JP4819673B2 - 平面物体の裏面にある印刷画像の目に見える裏写りを定量化するための方法および装置 - Google Patents
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Description
本出願は、2003年4月7日出願の米国特許仮出願第60/461,201号明細書の利益を主張するものである。その全体が参照によって援用されるものとする。
a)初期照射レベルで基準物体を照射することによって、画像を含まない基準物体の較正画像を形成するステップと、
b)基準物体の平均グレーレベルを決定し、所定の平均グレーレベルを達成するために照射レベルを調整するステップと、
c)較正画像を形成するために用いられるのと同一の照射レベルでシートを照射し、シートの画像を形成するステップと、
d)較正画像の対応するピクセル強度とシートの画像のピクセル強度の比を測定するステップと、
e)ピクセル強度の比の平均値を計算するステップと、を有する方法に関する。
(a)光がない場合における光検出器アレイの応答を表わすフレーム平均された暗電流画像を形成するステップと、
(b)基準物体がその裏面に画像を備えていない状態で、拡散光源によって基準物体の前面を均一に照射し、基準物体の較正画像を形成するステップであって、
(1)光源の出力が初期照射出力レベルに設定された拡散光源によって基準物体の前面を照射するステップと、
(2)基準物体の前面のフレーム平均された画像を形成するステップと、
(3)ステップ(b)(2)において形成された基準物体の画像における平均グレーレベルを決定するステップと、
(4)光源の出力を調整することによって照射レベルを調整し、基準物体の前面によって反射された平均光レベルによって、ステップ(2)の画像の平均グレーレベルがアナログ・ディジタル変換器のダイナミックレンジ内の所定の値の所定の範囲内に収まるまでステップ(2)および(3)を繰り返すことにより、所定の照射レベルを確立するステップと、
(5)基準物体の前面のフレーム平均された基準画像を形成するステップと、
(6)ステップ(5)のフレーム平均された基準画像からステップ(a)のフレーム平均された暗電流画像をピクセル基準でピクセルについて減算し、その結果得られた画像をメモリに格納することにより、基準物体の暗電流補正較正画像を形成するステップとを含むステップと、
(c)所定の照射レベルで拡散光源によって、裏面に印刷画像を有するサンプル物体の前面を均一に照射するステップと、
(d)サンプル物体の前面のフレーム平均された画像を形成するステップと、
(e)ステップ(d)のフレーム平均された画像からステップ(a)のフレーム平均された暗電流画像をピクセル基準でピクセルについて減算し、その結果得られた画像をメモリに格納することにより、サンプル物体の前面の暗電流補正画像を形成するステップと、
(f)裏写りを定量化するために、ステップ(b)(6)の画像とステップ(e)の画像の比をピクセル基準でピクセルについて計算することによってフレーム平均された暗電流補正画像を解析するステップとを有する方法に関する。
a)サンプル物体ホルダ、サンプル物体を拡散照射するための照射アセンブリおよび撮像アセンブリを具備する光漏れのない筐体と、
b)照射アセンブリによって形成されるサンプル物体の照射レベルを制御し、撮像アセンブリによって形成される画像を受信し、それらの画像を解析するためのコンピュータ画像処理アセンブリとを具備し、
(1)サンプル物体ホルダは、所定の平面において測定されるサンプル物体を保持するための支持フレームおよび支持プラテンを具備し、
(2)照射アセンブリは、
(i)所定のサンプル平面が半球の赤道面に対応するように、サンプルホルダに隣接して位置決めされ、半球が拡散反射内面および撮像アセンブリを取付けるための極開口部を有する半球の反射体と、
(ii)赤道面の上方に位置し、半球の拡散反射内面を照射するように配置される光源の円形アレイと、
(iii)光源のアレイに隣接して位置決めされ、半球の内面から拡散反射される光のレベルを検知するように向けられる光検出器と
を具備し、
(3)撮像アセンブリは、
(i)レンズと、
(ii)光検出器アレイとを具備し、レンズは光検出器アレイ上に物体の画像を集光し、アレイにおける各光検出器は物体の前面から反射される光を表す電気信号を生成し、光検出器アレイはコンピュータ画像処理アセンブリに接続される装置に関する。
