JP2007317268A - 光ディスク装置及びその情報記録方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】光ディスク装置において、効率的なフォーカス学習により記録時間を短縮する。
【解決手段】記録に先立ち、受光手段の出力に基づいて光ディスクの複数のディスク半径位置のそれぞれにおける対物レンズのフォーカス学習を行い、該学習結果に基づき該各ディスク半径位置のディスク面振れ量を演算し、該求めた面振れ量情報に基づき、記録時のフォーカス学習を行うためのディスク半径位置を設定し、記録時には、該設定したディスク半径位置におけるフォーカス駆動量を、上記記録前のフォーカス学習結果に基づき演算し、該演算したフォーカス駆動量に基づき現在のディスク半径位置におけるフォーカス学習を行い、該フォーカス学習結果に基づきフォーカス制御を行う構成とする。
【選択図】図２
【解決手段】記録に先立ち、受光手段の出力に基づいて光ディスクの複数のディスク半径位置のそれぞれにおける対物レンズのフォーカス学習を行い、該学習結果に基づき該各ディスク半径位置のディスク面振れ量を演算し、該求めた面振れ量情報に基づき、記録時のフォーカス学習を行うためのディスク半径位置を設定し、記録時には、該設定したディスク半径位置におけるフォーカス駆動量を、上記記録前のフォーカス学習結果に基づき演算し、該演算したフォーカス駆動量に基づき現在のディスク半径位置におけるフォーカス学習を行い、該フォーカス学習結果に基づきフォーカス制御を行う構成とする。
【選択図】図２
Description
本発明は、光ディスク装置に係り、特に、光ディスク上にラベル画像を形成するときのフォーカス制御技術に関する。
近年、ディスク装置において、光ディスクの面上に塗布した感熱材にレーザ光を照射し、該感熱材を熱により変色させ、色の濃淡によって画像を形成する情報記録技術が実用化され始めている。
また、本発明に関連した従来技術であって、特許文献に記載されたものとしては、例えば、特開２００３−２４２６６９号公報（特許文献１）や特開２００５−３２７４２５号公報（特許文献２）に記載された技術がある。特開２００３−２４２６６９号公報には、光ディスク記録再生装置において、光ディスクの光反射率の小さい領域に対しても正確なフォーカス制御を行うために、反射率の小さい領域に対してレーザ光を照射して記録や再生を行うとき、それに先立ち、光ディスクにおいて反射率の大きい領域に対してテストレーザ光照射を行い、その時に実行したフォーカス制御内容に基づいてフォーカス制御内容を決定しメモリに記憶し、その後、反射率の小さい領域にレーザ光を照射するとき、該記憶したフォーカス制御内容に従ってフォーカス制御を行うとする技術が記載されている。また、特開２００５−３２７４２５号公報には、面振れ相当量が大きい光ディスクを再生するときにも正確なフォーカス制御を行えるようにするために、光ディスクを回転させ、光ディスクの回転角を検出する信号のタイミングで光ピックアップを光ディスク面に垂直な方向に上下駆動させ、光ビームの焦点が光ディスクの記録面上に位置するタイミングでのフォーカス駆動値を検出し、１周あたり３点以上の検出ポイントにおけるフォーカス駆動値から面振れ相当量を算出し、任意の回転角検出信号における面振れ相当量を予めフォーカス駆動値として印加しておき、任意の回転角検出信号でフォーカス制御を行うとする技術が記載されている。
また、本発明に関連した従来技術であって、特許文献に記載されたものとしては、例えば、特開２００３−２４２６６９号公報（特許文献１）や特開２００５−３２７４２５号公報（特許文献２）に記載された技術がある。特開２００３−２４２６６９号公報には、光ディスク記録再生装置において、光ディスクの光反射率の小さい領域に対しても正確なフォーカス制御を行うために、反射率の小さい領域に対してレーザ光を照射して記録や再生を行うとき、それに先立ち、光ディスクにおいて反射率の大きい領域に対してテストレーザ光照射を行い、その時に実行したフォーカス制御内容に基づいてフォーカス制御内容を決定しメモリに記憶し、その後、反射率の小さい領域にレーザ光を照射するとき、該記憶したフォーカス制御内容に従ってフォーカス制御を行うとする技術が記載されている。また、特開２００５−３２７４２５号公報には、面振れ相当量が大きい光ディスクを再生するときにも正確なフォーカス制御を行えるようにするために、光ディスクを回転させ、光ディスクの回転角を検出する信号のタイミングで光ピックアップを光ディスク面に垂直な方向に上下駆動させ、光ビームの焦点が光ディスクの記録面上に位置するタイミングでのフォーカス駆動値を検出し、１周あたり３点以上の検出ポイントにおけるフォーカス駆動値から面振れ相当量を算出し、任意の回転角検出信号における面振れ相当量を予めフォーカス駆動値として印加しておき、任意の回転角検出信号でフォーカス制御を行うとする技術が記載されている。
上記従来技術においては、いずれの場合も、光ディスク装置のフォーカス学習を、記録動作の前にだけ事前学習として行い、記録時は、該フォーカス学習の結果を用いてフォーカス制御を実行する。フォーカス学習を行うディスク半径位置や該ディスク半径位置の数も固定されている。このため、例えば、ディスク面振れ量が小さい光ディスクの場合も、ディスク面振れ量が大きい光ディスクの場合と同じ所定のディスク半径位置毎にフォーカス学習を行うことになり、不要なフォーカス学習動作とそれに基づく不要なフォーカス制御を行うおそれがあり、フォーカス学習に時間がかかり、記録に要する時間が長くなり易い。また、これら動作に起因して記録品質の劣化も招き易い。
本発明の課題点は、上記従来技術の状況に鑑み、光ディスク装置において、光ディスクの面振れ状態に応じた効率的なフォーカス学習を可能にして、記録に要する時間を短縮できるようにするとともに、記録品質の向上も可能にすることである。
本発明の目的は、かかる課題点を解決し、光ディスク上にラベル画像を形成可能な使い勝手の良い光ディスク装置を提供することにある。
本発明の目的は、かかる課題点を解決し、光ディスク上にラベル画像を形成可能な使い勝手の良い光ディスク装置を提供することにある。
上記課題点を解決するために、本発明では、光ディスク装置において、記録に先立ち、受光手段の出力に基づいて光ディスクの複数のディスク半径位置のそれぞれにおける対物レンズのフォーカス制御のためのフォーカス学習を行い、該学習結果に基づき該各ディスク半径位置（フォーカス学習位置）のディスク面振れ量（ディスク面の反りも含む）を演算し、該求めた面振れ量情報に基づき、記録時のフォーカス学習を行うためのディスク半径位置（フォーカス学習位置）を設定し、さらに、記録時には、該設定したディスク半径位置（フォーカス学習位置）におけるフォーカス駆動量を、上記記録前のフォーカス学習結果に基づき演算し、該演算したフォーカス駆動量に基づき現在のディスク半径位置におけるフォーカス学習を行い、該フォーカス学習結果に基づきフォーカス制御を行う構成とする。
