JP2007322402A - 表面検査装置 - Google Patents
表面検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007322402A JP2007322402A JP2006156676A JP2006156676A JP2007322402A JP 2007322402 A JP2007322402 A JP 2007322402A JP 2006156676 A JP2006156676 A JP 2006156676A JP 2006156676 A JP2006156676 A JP 2006156676A JP 2007322402 A JP2007322402 A JP 2007322402A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image data
- main scanning
- adjacent
- scanning direction
- inspection object
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 95
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 61
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 33
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 63
- 238000000034 method Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 4
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 3
- 210000005252 bulbus oculi Anatomy 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 3
- 238000010422 painting Methods 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 2
- 206010044565 Tremor Diseases 0.000 description 1
- 238000005311 autocorrelation function Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 210000001525 retina Anatomy 0.000 description 1
- 235000019592 roughness Nutrition 0.000 description 1
- 230000000638 stimulation Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
【解決手段】検査対象物1の表面を主走査方向に走査するラインセンサ12を有し、画像データを出力するカメラ3と、主走査方向と直交する副走査方向にカメラ3と検査対象物1を相対的に移動させる副走査装置と、被検査対象物1の表面の主走査領域Lをそれぞれ異なる照明角度で照明するように配置された複数の光源5A、5B、5C及び5Dを含む照明装置4と、光源を切り替えて選択的に点灯させる光源駆動装置7,8と、光源のそれぞれの点灯毎に、カメラから出力される画像データに対し演算処理を施して検査対象物の表面状態を示す処理結果を出力する演算処理装置15と、光源のそれぞれの点灯に対応する処理結果を個別に表示する表示装置16を有する。
【選択図】図1
Description
図1は、本発明の一実施形態に係る表面検査装置を示している。検査対象物1は、これに限られるものではないが例えば自動車の車体である。検査対象物1は検査時には搬送路2に載せられ、図示しない副走査装置によって搬送路2と共に矢印Yに示す方向(副走査方向)に移動する。搬送路2の側方には、検査対象物1の側面を撮影するカメラ(ディジタルカメラ)3が設置されている。カメラ3に加えて、さらに検査対象物1の上面を撮影するカメラを設置してもよい。
(演算処理装置の第1の具体例)
第1の具体例による演算処理装置16は、図4に示されるようにラインメモリ17、加算器18、演算器19及び判定器20を有する。ラインメモリ17は、カメラ3から入力される画像データを光源5A、5B、5C及び5Dの数(厳密には、一つの主走査領域Lの走査回数)に相当する複数(nとする)の主走査ライン分記憶するメモリであり、シフトレジスタまたはFIFO(先入れ・先出し)メモリが用いられる。
まず、図8Aに示すように検査対象物10上の欠陥51が一つの主走査ライン内にのみ存在する場合、図9Aに示すように一つの画素内に存在する欠陥50に対応する画像データ(カメラ3出力)に比較して、2つの画素にまたがって存在する欠陥51に対応する画像データの出力が小さくなる。1画素のデータが2画素に分配されるので、出力レベルは半分になる。次のラインでは欠陥が無いので、出力は0であり、副走査方向に隣接する2ラインの画像データを加算する加算器18の出力(画像データ列22)はNラインの画像信号と同じである。この画像データ列22が演算器19の累積機能によって主走査方向のブロック内の画素データが累積されて、当該ブロック内の所定の、例えば最初の1画素の画素データとされる。
次に、図12を参照して演算処理装置16の第2の具体例について説明する。先に述べた第1の具体例では、カメラ3から出力される画像データ21について、ラインメモリ17及び加算器18を用いて時間的に隣接する2つの主走査ラインの画像データを加算して画像データ列22を生成する際、これら2つの主走査ラインの副走査方向Yに隣接する2つの画素(主走査方向の位置が同じ画素)の画像データを加算している。
