JP2007522554A - 車両内のセキュリティ上問題のあるコンピュータシステムのための埋込式システムの分析装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
少なくとも1つのCPU(1)と、少なくとも1つのCPUバス(2)と、少なくとも1つのメモリ(3)とを含む埋込式システム(9)のための分析装置が記載されている。この装置は、制御ラインのほかに、少なくとも1つのデータライングループを含むテストインタフェース(5)を介して分析データを入力又は出力するための1つの通信モジュール(4)を有する。データワード及びアドレスワードは、交互に又はその他の順序でテストインタフェースを介して伝送される。これによって、CPUのクロックサイクルの使用を削減したエラー検知の長所が得られる。
Description
本発明は、請求項1の上位概念に記載の分析装置、請求項8又は9に記載の、この分析装置の使用並びに請求項12の上位概念に記載の方法に関する。
埋込式システム用のソフトウエアを問題なく開発できるようにするため、一般的に演算時間中のエラー検知(デバッギング)を実行できる装置を設けることが通常行われている。埋込式システム内の演算時間中のエラー検知(デバッギング)のための公知のコンセプトにしたがって、いわゆるJTAGインタフェース(Joint Test Action Group,IEEE Standard 1149.1−1990, IEEE Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture ,Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.,New York,USA,1990)を介して外部の分析システムとの接続が構築される。このような分析インタフェースを利用して種々のテスト演算を、特にプロセッサの個別ステップ処理(Singlestepping)、停止ポイント群の設定(Breakpoints)及び、いわゆる「ウォッチポイント」(Watchpoints)の設定のような「バウンダリ・スキャン」テスト法(Boundary−Scan−Testverfahren)によって実施することができる。このエラー検知の自体公知の補助手段によって、原理的にプログラムの処理を選択した変数値の状態も含めて同時に追跡することも可能であるが、進行中のシステムは一般的に停止させなければならない。しかしながら、分析するマイクロコンピュータの停止は、本発明により優先的に考慮した制御ジョブにおいて電子制御式車両ブレーキシステムでは実質的に不可能である。
さらに、埋込式システム内のエラー検知のために、リアルタイム分析のための、いわゆる「ボンド・アウト」チップ(bond out−Chips)を利用してハウジングピンを介して、例えば外部のロジック分析装置へ全ての重要なCPUバス信号(アドレス−、データ−及び制御信号)の転送を可能にする、車両ブレーキシステム、いわゆるトレース・インタフェースを使用することが知られている。「ボンド・アウト」チップは、プロセッサバス(データ、アドレス及び制御信号)がハウジング内部から外部へ結合されるマイクロコントローラ(MCU)である。
今日の埋込式システムに通常の100メガヘルツをはるかに超える高いシステム周波数と、高速のプロセッサに近い中間メモリ(Caches)を搭載する最新のメモリアーキテクチャの場合、上記のエラー分析方法は、速度要件が高いために使用できなくなる。比較的大きいデータメモリ(例えば100キロバイト以上の量)のリアルタイムの出力は、一般的に使用される技術に基づいてプリセットされたシステム周波数と、そこから生じるバンド幅とによっては不可能である。リアルタイムデータ伝送に必要なバンド幅の創出のために考えられる可能性は、伝送されるデータの並行出力であろう。しかしながら、そのために技術的に実現する際に提供される電気接続ピンは、とりわけコスト上の理由から一般的にある所定の付与数に制限されている。
Joint Test Action Group,IEEE Standard 1149.1−1990, IEEE Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture ,Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.,New York,USA,1990 ヨーロッパ特許出願第03/12630号明細書
Joint Test Action Group,IEEE Standard 1149.1−1990, IEEE Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture ,Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.,New York,USA,1990