本発明によれば、光ディスク装置において、光ディスクの状態に応じた効率的なフォーカス学習が可能となり、記録時間を短縮することができる。また、記録品質の劣化も抑えることができる。
以下、本発明の実施形態につき、図面を用いて説明する。
図１〜図６は、本発明の実施例の説明図である。本実施例では、照射したレーザ光により、光ディスクの面上にラベル画像を形成可能な光ディスク装置につき説明する。図１は、本発明の実施例としての光ディスク装置の構成例図、図２は、図１の光ディスク装置における記録制御系の構成図、図３は、図１の光ディスク装置における記録前の学習として、記録時のフォーカス学習のためのディスク半径位置を設定する場合の説明図、図４は、図１の光ディスク装置における記録時の学習として、現在の学習位置以降の学習位置を再設定する場合の説明図、図５は、図１の光ディスク装置に用いるフォトデテクタの説明図、図６は、図１の光ディスク装置における記録時のフォーカス制御動作の説明図である。
図１〜図６は、本発明の実施例の説明図である。本実施例では、照射したレーザ光により、光ディスクの面上にラベル画像を形成可能な光ディスク装置につき説明する。図１は、本発明の実施例としての光ディスク装置の構成例図、図２は、図１の光ディスク装置における記録制御系の構成図、図３は、図１の光ディスク装置における記録前の学習として、記録時のフォーカス学習のためのディスク半径位置を設定する場合の説明図、図４は、図１の光ディスク装置における記録時の学習として、現在の学習位置以降の学習位置を再設定する場合の説明図、図５は、図１の光ディスク装置に用いるフォトデテクタの説明図、図６は、図１の光ディスク装置における記録時のフォーカス制御動作の説明図である。
図１において、１は、本発明の実施例としての光ディスク装置、２は光ディスク、３は、光ディスク２を回転駆動するスピンドルモータ、４は光ピックアップ、５は対物レンズ、６は、記録または再生のために所定の強さのレーザ光を発生するレーザダイオード、７は、レーザダイオード６を駆動するレーザ駆動回路、８は、対物レンズ５を介し光ディスク２の記録面からの反射レーザ光を受光して電気信号に変換し出力する受光手段としてのフォトデテクタ、９は、フォトデテクタ８からの信号を増幅するなどアナログ信号処理するアナログフロントエンド、１０は、直線状のガイド部材（図示なし）やリードスクリュー部材（図示なし）などを備えて構成され、光ピックアップ４を光ディスク２の略半径方向に移動させる移動・案内機構部、１１は、移動・案内機構部１０内にあってリードスクリュー部材（図示なし）を回転駆動するスライドモータ、１２は、スピンドルモータ３やスライドモータ１１などを駆動するモータ駆動回路、１３は、モータ駆動回路１２を制御するモータ制御部、１４は、光ディスク２の記録層に記録される記録信号を生成する記録信号生成部、１６は、フォトデテクタ８からの再生信号を、ＲＦ信号や、トラッキング誤差信号や、フォーカス誤差信号として処理する再生・誤差信号処理部、１７は、光ピックアップ４内にあって、対物レンズ５を駆動し位置や姿勢を変化させるアクチュエータ、１８は、アクチュエータ１７を駆動するアクチュエータ駆動回路、１９は、フォーカス制御用信号やトラッキング制御用信号を生成し出力するフォーカス・トラッキング制御部、２０は、モータ制御部１３や、記録信号生成部１４や、レーザ駆動回路７や、再生・誤差信号処理部１６などを制御する制御回路、４０は、光ディスク２の回転速度及び回転位置（位相）を検出する回転センサ、５０はインターフェース、６０はホストコンピュータである。
制御回路２０は、例えば、マイコンやＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）などによって構成される。ホストコンピュータ６０は、光ディスク２上に記録するラベル画像に対応した画像情報を、インターフェース５０を介して制御回路２０側に送信する。
制御回路２０は、ラベル画像を光ディスクの面（以下、ラベル形成面という）に記録（描画）するとき（記録時）、対物レンズ５のフォーカス制御のためのフォーカス学習を、記録動作の開始前と開始後とに行う。制御回路２０は、記録動作の開始前には、事前のフォーカス学習を含む第１の学習動作を実施し、記録動作の開始後には、記録時のフォーカス学習を含む第２の学習動作を実施する。すなわち、制御回路２０は、記録動作の開始前は、第１の学習として、光ディスク２の複数の半径位置（ディスク半径位置）のそれぞれにおいて対物レンズ５を駆動するアクチュエータ１７の駆動電圧を変えて、該対物レンズ５の光ディスク２のラベル形成面からの高さ位置を変え、各高さ位置のときの該駆動電圧に対するフォトデテクタ８の出力を測定し、該出力が最大（最大値を含む実質的最大の範囲を意味する）のレベルとなるときの、アクチュエータ１７の駆動電圧のレベル及びその変化量を求めるフォーカス学習を行い、その後、該フォーカス学習結果に基づき該各ディスク半径位置のディスク面振れ量（ディスク面の反りも含む）を演算し、該求めた面振れ量情報に基づいて、記録時にフォーカス学習を行うためのディスク半径位置を演算して設定する。また、記録動作の開始後は、制御回路２０は、第２の学習として、上記第１の学習で設定したディスク半径位置におけるフォーカス駆動量を、上記第１の学習における上記フォーカス学習の結果すなわちアクチュエータ１７の駆動電圧の変化量に基づき演算し、該演算したフォーカス駆動量に基づき現在のディスク半径位置におけるフォーカス学習を行う。該第２の学習におけるフォーカス学習でも、上記第１の学習におけるフォーカス学習の場合と同様、アクチュエータ１７の駆動電圧を変えて対物レンズ５の光ディスク２のラベル形成面からの高さ位置を変え、各高さ位置のときの該駆動電圧に対するフォトデテクタ８の出力を測定し、該測定出力が最大（最大値を含む実質的最大の範囲を意味する）のレベルとなるときの、アクチュエータ１７の駆動電圧のレベル及びその変化量を求める。
記録時、制御回路２０は、上記第２の学習の結果に基づき対物レンズ５のフォーカス制御を、再生・誤差信号処理部１６、フォーカス・トラッキング制御部１９を介しアクチュエータ駆動回路１８の駆動電圧を制御し、該制御状態の駆動電圧でアクチュエータ１７を駆動して行う。制御回路２０は、該フォーカス制御状態で、ホストコンピュータ６０側から受信した画像情報に基づく制御信号を形成して記録信号生成部１４に入力する。記録信号生成部１４は、該制御信号に基づき記録信号を生成してレーザ駆動回路７に入力する。レーザ駆動回路７は、該記録信号に基づき、レーザダイオード６を駆動しレーザ光を出射させる。該レーザ光は、フォーカス制御された対物レンズ５を通って光ディスク２のラベル形成面に照射される。照射されたレーザ光は、光ディスク２のラベル形成面の感熱材を熱により変色させ、変色部の色の濃淡により画像を形成させる。
