JP2007292650A - 光学干渉計 - Google Patents
光学干渉計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007292650A JP2007292650A JP2006122055A JP2006122055A JP2007292650A JP 2007292650 A JP2007292650 A JP 2007292650A JP 2006122055 A JP2006122055 A JP 2006122055A JP 2006122055 A JP2006122055 A JP 2006122055A JP 2007292650 A JP2007292650 A JP 2007292650A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- reference light
- object light
- interference
- noninterference
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【課題】測定精度が向上しかつ測定面積が広い光学干渉計を提供する。
【解決手段】光学干渉計100は、照明光学系110と、物体光と参照光とを無干渉状態で合波して無干渉光とする無干渉光束生成部120と、無干渉光束を干渉させて干渉縞を生成する干渉縞生成手段130と、干渉縞を撮像するCCDカメラ140と、を備える。物体光と参照光とは互いの偏光軸が直交する偏光であり、物体光と参照光とは無干渉光束として合波された状態で同一経路を通る。無干渉光束が撮像手段に入射する直前の位置には、干渉縞生成手段130として、ウォラストンプリズム131と偏光板132とが配置されている。ウォラストンプリズム131は、無干渉光束の物体光と参照光との進行方向を異ならせて物体光と参照光とがCCDカメラ140に入射する際の入射角に差をつける。
【選択図】図1
Description
本発明は、光学干渉計に関する。例えば、測定対象物の表面凹凸を測定する光学干渉計に関する。
被検面の凹凸を測定するための装置として光学干渉計が知られ、広い面の凹凸を測定する際にフィゾー型の干渉計を利用できることが知られている(例えば、特許文献1)。そして、参照面を傾斜させて参照光と物体光とで波面に傾斜角をつけると、干渉縞の縞密度が高くなって分解能を向上させることができることが知られている。
図5は、参照面を傾斜させたフィゾー型の光学干渉計10を示す図である。
図5に示されるフィゾー型の干渉計における光の光路について簡単に説明する。
図5において、光源11から発射された光(L10)は、コリメートレンズ系12によって平行光束となり、途中のハーフミラー13で反射(L11)されてワーク表面Sに照射される。光源11から発射された光はコリメートレンズ系12を通過した後、偏光板18にて直線偏光となり、さらに、半波長板19を通過することにより任意の偏光軸(編波面)を有する光となる。
ここで、ハーフミラー13とワークWとの間にはリファレンス面を兼ねる1/4波長板14が配設されている。この1/4波長板14は、傾斜(チルト)された状態で配設されている。光源11からこの1/4波長板14に入射する光(L11)のうち一部は反射され、残りは透過する。1/4波長板14にて反射される光(L12)は参照光としてハーフミラー13に再帰する。1/4波長板14を透過する光(L13)はワーク表面Sに照射され、ワーク表面Sにて反射されて物体光(L14)として1/4波長板14に再帰した後、1/4波長板14を透過してハーフミラー13に入射する。
図5に示されるフィゾー型の干渉計における光の光路について簡単に説明する。
図5において、光源11から発射された光(L10)は、コリメートレンズ系12によって平行光束となり、途中のハーフミラー13で反射(L11)されてワーク表面Sに照射される。光源11から発射された光はコリメートレンズ系12を通過した後、偏光板18にて直線偏光となり、さらに、半波長板19を通過することにより任意の偏光軸(編波面)を有する光となる。
ここで、ハーフミラー13とワークWとの間にはリファレンス面を兼ねる1/4波長板14が配設されている。この1/4波長板14は、傾斜(チルト)された状態で配設されている。光源11からこの1/4波長板14に入射する光(L11)のうち一部は反射され、残りは透過する。1/4波長板14にて反射される光(L12)は参照光としてハーフミラー13に再帰する。1/4波長板14を透過する光(L13)はワーク表面Sに照射され、ワーク表面Sにて反射されて物体光(L14)として1/4波長板14に再帰した後、1/4波長板14を透過してハーフミラー13に入射する。
このとき、ワーク表面Sからの物体光(L14)は1/4波長板を2回通過するので振動方向が90度回転され、参照光(L12)に対して直交する偏光方向を有する。従って、参照光(L12)と物体光(L14)とは干渉することなくハーフミラー13に再帰する。ハーフミラー13に再帰した光束は、ハーフミラー13を透過したのち、干渉縞取得部15に入射する。このとき、干渉縞取得部15に対して物体光(L14)は垂直に入射する一方、リファレンス面を兼ねる1/4波長板14が傾斜しているので参照光L12は干渉縞取得部15に対して傾斜角をもって入射する(図6参照)。干渉縞取得部15において、参照光L12と物体光L14とが偏光軸45度の偏光板16を通過することにより、参照光L12と物体光L14とが干渉して干渉縞が生成される。この干渉縞がCCDカメラ17にて撮像される。取得された干渉縞を解析することにより、ワーク表面Sの凹凸が検出される。