本発明の課題は、依然として今日通常の高速の埋込式システムでも使用できる、埋込式システムのための分析装置を提供することにある。
上記課題の解決のため、ヨーロッパ特許出願第03/12630号明細書に、CPU、CPUバス及びメモリを各々1つ含む埋込式システムのための分析装置が提案されている。この出願された分析装置は、テストインタフェースを介した分析データの入力又は出力のために少なくとも1つの通信モジュールを有する。この出願された分析装置は、通信モジュールを用いてCPUのクロックサイクルの使用なしに埋込式システムの内部メモリとI/Oアクセスとを監視し、及び/又はプロトコル化することができる。
このアプローチは、次のような考え方に基づいている:一つは、埋込式システムの内部システム状態がその現在のデータメモリ内容(RAM)によって書込み又は分析することができる。そこから、このメモリ内容がリアルタイムで外部のデータメモリにコピーできる場合に、そこからこのシステム状態を後置された評価ユニットによって継続処理し、かつ評価する可能性が生じる。
本発明は、上記問題の解決のために請求項1に記載の新規の分析装置を記載する。
提案した分析装置により、例えば外部メモリ内の内部システム状態のコピーをリアルタイムで書込むことができる。この方法により、埋込式システムの正規の機能を外部から特に簡単にチェックすることができる。
請求項1で提案した分析装置と、請求項12で提案した方法とによって、分析のために使用するクロックサイクルが少なくて済む使用上の長所が生じる。
この分析装置は、その際に好ましくは特に車両ブレーキシステム用の電子制御装置に使用される埋込式システムの構成要素である。そのために通信モジュールが好ましくは埋込式システムの中に内蔵されている。このシステムの中に、さらに好ましくは、例えば1つ又は複数のCPU及びメモリのような、特に部分又は完全冗長に構成される重要なシステムコンポーネントが含まれている。これによって埋込式システムの作動安全性が向上する。
データのプロトコル化は、好ましくは全メモリ内容又は全メモリ領域の内容が伝送されるようには行われず、メモリの変化のみ、特にCPU及び/又は周辺装置の全書込アクセスの変化が伝送される。この方法により、データ出力に必要なバンド幅を縮小させることができる。
分析装置のその他の有利な実施形態は、従属請求項2から7から生じる。
さらに、このシステムは、好ましくはCPUによる直接的なデータ出力のための手段を含む。直接的なデータ出力のためのこの手段のほかに、特にバックグラウンドに分析モジュールによるデータの自動複製のための手段を設けている。これによってデータ出力時の可用性が向上する長所が生じる。
特にこの適用事例のために、本発明により上記の汎用のデータ入力及び出力モジュールが提案されており、このモジュールは、リアルタイムで埋込式システムとのデータ交換を実施できるように装備されており、これは特に短時間であっても一度も停止させる必要がない(non−intrusive)。
従来技術から公知のソフトウエア・エラー検知装置に対して、本発明によるハードウエア分析装置は、例えば車両ブレーキシステムのための制御アルゴリズムの開発時に、特に制御変数の動的システム特性を追跡できる長所を有する。さらに、埋込式システムに使用するためにHILS又はラピッド・プロトタイピングシステム(Rapid−Prototyping System)で埋込式システムへのデータ入力を有利に行うことができる。
本発明は、さらに少なくとも1つの中央演算処理ユニットと、1つのメモリとを含み、このメモリは上述した分析装置を特徴とする埋込式システムに関する。したがって、本発明はこの埋込式システム内のこのような分析装置の使用にも関する。
埋込式システムのほかに、本発明による解決策は、含まれるプロセッサコアの少なくとも1つに完全な分析装置が、上述したように組み込まれたことを特徴とする少なくとも2つのプロセッサコア(CPU)を備える車両用の内蔵型マイクロプロセッサシステムも含む。さらに、本発明は、こののような内蔵型マイクロプロセッサシステム内の上記分析装置の使用を含む。
特に、このようなマイクロプロセッサシステムの中でもう1つのプロセッサコアに、上記のような完全な分析装置よりも1つの削減した機能範囲を有する不完全な分析装置が組み込まれている。
上記マイクロプロセッサシステムの中に好ましくは第1のコアの停止のための第1の信号接続部と、別の冗長性のプロセッサコアの停止のためのもう1つの冗長性の信号接続部とを設けている。
ここで特に第1の信号接続部は、第1の分析装置と接続され、かつ冗長性の第2信号接続部は、不完全な分析装置と接続されている。
上記マイクロプロセッサシステムにおける機能範囲の削減は、好ましくは分析装置内に設けるバッファメモリがより小さいワード幅を有することにある。
機能範囲のさらなる削減は、好ましくはテストインタフェースが外部へ導出されず、あるいは設けていないことによって達成される。