第3の具体例では、時間的に隣接する2つの主走査ラインの画像データを加算して画像データ列を生成する際、第1の具体例と同様に図13Aに示すように時間的に隣接する2つの主走査ライン(ここでは、便宜上NラインとN+1ラインとしている)の副走査方向に隣接する2つの画素(主走査方向の位置が同じ画素)の画像データを加算して画像データ列を生成する処理に加えて、図13B、図13Cの処理を併用する。図13Bは、副走査方向に対して斜め右上がりの方向(第1の方向)で隣接する画素の画像データを加算して画像データ列を生成する処理である。図13Cは、副走査方向に対して斜め左上がりの方向(第2の方向)で隣接する画素の画像データを加算して画像データ列を生成する処理である。
2・・・搬送路
3・・・カメラ
4・・・照明装置
5A、5B、5C、5D・・・光源
6・・・支持体
7・・・光源切替器
8・・・光源駆動回路
9・・・コントローラ
10A、10B、10C、10D・・・表示領域
11・・・結像レンズ
12・・・ラインイメージセンサ
13・・・増幅器
14・・・A/Dコンバータ
15・・・演算処理装置
16・・・表示装置
Claims (13)
- 検査対象物の表面を一定の周期で主走査方向に走査するラインセンサを有し、画像データを出力するカメラと、
前記主走査方向と直交する副走査方向に前記カメラと前記検査対象物とを相対的に移動させる副走査手段と、
前記被検査対象物の表面の主走査領域をそれぞれ異なる照明角度で照明するように配置された複数の光源を含む照明手段と、
前記光源を切り替えて少なくとも一つずつ選択的に点灯させる駆動手段と、
前記駆動手段による前記光源の選択的な点灯毎に前記カメラから出力される画像データに対し演算処理を施して前記検査対象物の表面状態を示す処理結果を出力する演算処理手段と、
前記光源のそれぞれの選択的な各点灯に対応する前記処理結果を個別に表示する表示手段とを具備する表面検査装置。 - 前記光源は、複数のLEDをライン状に配列したLEDアレイである請求項1記載の表面検査装置。
- 前記照明手段は、前記カメラに対して前記検査対象物に寄った側に配置され、前記カメラは前記主走査領域により反射されかつ前記光源の間を通過した反射光を検出するように配置される請求項1記載の表面検査装置。
- 前記光源に対して前記検査対象物に寄った側に配置されたミラーを有し、前記カメラは前記主走査領域により反射されかつ前記ミラーにより反射された光を検出するように配置される請求項3記載の表面検査装置。
- 前記駆動手段は、前記光源を前記ラインセンサによる走査に同期して前記主走査周期の整数倍の点灯周期で選択的に点灯させる請求項1記載の表面検査装置。
- 前記複数の光源は、前記照明角度が相対的に大きい第1光源と前記照明角度が相対的に小さい第2光源を含み、前記演算処理手段は前記駆動手段による前記第1光源の点灯時には主として形状に関する表面状態を示す処理結果を出力し、前記第2光源の点灯時には主として色彩に関する表面状態を示す処理結果を出力する請求項1記載の表面検査装置。
- 前記検査対象物の表面の明度及び該表面の粗さの少なくとも一方に応じて前記光源の発光強度を変化させる制御手段をさらに具備することを特徴とする請求項1記載の表面検査装置。
- 前記演算処理手段は、同一光源の点灯に対応して前記カメラから出力される画像データの時間的に隣接する2つの主走査ラインのデータを加算して画像データ列を生成する画像データ列生成手段と、該画像データ列を用いて前記検査対象物の表面状態を判定する判定手段とを具備する請求項1に記載の表面検査装置。
- 前記画像データ列生成手段は、前記隣接する2つの主走査ラインの画像データのうち、前記主走査方向における同一位置の画素の画像データを加算する請求項8に記載の表面検査装置。
- 前記画像データ列生成手段は、前記隣接する2つの主走査ラインの画像データのうち、前記副走査方向に隣接し、かつ前記主走査方向に隣接する4画素の画像データを加算して前記画像データを得る請求項8に記載の表面検査装置。
- 前記画像データ列生成手段は、前記隣接する2つの主走査ラインの画像データのうち、前記副走査方向に隣接し、かつ前記主走査方向に隣接する4画素の画像データを加算して第1画像データ列を生成し、前記隣接する2つの主走査ラインの画像データのうち、前記副走査方向に対して斜めの第1の方向で隣接する2画素の画像データを加算して第2画像データ列を生成し、前記隣接する2つの主走査ラインの画像データのうち、前記副走査方向に対して斜めの第2の方向で隣接する2画素の画像データを加算して第3画像データ列を生成する請求項8に記載の表面検査装置。
- 前記判定手段は、前記画像データ列のうち前記主走査方向おいて連続する複数の画素からなるブロック内の画像データを加算してブロック内加算データを算出する累積手段と、前記主走査方向において隣接するブロックのブロック内加算データの相関値を算出する相関手段と、前記相関値を閾値判定する手段とを具備する請求項8に記載の表面検査装置。
- 前記判定手段は、前記ブロックを前記主走査方向に1画素ずつシフトさせて前記ブロック内加算と相関演算を繰り返し行う請求項12に記載の表面検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006156676A JP5481012B2 (ja) | 2006-06-05 | 2006-06-05 | 表面検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006156676A JP5481012B2 (ja) | 2006-06-05 | 2006-06-05 | 表面検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007322402A true JP2007322402A (ja) | 2007-12-13 |
JP5481012B2 JP5481012B2 (ja) | 2014-04-23 |
Family
ID=38855345
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006156676A Active JP5481012B2 (ja) | 2006-06-05 | 2006-06-05 | 表面検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5481012B2 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105116114A (zh) * | 2015-09-21 | 2015-12-02 | 江苏英诺华医疗技术有限公司 | 一种生化分析仪智能光源更换装置与故障判断更换方法 |
