JP2007517298A - 電圧制御システム - Google Patents

電圧制御システム Download PDF

Info

Publication number
JP2007517298A
JP2007517298A JP2006546142A JP2006546142A JP2007517298A JP 2007517298 A JP2007517298 A JP 2007517298A JP 2006546142 A JP2006546142 A JP 2006546142A JP 2006546142 A JP2006546142 A JP 2006546142A JP 2007517298 A JP2007517298 A JP 2007517298A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
control system
wiring
vdd
voltage control
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006546142A
Other languages
English (en)
Inventor
ブロックス,マーティン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Infineon Technologies AG
Original Assignee
Infineon Technologies AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Infineon Technologies AG filed Critical Infineon Technologies AG
Publication of JP2007517298A publication Critical patent/JP2007517298A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10Regulating voltage or current
    • G05F1/46Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/462Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc as a function of the requirements of the load, e.g. delay, temperature, specific voltage/current characteristic
    • G05F1/465Internal voltage generators for integrated circuits, e.g. step down generators

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

本発明は、電圧制御方法および電圧制御システム(11)に関する。この電圧制御方法および電圧制御システム(11)によって、電圧制御システム(11)の入力部(17)に印加される第1電圧(VDD)を、第2電圧(VINT)に変換する。第2電圧(VINT)は、第1電圧(VDD)からほぼ一定の電圧(VBGR)を生成するため、または、そのVBGRから派生した電圧を生成するための、第1装置(12、13)によって、電圧制御システム(11)の出力部(19c)に出力される。この場合、第1電圧(VDD)からさらなる電圧(VTRACK)を生成するために、または、そのVTRACKから派生した電圧を生成するために、特に、第1装置(12)によって生成される電圧(VBGR)よりも大きい電圧(VTRACK)を得るために、装置(34、33)がさらに備えられている。