また、回転センサ４０は、光ディスク２の中心孔の周囲に形成された周波数信号発生手段により発生する光ディスク２の回転速度信号（回転周波数信号）及び回転位相信号を検出し、制御回路２０に入力する。周波数信号発生手段としては、例えば、光を通すセクタと、光を遮断するセクタとが周方向に交互に形成されて成る構成のものなどがある。制御回路２０は、記録時、該回転センサ４０で検出された回転速度信号及び回転位相信号に基づき、モータ制御部１３を介してモータ駆動回路１２を制御し、スピンドルモータ３を回転させる。スピンドルモータ３の該制御回転により、光ディスク２は所定の回転速度及び回転位相で回転される。光ディスク２が該制御された状態で回転されることで、光ディスク２のラベル形成面内の予め設定されている部分に、記録信号に対応したレーザ光が照射され、該部分の感熱材が照射レーザ光による加熱により変色され、該ラベル形成面にラベル画像が形成される。
以下、説明中で用いる図１の光ディスク装置の構成要素には、図１の場合と同じ符号を付して用いる。
図２は、図１の光ディスク装置における記録制御系の構成図である。図１と同じ構成要素には、図１と同じ符号を付す。
以下、説明中で用いる図１の光ディスク装置の構成要素には、図１の場合と同じ符号を付して用いる。
図２は、図１の光ディスク装置における記録制御系の構成図である。図１と同じ構成要素には、図１と同じ符号を付す。
図２において、２０１は、制御回路２０内において対物レンズ５のフォーカス制御のための第１、第２の学習を行う学習部、２０１１は、学習部２０１内において、記録動作の開始前の第１の学習の中でのフォーカス学習と、記録動作の開始後の第２の学習の中でのフォーカス学習とを行うフォーカス学習部、２０１２は、フォーカス学習部２０１１でのフォーカス学習結果に基づき、記録動作開始前の第１の学習及び記録動作開始後の第２の学習において、フォーカス学習を行ったディスク半径位置（第１の学習におけるフォーカス学習位置）またはフォーカス学習を今後行うディスク半径位置（第２の学習におけるフォーカス学習位置）における光ディスク２の面振れ量を演算するディスク面振れ量演算部、２０１３は、記録動作の開始前にディスク面振れ量演算部２０１２が演算したディスク面振れ量（ディスク面の反りも含む）に基づき、記録時にフォーカス学習を行うディスク半径位置（フォーカス学習位置）を、記録動作の開始前に第１の学習の中で演算して設定するフォーカス学習位置演算・設定部、２０１４は、フォーカス学習位置演算・設定部２０１３が演算し設定したフォーカス学習位置に対応する学習位置信号を形成する学習位置信号形成部、２０１５は、記録時に、フォーカス学習位置演算・設定部２０１３が演算・設定したディスク半径位置のそれぞれにおけるフォーカス駆動量を、フォーカス学習部２０１１でのフォーカス学習結果に基づき演算するフォーカス駆動量演算部、２０１６は、記録時、現在のディスク半径位置（フォーカス学習位置）におけるフォーカス学習の結果と、前のディスク半径位置（フォーカス学習位置）におけるフォーカス学習の結果とを比較し、該比較結果に対応した制御信号を形成して出力する学習結果比較部、２０２は、ホストコンピュータ６０側から受信したラベル画像情報に対応した記録信号を、記録信号生成部１４に生成させるための制御信号を形成するラベル画像対応制御信号形成部である。他の符号は図１の場合と同様である。
フォーカス学習部２０１１では、記録動作の開始前のフォーカス学習としては、光ディスク２の複数のディスク半径位置（フォーカス学習位置）例えば光ディスク２の最内周の未記録領域のディスク半径位置（記録開始位置）と光ディスク２の最外周の未記録領域のディスク半径位置（記録終了位置）とのそれぞれにおいて、アクチュエータ１７の駆動電圧を変えて対物レンズ５の光ディスク２のラベル形成面からの高さ位置を変化させ、各高さ位置における該駆動電圧に対するフォトデテクタ８の出力を測定し、該フォトデテクタ８の出力が最大（最大値を含む実質的最大の範囲を意味するものとする）のレベルとなるときのアクチュエータ１７の駆動電圧のレベル及びその変化量を求める。また、記録動作の開始後のフォーカス学習としては、記録動作の開始前の第１の学習の中でフォーカス学習位置演算・設定部２０１３が設定した記録時のフォーカス学習位置（ディスク半径位置）において、アクチュエータ１７の駆動電圧を変えて対物レンズ５の光ディスク２のラベル形成面からの高さ位置を、フォーカス駆動量演算部２０１５が演算したフォーカス駆動量に対応させて変化させ、各高さ位置における該駆動電圧に対するフォトデテクタ８の出力を測定し、該フォトデテクタ８の出力が最大（最大値を含む実質的最大の範囲を意味する）のレベルとなるときのアクチュエータ１７の駆動電圧のレベル及びその変化量を求める。
ディスク面振れ量演算部２０１２は、記録動作の開始前のフォーカス学習、記録動作の開始後のフォーカス学習のそれぞれで求めたアクチュエータ１７の駆動電圧の変化量から、それぞれのフォーカス学習位置（ディスク半径位置）におけるディスク面振れ量（ディスク面の反りも含む）を演算する。フォーカス学習位置演算・設定部２０１３は、ディスク面振れ量演算部２０１２が演算したディスク面振れ量に基づき、記録時にフォーカス学習を行うディスク半径位置を演算し設定する。フォーカス駆動量演算部２０１５は、記録動作の開始前のフォーカス学習で求めたアクチュエータ１７の駆動電圧の変化量から、補間法により、それぞれのフォーカス学習位置（ディスク半径位置）におけるフォーカス駆動量を演算する。学習結果比較部２０１６は、記録時（記録動作開始後）において、現在のディスク半径位置（フォーカス学習位置）におけるフォーカス学習結果と、前のディスク半径位置（フォーカス学習位置）におけるフォーカス学習結果とを比較した結果、ディスク面振れ量の差が大きくて基準値を超える場合には、フォーカス学習位置演算・設定部２０１３に制御信号を送り、現在のディスク半径位置（フォーカス学習位置）以降にフォーカス学習を行うディスク半径位置（フォーカス学習位置）の間隔を、記録動作開始前に第１の学習の中で設定した間隔よりも狭くする。
図２の構成において、制御回路２０内の学習部２０１の学習学習位置信号形成部２０１４の出力（学習位置信号）に基づき、モータ制御部１３、モータ駆動回路１２を介してスライドモータ１１が駆動され、もしくは、フォーカス・トラッキング制御部１９、アクチュエータ駆動回路１８を介してアクチュエータ１７が駆動され、または、スライドモータ１１とアクチュエータ１７の双方が駆動される。また、学習部２０１のフォーカス駆動量演算部２０１５の出力に基づいては、フォーカス・トラッキング制御部１９、アクチュエータ駆動回路１８を介してアクチュエータ１７が駆動される。また、制御回路２０内のラベル画像対応制御信号形成部２０２の出力（ラベル画像対応制御信号）に基づいては、記録信号生成部１４、レーザ駆動回路７を介してレーザダイオード６が駆動される。