JP2016534329A (ja) * | 2013-10-24 | 2016-11-04 | フィリップス ライティング ホールディング ビー ヴィ | 欠陥検査システム及び方法 |
KR20170097110A (ko) * | 2014-12-22 | 2017-08-25 | 피렐리 타이어 소시에떼 퍼 아찌오니 | 생산라인에서 타이어를 제어하기 위한 기기 |
JP2017223451A (ja) * | 2016-06-13 | 2017-12-21 | 富士ゼロックス株式会社 | 計測装置 |
US10697857B2 (en) | 2014-12-22 | 2020-06-30 | Pirelli Tyre S.P.A. | Method and apparatus for checking tyres in a production line |
US20210023723A1 (en) * | 2018-03-28 | 2021-01-28 | Transitions Optical, Ltd. | Diagnostic station for production line |
IT202000004786A1 (it) * | 2020-03-06 | 2021-09-06 | Geico Spa | Testa di scansione per la rilevazione di difetti su superfici e stazione di rilevazione con tale testa |
CN115361494A (zh) * | 2022-10-09 | 2022-11-18 | 浙江双元科技股份有限公司 | 一种多线扫描图像传感器的高速频闪图像处理***及方法 |
Citations (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59162702U (ja) * | 1983-04-16 | 1984-10-31 | 本田技研工業株式会社 | 被塗装物体の目視検査用照明装置 |
JPS63120217A (ja) * | 1986-11-07 | 1988-05-24 | Iseki & Co Ltd | イメ−ジセンサ |
JPH04120448A (ja) * | 1990-09-11 | 1992-04-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 配線パターン検査装置 |
JPH06504377A (ja) * | 1991-02-20 | 1994-05-19 | プレスコ テクノロジー,インコーポレーテッド | 改良されたtdi検査用照明システム |
JPH0792101A (ja) * | 1993-09-24 | 1995-04-07 | Mazda Motor Corp | 表面検査装置 |
JPH07128241A (ja) * | 1993-11-05 | 1995-05-19 | Konica Corp | 電子写真感光体欠陥検査装置 |
JPH08327554A (ja) * | 1995-03-31 | 1996-12-13 | Lintec Corp | 照明装置 |
JPH0997363A (ja) * | 1995-10-02 | 1997-04-08 | Oki Electric Ind Co Ltd | 硬貨撮像装置 |
JPH1123243A (ja) * | 1997-06-30 | 1999-01-29 | Suzuki Motor Corp | 表面欠陥検査装置 |
JPH11326055A (ja) * | 1998-05-08 | 1999-11-26 | Toyota Motor Corp | 色検査と塗装欠陥検査を行う方法 |
JP2000009655A (ja) * | 1998-06-25 | 2000-01-14 | Kobe Steel Ltd | 外観検査装置 |
JP2000121574A (ja) * | 1998-10-13 | 2000-04-28 | Nippon Steel Corp | 鋼板の疵検査装置 |
JP2002131238A (ja) * | 2000-10-25 | 2002-05-09 | Honda Motor Co Ltd | 外観検査装置 |
WO2003006968A1 (fr) * | 2001-07-09 | 2003-01-23 | Yoshiro Yamada | Procede et dispositif d'inspection de surface |
JP2004153462A (ja) * | 2002-10-29 | 2004-05-27 | Keyence Corp | 拡大観察装置、拡大観察装置の操作方法、拡大観察装置操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP2004354381A (ja) * | 2003-05-27 | 2004-12-16 | Byk Gardner Gmbh | 表面特性を特定する装置および方法 |
JP2005337957A (ja) * | 2004-05-28 | 2005-12-08 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板検査装置 |
JP2006030203A (ja) * | 2004-07-15 | 2006-02-02 | Byk Gardner Gmbh | 光学的表面特性の検査装置および検査方法 |
JP2006046942A (ja) * | 2004-07-30 | 2006-02-16 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 判定装置および表面情報記録装置 |
-
2006
- 2006-06-05 JP JP2006156676A patent/JP5481012B2/ja active Active