Description

発明の詳細な説明
本発明は、請求項1に記載の前提構成に基づく電圧制御システム、および、電圧制御方法に関するものである。
半導体部品、特にDRAM(DRAM=Dynamic Random Access Memoryおよび/または動的な書き込み・読み込みメモリー)などのメモリー部品では、部品の内部において使用される電圧レベルVINTと、部品の外部で使用される(例えば、外部の電圧供給部によって半導体部品に提供される)電圧レベル、例えば電圧レベル(電源電圧レベル)VDDとを区別することができる。
特に、内部で使用される電圧レベルVINTは、電源電圧のレベルVDDよりも低いことがある。内部で使用される電圧レベルVINTは、1.5Vであり、電源電圧レベルVDDは、例えば1.5〜2.5Vでもよい。
電源電圧レベルVDDよりも内部電圧レベルVINTが低いことの利点は、半導体部品内での電力損失を少なくすることができる点である。
さらに、外部電圧供給の電圧レベルVDDは、比較的強い変動の影響を受ける。
したがって、電源電圧は、通常、部品のエラーをできるだけ無くすことができるようにするため、また、部品をできるだけ信頼できる方法で動作させることができるようにするため、電圧制御器を用いて、(比較的マイナーな変動にしか影響を受けない、特定の一定の低い値になるように調整された)内部電圧VINTに変換される。
従来の電圧制御器(例えば、対応するダウンコンバータ制御器)は、例えば差動増幅器とp型電界効果トランジスタとを備えている。電界効果トランジスタのゲートは、差動増幅器の出力部に接続することができ、電界効果トランジスタのソースは、例えば外部電圧供給部に接続されていている。
差動増幅器の正および/または負の入力部に、比較的マイナーな変動にしか影響を受けない基準電圧VREFを印加する。電界効果トランジスタのドレインにて出力される電圧は、直接的に、または、間に接続された分圧器を介して、差動増幅器の負の入力部にフィードバック結合させることができる。
差動増幅器は、電界効果トランジスタのゲート端子に印加される電圧を制御し、(フィードバック結合された)ドレイン電圧(および、電圧制御器から出力される電圧)が一定になり、基準電圧と同じ大きさになるように、または、基準電圧よりも例えば特定の係数だけ大きくなるようにする。
上記基準電圧VREFを生成するために、対応する従来の基準電圧生成装置(例えば、バンドギャップ基準電圧生成装置)を使用することができる。上記基準電圧生成装置は、上記比較的高い電源電圧レベルVDDを有する(場合によっては比較的強い電圧変動の影響を受ける可能性のある)電源電圧から、例えば1つまたは複数のダイオードを用いて、一定の電圧レベルVBGRを有する信号を生成する。
上記一定の電圧レベルVBGRを有する信号は、バッファ回路へ転送され、バッファ回路に、対応して(一時的に)格納され、適切な上記基準電圧レベルVREFを有する信号の形状で(例えば、上記電圧制御器(および/または、対応する電圧制御器差動増幅器の正および/または負の入力部)および/または、半導体部品上に備えられている他の装置(例えばさらなる電圧制御器)へ)さらに分配される。
本発明は、新規な電圧制御システムおよび新規な電圧制御方法を提供することを目的としている。
本発明は、これらあるいはさらなる目的を、クレーム1、9の構成を用いて達成する。
本発明のさらなる有益な構成は、従属クレームに挙げられている。
本発明の基本概念の点から見ると、電圧制御システムを実現することにより、電圧制御システムの入力部に存在する第1の電圧が第2の電圧に変換され、電圧制御システムの出力部から出力される。本電圧制御システムを実現するために、上記第1の電圧から、本質的に一定な電圧あるいはそれから派生した電圧を生成する第1の装置が備えられ、それにより、上記第1の電圧からさらなる電圧あるいはそれから派生した電圧(特に、第1の装置により生成された電圧より高くしうる電圧)を生成するさらなる装置が追加で備えられている。
特に有利なものとしては、上記第1の装置により生成される電圧、またはそれから派生した電圧と、上記さらなる装置により生成される電圧、またはそれから派生した電圧とを、電圧制御回路装置を制御するのに用いることができる。特に、上記第2の電圧を生成する電圧制御回路装置のための基準電圧として用いる。
好ましくは、上記の「さらなる装置」を起動および/または停止する装置を追加してもよい。
もし、特定の状況で性能(特に、上記(第2の)電圧と接続された装置の切り替え速度)を上げたい場合は、上記さらなる装置を起動すればよい。それにより、上記さらなる装置の停止状態のときよりも高い(第2の)電圧が、電圧制御システムから出力されるようにすることができる。
以下で、複数の実施例および添付の図を参照して、本発明を詳しく説明する。
図1は、従来の電圧制御システムの概略図である。
図2は、本発明の一実施例の電圧制御システムの概略図である。
図3は、図2に示す電圧制御システムにおいて使用可能なバッファ回路を図式的に詳しく示す図である。
図4は、図2に示す電圧制御システムにおいて使用可能な電圧制御器を図式的に詳しく示す図である。
図5は、電源電圧のレベルに応じた、さらなる付加的なバッファ回路の起動状態または停止状態における図2に示す電圧制御システムの出力電圧のレベルの概略図である。
図6は、図2に示す電圧制御システムにおいて使用可能な他の付加的なバッファ回路を図式的に詳しく示す図である。
図1に、従来技術の、対応する半導体部品上に配置された、電圧制御システム1の概略図を示す。
電圧制御システム1は、基準電圧生成装置2(例えば、バンドギャップ基準電圧生成装置)と、バッファ回路3と、1つまたは複数の電圧制御器4(例えば、対応するダウンコンバータ制御器)とを備えている。
図1から分かるように、基準電圧生成装置2に、例えば対応する配線5・6・7を介して、外部電圧供給部から半導体部品へ提供される電源電圧が供給される。
電源電圧は、比較的高い、場合によっては比較的強い変動の影響を受ける。電圧レベルVDDを有している。
基準電圧生成装置2は、電源電圧から、例えば1つまたは複数のダイオードを用いて、一定の電圧レベルVBGRを有する信号を生成する。
上記一定の電圧レベルVBGRを有する信号は、対応する配線8を介して、上記バッファ回路3へ転送され、上記バッファ回路3に、適切に(一時的に)格納され、同じく一定の電圧レベルVREFを有する対応する信号の形状で、(例えば、(配線9aを介して)上記電圧制御器4および/または半導体部品上に設けられた他の装置(例えば、他の電圧制御器)などへ)転送される。
電圧制御器4は、例えば、差動増幅器とp型電界効果トランジスタとを備えていてもよい。電界効果トランジスタのゲートは、差動増幅器の出力部に接続されていてもよく、電界効果トランジスタのソースは、配線9bを介して、上記外部電圧供給部(電圧レベルVDD)に接続されていてもよい。