以下の説明中で用いる上記図２の装置の構成要素にも、上記図２の場合と同じ符号を付して用いる。
以下の説明中で用いる上記図２の装置の構成要素にも、上記図２の場合と同じ符号を付して用いる。
図３は、図１の光ディスク装置１における記録動作の開始前の第１の学習の中で、制御回路２０内の学習部２０１のフォーカス学習位置演算・設定部２０１３が行うフォーカス学習位置（ディスク半径位置）演算・設定の説明図である。（ａ）は、光ディスク２の反り量または面振れ量が比較的大きい場合、（ｂ）は小さい場合である。
図３において、ｃは、光ディスク２の回転中心、ｒは、光ディスク２の半径（ディスク半径）、ｒｉは、光ディスク２の最内周領域のディスク半径位置（記録開始位置）、ｒｏは、光ディスク２の最外周領域のディスク半径位置（記録終了位置）である。本図３は、図１の光ディスク装置１が、ディスク半径位置ｒｉ、ｒｏの２位置において、記録動作開始前の第１の学習の中のフォーカス学習を行う場合の例である。フォーカス学習部２０１１は、記録動作開始前の第１の学習の中のフォーカス学習として、対物レンズ５によるレーザ光スポットがディスク半径位置ｒｉとｒｏの位置にきたときのそれぞれにおいて、アクチュエータ１７の駆動電圧を変えて対物レンズ５の光ディスク２のラベル形成面からの高さ位置を変化させ、各高さ位置における該駆動電圧に対するフォトデテクタ８の出力を測定し、該フォトデテクタ８の出力が最大（最大値を含む実質的最大の範囲を意味する）のレベルとなるときのアクチュエータ１７の駆動電圧のレベル及びその変化量を求める。フォトデテクタ８はその受光面が複数のセクタから成り、フォトデテクタ８の出力としては、複数の各セクタからの出力を加算した全加算信号のレベルを測定する。
図３において、ｃは、光ディスク２の回転中心、ｒは、光ディスク２の半径（ディスク半径）、ｒｉは、光ディスク２の最内周領域のディスク半径位置（記録開始位置）、ｒｏは、光ディスク２の最外周領域のディスク半径位置（記録終了位置）である。本図３は、図１の光ディスク装置１が、ディスク半径位置ｒｉ、ｒｏの２位置において、記録動作開始前の第１の学習の中のフォーカス学習を行う場合の例である。フォーカス学習部２０１１は、記録動作開始前の第１の学習の中のフォーカス学習として、対物レンズ５によるレーザ光スポットがディスク半径位置ｒｉとｒｏの位置にきたときのそれぞれにおいて、アクチュエータ１７の駆動電圧を変えて対物レンズ５の光ディスク２のラベル形成面からの高さ位置を変化させ、各高さ位置における該駆動電圧に対するフォトデテクタ８の出力を測定し、該フォトデテクタ８の出力が最大（最大値を含む実質的最大の範囲を意味する）のレベルとなるときのアクチュエータ１７の駆動電圧のレベル及びその変化量を求める。フォトデテクタ８はその受光面が複数のセクタから成り、フォトデテクタ８の出力としては、複数の各セクタからの出力を加算した全加算信号のレベルを測定する。
ディスク面振れ量演算部２０１２は、上記求めたアクチュエータ１７の駆動電圧の変化量から、それぞれのフォーカス学習位置（ディスク半径位置）ｒｉ、ｒｏにおけるディスク面振れ量（ディスク面の反りも含む）を演算する。フォーカス学習位置演算・設定部２０１３は、該演算されたフォーカス学習位置（ディスク半径位置）ｒｉ、ｒｏのディスク面振れ量に基づき、記録時のフォーカス学習位置（ディスク半径位置）を演算し設定する。このとき、光ディスク２の面振れ量や反り量が比較的大きい場合（（ａ）の場合）には、小さいとき（（ｂ）の場合）よりも、上記記録時のフォーカス学習位置（ディスク半径位置）の間隔をつめ、該フォーカス学習位置の数を多く設定する。フォーカス学習位置の数を増大させ、その間隔をつめることで記録品質の向上が可能となる。（ａ）においては、ｒ１〜ｒ９の９位置が、上記フォーカス学習位置演算・設定部２０１３により設定されたフォーカス学習位置であり、また、（ｂ）においては、ｒp、ｒqの２位置が、上記設定されたフォーカス学習位置である。また、（ａ）において、ｚ１〜ｚ９のそれぞれは、フォーカス学習位置ｒ１〜ｒ９のそれぞれにおける対物レンズ５の駆動範囲（フォーカス駆動量）を示し、（ｂ）において、ｚｐ、ｚｑのそれぞれは、フォーカス学習位置ｒｐ、ｒｑのそれぞれにおける対物レンズ５の駆動範囲（フォーカス駆動量）を示す。これら対物レンズ５の駆動範囲は、記録動作の開始後において、フォーカス駆動量演算部２０１５により、第１の学習の中のフォーカス学習で求められるアクチュエータ１７の駆動電圧の変化量から、補間法を用いて演算される。
以下の説明中でも、必要に応じ、上記図３の場合と同じ符号を付して用いるとする。
以下の説明中でも、必要に応じ、上記図３の場合と同じ符号を付して用いるとする。
図４は、図１の光ディスク装置１における記録動作開始後の第２の学習の中で、現在のフォーカス学習位置において、以降のフォーカス学習位置を再設定する場合の説明図である。制御回路２０は、第２の学習の中で、ディスク面振れ量（ディスク面の反りも含む）が急増していることを現在のフォーカス学習位置において検知したとき、以降のフォーカス学習位置の間隔を短縮する。
制御回路２０内の学習部２０１の学習結果比較部２０１６が、第２の学習の中で、現在のフォーカス学習位置（ディスク半径位置）におけるフォーカス学習結果と、前回のフォーカス学習位置（ディスク半径位置）におけるフォーカス学習結果とを比較し、その結果、ディスク面振れ量の差が大きくて、予め設定されている基準値を超える場合には、該学習結果比較部２０１６はフォーカス学習位置演算・設定部２０１３に対して制御信号を送り、今後にフォーカス学習を行うフォーカス学習位置の間隔を、記録動作開始前に第１の学習の中で設定した間隔よりも狭くする。図４は、現在のフォーカス学習位置ｒ６におけるディスク面振れ量と、前回のフォーカス学習位置ｒ５におけるディスク面振れ量との差が大きくて、基準値を超える場合である。学習結果比較部２０１６での比較結果に基づき、フォーカス学習位置演算・設定部２０１３が新たに、次回以降のフォーカス学習位置として、間隔のつまったフォーカス学習位置ｒ７'、ｒ８'、ｒ９'を設定し、記録品質の劣化を抑えるようにする。
図５は、図１の光ディスク装置１に用いるフォトデテクタ８の説明図である。
図５において、８１は、複数（４個）のセクタ８１ａ〜８１ｄから成る受光面、ａ〜ｄはそれぞれ、セクタ８１ａ〜８１ｄの出力、８２〜８５は加算回路、Ａは加算回路８４の出力、Ｂは加算回路８５の出力である。光ディスク装置１では、光ディスク２に通常の情報データを記録する場合は、上記出力Ｂを用いて反射レーザ光を受光し、フォーカス制御するが、光ディスク２面上にラベル画像を形成する場合は、第１、第２の学習を行うとき、上記出力Ａを用いて反射レーザ光を受光し、反射率の低いディスク面に対してもフォトデテクタ８から所定レベル以上の出力が得られるようにする。
