JP2007042170A - 光ディスク装置および最適ラジアルチルト角度検出方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 対物レンズの最適ラジアルチルト角度を正確に検出することが可能な光ディスク装置を提供する。
【解決手段】 この光ディスク装置では、対物レンズ11を基準位置から内側方向に回動させて高周波信号RFのレベルを検出した後、対物レンズ11を基準位置から外側方向に回動させて信号RFのレベルを検出し、対物レンズ11を基準位置に設定したときの信号RFのレベル検出値の差に基づいてオフセットを補正し、ラジアルチルト角度θと信号RFのレベル検出値の関係を示す近似式から最適ラジアルチルト角度θ1を求める。したがって、最適ラジアルチルト角度θ1を正確に検出することができる。
【選択図】 図7
【解決手段】 この光ディスク装置では、対物レンズ11を基準位置から内側方向に回動させて高周波信号RFのレベルを検出した後、対物レンズ11を基準位置から外側方向に回動させて信号RFのレベルを検出し、対物レンズ11を基準位置に設定したときの信号RFのレベル検出値の差に基づいてオフセットを補正し、ラジアルチルト角度θと信号RFのレベル検出値の関係を示す近似式から最適ラジアルチルト角度θ1を求める。したがって、最適ラジアルチルト角度θ1を正確に検出することができる。
【選択図】 図7
Description
この発明は光ディスク装置および最適ラジアルチルト角度検出方法に関し、特に、光ピックアップの出力信号のレベルが最大になる対物レンズのラジアルチルト角度を検出する光ディスク装置および最適ラジアルチルト角度検出方法に関する。
DVD−R(Digital Versatile Disc-Recordable)、DVD−RW(Digital Versatile Disc-ReWritable)などの光ディスクのデータの読出/書込を行なう光ディスク装置では、光ディスクの仕様上、対物レンズのラジアルチルト角度の補正が不可欠である。
すなわち光ディスク装置では、光ピックアップから光ディスクに光ビームを照射してデータの読出/書込を行なう。この光ビームは光ディスクの表面に対して垂直に照射されるのが理想的である。しかし、光ディスクにそりなどがあると、光ディスクの表面と光ピックアップの対物レンズの光軸との角度が垂直からずれてしまい、光ビームに収差が生じる。この収差が生じると、データの書込時には記録マークが光ディスクに適切に形成されず、データの読出時にはクロストークなどの増加により再生信号のS/Nが悪化し、ジッタが生じる。
そこで、このような光ディスク装置では、光ピックアップ本体に赤外線センサなどを用いたチルトセンサを設け、このチルトセンサによって光ディスクのそりを検出し、その検出結果に基づいて対物レンズのラジアルチルト角度を補正することにより、対物レンズの光軸を光ディスクの表面に対して垂直に設定している。
また、光ビームを光ディスクに照射しながら対物レンズのラジアルチルト角度を所定の範囲(たとえば−0.8度〜+0.8度)で変化させ、光ピックアップから出力される高周波信号またはトラッキングエラー信号のレベルが最大になる最適ラジアルチルト角度を求め、その角度に対物レンズを設定する方法がある(たとえば特許文献1参照)。
特開2005−85307号公報
しかし、光ピックアップにチルトセンサを設ける方法では、チルトセンサの分だけ光ピックアップの寸法が大きくなり、コスト高になるという問題がある。
また、高周波信号またはトラッキングエラー信号から最適ラジアルチルト角度を求める方法では、常に対物レンズのラジアルチルト角度を所定の範囲で変化させていたので、最適ラジアルチルト角度の検出時間が長くなるという問題があった。
それゆえに、この発明の主たる目的は、光ピックアップの寸法が小さく、低コストであり、最適ラジアルチルト角度を正確かつ迅速に検出することが可能な光ディスク装置および最適ラジアルチルト角度検出方法を提供することである。