差動増幅器の正および/または負の入力部に、「基準電圧」として、上記配線9aを介して電圧制御器4へ転送された一定の(または、比較的マイナーな変動にしか影響を受けない)電圧VREFを印加する。
電界効果トランジスタのドレインを介して出力される電圧は、直接的に、または、間に接続された分圧器を介して、差動増幅器の負の入力部へフィードバック結合されていてもよい。
差動増幅器は、電界効果トランジスタのゲート端子に印加される電圧を制御し、(フィードバック結合された)ドレイン電圧、および、電圧制御器4から例えば対応する配線9cを介して出力される電圧VINTを一定にし、基準電圧VREFと同じ大きさにするか、または、例えば特定の係数だけ基準電圧VREFよりも大きくする。
したがって、上記電圧制御システム1を用いて、上記外部の比較的高く比較的メジャーな変動の影響を受ける電圧VDDから、比較的マイナーな変動にしか影響を受けない、特定の一定の低い値に制御された電圧VINTを生成することができる。この電圧VINTを用いることにより、半導体部品上に設けられた対応する装置を、確実に、比較的少ない電力損失で動作させることができる。
図2に、本発明の一実施例の、対応する半導体部品上に配置された、電圧制御システム11の概略図を示す。
半導体部品は、例えば対応する集積された(アナログまたはデジタル)演算回路、および/または、半導体メモリー部品、例えばファンクションメモリー部品(functional memory component)(PLA、PALなど)またはテーブルメモリー部品(table memory component)(例えば、ROMまたはRAM)、特にSRAMまたはDRAMである。
電圧制御システム11は、基準電圧生成装置12(例えば、バンドギャップ基準電圧生成装置)と、バッファ回路13と、1つまたは複数の電圧制御器14(例えば、対応するダウンコンバータ制御器)とを備えている。
図2から分かるように、基準電圧生成装置12には、例えば対応する配線15a・15b・16a・17を介して、外部電圧供給部から半導体部品へ提供される電源電圧が供給される。
電源電圧は、比較的高い、場合によっては比較的強い変動の影響を受ける電圧レベルVDDを有している。
例えば、電源電圧の高さは、1.5V〜2.5Vの間であってもよく、例えば、約1.6Vと2.0Vとの間(1.8V±0.22V)である。
基準電圧生成装置12は、電源電圧から、例えば1つまたは複数のダイオードを用いて、一定の電圧レベルVBGRを有する信号を生成する。
上記一定の電圧レベルVBGRを有する信号は、対応する配線18を介して、上記バッファ回路13へ転送され、上記バッファ回路13に、対応して(一時的に)格納され、同じく一定の電圧レベルVREF1を有する対応する信号の形態で、(例えば、(配線19aを介して)上記電圧制御器14へ、および/または、例えば、(ここには図示していない対応する他の配線を介して)半導体部品上に設けられた他の装置(例えば、他の電圧制御器)などへ)転送される。
図3に、図2に示す電圧制御システム11において使用可能なバッファ回路13を図式的に詳しく説明する。
バッファ回路13は、正の入力部21aおよび負の入力部21bを有する差動増幅器20と、電界効果トランジスタ22(ここでは、pチャネルMOSFET)とを備えている。
差動増幅器20の出力部は、配線23を介して、電界効果トランジスタ22のゲート端子に接続されている。
さらに図3に示すように、電界効果トランジスタ22のソースは、(図2では上記配線16a・17に接続されている)配線16bを介して、上記比較的高い電圧レベルVDDを有する電源電圧に接続されている。
図3から分かるように、差動増幅器20の負の入力部21bには、配線18を介して基準電圧生成装置12から供給された、上記比較的一定の電圧レベルVBGRを有する、上記信号が印加される。
電界効果トランジスタ22のドレインを介して出力される、上記比較的一定の電圧レベルVREF1を有する上記信号は、配線24と、配線24に接続されている配線25とを介して、差動増幅器20の正の入力部21aにフィードバック結合され、配線24に接続されている配線19aを介して、上記電圧制御器14(および/または、例えばここには記載されていない対応する他の配線を介して、上記他の電圧制御器など)へ転送される。
図4に、図2に示す電圧制御システム11において使用可能な電圧制御器14を図式的に詳しく示す。
電圧制御器14は、正の入力部32および負の入力部31を有する差動増幅器28と、電界効果トランジスタ29(ここでは、p型MOSFET)とを備えている。
差動増幅器28の出力部は、配線29aを介して、電界効果トランジスタ29のゲート端子に接続されている。
図4にさらに示すように、電界効果トランジスタ29のソースは、配線19b(および、図2では、配線19bに接続されている配線17)を介して、比較的高い電圧レベルVDDを有する上記電源電圧に接続されている。
差動増幅器28の正の入力部32に、以下でさらに詳しく説明するように、配線19aと、配線19aに接続されている配線27とを介してバッファ回路13から供給される、比較的一定の電圧レベルVREF1を有する上記(基準)信号が印加される。場合によってはさらに、(上記バッファ回路13に対して並列接続された)さらなるバッファ回路33から提供される(他の)(基準)信号も印加される。(上記信号は、以下でさらに詳しく説明するように、可変であり、または、場合によっては対応する変動の影響を受け、一般的に比較的高い電圧レベルVREF2を有し、配線26と、配線26に接続されている配線27とを介して、上記のさらなるバッファ回路33から電圧制御器14へ転送される)。
電界効果トランジスタ29のドレインから出力される電圧(VINT)は、第1形態の電圧制御器14では、差動増幅器28に直接フィードバック結合されている。電界効果トランジスタ29のドレインは、このため(直接)配線19c(および、配線19cに接続されているここには図示していない配線)を介して、差動増幅器28の負の入力部31に接続されていてもよい(したがって、差動増幅器28の負の入力部31に印加される、フィードバック結合された電圧(VINT_FB)は、ドレイン電圧(VINT)と同じ大きさである)。
これに対し、第2の代替の形態では、電界効果トランジスタ29のドレインから出力される電圧(VINT)は、間に接続された分圧器(ここでは図示せず)を介して、すなわち、細分されて、差動増幅器28にフィードバック結合される。このため、電界効果トランジスタ29のドレインは、配線19c(および、配線19cに接続されている配線(ここでは図示せず))を介して、分圧器の第1抵抗器R2(図示せず)に接続されていてもよい。上記第1抵抗器R2は、一方側では(その分圧器の抵抗器R1(同じく図示せず)を介して)接地されており、他方側では、差動増幅器28の負の入力部31に接続されている(したがって、差動増幅器28の負の入力部31に印加される、フィードバック結合された電圧(VINT_FB)は、特定の係数だけ、ドレイン電圧(VINT)よりも小さい)。