図５において、８１は、複数（４個）のセクタ８１ａ〜８１ｄから成る受光面、ａ〜ｄはそれぞれ、セクタ８１ａ〜８１ｄの出力、８２〜８５は加算回路、Ａは加算回路８４の出力、Ｂは加算回路８５の出力である。光ディスク装置１では、光ディスク２に通常の情報データを記録する場合は、上記出力Ｂを用いて反射レーザ光を受光し、フォーカス制御するが、光ディスク２面上にラベル画像を形成する場合は、第１、第２の学習を行うとき、上記出力Ａを用いて反射レーザ光を受光し、反射率の低いディスク面に対してもフォトデテクタ８から所定レベル以上の出力が得られるようにする。
図６は、図１の光ディスク装置１における記録モードにおけるフォーカス制御動作の説明図である。
図６において、
（１）制御回路２０は、フォーカス制御動作を開始させる（ステップＳ６０１）。
（２）制御回路２０は、モータ制御部１３、モータ駆動回路１２を介してスライドモータ１１を駆動し、移動・案内機構部１０を作動させて光ピックアップ４を移動させ、対物レンズ５を移動させて、照射レーザ光スポットを、光ディスク２の最内周のフォーカス学習位置ｒｉに移動させる（ステップＳ６０２）。
（３）上記フォーカス学習位置ｒｉにおいて、制御回路２０内の学習部２０１のフォーカス学習部２０１１が、フォトデテクタ８からの出力に基づいてフォーカス学習を行う。すなわち、フォーカス学習部２０１１は、その制御信号により、フォーカス・トラッキング制御部１９を介してアクチュエータ１７の駆動電圧を変え、対物レンズ５の光ディスク２のラベル形成面からの高さ位置を変化させ、各高さ位置における光ディスク２の１回転当りの該アクチュエータ１７の駆動電圧に対するフォトデテクタ８の出力Ａ（全加算出力）（図５）を測定し、該フォトデテクタ８の該出力Ａが最大（最大値を含む実質的最大の範囲を意味する）のレベルとなるときのアクチュエータ１７の駆動電圧のレベル及びその変化量を求める（ステップＳ６０３）。
（４）制御回路２０は、上記ステップＳ６０３におけるフォーカス学習の結果を、メモリ３０に保存させる（ステップＳ６０４）。
（５）制御回路２０は、モータ制御部１３、モータ駆動回路１２を介してスライドモータ１１を駆動し、対物レンズ５を移動させて、照射レーザ光スポットを、光ディスク２の最外周のフォーカス学習位置ｒｏに移動させる（ステップＳ６０５）。
図６において、
（１）制御回路２０は、フォーカス制御動作を開始させる（ステップＳ６０１）。
（２）制御回路２０は、モータ制御部１３、モータ駆動回路１２を介してスライドモータ１１を駆動し、移動・案内機構部１０を作動させて光ピックアップ４を移動させ、対物レンズ５を移動させて、照射レーザ光スポットを、光ディスク２の最内周のフォーカス学習位置ｒｉに移動させる（ステップＳ６０２）。
（３）上記フォーカス学習位置ｒｉにおいて、制御回路２０内の学習部２０１のフォーカス学習部２０１１が、フォトデテクタ８からの出力に基づいてフォーカス学習を行う。すなわち、フォーカス学習部２０１１は、その制御信号により、フォーカス・トラッキング制御部１９を介してアクチュエータ１７の駆動電圧を変え、対物レンズ５の光ディスク２のラベル形成面からの高さ位置を変化させ、各高さ位置における光ディスク２の１回転当りの該アクチュエータ１７の駆動電圧に対するフォトデテクタ８の出力Ａ（全加算出力）（図５）を測定し、該フォトデテクタ８の該出力Ａが最大（最大値を含む実質的最大の範囲を意味する）のレベルとなるときのアクチュエータ１７の駆動電圧のレベル及びその変化量を求める（ステップＳ６０３）。
（４）制御回路２０は、上記ステップＳ６０３におけるフォーカス学習の結果を、メモリ３０に保存させる（ステップＳ６０４）。
（５）制御回路２０は、モータ制御部１３、モータ駆動回路１２を介してスライドモータ１１を駆動し、対物レンズ５を移動させて、照射レーザ光スポットを、光ディスク２の最外周のフォーカス学習位置ｒｏに移動させる（ステップＳ６０５）。
（６）上記フォーカス学習位置ｒｏにおいて、フォーカス学習部２０１１は、その制御信号により、フォーカス・トラッキング制御部１９を介してアクチュエータ１７の駆動電圧を変え、対物レンズ５の光ディスク２のラベル形成面からの高さ位置を変化させ、各高さ位置における光ディスク２の１回転当りの該アクチュエータ１７の駆動電圧に対するフォトデテクタ８の出力Ａ（全加算出力）（図５）を測定し、該フォトデテクタ８の該出力Ａが最大（最大値を含む実質的最大の範囲を意味する）のレベルとなるときのアクチュエータ１７の駆動電圧のレベル及びその変化量を求める（ステップＳ６０６）。
（７）制御回路２０は、上記ステップＳ６０６におけるフォーカス学習の結果を、メモリ３０に保存させる（ステップＳ６０７）。
（８）制御回路２０内の学習部２０１のディスク面振れ量演算部２０１２は、上記ステップＳ６０３、Ｓ６０６で求められメモリ３０に保存されたアクチュエータ１７の駆動電圧の変化量情報から、それぞれのフォーカス学習位置（ディスク半径位置）ｒｉ、ｒｏにおけるディスク面振れ量を演算する（ステップＳ６０８）。
（９）制御回路２０内の学習部２０１のフォーカス学習位置演算・設定部２０１３は、上記ステップＳ６０８においてディスク面振れ量演算部２０１２が演算したディスク面振れ量に基づき、記録時のフォーカス学習位置を演算して設定（決定）する（ステップＳ６０９）。
（１０）制御回路２０は、モータ制御部１３、モータ駆動回路１２を介してスライドモータ１１を駆動し、対物レンズ５を移動させて、レーザ光スポットを、上記ステップＳ６０９で設定したフォーカス学習位置例えばｒ１（図３）に移動させる（ステップＳ６１０）。
（７）制御回路２０は、上記ステップＳ６０６におけるフォーカス学習の結果を、メモリ３０に保存させる（ステップＳ６０７）。
（８）制御回路２０内の学習部２０１のディスク面振れ量演算部２０１２は、上記ステップＳ６０３、Ｓ６０６で求められメモリ３０に保存されたアクチュエータ１７の駆動電圧の変化量情報から、それぞれのフォーカス学習位置（ディスク半径位置）ｒｉ、ｒｏにおけるディスク面振れ量を演算する（ステップＳ６０８）。
（９）制御回路２０内の学習部２０１のフォーカス学習位置演算・設定部２０１３は、上記ステップＳ６０８においてディスク面振れ量演算部２０１２が演算したディスク面振れ量に基づき、記録時のフォーカス学習位置を演算して設定（決定）する（ステップＳ６０９）。
（１０）制御回路２０は、モータ制御部１３、モータ駆動回路１２を介してスライドモータ１１を駆動し、対物レンズ５を移動させて、レーザ光スポットを、上記ステップＳ６０９で設定したフォーカス学習位置例えばｒ１（図３）に移動させる（ステップＳ６１０）。