さらに、本発明は、テストインタフェースを介したデータ伝送のためにデータ伝送プロトコルが使用され、かつデータがアドレスとデータとからなる複数のグループに伝送される上述したような分析装置を備える上記埋込式システムの分析方法に関する。
好ましい方法ステップにしたがって、まず、
−埋込式システムのメモリ内容又は対応して評価可能の情報が全部又は一部外部メモリの中にリアルタイムでコピーされ、その際に特に事前にデータがバッファされ、及び/又は−外部メモリのメモリ内容又は対応して評価可能の、外部メモリのメモリ内容に関する情報が全部又は一部埋込式システムのメモリの中にリアルタイムでコピーされ、その際に特に事前にデータがバッファされる。
−埋込式システムのメモリ内容又は対応して評価可能の情報が全部又は一部外部メモリの中にリアルタイムでコピーされ、その際に特に事前にデータがバッファされ、及び/又は−外部メモリのメモリ内容又は対応して評価可能の、外部メモリのメモリ内容に関する情報が全部又は一部埋込式システムのメモリの中にリアルタイムでコピーされ、その際に特に事前にデータがバッファされる。
外部メモリは、その際に好ましくは典型的なデバッギング・アプリケーションのデータ伝送に使用される。
この方法は、埋込式システムの処理速度がハードウエア要素を利用して実施したエラー検知のための措置によって低減されない長所を有する。これによって、デバッギング中でもデータのリアルタイム処理が可能である。
本発明に係る分析装置は、好ましくはエラー検知に使用できるだけでなく、変数(制御量)の観察が制御品質の特に簡単な考察と最適化とを可能にするので、車両仕様のソフトウエア又は制御アルゴリズムの開発にも使用できる。
本発明による方法は、好ましくはデータメモリ内容一式のリアルタイムで可能な出力のためのステップも含む。
さらに、埋込式システムの中に、CPUの全ての書込及び/又は読取アクセスが通信モジュールへ再転送されるモードを目的に応じて設けることもできる。
さらに、埋込式システムは、CPUの書込アクセス又は読取アクセスのいずれかのみが通信モジュールに再転送されるもう1つの好ましいモードを含むことができ、CPUのメモリへのCPUの通常のアクセスは、能動的に外部メモリの中にプロトコル化される。 その他の好ましい実施形態は、従属請求項と、下記の図面の説明とから生じる。
以下、本発明は例を利用してより詳しく説明する。
図1の埋込式システム9は、1つ又は複数のCPU1、1つ又は複数の消去可能のデータメモリ3(RAM)、1つの分析装置4及び1つのテストインタフェース5を含む。ブロック図の簡素化のために、その他の通常のROM,クロック発生手段,IO等の埋込式システムの機能要素は図示していない。
分析装置4は、以下に説明する3つの機能モードを有する。第1の機能モードでデータメモリ3へのCPU1の全ての書込アクセスが自動的にCPUバス2を介して提案された拡大データ出力/入力ユニット4から、その中に含まれるコントローラ又はトレースロジック22,23を利用してテストインタフェース5を介し、外部データメモリ6へ書き込まれる。CPUバス2は、択一的な例で、埋込式システムが密結合RAM(tightly coupled RAM)を有し、その際にコア仕様のインタフェースに関する情報を読み出すことができる場合にも省くことができる。分析装置は、これによってデータメモリ3へのCPU1の全ての書込アクセスを同時に読み取ることができる。そのため、ユニット4の中に含まれるコントローラは、少なくとも使用するメモリ3と同じバンド幅を有し、かつ内部のデータラインを介してデータのほかにも制御及びアドレス情報も得られる。これによって、この方法の好ましい実施形態にしたがって、コントローラは特にセレクトされたアドレス領域及び/又は特にセレクトされたデータタイプを分析のために同時に追跡することができる。したがって、データのタッピング及びデータ転送のために、CPU1は追加の指令を実行してはならない。分析装置4は、さらにデータ出力ユニット4の内部に配設された先入れ先出し(FIFO)メモリ8(First In / First Out)を含む。このメモリはタッピングされたデータの時間的バッファリングを処理する。この方法により、テストインタフェース5へのアクセスも出力することができ、そのバンド幅は短時間テストインタフェース5のバンド幅よりも高くなる。これは、例えばアクセスする際にキャッシュライン又はCPUレジスタダンプの再書込みが機能発生時に実施される場合とすることができる。
外部データメモリ6は、好ましくは2重のデータインタフェース(デュアルポート)を備えるメモリとして構成されており、一般的にRAM3で観察されたメモリ領域又はRAM3の全メモリ内容の正確な模写を含む。メモリ6は、後の(オフライン)分析のために発生するデータ流を記憶するリングメモリとすることもできる。
テストインタフェース5は、制御ラインのほかに、交互にアドレス情報もデータも伝送できるデータラインを設けた特殊性を有し、修正された並行のインタフェースとして形成されている。