この発明に係る光ディスク装置は、回転する光ディスクに光ビームを照射し、その反射光の強度に応じたレベルの電気信号を出力する光ピックアップを備える。この光ピックアップは、光ビームを出射する光源と、反射光を光電変換して電気信号を出力する光電変換部と、光ビームを光ディスクに集光させるとともに反射光を光電変換部に集光させる対物レンズと、対物レンズをラジアルチルト方向に回動させる駆動部とを含む。この光ディスク装置は、さらに、駆動部を制御して対物レンズを回動させるとともに電気信号のレベルを検出し、その検出結果に基づいて対物レンズのラジアルチルト角度の最適値を求める制御部を備える。この制御部は、ラジアルチルト角度を基準値に設定して電気信号のレベルを検出した後、対物レンズを一方側に回動させながら電気信号のレベルを検出し、電気信号のレベル検出値が減少する傾向になったことに応じて対物レンズの回動を停止させる第1のステップと、ラジアルチルト角度を基準値に再度設定して電気信号のレベルを検出した後、対物レンズを他方側に回動させながら電気信号のレベルを検出し、電気信号のレベル検出値が減少する傾向になったことに応じて対物レンズの回動を停止させる第2のステップと、第1および第2のステップにおいてラジアルチルト角度を基準値に設定したときの電気信号のレベル検出値の差を求め、その差を第1のステップにおける電気信号のレベル検出値から減算するか、その差を第2のステップにおける電気信号のレベル検出値に加算して、第1および第2のステップ間における電気信号のレベル検出値のオフセットを補正する第3のステップと、ラジアルチルト角度と電気信号のレベル検出値の補正値との関係を示す近似式を算出し、その近似式において電気信号のレベルが最大になるラジアルチルト角度を最適値と決定する第4のステップを実行することを特徴とする。
また、この発明に係る最適ラジアルチルト角度検出方法は、回転する光ディスクに対物レンズを介して光ビームを照射し、その反射光の強度に応じたレベルの電気信号を出力する光ピックアップを備えた光ディスク装置において、対物レンズをラジアルチルト方向に回動させながら電気信号のレベルを検出し、その検出結果に基づいて対物レンズのラジアルチルト角度の最適値を求める方法である。この方法は、ラジアルチルト角度を基準値に設定して電気信号のレベルを検出した後、対物レンズを一方側に回動させながら電気信号のレベルを検出し、電気信号のレベル検出値が減少する傾向になったことに応じて対物レンズの回動を停止させる第1のステップと、ラジアルチルト角度を基準値に再度設定して電気信号のレベルを検出した後、対物レンズを他方側に回動させながら電気信号のレベルを検出し、電気信号のレベル検出値が減少する傾向になったことに応じて対物レンズの回動を停止させる第2のステップと、第1および第2のステップにおいてラジアルチルト角度を基準値に設定したときの電気信号のレベル検出値の差をオフセット値とし、第1および第2のステップ間における電気信号のレベル検出値のオフセットを補正する第3のステップと、ラジアルチルト角度と電気信号のレベル検出値の補正値との関係を示す近似式を算出し、その近似式において電気信号のレベルが最大になるラジアルチルト角度を最適値と決定する第4のステップを含むことを特徴とする。
好ましくは、第3のステップでは、第1のステップにおける電気信号のレベル検出値からオフセット値を減算するか、第2のステップにおける電気信号のレベル検出値にオフセット値を加算して、第1および第2のステップ間における電気信号のレベル検出値のオフセットを補正する。
また好ましくは、電気信号は高周波信号である。
また好ましくは、電気信号はトラッキングエラー信号である。
また好ましくは、電気信号はトラッキングエラー信号である。
この発明に係る光ディスク装置および最適ラジアルチルト角度検出方法では、対物レンズを基準位置から一方方向に回動させるとともに電気信号のレベルを検出し、電気信号のレベル検出値が減少傾向になったら対物レンズの回動を停止させ、次に、対物レンズを基準位置から他方方向に回動させるとともに電気信号のレベルを検出し、電気信号のレベル検出値が減少傾向になったら対物レンズの回動を停止させ、対物レンズのラジアルチルト角度と電気信号のレベル検出値の関係を示す近似式からラジアルチルト角度の最適値を求める。したがって、常に所定の角度だけ対物レンズを回動させていた従来に比べ、対物レンズの回動角度を小さくすることができ、検出時間の短縮化を図ることができる。