差動増幅器28は、上記第1形態(ドレイン電圧(VINT)が直接フィードバック結合されている形態)の電圧制御器14では、電界効果トランジスタ29のゲート端子に印加される電圧を制御し、(フィードバック結合された)ドレイン電圧(VINT)が差動増幅器28の正の入力部32に印加される基準電圧(すなわち、VREF1(VREF2よりもVREF1のほうが大きい場合)またはVREF2(VREF1よりもVREF2のほうが大きい場合)(下記参照))と同じ大きさになるようにする。
これに対し、上記で説明した第2の代替形態(ドレイン電圧(VINT)が直接フィードバック結合されておらず、上記分圧器を介してフィードバックされている形態)の電圧制御器14では、差動増幅器28の電界効果トランジスタ29のゲート端子に印加される電圧を制御し、
VINT=VREF×(1+(R2/R1))
となるようにする。または、より正確に以下でさらに詳しく説明されるように、
VREF1>VREF2が当てはまる場合は、VINT=VREF1×(1+(R2/R1))となるようにし、
または、VREF2>VREF1が当てはまる場合は、VINT=VREF2×(1+(R2/R1))となるようにする。
電界効果トランジスタ29のドレインに(すなわち、電圧制御器14から)配線19cを介して出力される電圧(VINT)は、電圧制御システム11の出力電圧である。
上記制御により、以下のことが達成される。すなわち、電圧制御システム1の出力電圧(VINT)は、例えば図5において明らかなように、部分的に比較的強い変動の影響を受けている可能性のある電源電圧(VDD)とは反対に、一定の大きさVINTnom、例えば1.5Vを有している(しかしながら、以下でさらに詳しく説明するように、これは、(上記のさらなる)バッファ回路33が起動していない(図5において一部破線で示す)場合のみ、または、バッファ回路33が起動している場合は、電源電圧(VDD)が(同じく以下でさらに詳しく説明するような)所定の閾値(VDDnom)よりも小さい場合のみである)。
配線19cに印加される出力電圧VINTは、場合によっては他の配線(ここには図示せず)を介して、「内部電源電圧」として、半導体部品上に設けられた対応する装置へ転送されてもよい(したがって、上記対応する装置は、出力電圧VINTが上記一定の電圧値VINTnomを有している場合は、非常に高い信頼性で、比較的少ない電力損失で、比較的長い寿命で動作することができる)。
(特定の状況において)性能、特に(例えば配線19cを介して)出力電圧VINTに接続されている装置のスイッチング速度を上げたい場合は、出力電圧VINTによって作動する装置の信頼性および/または寿命が場合によっては低下し、および/または、この装置の電力損失が増してしまうが、配線19cに印加される出力電圧VINTの高さ、すなわち、内部電源電圧の高さを、上記(通常動作における、各仕様書において決定されている)値(「名目値」VINTnom)よりも高くすることができる。
例えば半導体部品を、例えばハイエンドなグラフィックの(high-end graphic)メモリー部品、例えばメモリー部品、特に、クロック速度の高い、特に、オーバークロック(overclocked)のプロセッサのためのDRAMメモリー部品、特にグラフィックプロセッサとしてのハイエンドなグラフィックの(high-end graphics)システムにおいて使用する場合は、この(さらなる、第2の)動作方法(「高性能動作」)を使用することができる。
上記「高性能動作」を可能にするために、電圧制御システム11では(上記基準電圧生成装置12、およびバッファ回路13に加えて)既に上で説明したさらなるバッファ回路33が備えられており、また、以下でさらに詳しく説明するように、(さらなる)基準電圧生成装置34(例えば、電圧トラッキング基準電圧生成装置)と、(付加的な)レジスタ35とが備えられている。
電圧制御システム11の動作開始(および/または、スイッチオン/「電源入力」)の直後、および/または、(既述のように、上記の、場合によっては変化する電圧レベルVDDを有している)上記外部電源電圧を配線17に最初に入力した直後、電圧制御システム11は、まず、上記「通常動作」で動作する。
「通常動作」では、上記さらなるバッファ回路33は停止されている。
このため、上記レジスタ35の対応する出力部に、対応する(例えば論理的にローの)出力信号VTRACK_ENABLEが出力され、対応する制御線36を介して、バッファ回路33の対応する制御端子へ転送される(図6も参照)。
電圧制御システム11をスイッチオン/「電源入力」する(このことにより、バッファ回路33は、まずは停止状態になる)場合に、対応する(例えば論理的にローの)出力信号を上記レジスタ出力部へ出力するのは、例えば以下のようにすることで確実に行える。すなわち、電圧制御システム11のスイッチオン/電源入力時に、対応するリセット信号をレジスタ36のリセット入力部に接続されている配線37に印加することにより、それに応じてレジスタをリセットすることで確実に行える。
半導体部品の各使用者によってそれぞれ設定できるように、半導体部品の動作中に、上記「通常動作」から上記「高性能動作」へ(および、場合によっては何度も「通常動作」に戻るように)変更したい場合は、対応する外部配線を用いて半導体部品に接続されている外部制御装置から、対応する制御信号(例えば、「高性能動作」へ変更するための「論理的ハイ」(high logic)制御信号、および、「通常動作」へ(戻るように)変更するための「論理的ロー」(low logic)制御信号(通常動作起動信号))を、レジスタ35の設定入力(setting input)に接続されている配線38へ印加する。
クロック線39を介してレジスタ35のクロック入力部に供給される(例えば上記(システム)制御装置によって提供される)クロック信号の次の正の(または負の)フランク(flank)では、レジスタ出力部に出力される出力信号(すなわち、制御配線36の信号VTRACK_ENABLE)は、レジスタ35の設定入力(setting input)(すなわち、配線38)に印加される制御信号の状態を調整し、このことにより、バッファ回路33は、対応して起動される(信号VTRACK_ENABLEの論理的ハイ(high logic)状態)か、または、元に戻るように停止される(信号VTRACK_ENABLEの論理的ロー(low logic)状態)。
図6に、電圧制御システム11において上記のさらなる付加的なバッファ回路33として使用可能なバッファ回路を図式的に詳しく示す(バッファ回路33は、上述のとおり、配線36を介して、レジスタ35に接続されている)。