紙またはフィルムなどの被印刷物の不透明度を評価する場合に、印刷されたページの裏面上の印刷画像の視感度を定量化することが必要である。デュポン(DuPont)TMショースルーバリュー(Showthrough Value)TMまたはDSVTMと呼ばれる変数は、印刷されたページの裏面上の印刷画像の視感度の測定値である。0のDSVTMは完全に不透明なページ、すなわち、シートの裏面上の印刷の存在を検出することができないことを示す。100のDSVTMはページが完全に透明であるか、または印刷からのインクがページからにじんでいることを示す。
印刷済みのDSVTM=100(1−Ro’/Rinf)
未印刷のDSVTM=100(1−Ro/Rinf)
ストライクイン=印刷済みのDSVTM−未印刷のDSVTM
式中、
Ro−黒い裏面上の1つの未印刷のシートの反射率
Ro’−黒い裏面上の照射側面に対向する印刷を備えた1つの印刷済みのシートの反射率
Rinf‐未印刷のシートの無限パッドの反射率である。無限パッドは、厚さの増大が反射率の読出し値を変化させないような十分な厚さのパッド(またはスタック)として定義される。
図1において分かるように、本発明の装置10は、平面の物体撮像アセンブリ12(サンプル撮像アセンブリとも呼ぶ)および関連するコンピュータ画像プロセッサ(または単純にコンピュータ)14を具備する。平面の物体撮像アセンブリ12は、図2、図3A、図3B、図4および図5Aで最もよく分かるように、光漏れのないハウジング20(図5A)を具備し、その中にはサンプル保持取付具30、照射アセンブリ40、CCDカメラ50、マルチエレメントレンズ60および光学フィルタアセンブリ70および任意の明所視フィルタアセンブリ80が取付けられている。
本発明において用いられる測定変数は、暗信号が考慮され、真の画像信号が測定される場合に限り、光レベルに実質的に左右されない。
カメラレンズを遮断し、光源を消灯することによって、暗信号をサンプリングする。次の基準物体画像またはサンプル画像と同一サイズおよびフォーマットのメモリバッファに(適切なフレーム平均によって)暗信号画像を格納する。
図7、図8Aおよび図8Bに示されているように、コンピュータ画像プロセッサ14が、基準物体およびサンプルシートSを照射する光レベルを正確に制御するようにプログラムされる。基準物体の面が照射アセンブリ40によって照射され、光源が初期出力レベルに設定される。基準物体の面のフレーム平均されたディジタル画像が、画像を表す電気信号を生成するために、面から反射される光を光検出器アレイ上に最初に撮像することによって形成される。電気信号は、ディジタル化され、所定の回数でフレーム平均され、画像のフレーム平均された表示が画像プロセッサメモリ14Rに格納される。画像の平均グレーレベルが決定され、画像の平均グレーレベルが所望のレベル(一般にアナログ・ディジタル変換器のダイナミックレンジの上の方)になるまで、基準物体の照射レベルが調整される。
選択されたA/Dの全電圧範囲に関して、光がCCDアレイに達さないように照射システムが消灯される。光がない場合におけるカメラの光検出器アレイによって生成される画像は、「暗応答」画像または「暗電流」画像として周知であり、所定の回数(一般に64回または128回)ディジタル化され、次にフレーム平均される。すなわち、画像のそれぞれにおいて対応する画素またはピクセルが加算され、ディジタル化される画像の数によって除算され、CCDアレイおよびその関連電子機器の平均暗電流応答を表す画像を生成する。これは「平均暗電流」画像と呼ばれ、次に使用するために、RAMなどのメモリ14Rまたは磁気記憶媒体14Mに格納される。
本発明のシステムはまた、視野内の関心領域(ROI)にサンプルの測定を制限することができる。ROIは、カーソルボックスの配置によってユーザによって対話式で指定され、サンプルの画像に重ねて表示され、端末入力装置の適切なキーを押すことによって画像プロセッサ14に移動され、サイズ調整がなされる。標準的な解析方法において、全体画像が測定される。
装置の全体操作が図7に示されている。ユーザは、測定されるグループにおけるサンプル数(反復としても周知である)を指定する。第1のサンプルの測定が行われる前に、ユーザは機器に基準物体(白色基準とも呼ばれる)を挿入するように促される。白色基準は、サンプル紙と同一タイプの未印刷の紙のスタックである。照射体強度は、白色基準画像の平均グレーレベルが所定のレベル、約200であるように設定される。この照射強度は、サンプルのグループにおけるすべてのサンプルに関して一度固定される。この照射レベルを実現するために必要な光制御回路変数が、この照射レベルに関連付けられるすべてのサンプルと共に用いるために格納される。白色基準の画像は、フレーム平均を用いてこの照射レベルで取得される。基準物体の暗電流補正較正画像を形成するために、前に取得された暗基準画像が、白色基準画像からピクセルごとに減算される。