このとき、参照光(L12)と物体光(L14)とで入射角を異ならせ、互いの波面に角度をつけることにより干渉縞の密度を高くしている。よって、干渉縞の解析精度が向上する。
しかしながら、干渉縞の密度を高めるためにリファレンス面としての1/4波長板14を傾斜させると、物体光(L14)と参照光(L12)とが共通の経路を通らなくなる。そして、リファレンス面を傾斜させているために、リファレンス面から干渉縞取得部15までの経路の長きにわたって物体光(L14)と参照光(L12)との経路が異なってきている。このように物体光(L14)と参照光(L12)とで経路が異なっていると、参照光(L12)と物体光(L14)とで光路差が生じてしまう。
すると、測定精度が低減するという問題が生じる。
すると、測定精度が低減するという問題が生じる。
また、物体光(L14)の波面と参照光(L12)との波面とに角度をつけるためにリファレンス面を傾斜させているが、干渉縞の密度を十分に高めるほどにリファレンス面を傾斜させると、物体光(L14)と参照光(L12)とで進行方向が大きくずれてきてしまう。そして、リファレンス面と干渉縞取得部15までの距離が長いため、物体光(L14)と参照光(L12)との進路が大きくずれてしまうと干渉縞取得部15において物体光(L14)と参照光(L12)とが重なる面積が小さくなってしまう。すると、干渉縞が生じる面積が小さくなるので、測定面積が小さくなってしまうという問題が生じる。
特に、例えば、フィゾー型では、測定面積の大きさが利点の一つに上げられるので、測定面積が小さくなることは大きなデメリットである。
特に、例えば、フィゾー型では、測定面積の大きさが利点の一つに上げられるので、測定面積が小さくなることは大きなデメリットである。
本発明の目的は、測定精度が向上しかつ測定面積が広い光学干渉計を提供することにある。
本発明の光学干渉計は、被検面にて反射された物体光と参照面にて反射された参照光とを干渉させた干渉縞を撮像手段にて撮像してこの干渉縞に基づいて前記被検面を測定する光学干渉計において、前記物体光と前記参照光とは互いの偏光軸が直交する偏光であり、前記物体光と前記参照光とは無干渉光束として合波された状態で同一経路を通り、前記無干渉光束が前記撮像手段に入射する直前の位置には、前記無干渉光束の前記物体光と前記参照光との進行方向を異ならせて前記物体光と前記参照光とが前記撮像手段に入射する入射角に差をつける入射角差生成手段と、前記入射角差生成手段にて角度差がつけられた前記物体光と前記参照光とを干渉させる偏光子と、が配設されていることを特徴とする。
このような構成において、まず、光源からの光を二光束に分離し、一方の光束は被検面に向けて照射し、他方の光束は参照面に照射する。すると、被検面に照射された光は被検面の位相情報(空間情報)をもった物体光として反射される。参照面に照射された光は参照光として反射される。そして、物体光と参照光とは合波されて同一経路によって撮像手段に向かう。このとき、物体光と参照光とはそれぞれ偏光であり、互いの偏光方向は直交関係にある。よって、物体光と参照光とが合波された光は無干渉の光束である。撮像手段に向かう無干渉光束が撮像手段に入射する前に、無干渉光束は入射角差生成手段に入射する。すると、入射角差生成手段により無干渉光束の物体光と参照光との進行方向が互いに異なる方向に分離され、物体光と参照光とは異なる角度で撮像手段に入射する。さらに、進行方向が異なる方向に分離された物体光と参照光とは、撮像手段に入射する前に偏光子によって干渉し、干渉縞が生成される。そして、この干渉縞が撮像手段に入射し、撮像手段によって干渉縞が撮像される。撮像された干渉縞に基づいて被検面の凹凸等の形状が解析される。
このような構成によれば、撮像手段の手前において物体光と参照光とを分離して撮像手段に入射する際の入射角に差をつけるので、干渉縞の密度を高くすることができる。よって、干渉縞の解析精度を向上させることができる。また、物体光と参照光とは無干渉光束として合波された状態で同一の光路を進み、撮像手段の手前において入射角差生成手段によって物体光と参照光との進行方向が分離される。したがって、物体光と参照光とで光路差がほとんど生じない。その結果、安定した高い検出精度の光学干渉計とすることができる。
また、撮像手段の手前において物体光と参照光とを分離するので、撮像手段に入射するまでに物体光と参照光とが大きくそれてしまうことがなく、撮像手段に入射する際に物体光と参照光との重なり面積を十分に大きくすることができる。
従来は、参照面が傾斜していたので、参照光が撮像手段に入射するまでの光路が長くなって参照光が物体光から大きくそれてしまっていた。そのため、撮像手段に入射する際には物体光と参照光との重なり面積が小さくなってしまっていた。
従来は、参照面が傾斜していたので、参照光が撮像手段に入射するまでの光路が長くなって参照光が物体光から大きくそれてしまっていた。そのため、撮像手段に入射する際には物体光と参照光との重なり面積が小さくなってしまっていた。
この点、本発明では、物体光と参照光とが分離されてから撮像手段に入射するまでの距離が短いので、撮像手段に入射するまでに物体光と参照光とが大きく離間することがない。よって、物体光と参照光との重なり面積を大きくして干渉縞が生成される面積を大きくすることができる。その結果、一回の測定面積を広くすることができる。また、分離してから撮像手段までの距離が短いので、干渉縞の密度が十分に高くなる程度に参照光と物体光とに角度をつけても重なり面積を十分に大きくすることができる。その結果、干渉縞密度を十分に高くしかつ干渉面積を広くすることができるという画期的な効果を奏することができる。
本発明では、前記入射格差生成手段は、ウォラストンプリズムにて構成されていることが好ましい。