（１１）制御回路２０は、上記ステップＳ６１０で対物レンズ５を移動させた位置が、レーザ光スポットが所定のフォーカス学習位置例えばｒ１となる位置か否かを判別する（ステップＳ６１１）。
（１２）上記ステップＳ６１１における判別の結果、レーザ光スポットが所定のフォーカス学習位置になっている場合は、制御回路２０内の学習部２０１のフォーカス駆動量演算部２０１５は、上記ステップＳ６０３及び上記ステップＳ６０６のフォーカス学習で求めたアクチュエータ１７の駆動電圧の変化量から、現在のフォーカス学習位置例えばディスク半径位置ｒ１におけるフォーカス駆動量を演算する（ステップＳ６１２）。
（１３）制御回路２０内のフォーカス学習部２０１１は、現在のフォーカス学習位置例えばディスク半径位置ｒ１において、上記ステップＳ６１２で求めたフォーカス駆動量に対応させて対物レンズ５を移動させ、フォーカス学習を行う。すなわち、該フォーカス学習部２０１１は、アクチュエータ１７の駆動電圧を変えて対物レンズ５の光ディスク２のラベル形成面からの高さ位置を、フォーカス駆動量演算部２０１５が演算したフォーカス駆動量に対応させて変化させ、各高さ位置における該アクチュエータ１７の駆動電圧に対するフォトデテクタ８の出力を測定し、該フォトデテクタ８の出力が最大（最大値を含む実質的最大の範囲を意味する）のレベルとなるときのアクチュエータ１７の駆動電圧のレベル及びその変化量を求める（ステップＳ６１３）。
（１４）制御回路２０は、上記ステップＳ６１３におけるフォーカス学習が失敗したか否かを判別する（ステップＳ６１４）。
（１５）上記ステップＳ６１４における判別の結果、ステップＳ６１３におけるフォーカス学習が正常に行われている場合は、制御回路２０は、該フォーカス学習の結果をメモリ３０に記憶させる（ステップＳ６１５）。一方、ステップＳ６１４における判別の結果、記録動作中の外乱の発生などにより、ステップＳ６１３におけるフォーカス学習が正常に行われていない場合（学習失敗の場合）は、制御回路２０は、上記ステップＳ６０３、Ｓ６０６で求められメモリ３０に保存されたアクチュエータ１７の駆動電圧のレベル及び変化量情報から、現在のフォーカス学習位置例えばディスク半径位置ｒ１における学習保護値を演算し（ステップＳ６１８）、メモリ３０に記憶させる。
（１２）上記ステップＳ６１１における判別の結果、レーザ光スポットが所定のフォーカス学習位置になっている場合は、制御回路２０内の学習部２０１のフォーカス駆動量演算部２０１５は、上記ステップＳ６０３及び上記ステップＳ６０６のフォーカス学習で求めたアクチュエータ１７の駆動電圧の変化量から、現在のフォーカス学習位置例えばディスク半径位置ｒ１におけるフォーカス駆動量を演算する（ステップＳ６１２）。
（１３）制御回路２０内のフォーカス学習部２０１１は、現在のフォーカス学習位置例えばディスク半径位置ｒ１において、上記ステップＳ６１２で求めたフォーカス駆動量に対応させて対物レンズ５を移動させ、フォーカス学習を行う。すなわち、該フォーカス学習部２０１１は、アクチュエータ１７の駆動電圧を変えて対物レンズ５の光ディスク２のラベル形成面からの高さ位置を、フォーカス駆動量演算部２０１５が演算したフォーカス駆動量に対応させて変化させ、各高さ位置における該アクチュエータ１７の駆動電圧に対するフォトデテクタ８の出力を測定し、該フォトデテクタ８の出力が最大（最大値を含む実質的最大の範囲を意味する）のレベルとなるときのアクチュエータ１７の駆動電圧のレベル及びその変化量を求める（ステップＳ６１３）。
（１４）制御回路２０は、上記ステップＳ６１３におけるフォーカス学習が失敗したか否かを判別する（ステップＳ６１４）。
（１５）上記ステップＳ６１４における判別の結果、ステップＳ６１３におけるフォーカス学習が正常に行われている場合は、制御回路２０は、該フォーカス学習の結果をメモリ３０に記憶させる（ステップＳ６１５）。一方、ステップＳ６１４における判別の結果、記録動作中の外乱の発生などにより、ステップＳ６１３におけるフォーカス学習が正常に行われていない場合（学習失敗の場合）は、制御回路２０は、上記ステップＳ６０３、Ｓ６０６で求められメモリ３０に保存されたアクチュエータ１７の駆動電圧のレベル及び変化量情報から、現在のフォーカス学習位置例えばディスク半径位置ｒ１における学習保護値を演算し（ステップＳ６１８）、メモリ３０に記憶させる。
（１６）制御回路２０内の学習部２０１のディスク面振れ量演算部２０１２は、上記メモリ３０に保存されたアクチュエータ１７の駆動電圧の変化量情報から、現在のフォーカス学習位置例えばディスク半径位置ｒ１におけるディスク面振れ量を演算する（ステップＳ６１６）。
（１７）制御回路２０内の学習部２０１の学習結果比較部２０１６は、上記ステップＳ６０３、ステップＳ６０６におけるフォーカス学習の結果と、上記ステップＳ６１３におけるフォーカス学習の結果とを比較し、現在のフォーカス学習位置例えばディスク半径位置ｒ１におけるディスク面振れ量の変化状態を判別する（ステップＳ６１７）。
（１８）上記ステップＳ６１７における判別の結果、現在のフォーカス学習位置例えばディスク半径位置ｒ１におけるディスク面振れ量の変化が大きく、予め設定されている基準値を超える場合は、学習結果比較部２０１６は、フォーカス学習位置演算・設定部２０１３に対して制御信号を送り、今後のフォーカス学習位置（ディスク半径位置）の間隔（ピッチ）を、ステップＳ６０９で設定した間隔（ピッチ）よりも狭くする（ステップＳ６１９）。
（１９）上記ステップＳ６１７における判別の結果、現在のフォーカス学習位置例えばディスク半径位置ｒ１におけるディスク面振れ量の変化が小さく、予め設定されている基準値以下の場合は、制御回路２０内のラベル画像対応制御信号形成部２０２は、ホストコンピュータ６０側から受信した画像情報に基づく制御信号（ラベル画像対応制御信号）を形成し、記録信号生成部１４に入力する。記録信号生成部１４は、該制御信号に基づき記録信号を生成してレーザ駆動回路７に入力する。レーザ駆動回路７は、該記録信号に基づき、レーザダイオード６を駆動しレーザ光を出射させる。該レーザ光は、フォーカス制御された対物レンズ５を通って光ディスク２のラベル形成面に照射される。照射されたレーザ光は、光ディスク２のラベル形成面の感熱材を熱により変色させ、変色部の色の濃淡によりラベル画像を形成させる（ステップＳ６２０）。上記ステップＳ６１１における判別の結果、レーザ光スポットが所定のフォーカス学習位置になっていない場合も、レーザ光スポットが情報記録位置にあるとして、ラベル画像対応制御信号形成部２０２は、ラベル画像対応制御信号を形成して記録信号生成部１４に出力し、光ディスク２のラベル形成面におけるラベル画像形成を可能にする。