第2機能モードにおいて、分析装置4によってデータメモリへのCPU1の全ての読取アクセスがプロトコル化される。このモードは、広範囲に第1の機能モードに相当するが、次のような相違点がある:全ての読取アクセスは、自動的にテストインタフェース5を介して出力される。分析装置4は、ここで読取サイクル、書込サイクル等の、埋込式システムによって実行される全てのプロセスを記録する(同時読取り)。CPU1は、能動的にメモリダンプを実施するが、但し、これによって僅かな許容し得る演算時間ロスを生じる。
第2機能モードで作動される分析装置の場合、CPU1はCPUレジスタの中へデータメモリ内容を読み取る。それと並行に、分析装置4は対応するデータを自動的に出力する。すなわち、分析用のデータ出力のための明示的な書込サイクルは不要である。
第3機能モードで、データ出力ユニットへの直接の書込み又はデータ出力ユニットからの直接の読取りを行う。第3機能モードは、データが能動的にCPU1によって分析装置4へ外部に出力され、又は能動的にそこから読み取られる事実に至るまで、本質的に第1の機能モードに相当し、これによってもちろん追加のクロックサイクルを必要とする。
分析ユニットは、モジュール7を介して外部データメモリ6からデータを、例えばシステム状態10のリアルタイム監視、モジュール11を介した一式のデータメモリ模写の構築のためのオフライン分析、通信チャネル12を介したフラッシュ・ダウンロード(プログラムメモリのプログラミング)、埋込式システムの作動中のパラメータ変数、システム刺激(System−stimuli)の伝送、ラピッドプロトタイピング及びHILSのような典型的はデバッギング・アプリケーションに伝送することができる。
図2a)はピン割振の例と、16ビットのポート幅をもつテストインタフェース5のタイムチャートとを示す。RAM3への書込アクセス時に、それぞれ所望のバンド幅に応じて、データビットD0からD7又はD0からD15又はD0からD31に続き、常に16アドレスビット(A1からA16)からなるアドレス及びデータ20からなるパッケージが伝送される。最大データワード幅は、値8,16,32,64等を取ることができる。
1つ又は複数の別のラインは、好ましくは64キロバイト以上でアドレス化されるべきであるときは、追加のアドレスビットの伝送のためのラインとして設けることができる。この場合は、必要なアドレスビット数を伝送するために、図示した16の物理ラインDP0からDP15では不充分である。アドレス可能の領域の倍化は、追加のアドレス情報を伝送するそれぞれ1つ又は複数の追加物理ライン26(Pin AO/FIFOfull)によって生じる。これによって、部分図a)に例として設定した16ピンのポート幅のために、217の最大アドレス空間が生じる(128キロバイト)。
アドレス/データ位相の長さは、好ましくは、例えばアドレス位相中にロジック「高」レベル及びデータ位相中に「低」レベルを占めるインタフェース内にあるAdd/nDATAライン21を介して表示される。これによって、この信号の立上りエッジが新規のデータパッケージのスタートをマークする。
もう1つのライン25は、好ましくは、有効なデータをピンDPCLKのエッジを介して表示するために設けられている。その際に1つの立上りエッジ又は1つの立下りエッジのいずれかを重要な妥当性の基準として考慮することができる。
16ピン幅のデータポートの例では、並行にそれぞれ16ビットが同時に伝送される。バイトアクセス(8ビット)を実現するために、好ましくは追加の信号ライン24(バイト/パリティ)を設けることができ、そのレベルはアドレス位相中に1バイトアクセスを発信する。データ位相中は、パリティビットを伝送するために、同じラインを利用することができる。
図2b)は、単に8ビットの幅をもつテストインタフェース5のもう1つの例を示す。部分図a)の例に対して、8ビット以上の幅のデータワードの伝送のために、対応する大きさのクロックサイクル数が用いられる。それに対して、バイト情報は1バイトアクセス時にピン24を省くことができ、その結果、ピン24′を介して1パリティビットのみが伝送される。
図3に、概略的に2つのCPU15及び16と、それぞれ1つのCPUに割り当てられた分析装置17及び18とを備える車両用の安全なマイクロプロセッサシステムを示している。分析装置17は、分析装置18よりも1つ削減された機能範囲と共にチップ所要スペースとを有する。
冗長性の理由から2重に設けたFIFOメモリ8′及び8″のオーバーフローの場合、信号ライン19,19′(2重に設置)を介して、それぞれ分析装置17及び18により冗長性にクロック同期してFIFOメモリ8′及び8″が両方ともそれぞれ対応してほぼ空きにされるまで、CPU15及び16を停止する1つの停止信号が発生される。FIFOメモリ8″は完全ではなく、そのため単に2(追加)ビット(群)のデータ幅を有する。それに対して、17アドレスビット、64データビット+2追加ビットの幅をもつFIFOメモリ8′は、完全なメモリである。2ビット幅のFIFOメモリ8″は、単にプロセッサのアクセス幅を記憶する。この情報は、データFIFO19を空にするために必要なクロックサイクルの計算に必要である。マイクロプロセッサシステムは、2つの冗長性の信号ラインと、CPUの停止用の分析装置とを有し、これによって1つの分析装置のみのエラー機能で機能する分析装置を有するCPUを引き続き作動させることができる。
