、90°よりも小さな任意の角度を含むことができ、実施形態に応じて、10°〜80°の範囲の値を有する。実施形態によっては、角度α1、α2は、約60°〜約80°の範囲を有することができる。他の実施形態では、角度α1、α2は、約40°〜約59°の範囲を有することができる。さらに他の実施形態では、角度α1、α2は、約20°〜約39°の範囲を有することができる。この特定の実施形態では、角度α1、α2はそれぞれ約62°を含み、別の特定の実施形態は約45°の角度を有する。この実施形態では、角度α1、α2は類似する角度を含むが、他の実施形態は異なる値を有することもできる。たとえば、代替の実施形態では、角度α1は45°の値を有することができるのに対して、角度α2は55°の値を有する。1つ又は複数の角度のあるスロットを有することにより、以下にさらに詳細に説明されるように、プリントカートリッジ設計及び他のマイクロデバイスの設計において、選択肢を広げることができる。 The angles α 1 , α 2 can include any angle less than 90 ° with respect to the second surface 303 and have a value in the range of 10 ° -80 °, depending on the embodiment. In some embodiments, the angles α 1 , α 2 can have a range of about 60 ° to about 80 °. In other embodiments, the angles α 1 , α 2 can have a range of about 40 ° to about 59 °. In still other embodiments, the angles α 1 , α 2 can have a range of about 20 ° to about 39 °. In this particular embodiment, the angles α 1 , α 2 each include about 62 °, and another specific embodiment has an angle of about 45 °. In this embodiment, the angles α 1 , α 2 include similar angles, but other embodiments may have different values. For example, in an alternative embodiment, angle α 1 can have a value of 45 °, while angle α 2 has a value of 55 °. Having one or more angled slots allows a wider choice in print cartridge designs and other microdevice designs, as will be described in more detail below.

この実施形態では、スロット305a、305cは、長軸に対して垂直に見たときに、第2の表面303に対して角度を成す。別法では、又はそれに加えて、他の実施形態は、長軸に沿って見たときに、第2の表面303に対して角度を成すことができる。そのような構成の例は、図8〜図8Bを参照して、後にさらに詳細に説明されるであろう。1つ又は複数の角度のあるスロットを有する実施形態は、設計に大きな自由度を与えることができる。たとえば、傾斜させたスロットによって、第1の表面302において第1の幾何学図形的配列を与えることができ、第2の表面303において第2の異なる幾何学図形的配列を与えることができる。   In this embodiment, the slots 305a, 305c are angled with respect to the second surface 303 when viewed perpendicular to the major axis. Alternatively, or in addition, other embodiments may be angled with respect to the second surface 303 when viewed along the long axis. An example of such a configuration will be described in more detail later with reference to FIGS. 8-8B. Embodiments having one or more angled slots can provide great design freedom. For example, a slanted slot can provide a first geometrical arrangement at the first surface 302 and a second different geometrical arrangement at the second surface 303.

図4A及び図4Bはそれぞれ基板の第1の表面302及び第2の表面303の平面図を示す。この実施形態では、スロット305a〜305cは、第1の表面302において第1のフットプリント402aを画定し、第2の表面303において第2の異なるフットプリント402bを画定する。第1のフットプリント402aは第1の面積を画定し、第2のフットプリント402bは第2の面積を画定する。いくつかの実施形態において、第1の面積は第2の面積よりも少なくとも約10パーセント大きくすることができる。この特定の実施形態では、第1の面積は第2の面積よりも約20パーセント大きい。さらに、この実施形態では、増加した分の面積は主に、フットプリント402bの幅wbと比べて、フットプリント402aの幅waが大きいことによる。 4A and 4B show plan views of the first surface 302 and the second surface 303 of the substrate, respectively. In this embodiment, the slots 305 a-305 c define a first footprint 402 a on the first surface 302 and a second different footprint 402 b on the second surface 303. The first footprint 402a defines a first area and the second footprint 402b defines a second area. In some embodiments, the first area can be at least about 10 percent greater than the second area. In this particular embodiment, the first area is about 20 percent greater than the second area. Further, in this embodiment, the increased area is mainly due to the fact that the width w a of the footprint 402a is larger than the width w b of the footprint 402b.

図5は、別の例示的なプリントカートリッジ202aの一部を切り取った斜視図を示す。基板300aは、2つの構成要素が互いに結合してプリントカートリッジ202aを形成することができる位置関係でハウジング330aに隣接して配置される。この実施形態では、スロット間に残される基板材料によって、少なくとも部分的に、3つのスロット305d〜305fが画定される。スロット間に残される、この基板材料は、本明細書において「ビーム(複数可)」502a〜502dと呼ばれ、スロットの長軸に対して概ね平行に延在する。ビーム502a及び502dは、一方ではスロットを画定し、他方では基板端部を画定するので、外側ビームと呼ぶことができる。同様に、ビーム502b及び502cは、両側においてスロットを画定するので、内側ビームと呼ぶことができる。ビーム502a〜502dは、スロットの長軸に対して直角に測定したときに、第1の表面302aにおいてそれぞれ幅w1〜w4を有する。 FIG. 5 shows a perspective view of a portion of another exemplary print cartridge 202a. The substrate 300a is disposed adjacent to the housing 330a in a positional relationship that allows two components to join together to form the print cartridge 202a. In this embodiment, three slots 305d-305f are defined at least in part by the substrate material left between the slots. This substrate material left between the slots, referred to herein as “beam (s)” 502a-502d, extends generally parallel to the long axis of the slot. Beams 502a and 502d can be referred to as outer beams because they define slots on the one hand and substrate edges on the other. Similarly, beams 502b and 502c can be referred to as inner beams because they define slots on both sides. Beam 502a~502d, when measured at right angles to the long axis of the slots, each having a width w 1 to w 4 at the first surface 302a.

