JP2007258211A5 - - Google Patents
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- 以下の工程を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法:
(a)ダイパッド部の表面に搭載された半導体チップを封止する封止体から露出するリードの一部に形成されたメッキ層を有するリードフレームを準備する工程;
(b)前記封止体の上面側から、前記リードの前記一部における表面に向かって切断パンチを打ち下ろし、前記リードフレームから前記リードを分離する工程;
ここで、
前記封止体の前記上面は、前記ダイパッド部の前記表面、及び前記リードの前記表面と同じ側の面であり、
前記(b)工程により、前記切断パンチの接触面が接した前記メッキ層における第1部分の粗さが、前記切断パンチの前記接触面が接しない前記メッキ層における第2部分の粗さと異なる。 - 請求項1において、
前記第1部分の粗さは、前記第2部分の粗さよりも粗いことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項2において、
前記(b)工程の後、さらに以下の工程を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法;
(c)前記(b)工程により取得した半導体装置を、キャリアテープの窪みに収納する工程;
(d)前記(c)工程の後、前記キャリアテープの上方から前記窪みに収納された前記半導体装置に向かって、前記半導体装置の表面の法線方向とは異なる方向から光を照射し、CCDカメラを用いて前記半導体装置の外観検査を行う工程。 - 請求項3において、
前記キャリアテープは炭素を含んでいることを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項3において、
前記キャリアテープの色は黒であることを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項3において、
前記キャリアテープに収納された前記半導体装置を覆うように、前記キャリアテープにカバーテープが貼られていることを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項3において、
前記(a)工程の後、かつ前記(b)工程の前に、前記封止体の前記上面にマークを形成することを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項4乃至7の何れかにおいて、
前記切断パンチの接触面は、砥石で研磨されていることを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項8において、
前記(b)工程により、前記リードの前記表面側に突出するバリを前記リードの前記一部における先端部に形成することを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 以下の工程を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法:
(a)ダイパッド部を備えた第1リード、及び前記第1リードと対向する第2リードを有するリードフレームを準備する工程;
(b)表面、前記表面に形成された表面電極、前記表面とは反対側の裏面、及び前記裏面に形成された裏面電極を有する半導体チップを、前記裏面が前記ダイパッド部の表面と対向するように、前記ダイパッド部の前記表面に搭載し、前記半導体チップの前記裏面電極と前記ダイパッド部とを電気的に接続する工程;
(c)前記半導体チップの前記表面電極と前記第2リードの表面とをワイヤを介して電気的に接続する工程;
(d)前記第1リード及び前記第2リードのそれぞれの一部が露出するように、前記半導体チップ及び前記ワイヤを樹脂で封止し、封止体を形成する工程;
(e)前記第1リード及び前記第2リードのそれぞれの前記一部にメッキ層を形成する工程;
(f)前記封止体の上面側から、前記第1リード及び前記第2リードのそれぞれの前記一部における前記表面に向かって切断パンチを打ち下ろし、前記リードフレームから前記第1リード及び前記第2リードのそれぞれを分離する工程;
ここで、
前記封止体の前記上面は、前記ダイパッド部の前記表面、前記第1リードの前記表面、前記第2リードの前記表面、及び前記半導体チップの前記表面と同じ側の面であり、 前記(f)工程により、前記切断パンチの接触面が接した前記メッキ層における第1部分の粗さが、前記切断パンチの前記接触面が接しない前記メッキ層における第2部分の粗さと異なる。 - 請求項10において、
前記第1部分の粗さは、前記第2部分の粗さよりも粗いことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項11において、
前記(f)工程の後、さらに以下の工程を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法;
(g)前記(f)工程により取得した半導体装置を、キャリアテープの窪みに収納する工程;
(h)前記(g)工程の後、前記キャリアテープの上方から前記窪みに収納された前記半導体装置に向かって、前記半導体装置の表面の法線方向とは異なる方向から光を照射し、CCDカメラを用いて前記半導体装置の外観検査を行う工程。 - 請求項12において、
前記キャリアテープは炭素を含んでいることを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項12において、
前記キャリアテープの色は黒であることを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項12において、
前記キャリアテープに収納された前記半導体装置を覆うように、前記キャリアテープにカバーテープが貼られていることを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項12において、
前記(e)工程の後、かつ前記(f)工程の前に、前記封止体の前記上面にマークを形成することを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項13乃至16の何れかにおいて、
前記切断パンチの接触面は、砥石で研磨されていることを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項17において、
前記(f)工程により、前記リードの前記表面側に突出するバリを前記リードの前記一部における先端部に形成することを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 第1表面、前記第1表面とは反対側の第1裏面を有するダイパッド部と、
第2表面、前記第2表面とは反対側の第2裏面を有し、前記第2裏面が前記ダイパッド部の前記第1面と対向するように、前記ダイパッド部の前記第1表面に搭載された半導体チップと、
第3表面、前記第3表面とは反対側の第3裏面を有し、前記ダイパッド部の周囲に配置されたリードと、
上面、前記上面とは反対側の下面を有し、前記リードの一部が露出するように、前記半導体チップを封止する封止体と、
前記リードの前記一部に形成されたメッキ層と、を含み、
前記封止体の前記上面は、前記ダイパッドの前記第1表面、前記半導体チップの前記第2表面、及び前記リードの前記第3表面と同じ側の面であり、
前記リードの前記一部における前記第3表面に形成された前記メッキ層は、第1の粗さを有する第1部分と、前記第1の粗さとは異なる第2の粗さを有する第2部分とを有していることを特徴とする半導体装置。 - 請求項19において、
前記第1の粗さは、前記第2の粗さよりも粗いことを特徴とする半導体装置。 - 請求項20において、
前記リードの前記一部における先端部には、前記リードの前記表面側に突出するバリが形成されていることを特徴とする半導体装置。
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