（１７）制御回路２０内の学習部２０１の学習結果比較部２０１６は、上記ステップＳ６０３、ステップＳ６０６におけるフォーカス学習の結果と、上記ステップＳ６１３におけるフォーカス学習の結果とを比較し、現在のフォーカス学習位置例えばディスク半径位置ｒ１におけるディスク面振れ量の変化状態を判別する（ステップＳ６１７）。
（１８）上記ステップＳ６１７における判別の結果、現在のフォーカス学習位置例えばディスク半径位置ｒ１におけるディスク面振れ量の変化が大きく、予め設定されている基準値を超える場合は、学習結果比較部２０１６は、フォーカス学習位置演算・設定部２０１３に対して制御信号を送り、今後のフォーカス学習位置（ディスク半径位置）の間隔（ピッチ）を、ステップＳ６０９で設定した間隔（ピッチ）よりも狭くする（ステップＳ６１９）。
（１９）上記ステップＳ６１７における判別の結果、現在のフォーカス学習位置例えばディスク半径位置ｒ１におけるディスク面振れ量の変化が小さく、予め設定されている基準値以下の場合は、制御回路２０内のラベル画像対応制御信号形成部２０２は、ホストコンピュータ６０側から受信した画像情報に基づく制御信号（ラベル画像対応制御信号）を形成し、記録信号生成部１４に入力する。記録信号生成部１４は、該制御信号に基づき記録信号を生成してレーザ駆動回路７に入力する。レーザ駆動回路７は、該記録信号に基づき、レーザダイオード６を駆動しレーザ光を出射させる。該レーザ光は、フォーカス制御された対物レンズ５を通って光ディスク２のラベル形成面に照射される。照射されたレーザ光は、光ディスク２のラベル形成面の感熱材を熱により変色させ、変色部の色の濃淡によりラベル画像を形成させる（ステップＳ６２０）。上記ステップＳ６１１における判別の結果、レーザ光スポットが所定のフォーカス学習位置になっていない場合も、レーザ光スポットが情報記録位置にあるとして、ラベル画像対応制御信号形成部２０２は、ラベル画像対応制御信号を形成して記録信号生成部１４に出力し、光ディスク２のラベル形成面におけるラベル画像形成を可能にする。
（２０）制御回路２０は、レーザ光スポットが、光ディスク２のラベル形成面におけるラベル画像形成用の最終記録位置に達しているか否かを判別する（ステップＳ６２１）。
（２１）制御回路２０は、ステップＳ６２１における判別の結果、レーザ光スポットが、光ディスク２のラベル形成面におけるラベル画像形成の最終記録位置に達している場合は、ラベル画像形成の記録動作を終了させる（ステップＳ６２２）。ステップＳ６２１における判別の結果、レーザ光スポットが、光ディスク２のラベル形成面におけるラベル画像形成の最終記録位置に達していない場合は、制御回路２０は、ステップＳ６１０の動作に戻り、レーザ光スポットを、光ディスク２のラベル形成面における次の記録位置に移動させる。このとき、ステップＳ６１１の判別動作においては、該レーザ光スポットがフォーカス学習位置例えばディスク半径位置ｒ２にきているか否かを判別する。以下、ステップＳ６１２〜ステップＳ６２１の動作を行う。ステップＳ６２１における判別の結果、レーザ光スポットが、光ディスク２のラベル形成面におけるラベル画像形成の最終記録位置に達していない場合は、制御回路２０は、ステップＳ６１０の動作に戻り、レーザ光スポットを、光ディスク２のラベル形成面における次の記録位置に移動させる。このとき、ステップＳ６１１の判別動作においては、該レーザ光スポットがフォーカス学習位置例えばディスク半径位置ｒ３にきているか否かを判別する。以下、ステップＳ６１２〜ステップＳ６２１の動作を行う。ステップＳ６２１における判別の結果、レーザ光スポットが、光ディスク２のラベル形成面におけるラベル画像形成の最終記録位置に達している場合は、制御回路２０は、ラベル画像形成の記録動作を終了させる。以下、ステップＳ６２１における判別の結果に従い、制御回路２０は、上記動作を繰り返す。
（２１）制御回路２０は、ステップＳ６２１における判別の結果、レーザ光スポットが、光ディスク２のラベル形成面におけるラベル画像形成の最終記録位置に達している場合は、ラベル画像形成の記録動作を終了させる（ステップＳ６２２）。ステップＳ６２１における判別の結果、レーザ光スポットが、光ディスク２のラベル形成面におけるラベル画像形成の最終記録位置に達していない場合は、制御回路２０は、ステップＳ６１０の動作に戻り、レーザ光スポットを、光ディスク２のラベル形成面における次の記録位置に移動させる。このとき、ステップＳ６１１の判別動作においては、該レーザ光スポットがフォーカス学習位置例えばディスク半径位置ｒ２にきているか否かを判別する。以下、ステップＳ６１２〜ステップＳ６２１の動作を行う。ステップＳ６２１における判別の結果、レーザ光スポットが、光ディスク２のラベル形成面におけるラベル画像形成の最終記録位置に達していない場合は、制御回路２０は、ステップＳ６１０の動作に戻り、レーザ光スポットを、光ディスク２のラベル形成面における次の記録位置に移動させる。このとき、ステップＳ６１１の判別動作においては、該レーザ光スポットがフォーカス学習位置例えばディスク半径位置ｒ３にきているか否かを判別する。以下、ステップＳ６１２〜ステップＳ６２１の動作を行う。ステップＳ６２１における判別の結果、レーザ光スポットが、光ディスク２のラベル形成面におけるラベル画像形成の最終記録位置に達している場合は、制御回路２０は、ラベル画像形成の記録動作を終了させる。以下、ステップＳ６２１における判別の結果に従い、制御回路２０は、上記動作を繰り返す。
上記ステップＳ６０１〜ステップＳ６２２の一連の手順は、制御回路２０が、メモリ３０など光ディスク装置１内の記憶手段に記憶されたプログラムに従って自動的に実行する。
上記ステップＳ６０２〜ステップＳ６０９の手順は、第１の学習としての手順であり、上記ステップＳ６１１〜ステップＳ６１９の手順は、第２の学習としての手順である。
上記ステップＳ６０２〜ステップＳ６０９の手順は、第１の学習としての手順であり、上記ステップＳ６１１〜ステップＳ６１９の手順は、第２の学習としての手順である。
上記実施例の光ディスク装置１によれば、光ディスク２の反り量やディスク面振れ量に応じて不要なフォーカス学習動作をなくすことができ、記録時間の短縮が可能となる。光ディスク２のディスク面振れ量に応じたディスク半径位置でフォーカス学習を行うため、安定した記録品質が得られる。また、記録動作開始後の第２の学習時に、例えば、装置に加わる外乱振動や、ディスク面に付着したごみなどに起因して、学習動作が正常に行われない場合（学習失敗の場合）にも、メモリ３０に既に保存してある第１の学習の結果を利用して記録動作を継続させることができる。このため、記録品質の劣化を抑えることができるとともに、この点からの記録時間の短縮化も可能となる。短時間でラベル画像を光ディスク面上に直接形成できるため、装置の使い勝手性を向上させることができる。さらに、装置の信頼性の向上も可能である。