[1] シートの第2の側面を照射して見たときに、前記シートの第1の側面上の印刷画像が目に見える程度を測定するための方法であって、
a)初期照射レベルで基準物体を照射することによって、画像を含まない前記基準物体の較正画像を形成するステップと、
b)前記基準物体の平均グレーレベルを決定し、所定の平均グレーレベルを達成するために前記照射レベルを調整するステップと、
c)前記較正画像を形成するために用いられるのと同一の照射レベルで前記シートを照射し、前記シートの画像を形成するステップと、
d)前記較正画像の対応するピクセル強度と前記シートの前記画像のピクセル強度の比を測定するステップと、
e)前記ピクセル強度の比の平均値を計算するステップと
を有することを特徴とする方法。
[2] レンズおよび光検出器アレイによって前面の光学反射率を測定することによって、反射前面を有する実質的に平面のサンプル物体の裏面における印刷画像の裏写りを特徴付けるための画像解析方法であって、
(a)光がない場合における前記光検出器アレイの応答を表わすフレーム平均された暗電流画像を形成するステップと、
(b)基準物体がその裏面に画像を備えていない状態で、拡散光源によって前記基準物体の前面を均一に照射し、前記基準物体の較正画像を形成するステップであって、
(1)光源の出力が初期照射出力レベルに設定された前記拡散光源によって前記基準物体の前面を照射するステップであって、
(2)前記基準物体の前面のフレーム平均された画像を形成するステップと、
(3)ステップ(b)(2)において形成された前記基準物体の画像における平均グレーレベルを決定するステップと、
(4)前記光源の出力を調整することによって前記照射レベルを調整し、前記基準物体の前面によって反射された平均光レベルによって、ステップ(2)の前記画像の平均グレーレベルがアナログ・ディジタル変換器のダイナミックレンジ内の所定の値の所定の範囲内に収まるまでステップ(2)および(3)を繰り返すことにより、所定の照射レベルを確立するステップと、
(5)前記基準物体の前面のフレーム平均された基準画像を形成するステップと、
(6)ステップ(5)の前記フレーム平均された基準画像からステップ(a)の前記フレーム平均された暗電流画像をピクセル基準でピクセルについて減算し、その結果得られた画像をメモリに格納することにより、前記基準物体の暗電流補正較正画像を形成するステップとを含むステップと、
(c)前記所定の照射レベルで前記拡散光源によって、前記裏面に印刷画像を有するサンプル物体の前記前面を均一に照射するステップと、
(d)前記サンプル物体の前面のフレーム平均された画像を形成するステップと、
(e)ステップ(d)の前記フレーム平均された画像からステップ(a)の前記フレーム平均された暗電流画像をピクセル基準でピクセルについて減算し、その結果得られた画像をメモリに格納することにより、前記サンプル物体の前面の暗電流補正画像を形成するステップと、
(f)裏写りを定量化するために、ステップ(b)(6)の画像とステップ(e)の画像の比をピクセル基準でピクセルについて計算することによってフレーム平均された暗電流補正画像を解析するステップと
を有することを特徴とする画像解析方法。
[3] 前記基準物体の前面のフレーム平均された画像を形成する前記ステップ(b)(2)および前記サンプル物体の前面のフレーム平均された画像を形成する前記ステップ(d)がそれぞれ、
(1)前記前面から反射された光を光検出器アレイに撮像して、前記画像を表す電気信号を生成するステップと、
(2)アナログ・ディジタル変換器を用いて前記電気信号をディジタル化するステップと、
(3)前記電気信号を所定の回数フレーム平均するステップと、
(4)画素のアレイとして前記画像を表す前記フレーム平均されたディジタル表示をメモリに格納するステップと
を含むことを特徴とする[2]に記載の方法。
[4] 前記解析ステップ(f)が、
(1)ピクセル基準でピクセルに関してステップ(b)(6)の前記画像とステップ(c)の前記画像の比を計算するステップと、
(2)前記ピクセルの比の平均値を計算するステップと、
(3)値1.0から前記平均値を減算して、裏写りの定量的な表示を生成するステップと