また、対物レンズを基準位置に設定したときの2つの電気信号のレベル検出値の差をオフセット値とし、対物レンズを一方方向に回動させたときの電気信号のレベル検出値と対物レンズを他方方向に回動させたときの電気信号のレベル検出値とのオフセットを補正するので、ラジアルチルト角度の最適値を正確に検出することができる。
また、光ピックアップから出力される電気信号を利用するので、チルトセンサを別途設けていた従来に比べ、装置寸法の小型化と低コスト化を図ることができる。
図1は、この発明の一実施の形態による光ディスク装置の要部を示すブロック図である。図1において、この光ディスク装置は、光ピックアップ1とサーボブロック2を備え、サーボブロック2は信号処理部3とドライバ4を含む。
光ピックアップ1は、ドライバ4によって駆動され、光ディスク1の表面に光ビームを照射し、その反射光を光電変換して高周波信号RF、トラッキングエラー信号TEなどを出力する。
信号処理部3は、通常動作時は、トラッキングエラー信号TEなどに基づき、ドライバ4を介して光ピックアップ1を制御し、光ビームを光ディスク5表面のトラックの中心に垂直に照射させる。また、信号制御部3は、最適ラジアルチルト角度の検出時は、光ピックアップ1内の対物レンズのラジアルチルト角度を変化させながら高周波信号RFのレベルを検出し、高周波信号RFのレベル検出値が最大になる最適ラジアルチルト角度を検出する。ドライバ4は、信号処理部3から出力された制御信号CNTに従って光ピックアップ1を駆動させる。
図2は、光ピックアップ1の要部を示す図である。図2において、光ピックアップ1は、半導体レーザのような光源10と、光源10から出射された光ビームαを光ディスク5の信号面に集光させる対物レンズ11と、対物レンズ10をラジアルチルト方向に回動させるチルトコイル12,13とを含む。ドライバ4からチルトコイル12,13に電流が供給されると、その電流に応じた角度に対物レンズ10のラジアルチルト角度が設定される。なお、光ピックアップ1には、対物レンズ10をフォーカス方向およびトラッキング方向に移動させる機構(図示せず)も設けられている。
図3(a)(b)は、ラジアルチルト角度を説明する図である。図3(a)(b)を参照して、軸21は、光ディスク5を回転させるスピンドルの軸である。軸22は、軸21と垂直に交わる軸である。理想的には、光ディスク5の面は軸22上に位置し、光ディスク5の面と軸22との角度が0度になり、スピンドルに光ディスク5が装着された場合、スピンドルの軸21と光ディスク5の面とは垂直に交わる。
しかし、光ディスク5にそりがある場合、光ディスク5の面と軸22とは0度以外の角度θで交わる。すなわち、光ディスク5の面に接する軸23と軸22との角度は、θである。この場合、光源10から対物レンズ11を介して光ディスク5に照射される光ビームαが光ディスク5の面と垂直に交わるためには、対物レンズ11の光軸25が、光ディスク5の面に接する軸23に対して垂直である必要がある。光ビームαが光ディスク5に照射される位置を通り、スピンドルの軸21と平行の軸24に対して、対物レンズ11の光軸25はθで交わることになる。このθを、対物レンズ11のラジアルチルト(radial tilt)角度と称する。
図4は、光ピックアップ1のうちのトラッキングエラー信号TEの生成に関連ずる部分を示すブロック図である。図4において、光ディスク5の表面には、トラック30が所定の間隔で設けられている。トラック30には、情報が記録されている。トラッキングが行われている状態においては、主ビーム31は、その中心がトラッキングしているトラック30の中心に位置するように、光ディスク5に照射される。先行ビーム32は、光ディスク5の、主ビーム31に対して前方であって、+1/2トラックずれた位置に照射される。後行ビーム33は、光ディスク5の、主ビーム31に対して後方であって、−1/2トラックずれた位置に照射される。
光ピックアップ1は、主ビーム31が光ディスク5から反射されたビームを電気信号A〜Dに変換するディテクタ41と、先行ビーム32が光ディスク5から反射されたビームを電気信号E,Fに変換するディテクタ42と、後行ビーム33が光ディスク5から反射されたビームを電気信号G,Hに変換するディテクタ43とを含む。