このような構成において、ウォラストンプリズムに光が入射すると、互いに直交する偏光軸の光が所定の開き角をもって射出される。すなわち、互いに直交する偏光軸を有する参照光と物体光とが合波された無干渉光束がウォラストンプリズムに入射すると、参照光と物体光とが所定の開き角をもって射出される。すると、撮像手段に対する参照光と物体光との入射角度が異なり、密度の高い干渉縞が得られる。このように入射角差生成手段をウォラストンプリズムによって構成することにより、入射角差生成手段が一つの部材で構成されるので、部品点数を少なくすることができる。
また、ウォラストンプリズムであれば物体光と参照光との開き角が所定の角度に決まっているので、あらためて角度調整の必要がなく、また、開き角が変わることがないので、安定した測定結果を得ることができる。
また、ウォラストンプリズムであれば物体光と参照光との開き角が所定の角度に決まっているので、あらためて角度調整の必要がなく、また、開き角が変わることがないので、安定した測定結果を得ることができる。
本発明では、前記入射角差生成手段は、前記無干渉光束の前記物体光と前記参照光との光路を分離する光路分離手段と、前記光路分離手段にて分離された前記物体光と前記参照光とを異なる角度で前記撮像手段に入射させる入射角調整手段と、を備えていることが好ましい。
このような構成において、例えば、光路分離手段としては偏光ビームスプリッタを用いることができる。そして、偏光ビームスプリッタからの光をミラー等によって反射し、撮像手段への入射角を調整することができる。
以下、本発明の実施の形態を図示するとともに図中の各要素に付した符号を参照して説明する。
(第1実施形態)
本発明の光学干渉計に係る第1実施形態について説明する。
図1は、この光学干渉計の構成を示す図である。
光学干渉計100は、光(L10)を発射する照明光学系110と、物体光(L14)と参照光(L12)とを無干渉状態で合波して無干渉光束(L15)とする無干渉光束生成部120と、無干渉光束(L15)を干渉させて干渉縞を生成する干渉縞生成手段130と、干渉縞を撮像するCCDカメラ140(撮像手段)と、照明光学系110からの光(L10)を無干渉光束生成部120に向けて反射するとともに無干渉光束生成部120からの無干渉光束(L15)を干渉縞生成手段130に向けて透過させるハーフミラー150と、を備える。
(第1実施形態)
本発明の光学干渉計に係る第1実施形態について説明する。
図1は、この光学干渉計の構成を示す図である。
光学干渉計100は、光(L10)を発射する照明光学系110と、物体光(L14)と参照光(L12)とを無干渉状態で合波して無干渉光束(L15)とする無干渉光束生成部120と、無干渉光束(L15)を干渉させて干渉縞を生成する干渉縞生成手段130と、干渉縞を撮像するCCDカメラ140(撮像手段)と、照明光学系110からの光(L10)を無干渉光束生成部120に向けて反射するとともに無干渉光束生成部120からの無干渉光束(L15)を干渉縞生成手段130に向けて透過させるハーフミラー150と、を備える。
照明光学系110は、光源111と、コリメートレンズ系112と、偏光板113と、半波長板114と、を備える。
半波長板114は、回転可能に設けられている。そして、照明光学系110からの光(L10)は、ハーフミラー150に入射し、ハーフミラー150に入射した光の一部が直角に反射(L11)されて、無干渉光束生成部120およびワークWに向かう。
半波長板114は、回転可能に設けられている。そして、照明光学系110からの光(L10)は、ハーフミラー150に入射し、ハーフミラー150に入射した光の一部が直角に反射(L11)されて、無干渉光束生成部120およびワークWに向かう。
無干渉光束生成部120は、ワイヤーグリッド120によって構成されている。
ワイヤーグリッド120は、光透過性板材121と、この光透過性板材121の一面において互いに平行に配列された複数のワイヤー122と、を有している。ワイヤー122の線幅は例えば60nm程度であり、ワイヤー同士の間隔は例えば140nm程度である。そして、ワイヤーグリッド120に入射する光(L11)のうち、ワイヤー122に平行な成分はワイヤーグリッド120にて反射(L12)され、ワイヤー122に垂直な成分はワイヤーグリッド120を透過(L13)する。
ここで、ワイヤーグリッド120にて光が反射(L12)されるとき、このワイヤーグリッド120の反射面が参照面(リファレンス面)123となる。
なお、ワイヤーグリッド120は、ワーク表面Sに対して略平行に配置されている。
ワイヤーグリッド120は、光透過性板材121と、この光透過性板材121の一面において互いに平行に配列された複数のワイヤー122と、を有している。ワイヤー122の線幅は例えば60nm程度であり、ワイヤー同士の間隔は例えば140nm程度である。そして、ワイヤーグリッド120に入射する光(L11)のうち、ワイヤー122に平行な成分はワイヤーグリッド120にて反射(L12)され、ワイヤー122に垂直な成分はワイヤーグリッド120を透過(L13)する。
ここで、ワイヤーグリッド120にて光が反射(L12)されるとき、このワイヤーグリッド120の反射面が参照面(リファレンス面)123となる。
なお、ワイヤーグリッド120は、ワーク表面Sに対して略平行に配置されている。
干渉縞生成手段130は、入射角差生成手段としてのウォラストンプリズム131と、偏光軸が45度の角度で配置された偏光板132と、と備えて構成されている。CCDカメラ140の直前にウォラストンプリズム131が配置され、さらに、CCDカメラ140とウォラストンプリズム131との間に偏光板132が配置されている。ウォラストンプリズム131に光が入射すると、互いに直交する偏光軸の光(L12、L14)が所定の開き角をもって射出される。そして、ウォラストンプリズム131から射出された互いに直交する偏光軸を有する2つの光束(L12、L14)が偏光板132に入射すると、2つの光束(L12、L14)が干渉して干渉縞が生成される。このように生成された干渉縞はCCDカメラ140に入射して、CCDカメラ140によって撮像される。
このような構成を備える第1実施形態において光源111からの光(レーザー光)がCCDカメラ140に到達するまでの光路について説明する。
光源111から発射された光(L10)は、コリメートレンズ系112によって平行光束とされて、さらに、偏光板113によって所定の偏光方向を有する偏光となる。そして、半波長板114によって偏光方向が所定角度で回転された状態でハーフミラー150に入射する。ハーフミラー150に入射した光の一部はワイヤーグリッド120に向けて反射(L11)される。
光源111から発射された光(L10)は、コリメートレンズ系112によって平行光束とされて、さらに、偏光板113によって所定の偏光方向を有する偏光となる。そして、半波長板114によって偏光方向が所定角度で回転された状態でハーフミラー150に入射する。ハーフミラー150に入射した光の一部はワイヤーグリッド120に向けて反射(L11)される。
ハーフミラー150で反射された光(L11)は、ワイヤーグリッド120に入射する。すると、ワイヤーグリッド120に入射した光(L11)のうち、ワイヤーグリッド120のワイヤー122に直交する成分はワイヤーグリッド120を透過(L13)する。
ここで、ワイヤーグリッド120を透過する方向の偏光をS波とする。
ワイヤーグリッド120を透過したS波(L13)はワーク表面Sに照射された後、ワーク表面Sで反射されて物体光(L14)としてワイヤーグリッド120に再帰し、ワイヤーグリッド120を透過してハーフミラー150に向かう。
ここで、ワイヤーグリッド120を透過する方向の偏光をS波とする。
ワイヤーグリッド120を透過したS波(L13)はワーク表面Sに照射された後、ワーク表面Sで反射されて物体光(L14)としてワイヤーグリッド120に再帰し、ワイヤーグリッド120を透過してハーフミラー150に向かう。
また、ハーフミラー150からワイヤーグリッド120に入射した光(L11)のうち、ワイヤーグリッド120のワイヤー122に平行な成分はワイヤーグリッド120にて反射(L12)される。
ここで、ワイヤーグリッド120にて反射される方向の偏光をP波とする。ワイヤーグリッド120にて反射されたP波は、参照光(L12)としてハーフミラー150に向かう。
ここで、ワイヤーグリッド120にて反射される方向の偏光をP波とする。ワイヤーグリッド120にて反射されたP波は、参照光(L12)としてハーフミラー150に向かう。
ワイヤーグリッド120はワーク表面Sに対して略平行に配置されているので、ワーク表面Sによる反射光である物体光(L14)とワイヤーグリッド120による反射光である参照光(L12)との進行方向は同一となる。そして、ワークWからの反射光である物体光(S波、L14)とワイヤーグリッド120からの反射光である参照光(P波、L12)とは互いの偏光方向が直交しているので干渉せずに合波され、無干渉光束(L15)としてハーフミラー150に向かう。
無干渉光束(L15)は、ハーフミラー150を通過してウォラストンプリズム131に入射する。ウォラストンプリズム131に光が入射すると、互いに直交する偏光軸の光が所定の開き角をもって射出されるところ、互いに直交する偏光軸を有する参照光(L12)と物体光(L14)とが合波された無干渉光束(L15)がウォラストンプリズム131に入射すると、参照光(L12)と物体光(L14)とが所定の開き角をもって射出される。そして、参照光(L12)と物体光(L14)とが偏光板132によって干渉し、干渉縞が生成される。干渉縞はCCDカメラ140によって撮像される。撮像された干渉縞は、図示しない所定の解析手段に送られて縞解析が行われる。縞解析の結果に基づいてワーク表面Sの凹凸等の形状が求められる。
このような第1実施形態によれば、次の効果を奏することができる。
(1)CCDカメラ140の手前においてウォラストンプリズム131によって物体光(L14)と参照光(L12)とを分離してCCDカメラ140に入射する際の入射角に差をつけるので、干渉縞の密度を高くすることができる。よって、干渉縞の解析精度を向上させることができる。
(1)CCDカメラ140の手前においてウォラストンプリズム131によって物体光(L14)と参照光(L12)とを分離してCCDカメラ140に入射する際の入射角に差をつけるので、干渉縞の密度を高くすることができる。よって、干渉縞の解析精度を向上させることができる。
(2)ワイヤーグリッド120はワーク表面Sに対し略平行に配置されているので、ワイヤーグリッド120からの反射光である参照光(L12)とワーク表面Sからの反射光である物体光(L14)とは無干渉光束(L15)として合波された状態で同一の光路を進む。そして、CCDカメラ140の手前においてウォラストンプリズム131によって物体光(L14)と参照光(L12)との進行方向が分離される。
このように物体光(L14)と参照光(L12)とが同一の光路を通るので、物体光(L14)と参照光(L12)とで光路差がほとんど生じず、その結果、安定した高い検出精度の光学干渉計100とすることができる。
このように物体光(L14)と参照光(L12)とが同一の光路を通るので、物体光(L14)と参照光(L12)とで光路差がほとんど生じず、その結果、安定した高い検出精度の光学干渉計100とすることができる。
(3)CCDカメラ140の手前にウォラストンプリズム131が配置されており、物体光(L14)と参照光(L12)とが分離されてからCCDカメラ140に入射するまでの距離が短いので、CCDカメラ140に入射するまでに物体光(L14)と参照光(L12)とが大きく離間しない。よって、物体光(L14)と参照光(L12)との重なり面積を大きくして干渉縞が生成される面積を大きくすることができ、一回の測定面積を広くすることができる。
(4)ウォラストンプリズム131によって物体光(L14)と参照光(L12)とを分離してからCCDカメラ140までの距離が短いので、干渉縞の密度が十分に高くなる程度にウォラストンプリズム131によって参照光(L12)と物体光(L14)とに角度をつけた場合でも、物体光(L14)と参照光(L12)との重なり面積を十分に大きくすることができる。その結果、干渉縞密度を十分に高くしかつ干渉面積を広くすることができるという画期的な効果を奏することができる。
(5)入射角差生成手段をウォラストンプリズム131の単体によって構成しているので、部品点数を少なくすることができる。また、ウォラストンプリズム131であれば物体光(L14)と参照光(L12)との開き角が所定の角度に決まっているので、あらためて角度調整の必要がなく、また、開き角が変わることがないので、安定した測定結果を得ることができる。
(変形例1)
次に、本発明の変形例1について図2を参照して説明する。
上記第1実施形態においては、ワイヤーグリッド120を用いたフィゾー型の光学干渉計100を例にして説明したが、本発明は図2に示されるように、マイケルソン型の光学干渉計200に対しても適用できる。
図2においては、マイケルソン型干渉計200であるので、無干渉光束生成手段210が偏光ビームスプリッタ(PBS)211とリファレンスミラー212とによって構成されている。そして、CCDカメラ140の手前において、ウォラストンプリズム131と偏光板132が配置されている点については、第1実施形態に同じである。このような構成において、光源111からの光がPBS211によってP波とS波とに分離されて、一方が物体光になり、他方が参照光になる。そして、物体光と参照光とが無干渉光束として合波される。無干渉光束は、CCDカメラ140の手前にてウォラストンプリズム131を通過して所定の開き角の参照光と物体光とに分離され、偏光板132によって干渉する。干渉縞はCCDカメラ140によって撮像される。
次に、本発明の変形例1について図2を参照して説明する。
上記第1実施形態においては、ワイヤーグリッド120を用いたフィゾー型の光学干渉計100を例にして説明したが、本発明は図2に示されるように、マイケルソン型の光学干渉計200に対しても適用できる。
図2においては、マイケルソン型干渉計200であるので、無干渉光束生成手段210が偏光ビームスプリッタ(PBS)211とリファレンスミラー212とによって構成されている。そして、CCDカメラ140の手前において、ウォラストンプリズム131と偏光板132が配置されている点については、第1実施形態に同じである。このような構成において、光源111からの光がPBS211によってP波とS波とに分離されて、一方が物体光になり、他方が参照光になる。そして、物体光と参照光とが無干渉光束として合波される。無干渉光束は、CCDカメラ140の手前にてウォラストンプリズム131を通過して所定の開き角の参照光と物体光とに分離され、偏光板132によって干渉する。干渉縞はCCDカメラ140によって撮像される。
このような変形例1においても、参照光と物体光との経路については第1実施形態と同様であり、上記第1実施形態と同様の効果を奏することができる。
(変形例2)
次に、本発明の変形例2について図3を参照して説明する。
変形例2の基本的構成は第1実施形態と同様であるが、入射角差生成手段300の構成に特徴を有する。
上記第1実施形態においては、入射角差生成手段がウォラストンプリズム131で構成されている場合を説明したが、入射角差生成手段300は、図3に示されるように複数の部材によって構成してもよい。
図3において、入射角差生成手段300は、偏光ビームスプリッタ(光路分離手段)310と三角プリズム(入射角調整手段)320とによって構成されている。そして、参照光と物体光とが合波された無干渉光束が偏光ビームスプリッタ310に入射すると、参照光と物体光とのうち一方は偏光ビームスプリッタ310を透過して偏光板132に入射する。また、参照光と物体光とのうち他方は偏光ビームスプリッタ310によって直角方向に反射される。偏光ビームスプリッタ310にて反射された光は、さらに三角プリズム320の反射面によって反射されて偏光板132に入射する。
ここで、三角プリズム320の反射面の角度は、反射光を偏光板132に入射させ、かつ、参照光と物体光とに所定の入射角差がつくように調整されている。そして、参照光と物体光とが偏光板132によって干渉したのち、干渉縞がCCDカメラ140にて撮像される。
次に、本発明の変形例2について図3を参照して説明する。
変形例2の基本的構成は第1実施形態と同様であるが、入射角差生成手段300の構成に特徴を有する。
上記第1実施形態においては、入射角差生成手段がウォラストンプリズム131で構成されている場合を説明したが、入射角差生成手段300は、図3に示されるように複数の部材によって構成してもよい。
図3において、入射角差生成手段300は、偏光ビームスプリッタ(光路分離手段)310と三角プリズム(入射角調整手段)320とによって構成されている。そして、参照光と物体光とが合波された無干渉光束が偏光ビームスプリッタ310に入射すると、参照光と物体光とのうち一方は偏光ビームスプリッタ310を透過して偏光板132に入射する。また、参照光と物体光とのうち他方は偏光ビームスプリッタ310によって直角方向に反射される。偏光ビームスプリッタ310にて反射された光は、さらに三角プリズム320の反射面によって反射されて偏光板132に入射する。
ここで、三角プリズム320の反射面の角度は、反射光を偏光板132に入射させ、かつ、参照光と物体光とに所定の入射角差がつくように調整されている。そして、参照光と物体光とが偏光板132によって干渉したのち、干渉縞がCCDカメラ140にて撮像される。
このような変形例2によっても、参照光と物体光との経路については第1実施形態と略同様であり、上記第1実施形態と同様の効果(1)〜(4)を奏することができる。
(変形例3)
次に、本発明の変形例3について図4を参照して説明する。
変形例3の基本的構成は第1実施形態と同様であるが、入射角差生成手段300の構成に特徴を有する。
上記第1実施形態においては、入射角差生成手段がウォラストンプリズム131で構成されている場合を説明したが、入射角差生成手段300は、図4に示されるように複数の部材によって構成してもよい。
図4において、入射角差生成手段400は、偏光ビームスプリッタ(光路分離手段)410と二組の反射手段(入射角調整手段)420、430とによって構成されている。
反射手段としては、偏光ビームスプリッタ410からの反射光を反射して偏光ビームスプリッタ410に再帰させる第1反射手段420と、偏光ビームスプリッタ410からの透過光を反射して偏光ビームスプリッタ410に再帰させる第2反射手段430と、が設けられている。
第1反射手段420と第2反射手段430は、それぞれ反射ミラー421、431と1/4波長板422、432とを備える。そして、第1反射手段420の反射ミラー421はチルトされている一方、第2反射手段430の反射ミラー431は光軸に対して直角の反射面を有する。
次に、本発明の変形例3について図4を参照して説明する。
変形例3の基本的構成は第1実施形態と同様であるが、入射角差生成手段300の構成に特徴を有する。
上記第1実施形態においては、入射角差生成手段がウォラストンプリズム131で構成されている場合を説明したが、入射角差生成手段300は、図4に示されるように複数の部材によって構成してもよい。
図4において、入射角差生成手段400は、偏光ビームスプリッタ(光路分離手段)410と二組の反射手段(入射角調整手段)420、430とによって構成されている。
反射手段としては、偏光ビームスプリッタ410からの反射光を反射して偏光ビームスプリッタ410に再帰させる第1反射手段420と、偏光ビームスプリッタ410からの透過光を反射して偏光ビームスプリッタ410に再帰させる第2反射手段430と、が設けられている。
第1反射手段420と第2反射手段430は、それぞれ反射ミラー421、431と1/4波長板422、432とを備える。そして、第1反射手段420の反射ミラー421はチルトされている一方、第2反射手段430の反射ミラー431は光軸に対して直角の反射面を有する。
このような構成において、参照光と物体光とが合波された無干渉光束が偏光ビームスプリッタ410に入射すると、参照光と物体光とのうち一方は偏光ビームスプリッタ410により直角に反射されて第1反射手段420に入射し、他方は偏光ビームスプリッタ410を透過して第2反射手段430に入射する。
ここでは、参照光がP波であって偏光ビームスプリッタ410により反射され、物体光がS波であって偏光ビームスプリッタ410を透過するとする。
偏光ビームスプリッタによって反射された参照光(P波)は、第1反射ミラー421によって反射されて偏光ビームスプリッタ410に再帰する。このとき、光は第1反射手段420の1/4波長板422を2回通過することにより偏光軸が90度回転してS波となる。すると、偏光ビームスプリッタ410を通過してCCDカメラ140に向かう。
また、第1反射手段420の反射ミラー421はチルトされているので、この反射ミラー421による反射光はわずかに角度をもって反射され、CCDカメラ140への入射角は90度から少しずれる。
ここでは、参照光がP波であって偏光ビームスプリッタ410により反射され、物体光がS波であって偏光ビームスプリッタ410を透過するとする。
偏光ビームスプリッタによって反射された参照光(P波)は、第1反射ミラー421によって反射されて偏光ビームスプリッタ410に再帰する。このとき、光は第1反射手段420の1/4波長板422を2回通過することにより偏光軸が90度回転してS波となる。すると、偏光ビームスプリッタ410を通過してCCDカメラ140に向かう。
また、第1反射手段420の反射ミラー421はチルトされているので、この反射ミラー421による反射光はわずかに角度をもって反射され、CCDカメラ140への入射角は90度から少しずれる。
また、偏光ビームスプリッタ410を透過した物体光(S波)は、第2反射手段430の反射ミラー431によって反射されて偏光ビームスプリッタ410に再帰する。
このとき、光は第2反射手段430の1/4波長板432を2回通過することにより偏光軸が90度回転してP波となる。
すると、偏光ビームスプリッタ410によって反射されてCCDカメラ140に向かう。
このとき、光は第2反射手段430の1/4波長板432を2回通過することにより偏光軸が90度回転してP波となる。
すると、偏光ビームスプリッタ410によって反射されてCCDカメラ140に向かう。
偏光ビームプリッタ410からCCDカメラ140に向かう光は、S波である参照光とP波である物体光であるところ、偏光軸が45度の角度で配置された偏光板132を通過することにより干渉縞が生成される。このとき、参照光と物体光とで入射角差を有するので、干渉縞の密度が高くなる。
この干渉縞はCCDカメラ140によって撮像される。
この干渉縞はCCDカメラ140によって撮像される。
このような変形例3によっても、参照光と物体光との経路については第1実施形態と略同様であり、上記第1実施形態と同様の効果(1)〜(4)を奏することができる。
なお、本発明は前述の実施形態に限定されず、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれる。
第1実施形態のフィゾー型光学干渉においてはワイヤーグリッドを用いた構成を例にして説明したが、ワイヤーグリッドに代えて1/4波長板を用いることもできる。
入射角差生成手段としては、ウォラストンプリズムの他に図3および図4の構成を示したが、この他、種々の構成が採用できる。
第1実施形態のフィゾー型光学干渉においてはワイヤーグリッドを用いた構成を例にして説明したが、ワイヤーグリッドに代えて1/4波長板を用いることもできる。
入射角差生成手段としては、ウォラストンプリズムの他に図3および図4の構成を示したが、この他、種々の構成が採用できる。
なお、高い解像度を得るためには、干渉縞の幅がCCDカメラの受光素子の4つ分程度であることが好ましい。
例えば、波長が633nmのレーザー光を用い、CCDカメラの受光素子のサイズが6μmである場合、ウォラストンプリズムによる参照光と物体光との開き角を1.6度程度にする。すると、干渉縞の幅が約22.6μmとなり、CCDカメラの受光素子の4つ分程度となる。すると、良好な解像度が得られる。
また、CCDカメラにて干渉縞を良好に撮像するためには、CCDカメラの受光素子に対して干渉縞が斜め方向であることが好ましい。つまり、受光素子の並び方向に対して干渉縞の縞が斜線であることが好ましい。例えば、ウォラストンプリズムに対してCCDカメラを回転させて、ウォラストンプリズムの光軸に対してCCDカメラの受光素子の並び方向が45度になるようにするとよい。
例えば、波長が633nmのレーザー光を用い、CCDカメラの受光素子のサイズが6μmである場合、ウォラストンプリズムによる参照光と物体光との開き角を1.6度程度にする。すると、干渉縞の幅が約22.6μmとなり、CCDカメラの受光素子の4つ分程度となる。すると、良好な解像度が得られる。
また、CCDカメラにて干渉縞を良好に撮像するためには、CCDカメラの受光素子に対して干渉縞が斜め方向であることが好ましい。つまり、受光素子の並び方向に対して干渉縞の縞が斜線であることが好ましい。例えば、ウォラストンプリズムに対してCCDカメラを回転させて、ウォラストンプリズムの光軸に対してCCDカメラの受光素子の並び方向が45度になるようにするとよい。
本発明は、光学干渉計に利用できる。
10…光学干渉計、11…光源、12…コリメートレンズ系、13…ハーフミラー、14…波長板、15…干渉縞取得部、16…偏光板、17…CCDカメラ、100…光学干渉計、110…照明光学系、111…光源、112…コリメートレンズ系、113…偏光板、114…半波長板、120…ワイヤーグリッド(無干渉光束生成部)、121…光透過性板材、122…ワイヤー、130…干渉縞生成手段、131…ウォラストンプリズム、132…偏光板、140…CCDカメラ、150…ハーフミラー、200…マイケルソン型干渉計、210…無干渉光束生成手段、212…リファレンスミラー、300…入射角差生成手段、310…偏光ビームスプリッタ、320…三角プリズム、400…入射角差生成手段、410…偏光ビームスプリッタ、420…第1反射手段、421…反射ミラー、422…1/4波長板、430…第2反射手段、431…反射ミラー、432…1/4波長板、S…ワーク表面、W…ワーク。
Claims (3)
- 被検面にて反射された物体光と参照面にて反射された参照光とを干渉させた干渉縞を撮像手段にて撮像してこの干渉縞に基づいて前記被検面を測定する光学干渉計において、
前記物体光と前記参照光とは互いの偏光軸が直交する偏光であり、
前記物体光と前記参照光とは無干渉光束として合波された状態で同一経路を通り、
前記無干渉光束が前記撮像手段に入射する直前の位置には、
前記無干渉光束の前記物体光と前記参照光との進行方向を異ならせて前記物体光と前記参照光とが前記撮像手段に入射する入射角に差をつける入射角差生成手段と、
前記入射角差生成手段にて角度差がつけられた前記物体光と前記参照光とを干渉させる偏光子と、が配設されている
ことを特徴とする光学干渉計。 - 請求項1に記載の光学干渉計において、
前記入射格差生成手段は、ウォラストンプリズムにて構成されている
ことを特徴とする光学干渉計。 - 請求項1に記載の光学干渉計において、
前記入射角差生成手段は、前記無干渉光束の前記物体光と前記参照光との光路を分離する光路分離手段と、
前記光路分離手段にて分離された前記物体光と前記参照光とを異なる角度で前記撮像手段に入射させる入射角調整手段と、を備えている
ことを特徴とする光学干渉計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006122055A JP2007292650A (ja) | 2006-04-26 | 2006-04-26 | 光学干渉計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006122055A JP2007292650A (ja) | 2006-04-26 | 2006-04-26 | 光学干渉計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007292650A true JP2007292650A (ja) | 2007-11-08 |
Family
ID=38763395
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006122055A Withdrawn JP2007292650A (ja) | 2006-04-26 | 2006-04-26 | 光学干渉計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007292650A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2950425A1 (fr) * | 2009-09-23 | 2011-03-25 | Sabban Youssef Cohen | Nanotopographie 3d sans contact, insensible aux vibrations |
JP2011107139A (ja) * | 2009-11-20 | 2011-06-02 | Mitsutoyo Corp | 物体表面の形状測定装置、その形状測定方法及び部品キット |
CN113588216A (zh) * | 2021-08-02 | 2021-11-02 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种偏振片光学零位快速高精度定标装置和方法 |
-
2006
- 2006-04-26 JP JP2006122055A patent/JP2007292650A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2950425A1 (fr) * | 2009-09-23 | 2011-03-25 | Sabban Youssef Cohen | Nanotopographie 3d sans contact, insensible aux vibrations |
JP2011107139A (ja) * | 2009-11-20 | 2011-06-02 | Mitsutoyo Corp | 物体表面の形状測定装置、その形状測定方法及び部品キット |
CN113588216A (zh) * | 2021-08-02 | 2021-11-02 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种偏振片光学零位快速高精度定标装置和方法 |
CN113588216B (zh) * | 2021-08-02 | 2023-09-19 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种偏振片光学零位快速高精度定标装置和方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4538388B2 (ja) | 位相シフト干渉計 | |
JP4729423B2 (ja) | 光学干渉計 | |
KR101931190B1 (ko) | 삼차원 계측 장치 | |
US7821647B2 (en) | Apparatus and method for measuring surface topography of an object | |
US7561279B2 (en) | Scanning simultaneous phase-shifting interferometer | |
US7466427B2 (en) | Vibration-resistant interferometer apparatus | |
JP4852318B2 (ja) | 変位検出装置、偏光ビームスプリッタ及び回折格子 | |
CN114502912B (zh) | 混合式3d检验*** | |
JP6285808B2 (ja) | 干渉計 | |
KR20190058444A (ko) | 3차원 계측 장치 | |
JP2010032342A (ja) | 斜入射干渉計 | |
JP4721685B2 (ja) | 形状測定方法及び形状測定装置 | |
US20110299090A1 (en) | Real-time interferometer | |
JP2007292650A (ja) | 光学干渉計 | |
TWI619927B (zh) | Three-dimensional measuring device | |
TWI579525B (zh) | 運動物件之絕對定位距離與偏擺角度同步量測之光學系統與方法 | |
JP2001241914A (ja) | 斜入射干渉計用光学系およびこれを用いた装置 | |
JP2006349382A (ja) | 位相シフト干渉計 | |
JP2000329535A (ja) | 位相シフト干渉縞の同時計測装置 | |
JP3410802B2 (ja) | 干渉計装置 | |
JP2002148025A (ja) | 3次元形状測定装置 | |
JP2001264036A (ja) | 面形状測定装置及び測定方法 | |
US6525824B1 (en) | Dual beam optical interferometer | |
JP2002206914A (ja) | 斜入射干渉計装置 | |
JP2001241916A (ja) | 斜入射干渉計用光学系およびこれを用いた装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20070809 |
|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20090707 |