を含むことを特徴とする[2]に記載の方法。
[5] 前記レンズおよび前記光検出器アレイと組合せた光学フィルタをさらに具備し、前記組合せの全体的なスペクトル応答は、前記画像解析方法が所定のスペクトル領域における情報を用いるようなものになっていることを特徴とする[2]に記載の方法。
[6] 前記レンズと前記光検出器アレイとの間に位置決めされる前記光学フィルタをさらに具備し、前記組合せの全体的なスペクトル応答は、前記画像解析方法が人間の目の明所視応答に近似するスペクトル領域における情報を用いるようなものになっていることを特徴とする[5]に記載の方法。
[7] 前記照射調整ステップ(b)(4)が、光レベルの所定の範囲内で二分探索法を用いて行われることを特徴とする[2]に記載の方法。
[8] 前記照射調整ステップ(b)(4)が、光レベルのすべての範囲内で二分探索法を用いて行われることを特徴とする[2]に記載の方法。
[9] 視野の関心領域(ROI)が、ステップ(b)〜(f)を行う前に選択されることを特徴とする[2]に記載の方法。
[10] 前記基準物体が複数の物体を含み、それぞれがその裏面に画像を備えず、互いの上にスタックされ、前記スタックの物体の数における変化が前記基準物体の画像における平均グレーレベルの測定可能な差を生じないようになっていることを特徴とする[2]に記載の方法。
[11] 前記基準物体が、複数の紙のシートから構成されることを特徴とする[10]に記載の方法。
[12] 前記サンプル物体が、紙のシートであることを特徴とする[2]に記載の方法。
[13] 実質的に平面のサンプル物体の第2の側面を照射して見たときに、実質的に平面のサンプル物体の第1の側面上の印刷画像が目に見える程度を測定するための装置であって、
a)サンプル物体ホルダ、前記サンプル物体を拡散照射するための照射アセンブリおよび撮像アセンブリを具備する光漏れのない筐体と、
b)前記照射アセンブリによって形成される前記サンプル物体の前記照射レベルを制御し、前記撮像アセンブリによって形成される画像を受信し、それらの画像を解析するためのコンピュータ画像処理アセンブリとを具備し、
(1)前記サンプル物体ホルダは、所定の平面において測定される前記サンプル物体を保持するための支持フレームおよび支持プラテンを具備し、
(2)前記照射アセンブリは、
(i)所定のサンプル平面が半球の赤道面に対応するように、前記サンプルホルダに隣接して位置決めされ、前記半球が拡散反射内面および撮像アセンブリを取付けるための極開口部を有する半球の反射体と、
(ii)前記赤道面の上方に位置し、前記半球の拡散反射内面を照射するように配置される光源の円形アレイと、
(iii)光源の前記アレイに隣接して位置決めされ、前記半球の内面から拡散反射される光のレベルを検知するように向けられる光検出器と
を具備し、
(3)前記撮像アセンブリは、
(i)レンズと、
(ii)光検出器アレイとを具備し、前記レンズは前記光検出器アレイ上に前記物体の画像を集光し、前記アレイにおける各光検出器は前記物体の前面から反射される光を表す電気信号を生成し、前記光検出器アレイは前記コンピュータ画像処理アセンブリに接続されることを特徴とする装置。
[14] 各光源が、白色発光ダイオードを具備することを特徴とする[13]に記載の装置。
[15] 前記レンズおよび前記光検出器アレイと組合せた光学フィルタをさらに具備し、前記フィルタは、前記装置の全体的なスペクトル応答が所定のスペクトル応答であるようにスペクトル応答を有することを特徴とする[13]に記載の装置。
[16] 前記レンズと前記光検出器アレイとの間に位置決めされる光学フィルタをさらに具備し、その結果、前記装置の全体的なスペクトル応答が人間の目の明所視応答に近似することを特徴とする[15]に記載の装置。
[17] 前記半球の内面が、前記極開口部に隣接する実質的な非反射領域を有し、その結果、前記物体からの鏡面反射が前記撮像アセンブリによって撮像されないことを特徴とする[13]に記載の装置。
[18] 前記半球の内面が、撮像される前記サンプル物体の領域に対応する前記極開口部に隣接する実質的な非反射領域を有することを特徴とする[13]に記載の装置。
Claims (16)
- シートの第2の側面を照射して見たときに、前記シートの第1の側面上の印刷画像が目に見える程度を測定するための方法であって、
a)初期照射レベルで基準物体を照射して、前記基準物体の平均グレーレベルを決定し、所定の平均グレーレベルを達成するように前記初期照射レベルを調整するステップと、