エラーが発生した場合は、後の時点で計算結果の比較によって、又はコンピュータの停止のためにそれ自体として検知することができる。分析装置17内の冗長性インタフェースモジュール(IM、TDP2)は、それ自体データを伝送しない。FIFOメモリの充填及び消去のためのロジック22,23だけは、完全に冗長性に実装されなければならない。
この場合、上述のマルチコアプロセッサアーキテクチャの使用によりCPUの停止のための信号をチップ面積の需要を少なくして充分なエラー安全性で考案できることが有利である。製造コストは、部分的に不完全な分析装置の使用によって明らかに低減される。
下表に示したように、例示した分析ポートは特に少ないクロックサイクルの使用を特徴とする。典型例では、本発明に係るテストインタフェースによって元々必要なクロックサイクル数を基準にして僅か約0.5から1%の演算時間の低減が生じる。下表に、データパッケージの伝送に必要なクロックサイクル数を示している。
┌─────────┬───────────────────────┐
│ポートのビット幅 │書込アクセス幅[ビット] │
├─────────┼─────┬─────┬─────┬─────┤
│ │8 │16 │32 │64 │
├─────────┼─────┼─────┼─────┼─────┤
│4 │6 │8 │12 │20 │
├─────────┼─────┼─────┼─────┼─────┤
│8 │3 │4 │6 │10 │
├─────────┼─────┼─────┼─────┼─────┤
│16 │2 │2 │3 │5 │
└─────────┴─────┴─────┴─────┴─────┘
┌─────────┬───────────────────────┐
│ポートのビット幅 │書込アクセス幅[ビット] │
├─────────┼─────┬─────┬─────┬─────┤
│ │8 │16 │32 │64 │
├─────────┼─────┼─────┼─────┼─────┤
│4 │6 │8 │12 │20 │
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│8 │3 │4 │6 │10 │
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│16 │2 │2 │3 │5 │
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1 CPU
2 CPUバス
3 RAM
4 分析装置
5 テストインタフェース
6 外部データメモリ
7 モジュール
8 バッファメモリ
9 埋込式システム
15 CPU
16 CPU
17 分析装置
18 分析装置
22 ロジック
23 ロジック
2 CPUバス
3 RAM
4 分析装置
5 テストインタフェース
6 外部データメモリ
7 モジュール
8 バッファメモリ
9 埋込式システム
15 CPU
16 CPU
17 分析装置
18 分析装置
22 ロジック
23 ロジック
Claims (17)
- 少なくとも1つのCPU(1)と、必要であれば少なくとも1つのCPUバス(2)と、少なくとも1つのメモリ(3)とを含む埋込式システム(9)のための分析装置において、この分析装置がテストインタフェース(5)を介して分析データを入力又は出力するための少なくとも1つの通信モジュール(4)を有する分析装置において、
テストインタフェースが制御ラインのほかに、交互に又はその他の順序でデータワードもアドレスワードも伝送する少なくとも1つのデータライングループを有し、及びデータワード又はアドレスワードが伝送されるかどうかの情報が少なくとも1つの制御ラインを介して伝送され、その結果、演算時間中の書込可能な内部メモリの内容及びアクセス、並びに埋込式システムのI/Oアクセスを実質的にCPU(1)のクロックサイクルを使用せずに監視し、及び/又はプロトコル化できることを特徴とする分析装置。 - 2つの、特に少なくとも3つの自由に選択可能の分析モードにおいて、この分析モードがデータ分析の目的のための読取り及び/又は書込み時のCPU1の参加の形式及び範囲において互いに区別され、それぞれ選択した分析モードに応じて、
−特に定義可能のアドレス領域への全てのCPUの書込アクセスがクロックサイクルを使用せずにプロトコル化されるか、又は
−全てのCPUの読取アクセスがプロトコル化されるか、又は