バッファ回路33は、正の入力部121aおよび負の入力部121bを有する差動増幅器120と、電界効果トランジスタ122(ここでは、pチャネルMOSFET)とを備えている。
差動増幅器120の出力部は、配線123を介して、電界効果トランジスタ122のゲート端子に接続されている。
図6にさらに示すように、電界効果トランジスタ122のソースは、(図2では、配線116cと115aとを介して、上記配線15a・16a・17に接続されている)配線116bを介して、比較的高い電圧レベルVDDを有する上記電源電圧に接続されている。
図2および図6から分かるように、差動増幅器120の負の入力部121bに、配線118を介して基準電圧生成装置34から供給される信号が印加される。この信号は、(以下で詳しく説明するような)可変性の、または、対応して変動する信号レベルVTRACKを有している。
電界効果トランジスタ122のドレインを介して出力される、上記(可変のこともある)電圧レベルVREF2を有する信号は、配線124と、この配線124に接続されている配線125とを介して、差動増幅器120の正の入力部121aにフィードバック結合されており、配線124に接続されている配線26を介して出力される。
(上記のさらなる)バッファ回路33を用いて、バッファ回路33の「起動」状態では(すなわち、制御線36に論理的ハイ(high logic)信号VTRACK_ENABLEが印加されている状態では)、
可変電圧レベルVTRACKを有し、配線118を介して基準電圧生成装置34からバッファ回路33へ転送される信号が、
(一時的に)格納され、
電圧レベルVTRACKに対応する電圧レベルVREF2を有する、配線26において出力(tap)可能な対応する信号の形状で、上記電圧制御器14(および/または、例えば対応するさらなる配線(図示せず)を介して、上記さらなる電圧制御器など)へ転送される。
これに対し、バッファ回路33の「停止」状態では(すなわち、制御配線36に論理的ロー(low logic)信号VTRACK_ENABLEが印加されている状態では)、バッファ回路33の出力部(すなわち、電界効果トランジスタ122のドレインおよび配線26)は、高抵抗状態である。
図2から分かるように、基準電圧生成装置34(「トラッキング基準電圧生成器」)は、配線115bと配線115bに接続されている配線115a・15a・16a・17とを介して、上記比較的高い電圧レベルVDDを有する上記電源電圧に接続されている。
(上記のさらなる)基準電圧生成装置34は、電圧レベルVDDを有する電源電圧から、配線118を介してバッファ回路33へ転送される、レベルVTRACKを有する電圧を生成する。レベルVTRACKは、(第1)基準電圧生成装置12によって生成される電圧VBGRのレベルVBGRよりも高くてもよい(これにより、(上記のさらなる)バッファ回路33から配線26を介して電圧制御器14へ転送される電圧のレベルVREF2が、(第1)バッファ回路13から配線19aを介して電圧制御器14へ転送される電圧のレベルVREF1よりも高くてもよいということになる)。
例えば、(上記のさらなる)基準電圧生成装置34によって、電圧レベルVDDを有する供給電位から生成され、配線118を介してバッファ回路33へ転送される、電圧レベルVTRACKを有する電圧として、供給電位の電圧レベルVDDに比例した電圧を生成することができる。
有利なものとしては(例えば、代替の実施例では)、(上記のさらなる)基準電圧生成装置34によって生成される電圧のレベルVTRACKが、電源電圧のレベルVDDとほぼ同じ大きさであるか、または、電源電圧のレベルVDDよりもほんの少し小さい(例えば、VTRACK=(0.5〜0.95)×VDD、特に、(0.7〜0.9)×VDDなどが当てはまる)。
例えば、(上記のさらなる)基準電圧生成装置34は、複数の直列に接続された抵抗器を有する分圧器回路の形状で設計されていてもよい(この場合、例えば、第1抵抗器は、配線115bを介して、電源電圧に接続されていてもよく、第2抵抗器は、第1抵抗器に対して直列に、接地電位に接続されていてもよい。この場合、(上記のさらなる)基準電圧生成装置34から出力される電圧は、2つの抵抗器の間で出力(tap)され、配線118を介してバッファ回路33へ転送されるようにすることができる)。
(上記のさらなる)基準電圧生成装置34(および、第1基準電圧生成装置12)は、電源電圧(VDD)が上記所定の閾値(VDDnom)に等しい場合には、(上記のさらなる)基準電位生成装置34によって生成される電圧のレベルVTRACKが、(第1)基準電圧生成装置12によって生成される電圧のレベルVBGRに等しくなる(図5参照)ように設計されている。したがって、バッファ回路13によって生成される電圧のレベルVREF1は、バッファ回路33によって生成される電圧のレベルVREF2に等しい。
(上記のさらなる)バッファ回路33の停止状態では、(バッファ回路33の出力部が高抵抗の状態なので、すなわち、そのときに配線26に印加されている信号VREF2が高抵抗の状態なので、)配線27を介して電圧制御器14に入力される信号の状態(および、電圧制御器14から配線19cへ出力される信号VINTの状態)は、配線27に接続されている配線19aに印加されている、(第1)バッファ回路33によって出力される信号VREF1のみによって決まる(図5に一部破線で示すように、電圧制御器14から出力される信号VINTのレベルは、信号VREF1のレベルに応じて、電源電圧のレベルVDDの現在の高さに関係なく、常に同じレベル(VINTnom)である)。
これに対し、(上記のさらなる)バッファ回路33が起動状態の場合は、(両バッファ回路13・33の並列接続により)配線27を介して電圧制御器14へ入力される信号の状態(および、電圧制御器14から配線19cを介して出力される信号VINTの状態)は、各場合ごとに、相互に接続されていて配線27に接続されている配線19a・26に印加される信号VREF1とVREF2とのうちで瞬間的により高いレベルを示すほう(どちらでもよい)によって決まる(これにより、図5に実線で示すように、電圧制御器14から出力される信号VINTのレベルが基準のおよび/または名目上のレベル(VINTnom)未満に下がらないようにすることが確実に行える)。
従来の電圧制御システムの概略図である。 本発明の一実施例の電圧制御システムの概略図である。 図2に示す電圧制御システムにおいて使用可能なバッファ回路を図式的に詳しく示す図である。 図2に示す電圧制御システムにおいて使用可能な電圧制御器を図式的に詳しく示す図である。 電源電圧のレベルに応じた、さらなる付加的なバッファ回路の起動状態または停止状態における図2に示す電圧制御システムの出力電圧のレベルの概略図である。 図2に示す電圧制御システムにおいて使用可能な他の付加的なバッファ回路を図式的に詳しく示す図である。