b)前記調整された照射レベルで前記基準物体を照射して、画像を含まない前記基準物体の較正画像を形成するステップと、
c)前記較正画像を形成するために用いられた前記調整された照射レベルと同一の照射レベルで前記シートを照射し、前記シートの画像を形成するステップと、
d)前記較正画像の対応するピクセル強度と前記シートの前記画像のピクセル強度の比を測定するステップと、
e)前記ピクセル強度の比の平均値を計算するステップと
を有することを特徴とする方法。 - レンズおよび光検出器アレイによって前面の光学反射率を測定することによって、反射前面を有する実質的に平面のサンプル物体の裏面における印刷画像の裏写りを特徴付けるための画像解析方法であって、
(a)光がない場合における前記光検出器アレイの応答を表わすフレーム平均された暗電流画像を形成するステップと、
(b)基準物体がその裏面に画像を備えていない状態で、拡散光源によって前記基準物体の前面を均一に照射し、前記基準物体の較正画像を形成するステップであって、
(1)光源の出力が初期照射出力レベルに設定された前記拡散光源によって前記基準物体の前面を照射するステップであって、
(2)前記基準物体の前面のフレーム平均された画像を形成するステップと、
(3)ステップ(b)(2)において形成された前記基準物体の画像における平均グレーレベルを決定するステップと、
(4)前記光源の出力を調整することによって前記照射出力レベルを調整し、前記基準物体の前面によって反射された平均光レベルによって、ステップ(2)の前記画像の平均グレーレベルがアナログ・ディジタル変換器のダイナミックレンジ内の所定の値の所定の範囲内に収まるまでステップ(2)および(3)を繰り返すことにより、所定の照射レベルを確立するステップと、
(5)前記基準物体の前面のフレーム平均された基準画像を形成するステップと、
(6)ステップ(5)の前記フレーム平均された基準画像からステップ(a)の前記フレーム平均された暗電流画像をピクセル基準でピクセルについて減算し、その結果得られた画像をメモリに格納することにより、前記基準物体の暗電流補正較正画像を形成するステップとを含むステップと、
(c)前記所定の照射レベルで前記拡散光源によって、前記裏面に印刷画像を有するサンプル物体の前記前面を均一に照射するステップと、
(d)前記サンプル物体の前面のフレーム平均された画像を形成するステップと、
(e)ステップ(d)の前記フレーム平均された画像からステップ(a)の前記フレーム平均された暗電流画像をピクセル基準でピクセルについて減算し、その結果得られた画像をメモリに格納することにより、前記サンプル物体の前面の暗電流補正画像を形成するステップと、
(f)裏写りを定量化するために、ステップ(b)(6)の画像とステップ(e)の画像の比をピクセル基準でピクセルについて計算することによってフレーム平均された暗電流補正画像を解析するステップと
を有することを特徴とする画像解析方法。 - 前記基準物体の前面のフレーム平均された画像を形成する前記ステップ(b)(2)および前記サンプル物体の前面のフレーム平均された画像を形成する前記ステップ(d)がそれぞれ、
(1)前記前面から反射された光を光検出器アレイに撮像して、前記画像を表す電気信号を生成するステップと、
(2)アナログ・ディジタル変換器を用いて前記電気信号をディジタル化するステップと、
(3)前記電気信号を所定の回数フレーム平均するステップと、
(4)画素のアレイとして前記画像を表す前記フレーム平均されたディジタル表示をメモリに格納するステップと
を含むことを特徴とする請求項2に記載の方法。 - 前記解析ステップ(f)が、
(1)ピクセル基準でピクセルに関してステップ(b)(6)の前記画像とステップ(c)の前記画像の比を計算するステップと、
(2)前記ピクセルの比の平均値を計算するステップと、
(3)値1.0から前記平均値を減算して、裏写りの定量的な表示を生成するステップと
を含むことを特徴とする請求項2に記載の方法。 - 前記レンズおよび前記光検出器アレイと組合せた光学フィルタをさらに具備し、前記組合せの全体的なスペクトル応答は、前記画像解析方法が所定のスペクトル領域における情報を用いるようなものになっていることを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 前記レンズと前記光検出器アレイとの間に位置決めされる前記光学フィルタをさらに具備し、前記組合せの全体的なスペクトル応答は、前記画像解析方法が人間の目の明所視応答に近似するスペクトル領域における情報を用いるようなものになっていることを特徴とする請求項5に記載の方法。