いくつかのプリントカートリッジ設計は、第1の表面302aに対し、基板の最も細いビームの幅を、取り得る最も広いビーム幅に維持することにより、基板300aとカートリッジ本体ハウジング330aとの効果的な一体化を達成する。そのような構成は、数ある要因の中でも、カートリッジ本体ハウジング330aを成形するのを助けることができる。この例示される実施形態では、ビーム幅w1〜w4は概ね等しい。 Some print cartridge designs are effective integration of the substrate 300a and the cartridge body housing 330a by maintaining the narrowest beam width of the substrate relative to the first surface 302a at the widest possible beam width. To achieve Such a configuration can help shape the cartridge body housing 330a, among other factors. In this illustrated embodiment, the beam widths w 1 -w 4 are approximately equal.

ビーム502a〜502dは、スロットの長軸に対して直角に測定されるときに、第2の表面303aにおいてそれぞれ幅w5〜w8も規定する。いくつかのプリントカートリッジ設計は、外側ビーム502a、502dを内側ビーム502b、502cよりも相対的に太くし、第2の表面303a上に存在する種々の電気的な構成要素を、外側ビーム上に配置できるように、基板の第2の表面303aを構成する。図5に示されるように、1つ又は複数の角度のあるスロットを組み込むプリントヘッド基板300aは、所望の第1の表面構成及び所望の第2の表面構成の両方を達成することができる。さらに、基板300aの内側ビーム502b、502cは、第2の表面における幅w6、w7が基板の厚みtにわたって維持される構成よりも強く、亀裂が入る可能性が小さい。 Beam 502a~502d, when measured at right angles to the long axis of the slot, and define the width w 5 to w 8 in the second surface 303a. Some print cartridge designs make the outer beams 502a, 502d relatively thicker than the inner beams 502b, 502c and place various electrical components present on the second surface 303a on the outer beam. The second surface 303a of the substrate is configured so that it can. As shown in FIG. 5, a printhead substrate 300a that incorporates one or more angled slots can achieve both a desired first surface configuration and a desired second surface configuration. Further, the inner beam 502b of the substrate 300a, 502c is stronger than the configuration in which the width w 6, w 7 at the second surface is maintained over the thickness t of the substrate, is less likely to crack.

図5に示される実施形態は、長軸に沿って見たときに、概ね連続したスロットを有する。他の実施形態では、スロットの一方の側を画定するビームから、そのスロットの反対側を画定する別のビームまで、基板の長軸を横切るように延在する基板材料又は「リブ」を有することができる。   The embodiment shown in FIG. 5 has generally continuous slots when viewed along the long axis. In other embodiments, having a substrate material or "rib" that extends across the long axis of the substrate from a beam defining one side of the slot to another beam defining the opposite side of the slot. Can do.

図6〜図6Cは、リブ602が概ねスロット305g〜305iの軸を横切るように延在する一例を示す。図6は、基板の第2の表面303bの平面図を示す。図6Aは、図6に示されるような基板300bの一部を切り取った図を示す。図6B及び図6Cは、y軸に対して概ね直交するように見た、2つの例示的なリブ構成を提供する図を示す。   6-6C illustrate an example in which rib 602 extends generally across the axis of slots 305g-305i. FIG. 6 shows a plan view of the second surface 303b of the substrate. FIG. 6A shows a cut-away view of a substrate 300b as shown in FIG. 6B and 6C show views that provide two exemplary rib configurations, viewed generally orthogonal to the y-axis.

図6〜図6Aに示されるように、リブ602は、ビーム502eと502fとの間、ビーム502fと502gとの間、及びビーム502gとビーム502hとの間に延在する。図6Bは、図6Aに示されるリブ602をもう少し詳細に示しており、一方、図6Cは、別の例示的なリブ構成の、図6Bに示される図に類似の図である。   As shown in FIGS. 6-6A, ribs 602 extend between beams 502e and 502f, between beams 502f and 502g, and between beams 502g and 502h. FIG. 6B shows the rib 602 shown in FIG. 6A in a little more detail, while FIG. 6C is a view similar to the view shown in FIG. 6B of another exemplary rib configuration.

図6Bは、リブ602が、第1の表面302bに隣接する第1の幅w1から、第2の表面303bに隣接する第2の幅w2まで次第に細くなる一実施形態を示す。これは、1つの例示的な構成にすぎない。たとえば、他の実施形態は、第1の表面と第2の表面との間で概ね均一な幅を維持することができる。この事例では、リブ602は錐台形を近似することができる。そのような構成は、先に説明されたように、スロット305gによって流体を供給することができる種々のチャンバに、概ね均一な流体の流れを供給することができる。他の実施形態は、他のリブ形状を利用することができる。図6A及び図6Bにおいて例示される実施形態では、リブ602の高さhは、基板300bの厚みtに等しい。 FIG. 6B shows an embodiment in which the rib 602 gradually narrows from a first width w 1 adjacent to the first surface 302b to a second width w 2 adjacent to the second surface 303b. This is just one exemplary configuration. For example, other embodiments can maintain a generally uniform width between the first surface and the second surface. In this case, the ribs 602 can approximate a frustum shape. Such a configuration can provide a generally uniform fluid flow to the various chambers that can be supplied with fluid by slot 305g, as previously described. Other embodiments can utilize other rib shapes. In the embodiment illustrated in FIGS. 6A and 6B, the height h of the rib 602 is equal to the thickness t of the substrate 300b.

図6Cは、リブ高hが厚みtより低い、代替の構成を示す。この特定の事例では、リブ602aは第1の表面302bから延在するが、第2の表面303bまでは達しない。厚みtより低いの高さhを利用する構成は、スロット305gから種々のチャンバに供給されて均一な流体環境を得るのに寄与することができる。   FIG. 6C shows an alternative configuration where the rib height h is less than the thickness t. In this particular case, the rib 602a extends from the first surface 302b but does not reach the second surface 303b. The configuration using the height h lower than the thickness t can be supplied to various chambers from the slot 305g and contribute to obtaining a uniform fluid environment.

図7は、別の例示的な基板300cの断面図を示す。この断面図は図4に示される図に類似しており、長軸に対し垂直である。2つのスロット305j、305kが、第1の表面302cに対して垂直でない穿孔b4、b5にそれぞれ沿って、基板300cを貫通して延在する。この事例では、穿孔b4、b5は、それぞれ幅w8、w9及びw10、w11の中点を横切る。 FIG. 7 shows a cross-sectional view of another exemplary substrate 300c. This cross-sectional view is similar to the view shown in FIG. 4 and is perpendicular to the long axis. Two slots 305j, 305k are respectively along perforation b 4, b 5 not perpendicular to the first surface 302c, extending through the substrate 300c. In this case, perforations b 4 and b 5 cross the midpoints of widths w 8 and w 9 and w 10 and w 11 respectively.

この実施形態では、スロット305jは、第1の側壁702a及び第2の側壁702bによって、少なくとも部分的に画定される。同様に、スロット305kは、第1の側壁702c及び第2の側壁702dによって、少なくとも部分的に画定される。   In this embodiment, the slot 305j is at least partially defined by the first sidewall 702a and the second sidewall 702b. Similarly, slot 305k is at least partially defined by first sidewall 702c and second sidewall 702d.

基板300cを組み込むプリントカートリッジの動作中に、気泡が生じる場合がある。記述される実施形態のうちのいくつかによれば、従来のプリントヘッド設計と比べて、プリントヘッドから気泡を容易に排出できるようになる。この特定の実施形態では、気泡が、概ね704で示される。気泡704に作用する浮力がz軸に沿って働く。穿孔b5に沿った流体の流れは、y軸及びz軸の両方の成分を有するベクトルとして表すことができる。一般的に、流体の流れのz軸成分だけが気泡の浮力に逆らって作用し、気泡は第1の表面302cに向かって移動し、最終的にはスロットから出る可能性が高くなる。いくつかの事例では、気泡704は、第1の側壁702cに向かって移動し、その後、第1の表面302cに向かって第1の側壁に沿って上昇することができる。 Air bubbles may occur during the operation of the print cartridge incorporating the substrate 300c. Some of the described embodiments allow air bubbles to be easily evacuated from the printhead as compared to conventional printhead designs. In this particular embodiment, the bubble is indicated generally at 704. Buoyancy acting on the bubble 704 acts along the z-axis. Flow of fluid along the perforation b 5 can be expressed as a vector having components of both the y and z axes. In general, only the z-axis component of the fluid flow acts against the buoyancy of the bubble, and the bubble moves toward the first surface 302c and is more likely to eventually exit the slot. In some cases, the bubble 704 can move toward the first sidewall 702c and then rise along the first sidewall toward the first surface 302c.

複数の気泡が発生した場合、それらの気泡は、第1の側壁702cに向かって移動し、第1の側壁702cに沿って上昇することができる。共通の経路に従うことにより、気泡が一緒になるように力が働き、結果として凝集する傾向がある。気泡が凝集すると、それらの気泡は、そうでない場合よりも迅速にスロットから流れ出ることができる。浮力がインク流に逆らって気泡を上方に動かすための役割を果たすので、凝集することにより、気泡を除去するのを助けることができる。浮力は気泡径の3乗で増加するのに対して、下方に向かうインク流によって引き起こされる流体抵抗は気泡径の2乗でしか増加しないので、この浮力は、気泡が凝集するのに応じて徐々に支配的になり、大きくなることができる。   When a plurality of bubbles are generated, the bubbles can move toward the first side wall 702c and rise along the first side wall 702c. By following a common path, the forces work to bring the bubbles together and consequently tend to aggregate. As the bubbles aggregate, they can flow out of the slot more quickly than otherwise. Since buoyancy acts to move the bubbles upward against the ink flow, agglomeration can help remove the bubbles. The buoyancy increases with the cube of the bubble diameter, whereas the fluid resistance caused by the downward ink flow increases only with the square of the bubble diameter, so this buoyancy gradually increases as the bubbles aggregate. Can become dominant and grow.

図7に示されるように、第1の表面302cにおけるスロット305jの幅w8は、第2の表面303cにおける幅w9よりも大きい。同様に、第1の表面302cにおけるスロット305kの幅w10は、第2の表面303cにおける幅w11よりも大きい。この実施形態では、スロット305j、305kは、第2の表面303cから第1の表面302cに向かって全体として広がるスロットプロファイルを有する。従って、気泡704が側壁702c、702dの両方と同時に接触するだけの十分な体積を有する場合には、第1の表面302cに向かって幅が徐々に広がっていることにより、気泡704を第1の表面302cに向かって動かし、最終的にはプリントヘッドから放出するだけの駆動力を与えることができる。 As shown in FIG. 7, the width w 8 of the slot 305j in the first surface 302c is larger than the width w 9 in the second surface 303c. Similarly, the width w 10 of the slot 305k in the first surface 302c is greater than the width w 11 of the second surface 303c. In this embodiment, the slots 305j, 305k have a slot profile that generally extends from the second surface 303c toward the first surface 302c. Accordingly, when the bubble 704 has a sufficient volume to be in contact with both the side walls 702c and 702d at the same time, the width of the bubble 704 gradually increases toward the first surface 302c. A driving force can be applied that moves towards the surface 302c and ultimately releases from the printhead.

図8〜図8Bは別の基板300dを表す。図8は斜視図を表し、一方、図8Aは、図8に示される線a−aに沿って切り取った断面図を表し、図8Bは線b−bに沿って切り取った断面図を表す。この実施形態では、線a−aはスロット305Iの長軸に対して概ね平行であり、線b−bはその長軸に対して概ね直交する方向に沿う。   8 to 8B show another substrate 300d. 8 represents a perspective view, while FIG. 8A represents a cross-sectional view taken along line aa shown in FIG. 8, and FIG. 8B represents a cross-sectional view taken along line bb. In this embodiment, line aa is generally parallel to the major axis of slot 305I and line bb is along a direction generally perpendicular to the major axis.

この実施形態では、その長軸に沿って見たとき、スロット305Iは、図8Aから最もよく理解されるように、平行四辺形804の一部を概ね近似する。同じく、この特定の実施形態では、スロット305Iは、その長軸に対して横切る方向から見たときに、図8Bから最もよく理解されるように、平行四辺形806の一部を概ね近似する。他のスロットは、他の幾何学的形状を近似することができる。種々のスロット形状によって、標準的なスロット構成よりも、プリントヘッド設計の自由を高めることができるようになる。   In this embodiment, when viewed along its long axis, the slot 305I generally approximates a portion of the parallelogram 804, as best understood from FIG. 8A. Similarly, in this particular embodiment, slot 305I generally approximates a portion of parallelogram 806, as best seen from FIG. 8B, when viewed from a direction transverse to its long axis. Other slots can approximate other geometric shapes. Various slot shapes allow greater freedom in printhead design than standard slot configurations.

図9A、図9B及び図10A、図10Bは、例示的なフィーチャーと、そのフィーチャーを形成するための作製工程とを表す。これら2つの実施形態において、用語「フィーチャー」が用いられる。フィーチャーは、ブラインドフィーチャー、又はスロットを含む貫通フィーチャーにすることができる。   9A, 9B and 10A, 10B depict an exemplary feature and fabrication process for forming the feature. In these two embodiments, the term “feature” is used. The feature can be a blind feature or a penetrating feature including a slot.

図9A、図9Bは、基板300eの断面図を表す。図9Aは、基板内に1つのフィーチャーを形成する際の中間の段階を表し、一方、図9Bは基板300e内に形成されたフィーチャー905を表す。フィーチャー905は、数ある用途の中でも、流体給送スロット又は電気的な接続子、たとえば、バイアとして利用することができる。フィーチャー905は、第1の表面302eに対して垂直でなく、第1の表面302e及び第2の表面303eにおいてそれぞれ、フィーチャー幅w12、w13の中点を横切る穿孔軸b7を規定する。 9A and 9B are cross-sectional views of the substrate 300e. FIG. 9A represents an intermediate stage in forming a feature in the substrate, while FIG. 9B represents a feature 905 formed in the substrate 300e. The feature 905 can be utilized as a fluid feed slot or electrical connector, eg, a via, among other applications. Feature 905 is not perpendicular to first surface 302e, respectively, in the first surface 302e and a second surface 303 e, defining a drilling axis b 7 across the midpoint of the feature width w 12, w 13.

フィーチャー905は、1つ又は複数の側壁によって、少なくとも部分的に画定される。この実施形態では、2つの側壁902a、902bが示される。またこの実施形態では、個々の側壁902a、902bはそれぞれ、第1の表面302eに対して概ね垂直である第1の側壁部904a、904bを有する。さらにこの実施形態では、個々の側壁902a、902bは、第1の表面に対して垂直でない第2の別の側壁部906a、906bを有する。   Feature 905 is at least partially defined by one or more sidewalls. In this embodiment, two side walls 902a, 902b are shown. Also in this embodiment, the individual sidewalls 902a, 902b each have first sidewall portions 904a, 904b that are generally perpendicular to the first surface 302e. Furthermore, in this embodiment, each side wall 902a, 902b has a second other side wall portion 906a, 906b that is not perpendicular to the first surface.

フィーチャー905は、1つ又は複数の基板除去技法で形成することができる。適当な基板除去技法の例が、図11A〜図11Cを参照して後に説明される。1つの適当な形成方法は、概ね910で示されるように、第2の表面303eから基板材料を除去することを含むことができる。910で示される基板除去工程は、最初に、側壁部904a、904bを形成することができる。同じ除去工程及び/又は1つ若しくは複数の異なる除去工程を用いて、概ね912で示される基板材料を除去することができる。この事例では、概ね912で示される側壁除去工程は、側壁部906a、906bを形成することができる。第2の除去工程は、第1の表面302e、第2の表面303eのいずれか、又はそれらの組み合わせから達成することができる。他の実施形態では、910で示される基板除去工程の前に、912で示される基板除去工程を行うことができる。   Feature 905 can be formed by one or more substrate removal techniques. An example of a suitable substrate removal technique will be described later with reference to FIGS. 11A-11C. One suitable formation method may include removing the substrate material from the second surface 303e, as indicated generally at 910. In the substrate removing process indicated by 910, the side wall portions 904a and 904b can be formed first. The substrate material, indicated generally at 912, can be removed using the same removal process and / or one or more different removal processes. In this case, the sidewall removal process indicated generally at 912 can form sidewall portions 906a, 906b. The second removal step can be accomplished from either the first surface 302e, the second surface 303e, or a combination thereof. In other embodiments, the substrate removal process indicated at 912 can be performed prior to the substrate removal process indicated at 910.

図10A、図10Bは、基板300f内に形成されるフィーチャー905aを示す。フィーチャー905aは、第1の表面302fに対して垂直ではなく、第1の表面302f及び底面1000においてそれぞれ、フィーチャー幅w14、w15の中点を横切る穿孔軸b8を規定する。この実施形態では、フィーチャー905aは、第1の領域1001a及び第2の領域1001bを含むことができる。いくつかの実施形態では、2つの領域1001a、1001bは、個別の段階において、又は単一の工程において形成することができる。 10A and 10B show a feature 905a formed in the substrate 300f. Feature 905a is not perpendicular to first surface 302f, respectively, in the first surface 302f and bottom 1000, defines the drilling axis b 8 across the midpoint of the feature width w 14, w 15. In this embodiment, the feature 905a can include a first region 1001a and a second region 1001b. In some embodiments, the two regions 1001a, 1001b can be formed in separate steps or in a single process.

フィーチャー905aは、1つ又は複数の側壁によって、少なくとも部分的に画定することができる。この実施形態では、2つの側壁1002a、1002bが示される。またこの実施形態では、個々の側壁1002a、1002bはそれぞれ、第1の表面302fに対して垂直でなく、第1の表面302fに対して第1の角度α4を成す第1の側壁部1004a、1004bを有する。さらにこの実施形態では、個々の側壁1002a、1002bはそれぞれ、第1の表面302fに対して垂直でなく、第1の表面302fに対して第2の異なる角度α5を成す第2の異なる側壁部1006a、1006bを有する。これらの例示的な側壁構成によって、マイクロデバイス設計の自由度を高めることができるようになる。 Feature 905a can be at least partially defined by one or more sidewalls. In this embodiment, two side walls 1002a, 1002b are shown. Also in this embodiment, each side wall 1002a, respectively 1002b, not perpendicular to first surface 302f, the first side wall portion 1004a constituting the first angle alpha 4 with respect to the first surface 302f, 1004b. Further, in this embodiment, each of the side walls 1002a, 1002b is not perpendicular to the first surface 302f, but a second different side wall portion that forms a second different angle α 5 with respect to the first surface 302f. 1006a and 1006b. These exemplary sidewall configurations allow for greater freedom in microdevice design.

図11A〜図11Cは、基板内に1つの例示的なフィーチャーを形成するための作製工程を示す。   11A-11C illustrate a fabrication process for forming one exemplary feature in the substrate.

図11Aは、基板内にフィーチャー905bを形成するだけの十分な基板材料を除去するためのレーザマシン1102を示す。フィーチャー905bは概ね、円形、楕円形、長方形、又は規則的若しくは不規則的いずれかの任意の他の所望の形状を近似することができる。説明のために、ここでは、単一の基板300gが示される。他の実施形態は、後に分離することができるか、又は個々の基板にダイシングすることができる、ウェーハ又は他の材料を基にして実行することができる。   FIG. 11A shows a laser machine 1102 for removing enough substrate material to form a feature 905b in the substrate. Feature 905b may approximate a circle, ellipse, rectangle, or any other desired shape, either regular or irregular. For illustrative purposes, a single substrate 300g is shown here. Other embodiments can be performed on a wafer or other material that can be later separated or diced into individual substrates.

この実施形態では、レーザマシン1102は、基板300gをレーザ加工するためのレーザビーム1108を生成するように構成されるレーザ源1106を備える。レーザビーム1108のような例示的なレーザビームは、レーザビームが向けられる基板材料を活性化するだけの十分なエネルギーを与えることができる。活性化は、いくつかある処理の中でも、溶融、気化、剥離、フェーズエクスプローディング、アブレーション、化学反応及び/又はそれらの組み合わせを含むことができる。いくつかの例示的なレーザマシンは、基板を除去するのを助けるために、ガスアシスト工程及び/又は液体によるアシスト工程を利用することができる。   In this embodiment, the laser machine 1102 includes a laser source 1106 configured to generate a laser beam 1108 for laser machining the substrate 300g. An exemplary laser beam, such as laser beam 1108, can provide sufficient energy to activate the substrate material to which the laser beam is directed. Activation can include melting, vaporization, stripping, phase exploding, ablation, chemical reaction, and / or combinations thereof, among other processes. Some exemplary laser machines can utilize a gas assist process and / or a liquid assist process to help remove the substrate.

この実施形態では、基板300gは、処理用の固定具又はステージ1112上に配置される。適当な固定具は、当業者であれば理解するはずである。いくつかのそのような固定具は、x、y及び/又はz座標に沿って、基板を動かすように構成することができる。   In this embodiment, the substrate 300g is placed on a processing fixture or stage 1112. Appropriate fasteners will be understood by those skilled in the art. Some such fixtures can be configured to move the substrate along the x, y and / or z coordinates.

種々の例示的な実施形態は、レーザビーム1108を第1の表面302gに向けるために、1つ又は複数のミラー1114、ガルバノメータ1116及び/又はレンズ1118を利用することができる。いくつかの実施形態では、そのエネルギーの密度を高めて、さらに実効的に基板を加工するために、レーザビーム1108を収光させることができる。これらの例示的な実施形態では、レーザビームを収光させて、レーザビームが基板300gと接触する場所において、所望のビーム形状を達成することができる。   Various exemplary embodiments can utilize one or more mirrors 1114, galvanometer 1116, and / or lens 1118 to direct laser beam 1108 toward first surface 302g. In some embodiments, the laser beam 1108 can be collected to increase its energy density and more effectively process the substrate. In these exemplary embodiments, the laser beam can be collected to achieve the desired beam shape where the laser beam contacts the substrate 300g.

レーザマシン1102は、レーザ源1106、ステージ1112及びガルバノメータ1116に接続されるコントローラ1120をさらに備える。コントローラ1120は、ハードウエア、ソフトウエア及びファームウエアのうちの1つ又は複数に収容されるコンピュータ読取り可能命令を実行するためのプロセッサを備えることができる。コントローラ1120は、フィーチャー905bを形成するために、レーザ源1106、ステージ1112及び/又はガルバノメータ1116を制御することができる。他の実施形態は、手動で、又はコントローラと手動操作との組み合わせで、それらの工程の一部、又は全てを制御することができる。   The laser machine 1102 further includes a controller 1120 connected to the laser source 1106, the stage 1112, and the galvanometer 1116. The controller 1120 can comprise a processor for executing computer readable instructions contained in one or more of hardware, software, and firmware. The controller 1120 can control the laser source 1106, the stage 1112 and / or the galvanometer 1116 to form the feature 905b. Other embodiments can control some or all of these steps manually or in combination with a controller and manual operation.

図11Aに示されるように、レーザビーム1108が、基板300g内にフィーチャー905bを形成している。ステージ1112が、基板の第1の表面302gをレーザビーム1108に対して概ね垂直に向けることにより、フィーチャー905bが形成される。フィーチャー905bは第1の基板302gに対して概ね垂直である穿孔軸に沿って延在する。この事例では、フィーチャー905bの穿孔軸は、基板に隣接するレーザビーム1108によって表すことができる。   As shown in FIG. 11A, the laser beam 1108 forms a feature 905b in the substrate 300g. Stage 1112 directs substrate first surface 302g generally perpendicular to laser beam 1108 to form feature 905b. The feature 905b extends along a drilling axis that is generally perpendicular to the first substrate 302g. In this case, the drill axis of feature 905b can be represented by a laser beam 1108 adjacent to the substrate.

図11Bは、後続の作製工程を示しており、フィーチャー905cを形成するために、ステージ1112上で基板300gの位置が変更されている。この実施形態では、ステージ1112は、基板300gを、レーザビーム1108に対して90°より小さい角度βに向けることができる。種々の実施形態は、約10°〜約80°の範囲の角度を利用することができる。いくつかの実施形態では、角度βは約60°〜約80の範囲を有することができる。他の実施形態では、角度βは約40°〜約59°の範囲を有することができる。さらに他の実施形態では、角度βは約20°〜約39°の範囲を有することができる。この特定の実施形態では、角度βは約70°を含む。レーザ加工中に、基板上でのレーザビームの集光を維持するために、ステージ1112、レンズ1118及び/又はガルバノメータ1116を調整することができる。この工程を用いて、ブラインドフィーチャー及び/又は貫通フィーチャーを形成することができる。図11Bはステージ1112及び基板300gがレーザビーム1108に対して角度を成している1つの例示的な構成を示しているが、他の例示的な構成は、所望の向きを達成するために、基板に対してレーザビーム及び/又はレーザマシンに角度を付けることができる。さらに他の実施形態は、基板に対するレーザビームの所望の向きを達成するために、レーザビーム及び基板の両方に角度を付けることができる。   FIG. 11B shows a subsequent manufacturing process in which the position of the substrate 300g is changed on the stage 1112 in order to form the feature 905c. In this embodiment, the stage 1112 can direct the substrate 300 g to an angle β that is less than 90 ° with respect to the laser beam 1108. Various embodiments can utilize angles ranging from about 10 ° to about 80 °. In some embodiments, the angle β can have a range of about 60 ° to about 80. In other embodiments, the angle β can have a range of about 40 ° to about 59 °. In still other embodiments, the angle β can have a range of about 20 ° to about 39 °. In this particular embodiment, angle β includes approximately 70 °. During laser processing, stage 1112, lens 1118 and / or galvanometer 1116 can be adjusted to maintain the focus of the laser beam on the substrate. This process can be used to form blind features and / or through features. FIG. 11B shows one exemplary configuration in which the stage 1112 and the substrate 300g are angled with respect to the laser beam 1108, but other exemplary configurations may be used to achieve the desired orientation. The laser beam and / or the laser machine can be angled with respect to the substrate. Still other embodiments can angle both the laser beam and the substrate to achieve the desired orientation of the laser beam relative to the substrate.

図11Cは、別のフィーチャー905dを形成する、さらなる作製工程を示す。ステージ1112は、所望の向きを有するフィーチャー905dを形成するために、レーザビーム1108に対して基板300gの位置を変更している。当業者であれば、他の適当な構成を理解するはずである。   FIG. 11C shows a further fabrication process that forms another feature 905d. The stage 1112 changes the position of the substrate 300g with respect to the laser beam 1108 in order to form a feature 905d having a desired orientation. Those skilled in the art will appreciate other suitable configurations.

構造的な機構及び方法の段階を具体的に記述したが、添付の特許請求の範囲に規定される本発明の概念は、記述される具体的な機構又は段階には必ずしも限定されないことを理解されたい。むしろ、特定の複数の機構及び段階が、本発明の概念を具現する複数のかたちで開示されている。   Although structural features and method steps have been specifically described, it is understood that the inventive concepts defined in the appended claims are not necessarily limited to the specific features or steps described. I want. Rather, specific mechanisms and steps are disclosed in multiple forms that embody the inventive concept.

1つの例示的な実施形態に係る、1つの例示的なプリンタを概略的に表す正面図である。1 is a front view schematically illustrating an exemplary printer, according to an exemplary embodiment. FIG. 1つの例示的な実施形態に係る、図1に示される例示的なプリンタにおいて用いるのに適したプリントカートリッジを概略的に表す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view schematically illustrating a print cartridge suitable for use in the exemplary printer shown in FIG. 1, according to one exemplary embodiment. 1つの例示的なプリントカートリッジの一部を概略的に表す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view schematically illustrating a portion of one exemplary print cartridge. 1つの例示的なプリントカートリッジの一部を概略的に表す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view schematically illustrating a portion of one exemplary print cartridge. 1つの例示的な実施形態に係る、1つの例示的な基板を概略的に表す断面図である。1 is a cross-sectional view schematically illustrating an exemplary substrate, according to an exemplary embodiment. 1つの例示的な実施形態に係る、図4に示される基板を概略的に表す上面図である。FIG. 5 is a top view that schematically represents the substrate shown in FIG. 4, according to one exemplary embodiment. 1つの例示的な実施形態に係る、図4に示される基板を概略的に表す底面図である。FIG. 5 is a bottom view schematically illustrating the substrate shown in FIG. 4 according to one exemplary embodiment. 1つの例示的な実施形態に係る、プリントカートリッジの一部を概略的に表す斜視図である。1 is a perspective view schematically illustrating a portion of a print cartridge, according to one exemplary embodiment. 1つの例示的な実施形態に係る、1つの例示的な基板を概略的に表す平面図である。1 is a plan view schematically illustrating an example substrate, according to an example embodiment. FIG. 1つの例示的な実施形態に係る、図6に示される例示的な基板を概略的に表す、一部を切り取った斜視図である。FIG. 7 is a cut-away perspective view schematically illustrating the exemplary substrate shown in FIG. 6 according to one exemplary embodiment. 1つの例示的な実施形態に係る、図6に示される例示的な基板を概略的に表す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view schematically illustrating the exemplary substrate shown in FIG. 6 according to one exemplary embodiment. 1つの例示的な実施形態に係る、図6Bに表される図の代替の構成を概略的に表す断面図である。FIG. 6B is a cross-sectional view schematically illustrating an alternative configuration of the view depicted in FIG. 6B, according to one exemplary embodiment. 1つの例示的な実施形態に係る、1つの例示的な基板を概略的に表す断面図である。1 is a cross-sectional view schematically illustrating an exemplary substrate, according to an exemplary embodiment. 1つの例示的な実施形態に係る、1つの例示的な基板を概略的に表す斜視図である。1 is a perspective view schematically illustrating an example substrate, according to one example embodiment. FIG. 1つの例示的な実施形態に係る、1つの例示的な基板を概略的に表す断面図である。1 is a cross-sectional view schematically illustrating an exemplary substrate, according to an exemplary embodiment. 1つの例示的な実施形態に係る、1つの例示的な基板を概略的に表す断面図である。1 is a cross-sectional view schematically illustrating an exemplary substrate, according to an exemplary embodiment. 1つの例示的な実施形態に係る、1つの例示的な基板を概略的に表す断面図である。1 is a cross-sectional view schematically illustrating an exemplary substrate, according to an exemplary embodiment. 1つの例示的な実施形態に係る、1つの例示的な基板を概略的に表す断面図である。1 is a cross-sectional view schematically illustrating an exemplary substrate, according to an exemplary embodiment. 1つの例示的な実施形態に係る、1つの例示的な基板を概略的に表す断面図である。1 is a cross-sectional view schematically illustrating an exemplary substrate, according to an exemplary embodiment. 1つの例示的な実施形態に係る、1つの例示的な基板を概略的に表す断面図である。1 is a cross-sectional view schematically illustrating an exemplary substrate, according to an exemplary embodiment. 1つの例示的な実施形態に係る、1つの例示的な基板を形成するための作製工程を示す図である。FIG. 6 illustrates a fabrication process for forming an exemplary substrate, according to an exemplary embodiment. 1つの例示的な実施形態に係る、1つの例示的な基板を形成するための作製工程を示す図である。FIG. 6 illustrates a fabrication process for forming an exemplary substrate, according to an exemplary embodiment. 1つの例示的な実施形態に係る、1つの例示的な基板を形成するための作製工程を示す図である。FIG. 6 illustrates a fabrication process for forming an exemplary substrate, according to an exemplary embodiment.