Claims (9)

  1. 電圧制御システム(11)であって、
    該電圧制御システム(11)によって、電圧制御システム(11)の入力部(17)に印加される第1電圧(VDD)が第2電圧(VINT)に変換され、該第2電圧(VINT)が、該電圧制御システム(11)の出力部(19c)から出力されるようになっており、
    上記第1電圧(VDD)から、ほぼ一定の電圧(VBGR)またはその電圧から派生した電圧を生成するための、第1装置(12、13)を備えた電圧制御システム(11)において、
    さらに、上記第1電圧(VDD)から、さらなる電圧(VTRACK)またはその電圧から派生した電圧を生成するための、さらなる装置(34、33)を備えていることを特徴とする電圧制御システム(11)。
  2. 上記さらなる装置(34、33)により生成される上記さらなる電圧(VTRACK)は、上記第1装置(12)によって生成される電圧(VBGR)よりも大きい、
    請求項1に記載の電圧制御システム(11)。
  3. 上記さらなる装置(34、33)により生成される上記さらなる電圧(VTRACK)またはその電圧から派生した電圧は、上記第1電圧(VDD)と比例している、
    請求項1または2に記載の電圧制御システム(11)。
  4. 上記さらなる装置(34、33)が、分圧器を備えている、
    請求項3に記載の電圧制御システム(11)。
  5. 上記第1装置(12)により生成される上記電圧(VBGR)またはその電圧から派生した電圧(VREF1)と、上記さらなる装置(34)により生成される上記電圧(VTRACK)またはその電圧から派生した電圧(VREF2)とは、特に、電圧制御回路装置(14)の基準電圧(VREF1、VREF2)として、該電圧制御回路装置(14)を制御するのに用いることができる、
    請求項1ないし4のいずれかに記載の電圧制御システム(11)。
  6. 上記さらなる装置(34、33)を起動および/または停止する装置(35)をさらに備えている、
    請求項1ないし5のいずれかに記載の電圧制御システム(11)。
  7. 上記さらなる装置(34、33)の起動状態において、電圧制御回路装置(14)に用いられる基準電圧(VREF1、VREF2)のレベルの高さが、
    上記第1装置とさらなる装置(12、34)により生成される電圧(VBGR、VTRACK)、または、それらから派生した電圧(VREF1、VREF2)のうちで、より高いレベルを示すほうによって決定される、
    請求項6に記載の電圧制御システム(11)。
  8. 上記さらなる装置(34、33)の停止状態において、電圧制御回路装置(14)に用いられる基準電圧(VREF1、VREF2)のレベルの高さが、
    上記第1装置(12)により生成される電圧(VBGR)またはそれから派生した電圧(VREF1)によって決定される、
    請求項6または7に記載の電圧制御システム(11)。
  9. 電圧制御方法であって、
    第1電圧(VDD)が、第2電圧(VINT)、特に、第1電圧(VDD)より低い電圧レベルを示す第2電圧(VINT)に変換され、
    上記第1電圧(VDD)から、ほぼ一定の電圧(VBGR)またはその電圧から派生した電圧を生成するステップを含んだ電圧制御方法において、
    さらに、上記第1電圧(VDD)から、さらなる電圧(VTRACK)またはその電圧から派生した電圧を生成するステップであって、特に、該さらなる電圧(VTRACK)が、上記第1電圧(VDD)から生成される上記一定の電圧(VBGR)またはその電圧から派生した電圧よりも高くできるものであるステップを含んでいることを特徴とする電圧制御方法。
JP2006546142A 2003-12-30 2004-11-23 電圧制御システム Pending JP2007517298A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10361724A DE10361724A1 (de) 2003-12-30 2003-12-30 Spannungsregelsystem
PCT/EP2004/053051 WO2005064426A1 (de) 2003-12-30 2004-11-23 Spannungsregelsystem