すなわち、ディテクタ41の受光領域は、4つに分割される。主ビーム31による走査の方向の前方左側、前方右側、後方右側、後方左側の受光領域によって検出された主ビーム31は、それぞれ信号A〜Dに変換される。ディテクタ42の受光領域は、2つに分割される。先行ビーム32による走査方向に対して、左側および右側の受光領域によって検出された先行ビーム32は、それぞれ信号E,Fに変換される。ディテクタ43の受光領域は、2つに分割される。後行ビーム33による走査方向に対して、左側および右側の受光領域によって検出された後行ビーム33は、それぞれ信号G,Hに変換される。
光ピックアップ1は、さらに、差動アンプ44〜46,49およびアンプ47,48を含む。差動アンプ44は、ディテクタ41の出力信号A〜Dを受け、信号AとDのレベルの和A+Dから信号BとCのレベルの和B+Cを減算し、その演算結果A+D−(B+C)を示す信号を出力する。差動アンプ45は、ディテクタ42の出力信号E,Fを受け、信号Eのレベルから信号Fのレベルを減算し、その演算結果E−Fを示す信号を出力する。差動アンプ46は、ディテクタ43の出力信号G,Hを受け、信号Gのレベルから信号Hのレベルを減算し、その演算結果G−Hを示す信号を出力する。アンプ47,48は、それぞれ差動アンプ45,46の出力信号を所定の利得Kで増幅する。
差動アンプ49は、差動アンプ44の出力信号のレベルからアンプ47,48の出力信号のレベルを減算し、その演算結果(A+D)−(B+C)−K[(E+G)−(F+H)]を示す信号をトラッキングエラー信号TEとして出力する。サーボブロック2は、トラッキングエラー信号TEに基づき、主ビーム31がトラック30の中心を通るように対物レンズ11のトラッキング方向(トラック30と直交する方向)の位置を制御する。
図5は、光ピックアップ1のうちの高周波信号RFの生成に関連ずる部分を示すブロック図である。図5において、光ピックアップ1は、さらに差動アンプ50を含む。差動アンプ50は、ディテクタ41の出力信号A〜Dを受け、信号A〜Dのレベルの和A+B+C+Dを示す信号を高周波信号RFとして出力する。サーボブロック2は、最適ラジアルチルト角度の検出時は、対物レンズ11のラジアルチルト角度θを変化させながら高周波信号RFのレベルを検出し、高周波信号RFのレベル検出値が最大になるラジアルチルト角度θ1を検出する。対物レンズ11のラジアルチルト角度θをθ1に設定すると、光ビームαは光ディスク5の面に略垂直に照射され、収差は最小になる。なお、高周波信号RFはトラック30に記録された情報を含んでおり、光ディスク5に記録された情報は高周波信号RFから再生される。
次に、この光ディスク装置の特徴となる最適ラジアルチルト角度検出方法について説明する。図6は、この光ディスク装置の最適ラジアルチルト角度検出動作を示すフローチャートであり、図7はその動作を例示する図である。最適ラジアルチルト角度検出動作時には、所望の光ディスク5がセットされて回転され、光ピックアップ1が光ディスク5の半径方向の所定位置(たとえば中央)にセットされる。
図6および図7を参照して、信号処理部3は、ステップS1において対物レンズ11のラジアルチルト角度θを基準値θ0(たとえば0度)に設定し、ステップS2において高周波信号RFの信号レベルを検出し、ステップS3において高周波信号RFのレベル検出値を保存する。
ステップS4において信号処理部3は、検出端であるか否かを判別する。検出端であるか否かは、高周波信号RFのレベルが減少傾向になったか否かによって判別される。具体的には、検出端であるか否かは、高周波信号RFのレベルの今回の検出値がθ=θ0のときの検出値の1/C(ただし、Cは正の定数である)になったか否かによって判別してもよいし、高周波信号RFのレベルの今回の検出値がθ=θ0のときの検出値よりも所定値だけ小さくなったか否かによって判別してもよい。また、検出端であるか否かは、高周波信号RFのレベル検出値が連続して所定回数小さくなったか否か、あるいは単に前回の検出値よりも小さくなったか否かによって判別してもよい。
ステップS4において検出端でないと判別した場合は、ステップS5においてラジアルチルト角度θを所定量シフトし、ステップS2に戻る。ステップS5におけるθのシフト量は、対物レンズ11を光ディスク5の内側方向に回動させる場合は負の値に設定され、対物レンズ11を光ディスク5の外側方向に回動させる場合は正の値に設定される。