なお、上記実施例では、メモリ３０を制御回路２０の外部に設ける構成としたが、これに限定されず、制御回路２０の内部に設けてもよい。また、上記実施例では、光ディスク２上にラベル画像情報を記録する場合につき説明したが、本発明は、他の情報の記録にも適用可能である。
１…光ディスク装置、
２…光ディスク、
３…スピンドルモータ、
４…光ピックアップ、
５…対物レンズ、
６…レーザダイオード、
７…レーザ駆動回路、
８…フォトデテクタ、
９…アナログフロントエンド、
１０…移動・案内機構部、
１１…スライドモータ、
１２…モータ駆動回路、
１３…モータ制御部、
１４…記録信号生成部、
１６…再生・誤差信号処理部、
１７…アクチュエータ、
１８…アクチュエータ駆動回路、
１９…フォーカス・トラッキング制御部、
２０…制御回路、
３０…メモリ、
４０…回転センサ、
５０…インターフェース、
６０…ホストコンピュータ、
２０１…学習部、
２０１１…フォーカス学習部、
２０１２…ディスク面振れ量演算部、
２０１３…フォーカス学習位置演算・設定部、
２０１４…学習位置信号形成部、
２０１５…フォーカス駆動量演算部、
２０１６…学習結果比較部、
２０２…ラベル画像対応制御信号形成部。
２…光ディスク、
３…スピンドルモータ、
４…光ピックアップ、
５…対物レンズ、
６…レーザダイオード、
７…レーザ駆動回路、
８…フォトデテクタ、
９…アナログフロントエンド、
１０…移動・案内機構部、
１１…スライドモータ、
１２…モータ駆動回路、
１３…モータ制御部、
１４…記録信号生成部、
１６…再生・誤差信号処理部、
１７…アクチュエータ、
１８…アクチュエータ駆動回路、
１９…フォーカス・トラッキング制御部、
２０…制御回路、
３０…メモリ、
４０…回転センサ、
５０…インターフェース、
６０…ホストコンピュータ、
２０１…学習部、
２０１１…フォーカス学習部、
２０１２…ディスク面振れ量演算部、
２０１３…フォーカス学習位置演算・設定部、
２０１４…学習位置信号形成部、
２０１５…フォーカス駆動量演算部、
２０１６…学習結果比較部、
２０２…ラベル画像対応制御信号形成部。
Claims (11)
- 対物レンズを通してレーザ光を光ディスクに照射し、情報の記録または再生を行う光ディスク装置であって、
光ディスク面からのレーザ光の反射光量を検出する受光手段と、
記録に先立ち、上記受光手段の出力に基づいて上記光ディスクの複数のディスク半径位置のそれぞれにおける対物レンズのフォーカス制御のためのフォーカス学習を行い、該学習結果に基づき該各ディスク半径位置のディスク面振れ量を演算し、該求めたディスク面振れ量情報に基づき、記録時にフォーカス学習を行うためのディスク半径位置を設定する第１の学習と、記録時に、該設定したディスク半径位置におけるフォーカス駆動量を上記第１の学習におけるフォーカス学習結果に基づき演算し、該演算したフォーカス駆動量に基づき現在のディスク半径位置におけるフォーカス学習を行う第２の学習とを実行する制御部と、
を備え、記録時、上記第２の学習の結果に基づき上記対物レンズを駆動しフォーカス制御を行う構成としたことを特徴とする光ディスク装置。 - 上記制御部は、上記第１の学習において、上記ディスク面振れ量の演算を、上記光ディスクの内周部と外周部とについて行う構成である請求項１に記載の光ディスク装置。
- 上記制御部は、上記第１、第２の学習における上記フォーカス学習として、上記対物レンズを駆動するアクチュエータの駆動電圧を変えて該対物レンズの光ディスク面からの高さ位置を変え、各高さ位置のときの該駆動電圧に対する上記受光手段の出力を求め、該出力が最大レベルとなる上記駆動電圧のレベル及び変化量を求める構成である請求項１に記載の光ディスク装置。
- 上記制御部は、上記第１の学習において、上記フォーカス学習を行うためのディスク半径位置の間隔または数も制御する構成である請求項１に記載の光ディスク装置。
- 上記制御部は、上記第１の学習において、上記ディスク面振れ量が大きいときは、小さいときよりも、上記フォーカス学習を行うディスク半径位置の間隔を狭く設定する構成である請求項４に記載の光ディスク装置。
- 上記制御部は、上記第２の学習において、上記ディスク面振れ量が、予め設定された基準値を超えて大きいときは、上記フォーカス学習を行うディスク半径位置の間隔を、上記第１の学習で設定した間隔よりも狭く設定する構成である請求項１に記載の光ディスク装置。
- 上記制御部は、上記第１の学習において、上記受光手段の出力の全加算信号の最大レベルに基づき上記面振れ量を求める構成である請求項１に記載の光ディスク装置。
- 上記制御部は、上記第２の学習においてフォーカス学習に失敗した場合は、上記第１の学習におけるフォーカス学習結果を用いて現在のフォーカス学習位置における学習保護値を求め、記録を行う構成である請求項１に記載の光ディスク装置。
- 光ディスクにレーザ光を照射し情報を記録する光ディスク装置の情報記録方法であって、
光ディスク面からのレーザ光の反射光量を検出する第１のステップと、
上記検出結果に基づき、上記光ディスクの、複数のディスク半径位置のそれぞれにおけるフォーカス学習を行い、該学習結果に基づき該各ディスク半径位置のディスク面振れ量を演算する第２のステップと、
上記演算したディスク面振れ量に基づき、記録時にフォーカス学習を行うためのディスク半径位置を設定する第３のステップと、
情報記録を開始し、対物レンズのレーザ光スポットが上記設定したディスク半径位置にあるとき、該ディスク半径位置におけるディスク面振れ量を、上記第２のステップで求めたディスク面振れ量に基づき演算し、該演算結果から該ディスク半径位置におけるフォーカス駆動量を求める第４のステップと、
上記フォーカス駆動量を求めたディスク半径位置におけるフォーカス学習を行う第５のステップと、
上記第５のステップにおけるフォーカス学習結果または上記第２のステップにおけるフォーカス学習結果に基づきフォーカス制御を行う第６のステップと、
上記フォーカス制御した状態で、上記ディスク半径位置以降の領域に情報記録を行う第７のステップと、
を備え、光ディスクに情報記録を行うことを特徴とする光ディスク装置の情報記録方法。 - 上記第５のステップでは、現在のディスク半径位置におけるフォーカス学習の結果と、前のディスク半径位置におけるフォーカス学習の結果とを比較し、該比較の結果、ディスク面振れ量の差が大きくて基準値を超える場合には、フォーカス学習を行うディスク半径位置の間隔を、上記第３のステップで設定したディスク半径位置の間隔よりも狭くする請求項９に記載の光ディスク装置の情報記録方法。
- 上記第６のステップでは、上記第５のステップにおいて上記フォーカス学習ができない場合は、上記第２のステップにおけるフォーカス学習結果を用いてフォーカス制御を行う請求項９に記載の光ディスク装置の情報記録方法。
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