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007517298A true JP2007517298A (ja) 2007-06-28

Family

ID=34716263

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006546142A Pending JP2007517298A (ja) 2003-12-30 2004-11-23 電圧制御システム

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7965066B2 (ja)
EP (1) EP1700178B1 (ja)
JP (1) JP2007517298A (ja)
CN (1) CN1902558A (ja)
DE (2) DE10361724A1 (ja)
WO (1) WO2005064426A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011134059A (ja) * 2009-12-24 2011-07-07 Samsung Electronics Co Ltd 電圧安定化装置及びそれを用いた半導体装置並びに電圧安定化方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8493795B2 (en) * 2009-12-24 2013-07-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Voltage stabilization device and semiconductor device including the same, and voltage generation method
US10401886B1 (en) * 2014-07-30 2019-09-03 Cirrus Logic, Inc. Systems and methods for providing an auto-calibrated voltage reference
US10386875B2 (en) * 2017-04-27 2019-08-20 Pixart Imaging Inc. Bandgap reference circuit and sensor chip using the same
US10915122B2 (en) * 2017-04-27 2021-02-09 Pixart Imaging Inc. Sensor chip using having low power consumption
TWI671983B (zh) 2018-08-08 2019-09-11 華邦電子股份有限公司 電壓調節器及動態洩流電路