−外部メモリ(6)から又はそれへのCPUの直接の読取り及び書込みがクロックサイクルの使用下に実施されることを特徴とする請求項1に記載の分析装置。 - 通信モジュールが、書込及び/又は読取アクセスをリアルタイムで、すなわちCPUの干渉なしに同時に追跡するために、自立的にデータ接続を介してデータ及び/又は制御及び/又はアドレス情報にアクセスできるロジック22、23を含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の分析装置。
- 通信モジュールがバッファメモリ(8,8′,8″)に接続され、又は特にバッファメモリを含み、このバッファメモリ内に書込及び/又は読取アクセス時に伝送されるデータを記憶することができ、及び特にこのバッファメモリからデータをテストインタフェース(5)を介しバッファして出力し、又はデータをバッファメモリの中へこのインタフェースを介して書き込みできることを特徴とする請求項1〜3の少なくとも1項に記載の分析装置。
- テストインタフェース(5)が埋込式システムの外部に配設されたテストメモリ(6)と接続され、外部テストメモリ(6)が特にリングメモリ又はデュアルポートメモリであることを特徴とする請求項1〜4の少なくとも1項に記載の分析装置。
- 通信モジュールから外部メモリへのデータ伝送が並行インタフェース(5)を介して行われることを特徴とする、請求項1〜5の少なくとも1項に記載の分析装置。
- 外部メモリ(6)が、外部デバッギング・アプリケーションとのインタフェース接続 (14)を構築するデータ準備装置(7)と接続されることを特徴とする請求項1〜6の少なくとも1項に記載の分析装置。
- 少なくとも中央演算処理装置(1)及びデータメモリ(3)を有する完全に機能性のあるマイクロコンピュータを含む埋込式システムにおける請求項1〜7の少なくとも1項に記載の分析装置の使用。
- 少なくとも2つのプロセッサコア(15、16)を有する車両用の内蔵型マイクロプロセッサシステムにおいて、含まれるプロセッサコアの少なくとも1つ(16)に、特に請求項1から7の少なくとも一項に記載の完全な分析装置(18)が組み込まれている、請求項1〜7の少なくとも1項に記載の分析装置の使用。
- 内蔵型マイクロプロセッサシステムの中に、完全な分析装置を有する第1のプロセッサコア(16)の他に、完全な分析装置(18)に対して削減された機能範囲を有する不完全な分析装置(17)が別のプロセッサコア(15)に組み込まれていることを特徴とする請求項9に記載の使用。
- 分析装置の中にあるバッファメモリ(8′,8″)がより小さいメモリスペース数及び/又はワード幅を有し、及び/又はテストインタフェース(5)が外部に導出されず、及び/又はテストインタフェース(5)が無いことに、機能範囲の削減があることを特徴とする請求項9又は10に記載の使用。
- テストインタフェースを介したデータ伝送のためにデータ伝送プロトコルが使用され、データがアドレスとデータとからなる複数のグループに伝送されることを特徴とする特に請求項1〜7の少なくとも1項に記載のテストインタフェースを備える埋込式システムの分析方法。
- 少なくとも1つのモードがあり、その中で分析データが、少なくともCPU、データメモリ、プログラムメモリ及びI/O要素を含むシステムからリアルタイムで読み出し、及び/又はシステムの中に書き込むことができ、その結果、システムが分析のために停止又は中断される必要がないことを特徴とする請求項12に記載の方法。
- −埋込式システムのメモリ内容又は対応して評価可能の情報が全部又は一部外部メモリの中にリアルタイムでコピーされ、その際に特に事前にデータがバッファされ、及び/又は
−外部メモリ(6)のメモリ内容又は対応して評価可能の、メモリ(6)のメモリ内容に関する情報が全部又は一部埋込式システムのメモリの中にリアルタイムでコピーされ、その際に特に事前にデータがバッファされることを特徴とする請求項12又は13に記載の方法。 - デバッギングに必要なデータのみがRAM3へのCPUのアクセス時に外部メモリ(6)へ伝送されることを特徴とする請求項12〜14の少なくとも1項に記載の方法。
- CPUの書込アクセス及び/又は読取アクセスがバッファメモリ(8,8′,8″)を利用してプロトコル化されることを特徴とする請求項12〜15の少なくとも1項に記載の方法。
- 情報が書込アクセスを介して追加のCPU指令なしにバッファメモリ(8,8′,8″)に、又は通信モジュール(4)に直接書き込まれ、読取アクセスに関する情報がCPUの能動的支援によりバッファメモリに書き込まれることを特徴とする請求項12〜16の少なくとも1項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102004006437 | 2004-02-09 | ||