ステップS2〜S5を繰り返してステップS4において検出端であると判別した場合は、ステップS6において外側端であるか否かを判別し、外側端である場合はステップS11に進み、外側端でない場合はステップS7において再度対物レンズ11のラジアルチルト角度θを基準値θ0に設定し、ステップS8において高周波信号RFのレベルを検出する。
次いでステップS9において信号処理部3は、ステップS8において検出した高周波信号RFのレベルが、最初にθ=θ0として検出したときの高周波信号RFのレベルと同じか否かを判別し、同じ場合はステップS2に直接戻り、同じでない場合はステップS10に進む。ステップS10では、最初にθ=θ0として検出したときの高周波信号RFのレベルと、ステップS8において検出した高周波信号RFのレベルとの差をオフセット値とし、そのオフセット値を内側方向の各レベル検出値から減算し、内側方向の検出と外側方向の検出のオフセットを補正してステップS2に戻る。
ステップS2〜S5を繰り返してステップS4において検出端であると判別され、さらにステップS6において外側端であると判別された場合は、ステップS11において内側方向の補正後の検出値と外側方向の検出値とに基づいて近似式を算出し、その近似式において高周波信号RFのレベルが最大値になるラジアルチルト角度θ1を算出する。
以上の最適ラジアルチルト角度θ1の検出は、光ディスク5の半径方向の複数の位置で行なわれる。複数の位置で検出したθ1から任意の位置のθ1が演算される。信号処理部3は、光ピックアップ1の光ディスク5の半径方向の位置に応じて対物レンズ11の最適ラジアルチルト角度θ1を設定する。これにより、光ディスク5にそりがある場合でも、光源10から出射された光ビームαは対物レンズ11を介して光ディスク5の表面に垂直に照射され、光ビームの収差がなくなる。したがって、データの書込時には記録マークが光ディスクに適切に形成され、データの読出時にはジッタのない良好な再生信号を得ることができる。
この実施の形態では、対物レンズ11を基準位置から内側方向に回動させて高周波信号RFのレベルを検出し、高周波信号RFのレベル検出値が減少傾向になったら対物レンズ11の回動を停止させ、次に、対物レンズ11を基準位置から外側方向に回動させて高周波信号RFのレベルを検出し、高周波信号RFのレベル検出値が減少傾向になったら対物レンズ11の回動を停止させ、ラジアルチルト角度θと高周波信号RFのレベル検出値の関係を示す近似式からラジアルチルト角度θの最適値θ1を求める。したがって、常に所定の角度だけ対物レンズを回動させていた従来に比べ、対物レンズ11の回動角度を小さくすることができ、検出時間の短縮化を図ることができる。
また、対物レンズ11を基準位置に設定したときの2つの高周波信号RFのレベル検出値の差をオフセット値とし、対物レンズ11を内側方向に回動させたときの高周波信号RFのレベル検出値と対物レンズ11を外側方向に回動させたときの高周波信号RFのレベル検出値とのオフセットを補正するので、ラジアルチルト角度θの最適値θ1を正確に検出することができる。
また、光ピックアップ1から出力される高周波信号RFを利用するので、チルトセンサを別途設けていた従来に比べ、装置寸法の小型化と低コスト化を図ることができる。
なお、この実施の形態では、対物レンズ11を内側方向に回動させた場合の高周波信号RFのレベル検出値からオフセット値を減算したが、対物レンズ11を外側方向に回動させた場合の高周波信号RFのレベル検出値にオフセット値を加算しても同じ結果が得られることは言うまでもない。
また、この実施の形態では、高周波信号RFのレベル検出値を利用して最適ラジアルチルト角度θ1を検出したが、高周波信号RFの代わりにトラッキングエラー信号TEを用いても同じ結果が得られることは言うまでもない。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 光ピックアップ、2 サーボブロック、3 信号処理部、4 ドライバ、10 光源、11 対物レンズ、12,13 チルトコイル、21〜24 軸、25 光軸、θ ラジアルチルト角度、30 トラック、31 主ビーム、32 先行ビーム、33 後行ビーム、41〜43 ディテクタ、44〜46,49,50 差動アンプ、47,48 アンプ。
Claims (5)
- 回転する光ディスクに光ビームを照射し、その反射光の強度に応じたレベルの電気信号を出力する光ピックアップを備え、
前記光ピックアップは、
前記光ビームを出射する光源と、
前記反射光を光電変換して前記電気信号を出力する光電変換部と、
前記光ビームを前記光ディスクに集光させるとともに前記反射光を前記光電変換部に集光させる対物レンズと、
前記対物レンズをラジアルチルト方向に回動させる駆動部とを含み、
さらに、前記駆動部を制御して前記対物レンズを回動させるとともに前記電気信号のレベルを検出し、その検出結果に基づいて前記対物レンズのラジアルチルト角度の最適値を求める制御部を備え、
前記制御部は、
前記ラジアルチルト角度を基準値に設定して前記電気信号のレベルを検出した後、前記対物レンズを一方側に回動させながら前記電気信号のレベルを検出し、前記電気信号のレベル検出値が減少する傾向になったことに応じて前記対物レンズの回動を停止させる第1のステップと、
前記ラジアルチルト角度を前記基準値に再度設定して前記電気信号のレベルを検出した後、前記対物レンズを他方側に回動させながら前記電気信号のレベルを検出し、前記電気信号のレベル検出値が減少する傾向になったことに応じて前記対物レンズの回動を停止させる第2のステップと、
前記第1および第2のステップにおいて前記ラジアルチルト角度を前記基準値に設定したときの前記電気信号のレベル検出値の差を求め、その差を前記第1のステップにおける前記電気信号のレベル検出値から減算するか、その差を前記第2のステップにおける前記電気信号のレベル検出値に加算して、前記第1および第2のステップ間における前記電気信号のレベル検出値のオフセットを補正する第3のステップと、
前記ラジアルチルト角度と前記電気信号のレベル検出値の補正値との関係を示す近似式を算出し、その近似式において前記電気信号のレベルが最大になるラジアルチルト角度を前記最適値と決定する第4のステップを実行することを特徴とする、光ディスク装置。 - 回転する光ディスクに対物レンズを介して光ビームを照射し、その反射光の強度に応じたレベルの電気信号を出力する光ピックアップを備えた光ディスク装置において、前記対物レンズをラジアルチルト方向に回動させながら前記電気信号のレベルを検出し、その検出結果に基づいて前記対物レンズのラジアルチルト角度の最適値を求める方法であって、
前記ラジアルチルト角度を基準値に設定して前記電気信号のレベルを検出した後、前記対物レンズを一方側に回動させながら前記電気信号のレベルを検出し、前記電気信号のレベル検出値が減少する傾向になったことに応じて前記対物レンズの回動を停止させる第1のステップと、
前記ラジアルチルト角度を前記基準値に再度設定して前記電気信号のレベルを検出した後、前記対物レンズを他方側に回動させながら前記電気信号のレベルを検出し、前記電気信号のレベル検出値が減少する傾向になったことに応じて前記対物レンズの回動を停止させる第2のステップと、
前記第1および第2のステップにおいて前記ラジアルチルト角度を前記基準値に設定したときの前記電気信号のレベル検出値の差をオフセット値とし、前記第1および第2のステップ間における前記電気信号のレベル検出値のオフセットを補正する第3のステップと、
前記ラジアルチルト角度と前記電気信号のレベル検出値の補正値との関係を示す近似式を算出し、その近似式において前記電気信号のレベルが最大になるラジアルチルト角度を前記最適値と決定する第4のステップを含むことを特徴とする、最適ラジアルチルト角度検出方法。 - 前記第3のステップでは、前記第1のステップにおける前記電気信号のレベル検出値から前記オフセット値を減算するか、前記第2のステップにおける前記電気信号のレベル検出値に前記オフセット値を加算して、前記第1および第2のステップ間における前記電気信号のレベル検出値のオフセットを補正することを特徴とする、請求項2に記載の最適ラジアルチルト角度検出方法。
- 前記電気信号は高周波信号であることを特徴とする、請求項2または請求項3に記載の最適ラジアルチルト角度検出方法。
- 前記電気信号はトラッキングエラー信号であることを特徴とする、請求項2または請求項3に記載の最適ラジアルチルト角度検出方法。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20081007 |