Patent Citations (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59162702U (ja) * | 1983-04-16 | 1984-10-31 | 本田技研工業株式会社 | 被塗装物体の目視検査用照明装置 |
JPS63120217A (ja) * | 1986-11-07 | 1988-05-24 | Iseki & Co Ltd | イメ−ジセンサ |
JPH04120448A (ja) * | 1990-09-11 | 1992-04-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 配線パターン検査装置 |
JPH06504377A (ja) * | 1991-02-20 | 1994-05-19 | プレスコ テクノロジー,インコーポレーテッド | 改良されたtdi検査用照明システム |
JPH0792101A (ja) * | 1993-09-24 | 1995-04-07 | Mazda Motor Corp | 表面検査装置 |
JPH07128241A (ja) * | 1993-11-05 | 1995-05-19 | Konica Corp | 電子写真感光体欠陥検査装置 |
JPH08327554A (ja) * | 1995-03-31 | 1996-12-13 | Lintec Corp | 照明装置 |
JPH0997363A (ja) * | 1995-10-02 | 1997-04-08 | Oki Electric Ind Co Ltd | 硬貨撮像装置 |
JPH1123243A (ja) * | 1997-06-30 | 1999-01-29 | Suzuki Motor Corp | 表面欠陥検査装置 |
JPH11326055A (ja) * | 1998-05-08 | 1999-11-26 | Toyota Motor Corp | 色検査と塗装欠陥検査を行う方法 |
JP2000009655A (ja) * | 1998-06-25 | 2000-01-14 | Kobe Steel Ltd | 外観検査装置 |
JP2000121574A (ja) * | 1998-10-13 | 2000-04-28 | Nippon Steel Corp | 鋼板の疵検査装置 |
JP2002131238A (ja) * | 2000-10-25 | 2002-05-09 | Honda Motor Co Ltd | 外観検査装置 |
WO2003006968A1 (fr) * | 2001-07-09 | 2003-01-23 | Yoshiro Yamada | Procede et dispositif d'inspection de surface |
JP2004153462A (ja) * | 2002-10-29 | 2004-05-27 | Keyence Corp | 拡大観察装置、拡大観察装置の操作方法、拡大観察装置操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP2004354381A (ja) * | 2003-05-27 | 2004-12-16 | Byk Gardner Gmbh | 表面特性を特定する装置および方法 |
JP2005337957A (ja) * | 2004-05-28 | 2005-12-08 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板検査装置 |
JP2006030203A (ja) * | 2004-07-15 | 2006-02-02 | Byk Gardner Gmbh | 光学的表面特性の検査装置および検査方法 |
JP2006046942A (ja) * | 2004-07-30 | 2006-02-16 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 判定装置および表面情報記録装置 |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016534329A (ja) * | 2013-10-24 | 2016-11-04 | フィリップス ライティング ホールディング ビー ヴィ | 欠陥検査システム及び方法 |
KR20170097110A (ko) * | 2014-12-22 | 2017-08-25 | 피렐리 타이어 소시에떼 퍼 아찌오니 | 생산라인에서 타이어를 제어하기 위한 기기 |
JP2018506018A (ja) * | 2014-12-22 | 2018-03-01 | ピレリ・タイヤ・ソチエタ・ペル・アツィオーニ | 製造ラインでタイヤをチェックする装置 |
US10697762B2 (en) | 2014-12-22 | 2020-06-30 | Pirelli Tyre S.P.A. | Apparatus for controlling tyres in a production line |
US10697857B2 (en) | 2014-12-22 | 2020-06-30 | Pirelli Tyre S.P.A. | Method and apparatus for checking tyres in a production line |
KR102534392B1 (ko) * | 2014-12-22 | 2023-05-19 | 피렐리 타이어 소시에떼 퍼 아찌오니 | 생산라인에서 타이어를 제어하기 위한 기기 |
CN105116114A (zh) * | 2015-09-21 | 2015-12-02 | 江苏英诺华医疗技术有限公司 | 一种生化分析仪智能光源更换装置与故障判断更换方法 |
JP2017223451A (ja) * | 2016-06-13 | 2017-12-21 | 富士ゼロックス株式会社 | 計測装置 |
US20210023723A1 (en) * | 2018-03-28 | 2021-01-28 | Transitions Optical, Ltd. | Diagnostic station for production line |