PCT/EP2004/050803 WO2005078586A2 (de) | 2004-02-09 | 2004-05-13 | Einrichtung und verfahren zur analyse von eingebetteten systemen für sicherheitskritische rechnersysteme in kraftfahrzeugen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007522554A true JP2007522554A (ja) | 2007-08-09 |
Family
ID=34853407
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006551736A Pending JP2007522554A (ja) | 2004-02-09 | 2004-05-13 | 車両内のセキュリティ上問題のあるコンピュータシステムのための埋込式システムの分析装置及び方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20070294583A1 (ja) |
EP (1) | EP1716490B1 (ja) |
JP (1) | JP2007522554A (ja) |
KR (1) | KR20060110359A (ja) |
CN (1) | CN101095119B (ja) |
WO (1) | WO2005078586A2 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2443373B (en) | 2005-08-29 | 2009-12-09 | Midtronics Ltd | Automotive vehicle electrical system diagnostic device |
US8806064B2 (en) * | 2006-09-29 | 2014-08-12 | Broadcom Corporation | Virtual interface to the PoE device through an expanded registered map in a networking device such as a PHY |
US20090006309A1 (en) * | 2007-01-26 | 2009-01-01 | Herbert Dennis Hunt | Cluster processing of an aggregated dataset |
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2004
- 2004-05-13 JP JP2006551736A patent/JP2007522554A/ja active Pending
- 2004-05-13 WO PCT/EP2004/050803 patent/WO2005078586A2/de active Application Filing
- 2004-05-13 US US10/588,873 patent/US20070294583A1/en not_active Abandoned
- 2004-05-13 CN CN2004800414694A patent/CN101095119B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2004-05-13 EP EP04732624.4A patent/EP1716490B1/de not_active Expired - Fee Related
- 2004-05-13 KR KR1020067016085A patent/KR20060110359A/ko not_active Application Discontinuation
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20060110359A (ko) | 2006-10-24 |
US20070294583A1 (en) | 2007-12-20 |
CN101095119A (zh) | 2007-12-26 |
CN101095119B (zh) | 2012-02-29 |
WO2005078586A2 (de) | 2005-08-25 |
EP1716490B1 (de) | 2017-08-23 |
WO2005078586A3 (de) | 2006-09-14 |
EP1716490A2 (de) | 2006-11-02 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20100519 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100629 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100928 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110222 |