JP2006522421A5 - - Google Patents

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  1. シートの第2の側面を照射して見たときに、前記シートの第1の側面上の印刷画像が目に見える程度を測定するための方法であって、
    a)初期照射レベルで基準物体を照射することによって、画像を含まない前記基準物体の較正画像を形成するステップと、
    b)前記基準物体の平均グレーレベルを決定し、所定の平均グレーレベルを達成するために前記照射レベルを調整するステップと、
    c)前記較正画像を形成するために用いられるのと同一の照射レベルで前記シートを照射し、前記シートの画像を形成するステップと、
    d)前記較正画像の対応するピクセル強度と前記シートの前記画像のピクセル強度の比を測定するステップと、
    e)前記ピクセル強度の比の平均値を計算するステップと
    を有することを特徴とする方法。
  2. レンズおよび光検出器アレイによって前面の光学反射率を測定することによって、反射前面を有する実質的に平面のサンプル物体の裏面における印刷画像の裏写りを特徴付けるための画像解析方法であって、
    (a)光がない場合における前記光検出器アレイの応答を表わすフレーム平均された暗電流画像を形成するステップと、
    (b)基準物体がその裏面に画像を備えていない状態で、拡散光源によって前記基準物体の前面を均一に照射し、前記基準物体の較正画像を形成するステップであって、
    (1)光源の出力が初期照射出力レベルに設定された前記拡散光源によって前記基準物体の前面を照射するステップであって、
    (2)前記基準物体の前面のフレーム平均された画像を形成するステップと、
    (3)ステップ(b)(2)において形成された前記基準物体の画像における平均グレーレベルを決定するステップと、
    (4)前記光源の出力を調整することによって前記照射レベルを調整し、前記基準物体の前面によって反射された平均光レベルによって、ステップ(2)の前記画像の平均グレーレベルがアナログ・ディジタル変換器のダイナミックレンジ内の所定の値の所定の範囲内に収まるまでステップ(2)および(3)を繰り返すことにより、所定の照射レベルを確立するステップと、
    (5)前記基準物体の前面のフレーム平均された基準画像を形成するステップと、
    (6)ステップ(5)の前記フレーム平均された基準画像からステップ(a)の前記フレーム平均された暗電流画像をピクセル基準でピクセルについて減算し、その結果得られた画像をメモリに格納することにより、前記基準物体の暗電流補正較正画像を形成するステップとを含むステップと、
    (c)前記所定の照射レベルで前記拡散光源によって、前記裏面に印刷画像を有するサンプル物体の前記前面を均一に照射するステップと、
    (d)前記サンプル物体の前面のフレーム平均された画像を形成するステップと、
    (e)ステップ(d)の前記フレーム平均された画像からステップ(a)の前記フレーム平均された暗電流画像をピクセル基準でピクセルについて減算し、その結果得られた画像をメモリに格納することにより、前記サンプル物体の前面の暗電流補正画像を形成するステップと、
    (f)裏写りを定量化するために、ステップ(b)(6)の画像とステップ(e)の画像の比をピクセル基準でピクセルについて計算することによってフレーム平均された暗電流補正画像を解析するステップと
    を有することを特徴とする画像解析方法。
  3. 前記基準物体の前面のフレーム平均された画像を形成する前記ステップ(b)(2)および前記サンプル物体の前面のフレーム平均された画像を形成する前記ステップ(d)がそれぞれ、
    (1)前記前面から反射された光を光検出器アレイに撮像して、前記画像を表す電気信号を生成するステップと、
    (2)アナログ・ディジタル変換器を用いて前記電気信号をディジタル化するステップと、
    (3)前記電気信号を所定の回数フレーム平均するステップと、
    (4)画素のアレイとして前記画像を表す前記フレーム平均されたディジタル表示をメモリに格納するステップと
    を含むことを特徴とする請求項2に記載の方法。
  4. 前記解析ステップ(f)が、
    (1)ピクセル基準でピクセルに関してステップ(b)(6)の前記画像とステップ(c)の前記画像の比を計算するステップと、
