JP2007139516A - 点灯検査装置 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 125
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 23
- 230000032258 transport Effects 0.000 claims description 30
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 6
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 abstract description 85
- 239000013078 crystal Substances 0.000 abstract 5
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 18
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 3
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
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- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
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- G02F1/1309—Repairing; Testing
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- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N2021/9513—Liquid crystal panels
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- Computer Hardware Design (AREA)
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Abstract
【解決手段】液晶パネルPを点灯検査する点灯検査装置11である。この点灯検査装置11は、上記液晶パネルPを斜めに支持して点灯検査する検査部13と、当該検査部13に上記液晶パネルPを搬送する搬送部12と、外部から水平状態で搬入された液晶パネルPを受け取って位置決めして支持した後、傾斜させて上記搬送部12に受け渡す位置決め機構14とを備えた。この位置決め機構14は、液晶パネルPの下側面に当接して受け取るパネル受け89と、上記液晶パネルPの周縁部に当接して位置決め支持する1対又は複数対のパネルクランプ91と、一方のパネルクランプ91を上記周縁部に押圧する方向に付勢すると共に上記各パネルクランプ91を離間させるに先だって上記付勢を解除するバッファ機構93とを備えた。
【選択図】 図1
Description
外部から搬送されてくる検査対象板を点灯検査する点灯検査装置であって、上記検査対象板を斜め、水平又は垂直に支持して点灯検査する検査部と、当該検査部に上記検査対象板を搬送する搬送部と、外部から搬入された検査対象板を受け取って位置決めして支持して上記搬送部に受け渡す位置決め機構とを備え、上記位置決め機構が、外部から搬入された検査対象板を受け取るパネル受けと、当該パネル受けで受け取った検査対象板の周縁部に対して近接離間されると共に上記周縁部に当接して上記検査対象板を位置決めした上で支持する1対又は複数対のパネルクランプと、当該対をなす各パネルクランプのうちの一方を支持して当該一方のパネルクランプが上記検査対象板の周縁部に当接された状態で当該一方のパネルクランプを上記周縁部に押圧する方向に付勢すると共に、上記対をなす各パネルクランプを離間させるに先だって上記付勢を解除するバッファ機構とを備えたことを特徴とする。
以上のように構成された点灯検査装置11は、次のように動作する。
以上のように、位置決め機構14が液晶パネルPを受け取って位置決め支持する際に、上記バッファ機構93の常時付勢手段106が、上記液晶パネルPの周縁部に当接した上記パネルクランプ91を付勢して設定値以上の押圧力にならないようにして支持すると共に、各パネルクランプ91を上記液晶パネルPから離間させる場合に、それに先だって上記バッファ機構93の規制手段107が上記パネルクランプ91への付勢を解除するため、上記液晶パネルPを確実に支持することができ、搬送途中で液晶パネルPがずれるのを防止することができる。さらに、上記液晶パネルPが撓んだり破損したりするのを防止することができる。
上記実施形態では、上記バッファ機構93の規制手段107をエアシリンダーで構成したが、規制手段107は、バッファガイド板112を押すことができればよいため、油圧シリンダ等の他の構成でも良い。
Claims (4)
- 外部から搬送されてくる検査対象板を点灯検査する点灯検査装置であって、
上記検査対象板を斜め、水平又は垂直に支持して点灯検査する検査部と、
当該検査部に上記検査対象板を搬送する搬送部と、
外部から搬入された検査対象板を受け取って位置決めして支持して上記搬送部に受け渡す位置決め機構とを備え、
上記位置決め機構が、
外部から搬入された検査対象板を受け取るパネル受けと、
当該パネル受けで受け取った検査対象板の周縁部に対して近接離間されると共に上記周縁部に当接して上記検査対象板を位置決めした上で支持する1対又は複数対のパネルクランプと、
当該対をなす各パネルクランプのうちの一方を支持して当該一方のパネルクランプが上記検査対象板の周縁部に当接された状態で当該一方のパネルクランプを上記周縁部に押圧する方向に付勢すると共に、上記対をなす各パネルクランプを離間させるに先だって上記付勢を解除するバッファ機構と
を備えたことを特徴とする点灯検査装置。 - 請求項1に記載の点灯検査装置において、
上記バッファ機構が、
上記対をなす各パネルクランプが互いに近接する方向に上記一方のパネルクランプを常時付勢する常時付勢手段と、
当該常時付勢手段で付勢された上記一方のパネルクランプをその付勢方向と逆方向に押圧して上記常時付勢手段による付勢力を規制する規制手段とを備えたことを特徴とする点灯検査装置。 - 請求項2に記載の点灯検査装置において、
上記バッファ機構の常時付勢手段がバネであることを特徴とする点灯検査装置。 - 請求項2又は3に記載の点灯検査装置において、
上記バッファ機構の規制手段が、エアシリンダーであることを特徴とする点灯検査装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005331958A JP4674151B2 (ja) | 2005-11-16 | 2005-11-16 | 点灯検査装置 |
TW095132237A TWI307134B (en) | 2005-11-16 | 2006-08-31 | Lighting inspection apparatus |
KR1020060084040A KR100750052B1 (ko) | 2005-11-16 | 2006-09-01 | 점등 검사장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005331958A JP4674151B2 (ja) | 2005-11-16 | 2005-11-16 | 点灯検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007139516A true JP2007139516A (ja) | 2007-06-07 |
JP4674151B2 JP4674151B2 (ja) | 2011-04-20 |
Family
ID=38202582
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005331958A Active JP4674151B2 (ja) | 2005-11-16 | 2005-11-16 | 点灯検査装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4674151B2 (ja) |
KR (1) | KR100750052B1 (ja) |
TW (1) | TWI307134B (ja) |
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-
2005
- 2005-11-16 JP JP2005331958A patent/JP4674151B2/ja active Active
-
2006
- 2006-08-31 TW TW095132237A patent/TWI307134B/zh active
- 2006-09-01 KR KR1020060084040A patent/KR100750052B1/ko active IP Right Grant
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100750052B1 (ko) | 2007-08-16 |
TWI307134B (en) | 2009-03-01 |
TW200721360A (en) | 2007-06-01 |
KR20070052191A (ko) | 2007-05-21 |
JP4674151B2 (ja) | 2011-04-20 |
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