Claims (10)

マイクロデバイスであって、
第1の基板表面(302)と、概ね対向する第2の基板表面(303)との間に延在する基板(300)と、
前記第1の表面(302)に対して垂直でなく、且つ前記第1の表面(302)に対して平行でない穿孔軸に沿って、前記基板(300)内に形成される少なくとも1つのフィーチャー(905)と
を備えることを特徴とする、マイクロデバイス。
A microdevice,
A substrate (300) extending between a first substrate surface (302) and a generally opposite second substrate surface (303);
At least one feature formed in the substrate (300) along a drill axis that is not perpendicular to the first surface (302) and not parallel to the first surface (302); 905).
前記フィーチャー(905)は少なくとも1つの側壁(902a)によって画定され、前記側壁(902a)の第1の部分(904a)は前記第1の表面(302)に対して概ね垂直であり、前記側壁(902a)の第2の別の部分(906a)は前記第1の表面(302)に対して垂直でないことを特徴とする、請求項1に記載のマイクロデバイス。   The feature (905) is defined by at least one sidewall (902a), and a first portion (904a) of the sidewall (902a) is generally perpendicular to the first surface (302); The microdevice of claim 1, wherein a second separate portion (906a) of 902a) is not perpendicular to the first surface (302). 前記フィーチャ−(905)は少なくとも1つの側壁(1002a)によって画定され、前記側壁(1002a)の第1の部分(1004a)及び前記側壁(1002a)の第2の部分(1006a)は前記第1の表面(302)に対して垂直でなく、前記第1の部分(1004a)は前記第1の表面(302)に対して第1の角度を成し、前記第2の部分(1006a)は第2の異なる角度を成すことを特徴とする、請求項1に記載のマイクロデバイス。   The feature (905) is defined by at least one sidewall (1002a), the first portion (1004a) of the sidewall (1002a) and the second portion (1006a) of the sidewall (1002a) being the first The first portion (1004a) is not perpendicular to the surface (302), and the first portion (1004a) forms a first angle with respect to the first surface (302), and the second portion (1006a) is second. The microdevice according to claim 1, wherein the microdevices have different angles. 前記穿孔軸は、前記第1の表面(302)に対して約10°〜約80°の範囲内の角度を成すことを特徴とする、請求項1に記載のマイクロデバイス。   The microdevice of claim 1, wherein the perforation axis forms an angle with respect to the first surface (302) within a range of about 10 ° to about 80 °. プリントヘッド(204)であって、
第1の基板表面(302)と、概ね対向する第2の基板表面(303)との間に延在する基板(300)と、
前記第1の表面(302)と前記第2の表面(303)との間に前記基板(300)を貫通して形成される複数の流体給送スロット(305)であって、前記第1の表面(302)において、前記複数のスロット(305)は第1の面積を有する第1のフットプリント(402a)を画定し、前記第2の表面(303)において、前記複数のスロット(305)は第2の面積を有する第2のフットプリント(402B)を画定し、前記第1の面積は前記第2の面積よりも少なくとも約10パーセントだけ大きい、複数の流体給送スロットと
を備えることを特徴とする、プリントヘッド。
A print head (204),
A substrate (300) extending between a first substrate surface (302) and a generally opposite second substrate surface (303);
A plurality of fluid feed slots (305) formed through the substrate (300) between the first surface (302) and the second surface (303); At surface (302), the plurality of slots (305) define a first footprint (402a) having a first area, and at the second surface (303), the plurality of slots (305) are A plurality of fluid delivery slots defining a second footprint (402B) having a second area, wherein the first area is at least about 10 percent greater than the second area. And the print head.
前記第1のフットプリント(402a)は、前記スロット(305)の長軸に対して直交する方向に沿う第1の幅を有し、前記第2のフットプリント(402a)は前記スロット(305)の前記長軸に対して直交する方向に沿う第2の幅を有し、前記第1の幅は前記第2の幅よりも少なくとも約10パーセントだけ大きいことを特徴とする、請求項5に記載のプリントヘッド(204)。   The first footprint (402a) has a first width along a direction orthogonal to the major axis of the slot (305), and the second footprint (402a) is the slot (305). 6. A second width along a direction orthogonal to the major axis of the first, wherein the first width is at least about 10 percent greater than the second width. Print head (204). 前記第1の幅は前記第2の幅よりも少なくとも約20パーセントだけ広いことを特徴とする、請求項6に記載のプリントヘッド。   The printhead of claim 6, wherein the first width is at least about 20 percent wider than the second width. 流体吐出デバイスであって、
第1の基板表面(302)と、概ね対向する第2の基板表面(303)との間に延在する基板(300)と、
前記第1の表面(302)と前記第2の表面(303)との間に延在し、前記第1の表面(302)に対して概ね平行である長軸に沿う少なくとも1つの流体給送スロット(305)と
を備え、前記長軸に対して垂直に見たときに、前記スロット(305)は、前記第1の表面(302)において第1の中点を規定する第1の幅と、前記第2の表面(303)において第2の中点を規定する第2の幅とを有し、前記第1の中点及び前記第2の中点を横切る線は前記第1の表面(302)とは直交しないことを特徴とする、流体吐出デバイス。
A fluid ejection device comprising:
A substrate (300) extending between a first substrate surface (302) and a generally opposite second substrate surface (303);
At least one fluid delivery along a major axis extending between the first surface (302) and the second surface (303) and generally parallel to the first surface (302); A slot (305) having a first width defining a first midpoint in the first surface (302) when viewed perpendicular to the major axis. , A second width defining a second midpoint at the second surface (303), and a line crossing the first midpoint and the second midpoint is the first surface ( 302) is not orthogonal to the fluid ejection device.
前記第1の幅は前記第2の幅よりも広いことを特徴とする、請求項8に記載の流体吐出デバイス。   The fluid ejection device according to claim 8, wherein the first width is wider than the second width. 前記少なくとも1つのスロット(305)は、前記長軸に対して垂直に見たときに、概ね前記第2の表面(303)から前記第1の表面(302)に向かって次第に細くなるスロットプロファイルを有することを特徴とする、請求項9に記載の流体吐出デバイス。   The at least one slot (305) has a slot profile that gradually narrows from the second surface (303) toward the first surface (302) when viewed perpendicular to the major axis. The fluid ejection device according to claim 9, wherein the fluid ejection device is provided.
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