    (2)前記ピクセルの比の平均値を計算するステップと、
    (3)値1.0から前記平均値を減算して、裏写りの定量的な表示を生成するステップと
    を含むことを特徴とする請求項2に記載の方法。
  5. 前記レンズおよび前記光検出器アレイと組合せた光学フィルタをさらに具備し、前記組合せの全体的なスペクトル応答は、前記画像解析方法が所定のスペクトル領域における情報を用いるようなものになっていることを特徴とする請求項2に記載の方法。
  6. 前記レンズと前記光検出器アレイとの間に位置決めされる前記光学フィルタをさらに具備し、前記組合せの全体的なスペクトル応答は、前記画像解析方法が人間の目の明所視応答に近似するスペクトル領域における情報を用いるようなものになっていることを特徴とする請求項5に記載の方法。
  7. 前記照射調整ステップ(b)(4)が、光レベルの所定の範囲内で二分探索法を用いて行われることを特徴とする請求項2に記載の方法。
  8. 前記照射調整ステップ(b)(4)が、光レベルのすべての範囲内で二分探索法を用いて行われることを特徴とする請求項2に記載の方法。
  9. 視野の関心領域(ROI)が、ステップ(b)〜(f)を行う前に選択されることを特徴とする請求項2に記載の方法。
  10. 前記基準物体が複数の物体を含み、それぞれがその裏面に画像を備えず、互いの上にスタックされ、前記スタックの物体の数における変化が前記基準物体の画像における平均グレーレベルの測定可能な差を生じないようになっていることを特徴とする請求項2に記載の方法。
  11. 実質的に平面のサンプル物体の第2の側面を照射して見たときに、実質的に平面のサンプル物体の第1の側面上の印刷画像が目に見える程度を測定するための装置であって、
    a)サンプル物体ホルダ、前記サンプル物体を拡散照射するための照射アセンブリおよび撮像アセンブリを具備する光漏れのない筐体と、
    b)前記照射アセンブリによって形成される前記サンプル物体の前記照射レベルを制御し、前記撮像アセンブリによって形成される画像を受信し、それらの画像を解析するためのコンピュータ画像処理アセンブリとを具備し、
    (1)前記サンプル物体ホルダは、所定の平面において測定される前記サンプル物体を保持するための支持フレームおよび支持プラテンを具備し、
    (2)前記照射アセンブリは、
    (i)所定のサンプル平面が半球の赤道面に対応するように、前記サンプルホルダに隣接して位置決めされ、前記半球が拡散反射内面および撮像アセンブリを取付けるための極開口部を有する半球の反射体と、
    (ii)前記赤道面の上方に位置し、前記半球の拡散反射内面を照射するように配置される光源の円形アレイと、
    (iii)光源の前記アレイに隣接して位置決めされ、前記半球の内面から拡散反射される光のレベルを検知するように向けられる光検出器と
    を具備し、
    (3)前記撮像アセンブリは、
    (i)レンズと、
    (ii)光検出器アレイとを具備し、前記レンズは前記光検出器アレイ上に前記物体の画像を集光し、前記アレイにおける各光検出器は前記物体の前面から反射される光を表す電気信号を生成し、前記光検出器アレイは前記コンピュータ画像処理アセンブリに接続されることを特徴とする装置。
  12. 各光源が、白色発光ダイオードを具備することを特徴とする請求項11に記載の装置。
  13. 前記レンズおよび前記光検出器アレイと組合せた光学フィルタをさらに具備し、前記フィルタは、前記装置の全体的なスペクトル応答が所定のスペクトル応答であるようにスペクトル応答を有することを特徴とする請求項11に記載の装置。
  14. 前記レンズと前記光検出器アレイとの間に位置決めされる光学フィルタをさらに具備し、その結果、前記装置の全体的なスペクトル応答が人間の目の明所視応答に近似することを特徴とする請求項13に記載の装置。
  15. 前記半球の内面が、前記極開口部に隣接する実質的な非反射領域を有し、その結果、前記物体からの鏡面反射が前記撮像アセンブリによって撮像されないことを特徴とする請求項11に記載の装置。
  16. 前記半球の内面が、撮像される前記サンプル物体の領域に対応する前記極開口部に隣接する実質的な非反射領域を有することを特徴とする請求項11に記載の装置。
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