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5402375A (en) * 1987-11-24 1995-03-28 Hitachi, Ltd Voltage converter arrangement for a semiconductor memory
KR930009148B1 (ko) * 1990-09-29 1993-09-23 삼성전자 주식회사 전원전압 조정회로
JP2642512B2 (ja) * 1990-11-16 1997-08-20 シャープ株式会社 半導体集積回路
JP2838344B2 (ja) * 1992-10-28 1998-12-16 三菱電機株式会社 半導体装置
US5532618A (en) * 1992-11-30 1996-07-02 United Memories, Inc. Stress mode circuit for an integrated circuit with on-chip voltage down converter
JPH09140126A (ja) * 1995-05-30 1997-05-27 Linear Technol Corp 適応スイッチ回路、適応出力回路、制御回路およびスイッチング電圧レギュレータを動作させる方法
JP3516556B2 (ja) * 1996-08-02 2004-04-05 沖電気工業株式会社 内部電源回路
JPH10133754A (ja) * 1996-10-28 1998-05-22 Fujitsu Ltd レギュレータ回路及び半導体集積回路装置
JPH11231954A (ja) * 1998-02-16 1999-08-27 Mitsubishi Electric Corp 内部電源電圧発生回路
US6333623B1 (en) * 2000-10-30 2001-12-25 Texas Instruments Incorporated Complementary follower output stage circuitry and method for low dropout voltage regulator
US6441594B1 (en) * 2001-04-27 2002-08-27 Motorola Inc. Low power voltage regulator with improved on-chip noise isolation
JP2004062638A (ja) * 2002-07-30 2004-02-26 Renesas Technology Corp 基準電圧発生回路

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011134059A (ja) * 2009-12-24 2011-07-07 Samsung Electronics Co Ltd 電圧安定化装置及びそれを用いた半導体装置並びに電圧安定化方法
KR101415227B1 (ko) * 2009-12-24 2014-07-04 삼성전자주식회사 전압 안정화 장치 및 그것을 포함하는 반도체 장치 및 전압 생성 방법

Also Published As

Publication number Publication date
US20080191790A1 (en) 2008-08-14
DE10361724A1 (de) 2005-08-04
WO2005064426A1 (de) 2005-07-14
CN1902558A (zh) 2007-01-24
US7965066B2 (en) 2011-06-21
DE502004008797D1 (de) 2009-02-12
EP1700178A1 (de) 2006-09-13
EP1700178B1 (de) 2008-12-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4686222B2 (ja) 半導体装置
US20020140468A1 (en) Semiconductor integrated circuit and method for generating internal supply voltage in semiconductor integrated circuit
JP3034176B2 (ja) 起動回路を有する基準電圧発生回路
US6570367B2 (en) Voltage generator with standby operating mode
JP3945791B2 (ja) 半導体装置のパワーアップ検出回路
JP4350568B2 (ja) 内部電圧発生回路
JPH06236686A (ja) 半導体装置
KR20070120894A (ko) 저전압 검지 리세트 회로
JP2006190436A (ja) 半導体メモリ素子の内部電源電圧発生装置
JPH10312683A (ja) 半導体メモリ素子の電圧調整回路
JPH088697A (ja) ヒステリシス比較器を備えた電圧制限回路
KR100695421B1 (ko) 반도체 메모리 소자의 내부전압 발생기
US5744998A (en) Internal voltage detecting circuit having superior responsibility
US6876246B2 (en) High voltage controller for semiconductor device
JP2000156097A (ja) 電圧調整が可能な内部電源回路を有する半導体メモリ装置
JP2007517298A (ja) 電圧制御システム
JP2001285050A (ja) 出力バッファ回路
US7436730B2 (en) Method and device for controlling internal power voltage, and semiconductor memory device having the same
US6340902B1 (en) Semiconductor device having multiple power-supply nodes and capable of self-detecting power-off to prevent erroneous operation
US20070103135A1 (en) Power supply apparatus with discharging switching element operated by one-shot pulse signal
US6636451B2 (en) Semiconductor memory device internal voltage generator and internal voltage generating method
JPH1074394A (ja) 半導体記憶装置
US6459329B1 (en) Power supply auxiliary circuit
KR19990041488A (ko) 반도체 소자의 기준전압 발생장치
KR960038961A (ko) 저전원전압 동작용 내부전원전압 발생회로

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090303

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090728