IT202000004786A1 (it) * | 2020-03-06 | 2021-09-06 | Geico Spa | Testa di scansione per la rilevazione di difetti su superfici e stazione di rilevazione con tale testa |
WO2021176389A1 (en) * | 2020-03-06 | 2021-09-10 | Geico Spa | Scanning head for the detection of defects on surfaces and detection station with said head |
CN115361494A (zh) * | 2022-10-09 | 2022-11-18 | 浙江双元科技股份有限公司 | 一种多线扫描图像传感器的高速频闪图像处理***及方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5481012B2 (ja) | 2014-04-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5481012B2 (ja) | 表面検査装置 | |
JP4932819B2 (ja) | 表面検査装置及び方法 | |
JP5806808B2 (ja) | 撮像光学検査装置 | |
US20100302364A1 (en) | Three dimensional shape measurement apparatus and method | |
JP6648869B2 (ja) | 形状検査装置及び形状検査方法 | |
JP2006329919A (ja) | 照明装置、該照明装置を用いた画像処理装置および画像処理方法 | |
JP2012047673A (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
JP5824278B2 (ja) | 画像処理装置 | |
JP2001304835A (ja) | 凹凸測定用照明装置、凹凸測定装置、欠陥検査用照明装置、欠陥検査装置およびその照明方法 | |
JP2010117322A (ja) | 表面疵検査装置、表面疵検査方法及びプログラム | |
US8189937B2 (en) | Line-scanning confocal microscope apparatus | |
JP2004191112A (ja) | 欠陥検査方法 | |
JP2008286646A (ja) | 表面疵検査装置 | |
US10247678B1 (en) | Arrangement and procedure for the inspection of moving plate-shaped objects | |
JP2009287980A (ja) | 外観検査装置 | |
JP2008180578A (ja) | 周期性パターンのムラ検査装置 | |
TWI687672B (zh) | 光學檢測系統及影像處理方法 | |
JP2004138417A (ja) | 鋼板の疵検査方法およびその装置 | |
JP4165932B2 (ja) | 明暗検査装置および明暗検査方法 | |
JP2005274325A (ja) | 金属帯の光学式欠陥検査方法 | |
JP2004132801A (ja) | 帯状体の表面欠陥検査装置 | |
JP2004132800A (ja) | 帯状体の表面欠陥検査装置 | |
JP3035578B2 (ja) | 検査条件決定装置、検査装置及びシャッタ速度決定装置 | |
JP2000275357A (ja) | 降雨雪状況検出方法およびその装置 | |
JP2002022665A (ja) | 表面欠陥検査方法および装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090302 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110425 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110510 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110708 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120131 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120323 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20120529 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121009 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121205 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130730 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131030 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20131114 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20131204 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140204 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140217 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5481012 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |