JP2007278914A - リークテスト方法及びリークテスト装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】微小な検査対象に対するリークテストの不感帯を解消する。
【解決手段】複数の検査対象Wをまとめてボンビングタンク10内の加圧ヘリウム空間に長時間置く。その後、検査対象Wを1つずつカプセル200に入れ、カプセル200内を短時間加圧ヘリウム空間にし、そのうえでヘリウムリークテスタ230にて検査対象からのヘリウム検出を行なう。また、エアリークテスタ240にてエアリークテストを行なう。
【選択図】図1
【解決手段】複数の検査対象Wをまとめてボンビングタンク10内の加圧ヘリウム空間に長時間置く。その後、検査対象Wを1つずつカプセル200に入れ、カプセル200内を短時間加圧ヘリウム空間にし、そのうえでヘリウムリークテスタ230にて検査対象からのヘリウム検出を行なう。また、エアリークテスタ240にてエアリークテストを行なう。
【選択図】図1
Description
この発明は、検査対象のリークをテストすることにより良否判定に資する方法及び装置に関し、特に、例えば1mm角未満の水晶振動子やパッケージIC等の微細なワークを検査するのに適したリークテスト方法及びリークテスト装置に関する。
リークテストは、内部に密閉空間を有するワークの密閉状態の良否を検査するのに適している。ワークが例えば数mm角程度の小型ワークの場合、一般にエアリークテストとヘリウムリークテストを併用している。エアリークテストは、相対的に大きなピンホール(欠陥)の検知に適し、グロスリークテストに分類され、ヘリウムリークテストは、相対的に小さなピンホールの検知に適し、ファインリークテストに分類される。
エアリークテストは、例えば、ワークを入れたカプセルにエア圧を導入し、このカプセルの内圧とマスタの基準圧との差圧変化を読み取るものである。ピンホールのあるワークの場合、圧縮エアがピンホールを通ってワーク内に入るためカプセルの内圧が低下し、マスタとの間に差圧が出来る。これが差圧センサによって検出される。しかし、ピンホールが小さくなると差圧変化が小さくなり、差圧センサが感度的に対応しきれなくなる。
ヘリウムリークテストでは、数百個のワークを一度に1つのボンビングタンクに収容し、加圧ヘリウムガスをボンビングタンクに充填する。この加圧ヘリウム充填状態を約1時間維持する。この期間中に、ピンホールのあるワークの内部にヘリウムガスが入り込む。これをボンビングという。次に、ワークを1つずつヘリウムリークテスタにかける。ワークのピンホールが小さいほど、内部のヘリウムが時間をかけて徐々に漏れて来る。これがヘリウムリークテスタにて検出される。
一般に、ワークが数mm角くらいまであれば、エアリークテストにて検出可能なピンホールの大きさの範囲(グロスリークテストレベル)とヘリウムリークテストにて検出可能なピンホールの大きさの範囲(ファインリークテストレベル)とが一部重なるため、不感帯を生じることはない。
特開2000−121481
特開2001−074587
エアリークテストは、例えば、ワークを入れたカプセルにエア圧を導入し、このカプセルの内圧とマスタの基準圧との差圧変化を読み取るものである。ピンホールのあるワークの場合、圧縮エアがピンホールを通ってワーク内に入るためカプセルの内圧が低下し、マスタとの間に差圧が出来る。これが差圧センサによって検出される。しかし、ピンホールが小さくなると差圧変化が小さくなり、差圧センサが感度的に対応しきれなくなる。
ヘリウムリークテストでは、数百個のワークを一度に1つのボンビングタンクに収容し、加圧ヘリウムガスをボンビングタンクに充填する。この加圧ヘリウム充填状態を約1時間維持する。この期間中に、ピンホールのあるワークの内部にヘリウムガスが入り込む。これをボンビングという。次に、ワークを1つずつヘリウムリークテスタにかける。ワークのピンホールが小さいほど、内部のヘリウムが時間をかけて徐々に漏れて来る。これがヘリウムリークテスタにて検出される。
一般に、ワークが数mm角くらいまであれば、エアリークテストにて検出可能なピンホールの大きさの範囲(グロスリークテストレベル)とヘリウムリークテストにて検出可能なピンホールの大きさの範囲(ファインリークテストレベル)とが一部重なるため、不感帯を生じることはない。
近年、例えば水晶振動子やパッケージIC等において微小サイズ(例えば1mm角未満)のものが登場して来た。外寸法が微小であるので内容積は更に微小である。そのような微小ワークでは、内部に充填可能なヘリウム量が微量になる。このため、ピンホールが極めて小さければ、ヘリウムリークテスタにかけるまで内部にヘリウムを残しておくことができるが、ピンホールがそれより少し大きい(エアリークテストの検出可能範囲よりは小さい)程度になると、ヘリウムリークテスタにかけるまでに内部のヘリウムがすっかり漏出してしまい、検出不能になる。したがって、エアリークテストの検出可能範囲とヘリウムリークテストの検出可能範囲との間に不感帯(図2の斜線部参照)が出来てしまう。
上記不感帯の部分は、従来のヘリウムテストで検出可能な範囲よりヘリウムが漏れやすい。これを裏返せば、従来のヘリウムテストの検出可能範囲よりヘリウムを短時間で充填できるということになる。
本発明は、かかる考察のものになされたものであり、
検査対象の相対的に大きな欠陥を検知するためのグロスリークテストと、相対的に小さな欠陥を検知するためのファインリークテストとを実行するリークテスト方法において、
前記ファインリークテストが、
(a)複数の検査対象をまとめて相対的に長時間加圧ヘリウム空間に置く第1ヘリウム圧供給工程と、
(b)前記第1ヘリウム圧供給工程の後、前記検査対象を1つずつ相対的に短時間加圧ヘリウム空間に置く第2ヘリウム圧供給工程と、
(c)前記第2ヘリウム圧供給工程を経た検査対象からのヘリウムを検出するヘリウム検出工程と、
を含むことを特徴とする。
これによって、検査対象の欠陥がやや大きく(グロスリークテストレベルの欠陥よりは小さい)、第1ヘリウム圧供給工程で注入したヘリウムが待機期間中にすっかり漏れてしまっていても、その後の第2ヘリウム圧供給工程で上記の欠陥レベルの検査対象に対しヘリウムを十分にヘリウムを再充填することができ、その後にヘリウム検出を行なうことによって、上記欠陥を確実に検知することができる。これによって、微小な検査対象に対するリークテストの不感帯を解消することができ、信頼性を高めることができる。
本発明は、かかる考察のものになされたものであり、
検査対象の相対的に大きな欠陥を検知するためのグロスリークテストと、相対的に小さな欠陥を検知するためのファインリークテストとを実行するリークテスト方法において、
前記ファインリークテストが、
(a)複数の検査対象をまとめて相対的に長時間加圧ヘリウム空間に置く第1ヘリウム圧供給工程と、
(b)前記第1ヘリウム圧供給工程の後、前記検査対象を1つずつ相対的に短時間加圧ヘリウム空間に置く第2ヘリウム圧供給工程と、
(c)前記第2ヘリウム圧供給工程を経た検査対象からのヘリウムを検出するヘリウム検出工程と、
を含むことを特徴とする。
これによって、検査対象の欠陥がやや大きく(グロスリークテストレベルの欠陥よりは小さい)、第1ヘリウム圧供給工程で注入したヘリウムが待機期間中にすっかり漏れてしまっていても、その後の第2ヘリウム圧供給工程で上記の欠陥レベルの検査対象に対しヘリウムを十分にヘリウムを再充填することができ、その後にヘリウム検出を行なうことによって、上記欠陥を確実に検知することができる。これによって、微小な検査対象に対するリークテストの不感帯を解消することができ、信頼性を高めることができる。
前記グロスリークテストが、前記検査対象を1つずつ閉鎖された加圧エア空間に置き、該加圧エア空間の圧力変化(基準圧との差圧変化を含む)を検出するエアリークテスト工程を含み、
このエアリークテスト工程が、前記第1ヘリウム圧供給工程と第2ヘリウム圧供給工程との間、若しくは第2ヘリウム圧供給工程とヘリウム検出工程との間、又はヘリウム検出工程の後に実行されることが好ましい。
このエアリークテスト工程が、前記第1ヘリウム圧供給工程と第2ヘリウム圧供給工程との間、若しくは第2ヘリウム圧供給工程とヘリウム検出工程との間、又はヘリウム検出工程の後に実行されることが好ましい。
前記グロスリークテストが、前記検査対象を1つずつ閉鎖された加圧ヘリウム空間に置き、該加圧ヘリウム空間の圧力変化(基準圧との差圧変化を含む)を検出するグロスリークテスト工程を含み、
このグロスリークテスト工程が、前記第1ヘリウム圧供給工程とヘリウム検出工程との間に実行され、前記第2ヘリウム圧供給工程を兼ねるようにしてもよい。
これによって、構成の簡素化や処理時間の短縮を図ることができる。
このグロスリークテスト工程が、前記第1ヘリウム圧供給工程とヘリウム検出工程との間に実行され、前記第2ヘリウム圧供給工程を兼ねるようにしてもよい。
これによって、構成の簡素化や処理時間の短縮を図ることができる。
また、本発明は、複数個まとめて加圧ヘリウム空間に置いた検査対象を1個ずつリークテストする装置であって、
複数個の検査対象を一度に収容可能な内容積を有して第1加圧ヘリウム源に接続され、内部が前記加圧ヘリウム空間となるボンビングタンクと、
前記ボンビングタンクの内容積より小さく1個の検査対象を収容可能な内容積を有して第2加圧ヘリウム源に接続され、内部が前記ボンビングタンクより短時間加圧ヘリウム空間となるカプセルと、
前記カプセル内の検査対象からのヘリウム漏れを検出するヘリウムリークテスタと、
前記カプセル内を閉鎖された加圧エア空間として圧力変化(基準圧との差圧変化を含む)を検出するエアリークテスタと、
前記カプセルを、第2加圧ヘリウム源、ヘリウムリークテスタ、エアリークテスタの順、又は第2加圧ヘリウム源、エアリークテスタ、ヘリウムリークテスタの順、又はエアリークテスタ、第2加圧ヘリウム源、ヘリウムリークテスタの順に接続させるべく移動させる送り手段と、
を備えたことを特徴とする。
これによって、検査対象の欠陥がやや大きく(グロスリークテストレベルの欠陥よりは小さい)、長時間のボンビングによるヘリウムが待機期間中にすっかり漏れてしまっていても、その後のヘリウム検出に先立ち短時間ボンビングしておくことによって、上記の欠陥レベルの検査対象に対し、ヘリウムを十分に充填でき、上記欠陥を確実に検知することができる。これによって、微小な検査対象に対するリークテストの不感帯を解消することができる。
複数個の検査対象を一度に収容可能な内容積を有して第1加圧ヘリウム源に接続され、内部が前記加圧ヘリウム空間となるボンビングタンクと、
前記ボンビングタンクの内容積より小さく1個の検査対象を収容可能な内容積を有して第2加圧ヘリウム源に接続され、内部が前記ボンビングタンクより短時間加圧ヘリウム空間となるカプセルと、
前記カプセル内の検査対象からのヘリウム漏れを検出するヘリウムリークテスタと、
前記カプセル内を閉鎖された加圧エア空間として圧力変化(基準圧との差圧変化を含む)を検出するエアリークテスタと、
前記カプセルを、第2加圧ヘリウム源、ヘリウムリークテスタ、エアリークテスタの順、又は第2加圧ヘリウム源、エアリークテスタ、ヘリウムリークテスタの順、又はエアリークテスタ、第2加圧ヘリウム源、ヘリウムリークテスタの順に接続させるべく移動させる送り手段と、
を備えたことを特徴とする。
これによって、検査対象の欠陥がやや大きく(グロスリークテストレベルの欠陥よりは小さい)、長時間のボンビングによるヘリウムが待機期間中にすっかり漏れてしまっていても、その後のヘリウム検出に先立ち短時間ボンビングしておくことによって、上記の欠陥レベルの検査対象に対し、ヘリウムを十分に充填でき、上記欠陥を確実に検知することができる。これによって、微小な検査対象に対するリークテストの不感帯を解消することができる。
また、本発明は、複数個まとめて加圧ヘリウム空間に置いた検査対象を1個ずつリークテストする装置であって、
複数個の検査対象を一度に収容可能な内容積を有して第1加圧ヘリウム源に接続され、内部が前記加圧ヘリウム空間となるボンビングタンクと、
前記ボンビングタンクの内容積より小さく1個の検査対象を収容可能な内容積を有するカプセルと、
前記カプセル内を前記ボンビングタンクより短時間閉鎖された加圧ヘリウム空間として圧力変化(基準圧との差圧変化を含む)を検出するグロスリークテスタと、
前記カプセル内の検査対象からのヘリウム漏れを検出するヘリウムリークテスタと、
前記カプセルを、グロスリークテスタ、ヘリウムリークテスタの順に接続させるべく移動させる送り手段と、
を備えたことを特徴とする。
これによって、微小な検査対象に対するリークテストの不感帯を解消することができる。また、構成の簡素化や処理時間の短縮を図ることができる。
複数個の検査対象を一度に収容可能な内容積を有して第1加圧ヘリウム源に接続され、内部が前記加圧ヘリウム空間となるボンビングタンクと、
前記ボンビングタンクの内容積より小さく1個の検査対象を収容可能な内容積を有するカプセルと、
前記カプセル内を前記ボンビングタンクより短時間閉鎖された加圧ヘリウム空間として圧力変化(基準圧との差圧変化を含む)を検出するグロスリークテスタと、
前記カプセル内の検査対象からのヘリウム漏れを検出するヘリウムリークテスタと、
前記カプセルを、グロスリークテスタ、ヘリウムリークテスタの順に接続させるべく移動させる送り手段と、
を備えたことを特徴とする。
これによって、微小な検査対象に対するリークテストの不感帯を解消することができる。また、構成の簡素化や処理時間の短縮を図ることができる。
本発明によれば、検査対象の欠陥がやや大きく(グロスリークテストレベルの欠陥よりは小さい)、長時間のボンビングによるヘリウムが待機期間中にすっかり漏れてしまっていても、その後のヘリウム検出に先立ち、短時間ボンビングしておくことにより、上記の欠陥レベルの検査対象に対し、ヘリウムを十分に再充填することができ、これにより、該欠陥を確実に検知することができる。これによって、リークテストの不感帯を解消することができる。
第1実施形態
以下、本発明の実施形態を説明する。
図1は、リークテスト装置1を示したものである。リークテスト装置1の検査対象(以下、ワークWという。)は、例えば1mm角未満の微小サイズの水晶振動子やパッケージIC等である。これらワークWの内部には密閉空間が形成されている。この密閉空間の内容積は、例えば0.5mm3程度である。この空間の密閉状態に欠陥が無いか否か、すなわちワークWにピンホールが無いか否かをリークテスト装置1にて検査する。
リークテスト装置1は、グロスリークテストレベルの比較的大きなピンホールと、ファインリークテストレベルの比較的小さなピンホールの両方に対応できるようになっている。
以下、本発明の実施形態を説明する。
図1は、リークテスト装置1を示したものである。リークテスト装置1の検査対象(以下、ワークWという。)は、例えば1mm角未満の微小サイズの水晶振動子やパッケージIC等である。これらワークWの内部には密閉空間が形成されている。この密閉空間の内容積は、例えば0.5mm3程度である。この空間の密閉状態に欠陥が無いか否か、すなわちワークWにピンホールが無いか否かをリークテスト装置1にて検査する。
リークテスト装置1は、グロスリークテストレベルの比較的大きなピンホールと、ファインリークテストレベルの比較的小さなピンホールの両方に対応できるようになっている。
リークテスト装置1は、ボンビングタンク10と、ターンテーブル20(送り手段)を備えている。
ボンビングタンク10には、多数のワークWがトレーTに載せられた状態で収容されるようになっている。ボンビングタンク10には、第1ボンビング用切替弁13を介して第1ヘリウムボンベ11(第1加圧ヘリウム源)と第1真空吸引ポンプ12が選択的に接続されるようになっている。
ボンビングタンク10には、多数のワークWがトレーTに載せられた状態で収容されるようになっている。ボンビングタンク10には、第1ボンビング用切替弁13を介して第1ヘリウムボンベ11(第1加圧ヘリウム源)と第1真空吸引ポンプ12が選択的に接続されるようになっている。
ターンテーブル20には、72度間隔で5つの位置21〜25が設定されている。12時の方向のワークセット位置21と、2時付近の方向の第2ヘリウム圧供給位置22と、5時付近の方向のヘリウム検出位置23と、7時付近の方向のエアリークテスト位置24(グロスリークテスト位置)と、10時付近の方向の取り出し位置25である。ターンテーブル20の上面には、各位置21〜25に対応するように5つのカプセル200が72度間隔で設けられている。カプセル200の内容積は、1個の微細ワークWを収容可能な大きさであればよく、例えば0.1cc程度である。
ターンテーブル20は、72度間隔で間欠回転されるようになっている。これにより、各カプセル200が、5つの位置21〜25を順次移動するようになっている。5つの位置21〜25は、ワークセット位置21、第2ヘリウム圧供給位置22、ヘリウム検出位置23、エアリークテスト位置24、取り出し位置25の順に時計まわりに設定されており、ターンテーブル20は時計まわりに間欠回転されるようになっているが、5つの位置21〜25を反時計まわりに設定し、ターンテーブル20を反時計まわりに間欠回転するようにしてもよい。
ワークセット位置21の近くにはセット用マニピュレータ211が設けられている。マニピュレータ211は、ボンビングタンク10から送られてきたトレーT上のワークWを1つずつ取り出し、ターンテーブル20のワークセット位置21のカプセル200内にセットするようになっている。
リークテスト装置1には、第2ヘリウム圧供給位置22に対応して第2ヘリウムボンベ221(第2加圧ヘリウム源)と第2真空吸引ポンプ222が設けられている。第2ヘリウムボンベ221は、上記第1ヘリウムボンベ11と共通のヘリウムボンベを用いてもよく、それとは別のヘリウムボンベを用いてもよい。第2真空吸引ポンプ222は、上記第1真空吸引ポンプ12と共通の真空吸引ポンプを用いてもよく、それとは別の真空吸引ポンプを用いてもよい。第2ヘリウムボンベ221と第2真空吸引ポンプ222が、第2ボンビング用切替弁223を介して第2ボンビング用コネクタ224に選択的に接続されるようになっている。コネクタ224は、第2ヘリウム圧供給位置22のカプセル200に接続・切り離し可能になっている。
リークテスト装置1には、ヘリウム検出位置23に対応してヘリウムリークテスタ230が設けられている。ヘリウムリークテスタ230にはヘリウム検出用コネクタ234が設けられている。このコネクタ234が、ヘリウム検出位置23のカプセル200に切り離し可能に接続されるようになっている。ヘリウムリークテスタ230は、カプセル200内を吸引し、この吸気中のヘリウム原子の有無を検出するものである(特許文献1、2等参照)。
リークテスト装置1には、エアリークテスト位置24に対応してエアリークテスタ240(グロスリークテスタ)が設けられている。エアリークテスタ240は、コンプレッサ等のエア圧源241と、このエア圧源241から延びる共通エア圧供給路242と、この共通エア圧供給路242から分岐して延びる2つのエア圧供給路243,244と、各エア圧供給路242,243,244に設けられた開閉弁242V,243V,244Vとを備えている。ワーク側エア圧供給路243の先端部には、エアリークテスト用コネクタ245が設けられている。このコネクタ245が、エアリークテスト位置24のカプセル200に切り離し可能に接続されるようになっている。マスタ側エア圧供給路244の先端部には、マスタタンク246が接続されている。ワーク側開閉弁243Vより下流のワーク側エア圧供給路243と、マスタ側開閉弁244Vより下流のマスタ側エア圧供給路244との間には、両者の差圧を検出する差圧センサ247が設けられている。
取り出し位置25の近くには取り出し用マニピュレータ250が設けられている。マニピュレータ250は、取り出し位置25のカプセル200内からワークWを取り出し、検査結果に応じて所定の仕分け処理をするようになっている。
上記構成のリークテスト装置1を用いてワークWを検査する方法を説明する。
第1ヘリウム圧供給工程(第1ボンビング工程)
検査すべき複数(例えば数百個)のワークWをトレーTに載せ、ボンビングタンク10に収容する。そして、ボンビングタンク10を密閉し、真空吸引ポンプ12にて内部を真空吸引したうえで、ヘリウムボンベ11から加圧ヘリウムガスをボンビングタンク10内に圧送する。これにより、ボンビングタンク10内が加圧ヘリウム空間となり、数百個のワークWが加圧ヘリウム環境に置かれる。ヘリウム圧力は、例えば約500kPaである。この加圧ヘリウム充填状態(ボンビング)を長時間維持する。この期間を「第1ボンビング期間」という。第1ボンビング期間は、例えば約1時間である。この第1ボンビング期間中に、グロスリークテストレベルの比較的大きなピンホールのあるワークWは勿論、ファインリークテストレベルの微細なピンホールのあるワークWの内部にもヘリウムガスを入り込ませることができる。
第1ヘリウム圧供給工程(第1ボンビング工程)
検査すべき複数(例えば数百個)のワークWをトレーTに載せ、ボンビングタンク10に収容する。そして、ボンビングタンク10を密閉し、真空吸引ポンプ12にて内部を真空吸引したうえで、ヘリウムボンベ11から加圧ヘリウムガスをボンビングタンク10内に圧送する。これにより、ボンビングタンク10内が加圧ヘリウム空間となり、数百個のワークWが加圧ヘリウム環境に置かれる。ヘリウム圧力は、例えば約500kPaである。この加圧ヘリウム充填状態(ボンビング)を長時間維持する。この期間を「第1ボンビング期間」という。第1ボンビング期間は、例えば約1時間である。この第1ボンビング期間中に、グロスリークテストレベルの比較的大きなピンホールのあるワークWは勿論、ファインリークテストレベルの微細なピンホールのあるワークWの内部にもヘリウムガスを入り込ませることができる。
ワークセット工程
第1ボンビング期間の満了後、ボンビングタンク10からワークWを載せたトレーTを取り出し、ターンテーブル20へ搬送する。そして、トレーT上のワークWを1個ずつマニピュレータ211でピックアップし、ターンテーブル20のワークセット位置21のカプセル200内にセットする。複数のワークWを1個ずつセットし、後記のリークテストを順次行なっていくため、最後あたりにセットされるものは、第1ボンビング期間の満了から相当の時間(例えば10分〜15分程度)が経過している。この待機期間中にピンホールのあるワークWからヘリウムが漸次漏れ出て行く。この漏れ量は、ピンホールの大きさに依存する。すなわち、図2に示すように、ピンホールが大きければ大きいほど、漏れ抵抗が小さく、ピンホールが小さければ小さいほど、漏れ抵抗が大きい。したがって、ピンホールが大きいほど漏れ量が大きく、ピンホールが小さいほど漏れ量が小さい。
第1ボンビング期間の満了後、ボンビングタンク10からワークWを載せたトレーTを取り出し、ターンテーブル20へ搬送する。そして、トレーT上のワークWを1個ずつマニピュレータ211でピックアップし、ターンテーブル20のワークセット位置21のカプセル200内にセットする。複数のワークWを1個ずつセットし、後記のリークテストを順次行なっていくため、最後あたりにセットされるものは、第1ボンビング期間の満了から相当の時間(例えば10分〜15分程度)が経過している。この待機期間中にピンホールのあるワークWからヘリウムが漸次漏れ出て行く。この漏れ量は、ピンホールの大きさに依存する。すなわち、図2に示すように、ピンホールが大きければ大きいほど、漏れ抵抗が小さく、ピンホールが小さければ小さいほど、漏れ抵抗が大きい。したがって、ピンホールが大きいほど漏れ量が大きく、ピンホールが小さいほど漏れ量が小さい。
図3は、第1ボンビング期間後のヘリウム漏れ量を、4通り(A)〜(D)のピンホールの大きさごとに測定したデータを示したものである。測定条件は以下の通りである。
第1ヘリウム圧供給工程のヘリウム圧 500kPa
第1ボンビング期間 3600秒
ワークWの内容積 0.5mm3
同図の(B)〜(D)のように、ピンホールが十分に小さい場合には、第1ボンビング期間の満了から10分〜15分程度経過してもヘリウム漏れが継続しており、ワークW内にヘリウムが残っていることがわかる。
一方、同図の(A)のように、ピンホールがやや大きな場合(グロスリークテストレベルのピンホールよりは小さい)には、第1ボンビング期間の満了から10分程度経過した段階では、ワークW内からヘリウムが出尽くしている。
グロスリークテストレベルの比較的大きなピンホールの場合、第1ヘリウム圧供給工程後の待機期間開始からまもなく、ワークW内のヘリウムが出尽くしてしまう。
第1ヘリウム圧供給工程のヘリウム圧 500kPa
第1ボンビング期間 3600秒
ワークWの内容積 0.5mm3
同図の(B)〜(D)のように、ピンホールが十分に小さい場合には、第1ボンビング期間の満了から10分〜15分程度経過してもヘリウム漏れが継続しており、ワークW内にヘリウムが残っていることがわかる。
一方、同図の(A)のように、ピンホールがやや大きな場合(グロスリークテストレベルのピンホールよりは小さい)には、第1ボンビング期間の満了から10分程度経過した段階では、ワークW内からヘリウムが出尽くしている。
グロスリークテストレベルの比較的大きなピンホールの場合、第1ヘリウム圧供給工程後の待機期間開始からまもなく、ワークW内のヘリウムが出尽くしてしまう。
第2ヘリウム圧供給工程(第2ボンビング工程)
ワークセットの後、ターンテーブル20を時計回りに72度回転させる。これにより、ワークセット位置21のカプセル200が第2ヘリウム圧供給位置22へ移動される。このカプセル200にコネクタ224を接続する。そして、切替弁223を真空吸引ポンプ222に接続して、カプセル200内を真空吸引ポンプ222にて真空吸引する。続いて、切替弁223の接続をヘリウムボンベ221に切り替え、ヘリウムボンベ221からの加圧ヘリウムガスをカプセル200内に充填(ボンビング)する。カプセル200の内容積が小さいので(例えば0.1cc程度)、真空吸引ポンプ222による吸引によってカプセル200内を瞬間的に真空状態でき、これに続くヘリウムボンベ221からの加圧ヘリウム圧供給によってカプセル200内のヘリウム圧を瞬間的に所望の大きさにすることができる。このヘリウム圧は、第1ヘリウム工程のときと同じで例えば約500kPaである。この加圧ヘリウム充填状態(ボンビング状態)をしばらく維持する。この維持期間を「第2ボンビング期間」という。第2ボンビング期間は、例えば数秒〜5分程度である。これによって、ピンホールのあるワークWにヘリウムを再注入することができる。
ワークセットの後、ターンテーブル20を時計回りに72度回転させる。これにより、ワークセット位置21のカプセル200が第2ヘリウム圧供給位置22へ移動される。このカプセル200にコネクタ224を接続する。そして、切替弁223を真空吸引ポンプ222に接続して、カプセル200内を真空吸引ポンプ222にて真空吸引する。続いて、切替弁223の接続をヘリウムボンベ221に切り替え、ヘリウムボンベ221からの加圧ヘリウムガスをカプセル200内に充填(ボンビング)する。カプセル200の内容積が小さいので(例えば0.1cc程度)、真空吸引ポンプ222による吸引によってカプセル200内を瞬間的に真空状態でき、これに続くヘリウムボンベ221からの加圧ヘリウム圧供給によってカプセル200内のヘリウム圧を瞬間的に所望の大きさにすることができる。このヘリウム圧は、第1ヘリウム工程のときと同じで例えば約500kPaである。この加圧ヘリウム充填状態(ボンビング状態)をしばらく維持する。この維持期間を「第2ボンビング期間」という。第2ボンビング期間は、例えば数秒〜5分程度である。これによって、ピンホールのあるワークWにヘリウムを再注入することができる。
この第2ボンビング期間は、第1ボンビング期間(例えば約1時間)と比べ非常に短時間であるので、期間内に再注入されるヘリウム量がピンホールの大きさに依存する。すなわち、図2に示したように、ヘリウムの漏れ抵抗は、ヘリウムの注入抵抗でもあり、ピンホールが大きければ大きいほど、注入抵抗が小さく、ピンホールが小さければ小さいほど、注入抵抗が大きい。したがって、ピンホールが大きいほど短期間に十分な再注入量が得られ、ピンホールが小さいと再注入量が不十分になる。
図4は、下記の条件でボンビング(ヘリウム圧供給)した後のヘリウム漏れ量を、図3と同じピンホールの大きさ(A)〜(D)ごとに測定したデータを示したものである。
ヘリウム圧 500kPa
ボンビング期間 300秒
ワークWの内容積 0.5mm3
図4の(C),(D)の初期値は、図3の(C),(D)と比べ10分の1程度に低下しており、ピンホールが小さいと、短時間のヘリウム圧供給ではワークWの内部にヘリウムを十分に充填しきれないことがわかる。
これに対し、図4の(A)は、図3の(A)と初期値がほぼ同じであり、その後の漏れ挙動もほぼ一致している。したがって、(A)のレベルのピンホールを有するワークWにおいては、第1ボンビング期間の満了後の待ち時間中にヘリウムが漏出し尽くしたとしても、その後、極めて短時間の第2ヘリウム圧供給工程を実行することによって第1ボンビング期間の満了直後のヘリウム充填状態に戻すことができる。
ヘリウム圧 500kPa
ボンビング期間 300秒
ワークWの内容積 0.5mm3
図4の(C),(D)の初期値は、図3の(C),(D)と比べ10分の1程度に低下しており、ピンホールが小さいと、短時間のヘリウム圧供給ではワークWの内部にヘリウムを十分に充填しきれないことがわかる。
これに対し、図4の(A)は、図3の(A)と初期値がほぼ同じであり、その後の漏れ挙動もほぼ一致している。したがって、(A)のレベルのピンホールを有するワークWにおいては、第1ボンビング期間の満了後の待ち時間中にヘリウムが漏出し尽くしたとしても、その後、極めて短時間の第2ヘリウム圧供給工程を実行することによって第1ボンビング期間の満了直後のヘリウム充填状態に戻すことができる。
第2ボンビング期間の満了後、第2ヘリウム圧供給位置22のカプセル200内のヘリウムを吸引してヘリウムボンベ221に戻す。これによって、後記のヘリウム検出工程における外乱を除去することができる。その後、カプセル200内を大気開放してもよく、そのまま真空状態を維持しておいてもよい。大気開放する場合、カプセル200の蓋を開けることで対応してもよく、切替弁223に大気開放ポートを設けておき、この大気開放ポートをコネクタ224に接続することで対応してもよい。コネクタ224をカプセル200から切り離すと、カプセル200が大気開放されるようになっていてもよい。
ヘリウム検出工程
第2ヘリウム圧供給工程の後、ターンテーブル20を時計まわりに72度回転させる。これにより、第2ヘリウム圧供給位置22のカプセル200がヘリウム検出位置23へ移動される。このカプセル200にヘリウムリークテスタ230のコネクタ234を接続する。そして、ヘリウムリークテスタ230にて第2ヘリウム圧供給位置22のカプセル200内のワークWからのヘリウム漏れ量を検出する。この検出値が所定のしきい値を下回っている場合、「OK(ワークWにはファインリークテストレベルのピンホールが無い)」と判定し、ヘリウム検出値が上記しきい値以上の場合、「NG(ワークWは、ファインリークテストレベルのピンホール(欠陥)が形成された不良品である)」と判定する。
ここで、ファインリークテストは、上記第1ヘリウム圧供給工程、第2ヘリウム圧供給工程、ヘリウム検出工程を含む。
第2ヘリウム圧供給工程の後、ターンテーブル20を時計まわりに72度回転させる。これにより、第2ヘリウム圧供給位置22のカプセル200がヘリウム検出位置23へ移動される。このカプセル200にヘリウムリークテスタ230のコネクタ234を接続する。そして、ヘリウムリークテスタ230にて第2ヘリウム圧供給位置22のカプセル200内のワークWからのヘリウム漏れ量を検出する。この検出値が所定のしきい値を下回っている場合、「OK(ワークWにはファインリークテストレベルのピンホールが無い)」と判定し、ヘリウム検出値が上記しきい値以上の場合、「NG(ワークWは、ファインリークテストレベルのピンホール(欠陥)が形成された不良品である)」と判定する。
ここで、ファインリークテストは、上記第1ヘリウム圧供給工程、第2ヘリウム圧供給工程、ヘリウム検出工程を含む。
ピンホールの無い良品のワークWの場合、ヘリウム漏れが無いので「OK」と判定される。
図2〜図4の(B)〜(D)のレベルの極めて小さなピンホールがあるワークWは、第1ヘリウム圧供給工程で充填したヘリウムが未だ残っているため(図3)、ヘリウム検出工程において「NG」と判定することができる。したがって、図2に示すように、このピンホールレベル(B)〜(D)は、ファインリークテストの第1ヘリウム圧供給工程だけで検出可能である。よって、第2ヘリウム圧供給工程でのヘリウム再注入が不十分でも何ら支障がない。
これに対し、図2〜図4の(A)のレベルの、上記(B)よりやや大きなピンホール(グロスリークテストレベルのピンホールよりは小さい)があるワークWでは、第1ヘリウム圧供給工程によるヘリウムは待機期間中にすっかり漏れてしまっている可能性がある。しかし、その後の第2ヘリウム圧供給工程でヘリウムが十分に再充填されており、それから数十秒〜数分以内であれば、再充填したヘリウムが十分に残留している(図4の(A))。したがって、第2ヘリウム圧供給工程の後にヘリウム検出を行なうことによって、「NG」と判定することができる。
これによって、ヘリウム圧供給工程が第1ヘリウム圧供給工程のみのファインリークテストとグロスリークテストだけでは検出不可能な大きさのピンホール(図2の斜線部)をも確実に検出することができ、微小ワークWに対するリークテストの不感帯を解消することができる。
第2ヘリウム注入工程後、ヘリウム検出工程までの時間は、例えば1〜2分程度が好ましい。
これによって、ヘリウム圧供給工程が第1ヘリウム圧供給工程のみのファインリークテストとグロスリークテストだけでは検出不可能な大きさのピンホール(図2の斜線部)をも確実に検出することができ、微小ワークWに対するリークテストの不感帯を解消することができる。
第2ヘリウム注入工程後、ヘリウム検出工程までの時間は、例えば1〜2分程度が好ましい。
グロスリークテストレベルの比較的大きなピンホールがあるワークWの場合、内部にヘリウムを注入しても容易に漏出してしまうため、第1ヘリウム圧供給工程は勿論、続く第2ヘリウム圧供給工程で再注入したヘリウムもヘリウム検出工程時には殆ど出尽くしてしまっている。そのため、ヘリウムリークテスタ230は「OK」と判定する。このレベルのピンホールを検出するために次のエアリークテストすなわちグロスリークテストを実行する。
エアリークテスト工程(グロスリークテスト工程)
ヘリウム検出工程の後、検出用コネクタをヘリウム検出位置23のカプセル200から切り離したうえで、ターンテーブル20を時計まわりに72度回転させる。これにより、ヘリウム検出位置23のカプセル200がエアリークテスト位置24へ移動される。このカプセル200にコネクタ245を接続する。次に、エア圧供給路242,243,244に設けられた開閉弁242V,243V,244Vを開き、エア圧源241からの所定のエア圧を、共通エア圧供給路242及びワーク側エア圧供給路243を介してエアリークテスト位置24のカプセル200内に導入するとともに、同じエア圧を、共通エア圧供給路242及びマスタ側エア圧供給路244を介してマスタタンク246に導入する。続いて、共通エア圧供給路242の主開閉弁242Vを閉じ、次いでワーク側エア圧供給路243の開閉弁243Vとマスタ側エア圧供給路244の開閉弁244Vを同時に閉じる。これにより、カプセル200とマスタタンク246をそれぞれ独立の閉鎖された加圧エア空間とする。ワークWにピンホールがある場合、エアがそのピンホールを介してワークW内に入るため、カプセル200の内圧とマスタタンク246の内圧とに差圧が生じる。グロスリークテストレベルのピンホールがあるワークWでは、この差圧が差圧センサ247で十分に感知可能な大きさとなる。これにより、「NG」と判定することができる。
ヘリウム検出工程の後、検出用コネクタをヘリウム検出位置23のカプセル200から切り離したうえで、ターンテーブル20を時計まわりに72度回転させる。これにより、ヘリウム検出位置23のカプセル200がエアリークテスト位置24へ移動される。このカプセル200にコネクタ245を接続する。次に、エア圧供給路242,243,244に設けられた開閉弁242V,243V,244Vを開き、エア圧源241からの所定のエア圧を、共通エア圧供給路242及びワーク側エア圧供給路243を介してエアリークテスト位置24のカプセル200内に導入するとともに、同じエア圧を、共通エア圧供給路242及びマスタ側エア圧供給路244を介してマスタタンク246に導入する。続いて、共通エア圧供給路242の主開閉弁242Vを閉じ、次いでワーク側エア圧供給路243の開閉弁243Vとマスタ側エア圧供給路244の開閉弁244Vを同時に閉じる。これにより、カプセル200とマスタタンク246をそれぞれ独立の閉鎖された加圧エア空間とする。ワークWにピンホールがある場合、エアがそのピンホールを介してワークW内に入るため、カプセル200の内圧とマスタタンク246の内圧とに差圧が生じる。グロスリークテストレベルのピンホールがあるワークWでは、この差圧が差圧センサ247で十分に感知可能な大きさとなる。これにより、「NG」と判定することができる。
図2に示すように、このグロスリークテストで検出可能な範囲は、第2ヘリウム圧供給工程を経たファインリークテストにて検出可能な範囲と一部重複するようになっている。これによって、グロスリークテストの検出可能範囲とファインリークテストの検出可能範囲の間に不感帯が出来るのを確実に防止することができ、ピンホールのある不良ワークWをピンホールの大小に拘わらず確実に検出し、排除することができる。
取り出し工程
エアリークテスト工程の後、コネクタ245をエアリークテスト位置24のカプセル200から切り離したうえで、ターンテーブル20を時計まわりに72度回転させる。これにより、エアリークテスト位置24のカプセル200が取り出し位置25へ移動される。このカプセル200内のワークWをマニピュレータ250でピックアップし、ファインリークテスト及びグロスリークテストの検査結果に応じて仕分けする。例えば、ファインリークテストでもグロスリークテストでも「OK」と判定されたワークWは、ピンホールの無い良品として仕分けし、ファインリークテストとグロスリークテストの少なくとも一方で「NG」と判定されたワークWは、不良品として仕分けする。
エアリークテスト工程の後、コネクタ245をエアリークテスト位置24のカプセル200から切り離したうえで、ターンテーブル20を時計まわりに72度回転させる。これにより、エアリークテスト位置24のカプセル200が取り出し位置25へ移動される。このカプセル200内のワークWをマニピュレータ250でピックアップし、ファインリークテスト及びグロスリークテストの検査結果に応じて仕分けする。例えば、ファインリークテストでもグロスリークテストでも「OK」と判定されたワークWは、ピンホールの無い良品として仕分けし、ファインリークテストとグロスリークテストの少なくとも一方で「NG」と判定されたワークWは、不良品として仕分けする。
ターンテーブル20上の5つの位置21〜25に対し、対応する工程が同時併行して実行される。すなわち、ワークセット位置21ではワークセット工程が、第2ヘリウム圧供給位置22では第2ヘリウム圧供給工程が、ヘリウム検出位置23ではヘリウム検出工程が、エアリークテスト位置24ではエアリークテスト工程が、取り出し位置25では取り出し工程が、それぞれ別々のワークWに対し同時に実行される。
次に、本発明の他の実施形態を説明する。以下の実施形態において、既述の実施形態と重複する構成に関しては、適宜、図面に同一符号を付して、説明を簡略化する。
第2実施形態
図5は、本発明の第2実施形態を示したものである。この実施形態では、ターンテーブル20に90度間隔で4つの位置が設定されている。12時の方向のワークセット位置21と、3時の方向のグロスリークテスト位置22Gと、6時の方向のヘリウム検出位置23と、9時の方向の取り出し位置25である。ターンテーブル20の上面には、各位置に対応するように4つのカプセル200が90度間隔で設けられている。ターンテーブル20は、90度間隔で間欠回転されるようになっている。これにより、各カプセル200が、4つの位置を順次移動するようになっている。ワークセット位置21に対応してセット用マニピュレータ211が設けられ、ヘリウム検出位置23に対応してヘリウムリークテスタ230が設けられ、取り出し位置25に対応して取り出し用マニピュレータ250が設けられている点は、第1実施形態と同様である。これら3つの位置21,23,25で実行される工程の内容も第1実施形態と同様である。
第2実施形態
図5は、本発明の第2実施形態を示したものである。この実施形態では、ターンテーブル20に90度間隔で4つの位置が設定されている。12時の方向のワークセット位置21と、3時の方向のグロスリークテスト位置22Gと、6時の方向のヘリウム検出位置23と、9時の方向の取り出し位置25である。ターンテーブル20の上面には、各位置に対応するように4つのカプセル200が90度間隔で設けられている。ターンテーブル20は、90度間隔で間欠回転されるようになっている。これにより、各カプセル200が、4つの位置を順次移動するようになっている。ワークセット位置21に対応してセット用マニピュレータ211が設けられ、ヘリウム検出位置23に対応してヘリウムリークテスタ230が設けられ、取り出し位置25に対応して取り出し用マニピュレータ250が設けられている点は、第1実施形態と同様である。これら3つの位置21,23,25で実行される工程の内容も第1実施形態と同様である。
グロスリークテスト位置22Gには、第1実施形態のエアリークテスタ240とほぼ同じ回路構成のグロスリークテスタ240Gが設置されている。グロスリークテスタ240Gが、第1実施形態のエアリークテスタ240と異なる点は、ガス圧源としてエア圧源241に代えてヘリウムボンベ221(加圧ヘリウム源)を用いている点である。
第2実施形態によれば、グロスリークテスト位置22Gにおいて第1実施形態のエアリークテスト工程と同様のグロスリークテスト工程が実行されるのであるが、カプセル200とマスタタンク246に供給される圧縮ガスが空気ではなくヘリウムである。したがって、グロスリークテスト工程中、ワークWは加圧ヘリウム空間に置かれる。よって、ワークWにピンホールがある場合、グロスリークテスト工程を実行することによってワークWの内部にヘリウムが再注入されることになり、第2ヘリウム圧供給工程が実質的に実行されることになる。すなわち、グロスリークテスト工程が第2ヘリウム圧供給工程を兼ね、グロスリークテスト位置22Gにおいてグロスリークテスト工程と第2ヘリウム圧供給工程が同時併行して実行されることになる。これによって、処理時間を短縮できるとともに、装置構成の簡素化ひいてはコストダウンを図ることができる。
なお、グロスリークテスタ240Gに真空吸引回路を接続し、グロスリークテストに先立ち、グロスリークテスト位置22Gのカプセル200内を吸引しておくとよい。
なお、グロスリークテスタ240Gに真空吸引回路を接続し、グロスリークテストに先立ち、グロスリークテスト位置22Gのカプセル200内を吸引しておくとよい。
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の精神に反しない限りにおいて種々の改変が可能である。
例えば、第1実施形態において、エアリークテスト工程は、第2ヘリウム圧供給工程の前に行なってもよく、第2ヘリウム圧供給工程とヘリウム検出工程の間に行なってもよい。少なくとも、第2ヘリウム圧供給工程をヘリウム検出工程より前に実行すればよい。5つの位置21〜25が、ターンテーブル10の間欠回転方向に沿って、ワークセット位置21、第2ヘリウム圧供給位置22、エアリークテスト位置24、ヘリウム検出位置23、取り出し位置25の順の配置されていてもよく、ワークセット位置21、エアリークテスト位置24、第2ヘリウム圧供給位置22、ヘリウム検出位置23、取り出し位置25の順の配置されていてもよい。少なくとも、第2ヘリウム圧供給位置22がヘリウム検出位置23より前に配置されていればよい。
グロスリークテストは、差圧センサ247に代えて圧力センサを用い、ワークWを入れたカプセル200内の圧力を直接読み取る方式でもよい。
例えば、第1実施形態において、エアリークテスト工程は、第2ヘリウム圧供給工程の前に行なってもよく、第2ヘリウム圧供給工程とヘリウム検出工程の間に行なってもよい。少なくとも、第2ヘリウム圧供給工程をヘリウム検出工程より前に実行すればよい。5つの位置21〜25が、ターンテーブル10の間欠回転方向に沿って、ワークセット位置21、第2ヘリウム圧供給位置22、エアリークテスト位置24、ヘリウム検出位置23、取り出し位置25の順の配置されていてもよく、ワークセット位置21、エアリークテスト位置24、第2ヘリウム圧供給位置22、ヘリウム検出位置23、取り出し位置25の順の配置されていてもよい。少なくとも、第2ヘリウム圧供給位置22がヘリウム検出位置23より前に配置されていればよい。
グロスリークテストは、差圧センサ247に代えて圧力センサを用い、ワークWを入れたカプセル200内の圧力を直接読み取る方式でもよい。
W ワーク(検査対象)
T トレー
1 リークテスト装置
10 ボンビングタンク
13 第1ボンビング用切替弁
11 第1ヘリウムボンベ(第1加圧ヘリウム源)
12 第1真空吸引ポンプ
20 ターンテーブル(送り手段)
21 ワークセット位置
22 第2ヘリウム圧供給位置
22G グロスリークテスト位置
23 ヘリウム検出位置
24 エアリークテスト位置(グロスリークテスト位置)
25 取り出し位置
200 カプセル
211 セット用マニピュレータ
221 第2ヘリウムボンベ(第2加圧ヘリウム源)
222 第2真空吸引ポンプ
223 第2ボンビング用切替弁
224 第2ボンビング用コネクタ
230 ヘリウムリークテスタ
234 ヘリウム検出用コネクタ
240 エアリークテスタ(グロスリークテスタ)
240G グロスリークテスタ
241 エア圧源
242 共通エア圧供給路
242V 主開閉弁
243 ワーク側エア圧供給路
243V ワーク側開閉弁
244 マスタ側エア圧供給路
244V マスタ側開閉弁
245 エアリークテスト用コネクタ
246 マスタタンク
247 差圧センサ
250 取り出し用マニピュレータ
T トレー
1 リークテスト装置
10 ボンビングタンク
13 第1ボンビング用切替弁
11 第1ヘリウムボンベ(第1加圧ヘリウム源)
12 第1真空吸引ポンプ
20 ターンテーブル(送り手段)
21 ワークセット位置
22 第2ヘリウム圧供給位置
22G グロスリークテスト位置
23 ヘリウム検出位置
24 エアリークテスト位置(グロスリークテスト位置)
25 取り出し位置
200 カプセル
211 セット用マニピュレータ
221 第2ヘリウムボンベ(第2加圧ヘリウム源)
222 第2真空吸引ポンプ
223 第2ボンビング用切替弁
224 第2ボンビング用コネクタ
230 ヘリウムリークテスタ
234 ヘリウム検出用コネクタ
240 エアリークテスタ(グロスリークテスタ)
240G グロスリークテスタ
241 エア圧源
242 共通エア圧供給路
242V 主開閉弁
243 ワーク側エア圧供給路
243V ワーク側開閉弁
244 マスタ側エア圧供給路
244V マスタ側開閉弁
245 エアリークテスト用コネクタ
246 マスタタンク
247 差圧センサ
250 取り出し用マニピュレータ
Claims (5)
- 検査対象の相対的に大きな欠陥を検知するためのグロスリークテストと、相対的に小さな欠陥を検知するためのファインリークテストとを実行するリークテスト方法において、
前記ファインリークテストが、
(a)複数の検査対象をまとめて相対的に長時間加圧ヘリウム空間に置く第1ヘリウム圧供給工程と、
(b)前記第1ヘリウム圧供給工程の後、前記検査対象を1つずつ相対的に短時間加圧ヘリウム空間に置く第2ヘリウム圧供給工程と、
(c)前記第2ヘリウム圧供給工程を経た検査対象からのヘリウムを検出するヘリウム検出工程と、
を含むことを特徴とするリークテスト方法。 - 前記グロスリークテストが、前記検査対象を1つずつ閉鎖された加圧エア空間に置き、該加圧エア空間の圧力変化(基準圧との差圧変化を含む)を検出するエアリークテスト工程を含み、
このエアリークテスト工程が、前記第1ヘリウム圧供給工程と第2ヘリウム圧供給工程との間、若しくは第2ヘリウム圧供給工程とヘリウム検出工程との間、又はヘリウム検出工程の後に実行されることを特徴とする請求項1に記載のリークテスト方法。 - 前記グロスリークテストが、前記検査対象を1つずつ閉鎖された加圧ヘリウム空間に置き、該加圧ヘリウム空間の圧力変化(基準圧との差圧変化を含む)を検出するグロスリークテスト工程を含み、
このグロスリークテスト工程が、前記第1ヘリウム圧供給工程とヘリウム検出工程との間に実行され、前記第2ヘリウム圧供給工程を兼ねることを特徴とする請求項1に記載のリークテスト方法。 - 複数個まとめて加圧ヘリウム空間に置いた検査対象を1個ずつリークテストする装置であって、
複数個の検査対象を一度に収容可能な内容積を有して第1加圧ヘリウム源に接続され、内部が前記加圧ヘリウム空間となるボンビングタンクと、
前記ボンビングタンクの内容積より小さく1個の検査対象を収容可能な内容積を有して第2加圧ヘリウム源に接続され、内部が前記ボンビングタンクより短時間加圧ヘリウム空間となるカプセルと、
前記カプセル内の検査対象からのヘリウム漏れを検出するヘリウムリークテスタと、
前記カプセル内を閉鎖された加圧エア空間として圧力変化(基準圧との差圧変化を含む)を検出するエアリークテスタと、
前記カプセルを、第2加圧ヘリウム源、ヘリウムリークテスタ、エアリークテスタの順、又は第2加圧ヘリウム源、エアリークテスタ、ヘリウムリークテスタの順、又はエアリークテスタ、第2加圧ヘリウム源、ヘリウムリークテスタの順に接続させるべく移動させる送り手段と、
を備えたことを特徴とするリークテスト装置。 - 複数個まとめて加圧ヘリウム空間に置いた検査対象を1個ずつリークテストする装置であって、
複数個の検査対象を一度に収容可能な内容積を有して第1加圧ヘリウム源に接続され、内部が前記加圧ヘリウム空間となるボンビングタンクと、
前記ボンビングタンクの内容積より小さく1個の検査対象を収容可能な内容積を有するカプセルと、
前記カプセル内を前記ボンビングタンクより短時間閉鎖された加圧ヘリウム空間として圧力変化(基準圧との差圧変化を含む)を検出するグロスリークテスタと、
前記カプセル内の検査対象からのヘリウム漏れを検出するヘリウムリークテスタと、
前記カプセルを、グロスリークテスタ、ヘリウムリークテスタの順に接続させるべく移動させる送り手段と、
を備えたことを特徴とするリークテスト装置。
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