- 前記照射調整ステップ(b)(4)が、光レベルの所定の範囲内で二分探索法を用いて行われることを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 前記照射調整ステップ(b)(4)が、光レベルのすべての範囲内で二分探索法を用いて行われることを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 視野の関心領域(ROI)が、ステップ(b)〜(f)を行う前に選択されることを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 前記基準物体が複数の物体を含み、それぞれがその裏面に画像を備えず、互いの上にスタックされ、前記スタックの物体の数における変化が前記基準物体の画像における平均グレーレベルの測定可能な差を生じないようになっていることを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 実質的に平面のサンプル物体の第2の側面を照射して見たときに、実質的に平面のサンプル物体の第1の側面上の印刷画像が目に見える程度を測定するための装置であって、
a)サンプル物体ホルダ、前記サンプル物体を拡散照射するための照射アセンブリおよび撮像アセンブリを具備する光漏れのない筐体と、
b)前記照射アセンブリによって形成される前記サンプル物体の前記照射レベルを制御し、前記撮像アセンブリによって形成される画像を受信し、それらの画像を解析するためのコンピュータ画像処理アセンブリとを具備し、
(1)前記サンプル物体ホルダは、所定の平面において測定される前記サンプル物体を保持するための支持フレームおよび支持プラテンを具備し、
(2)前記照射アセンブリは、
(i)所定のサンプル平面が半球型の反射装置の赤道面に対応するように、前記サンプルホルダに隣接して位置決めされ、前記半球型の反射装置が拡散反射内面および撮像アセンブリを取付けるための極開口部を有する半球の反射体と、
(ii)前記赤道面の上方に位置し、前記半球型の反射装置の拡散反射内面を照射するように配置される光源の円形アレイと、
(iii)光源の前記アレイに隣接して位置決めされ、前記半球の内面から拡散反射される光のレベルを検知するように向けられる光検出器と
を具備し、
(3)前記撮像アセンブリは、
(i)レンズと、
(ii)光検出器アレイとを具備し、前記レンズは前記光検出器アレイ上に前記物体の画像を集光し、前記アレイにおける各光検出器は前記物体の前面から反射される光を表す電気信号を生成し、前記光検出器アレイは前記コンピュータ画像処理アセンブリに接続され、
前記撮像アセンブリは、初期照射レベルで基準物体を照射することによって、前記サンプル物体の画像を含まない前記基準物体の画像を形成し、
前記コンピュータ画像処理アセンブリは、前記基準物体の画像の平均グレーレベルを決定し、所定の平均グレーレベルを達成するために前記照射アセンブリの照射レベルを調整し、
前記撮像アセンブリは、前記調整された照射レベルで前記基準物体を照射することによって、前記サンプル物体の画像を含まない前記基準物体の較正画像を形成し、
前記撮像アセンブリが、前記調整された照射レベルと同一の照射レベルで照射された前記サンプル物体の画像を形成し、
前記コンピュータ画像処理アセンブリが、前記較正画像の対応するピクセル強度と前記サンプル物体の前記画像のピクセル強度の比を測定し、前記ピクセル強度の比の平均値を計算することを特徴とする装置。 - 各光源が、白色発光ダイオードを具備することを特徴とする請求項11に記載の装置。
- 前記レンズおよび前記光検出器アレイと組合せた光学フィルタをさらに具備し、前記フィルタは、前記装置の全体的なスペクトル応答が所定のスペクトル応答であるようにスペクトル応答を有することを特徴とする請求項11に記載の装置。
- 前記レンズと前記光検出器アレイとの間に位置決めされる光学フィルタをさらに具備し、その結果、前記装置の全体的なスペクトル応答が人間の目の明所視応答に近似することを特徴とする請求項13に記載の装置。
- 前記半球型の反射装置の内面が、前記極開口部に隣接する実質的な非反射領域を有し、その結果、前記物体からの鏡面反射が前記撮像アセンブリによって撮像されないことを特徴とする請求項11に記載の装置。
- 前記半球型の反射装置の内面が、撮像される前記サンプル物体の領域に対応する前記極開口部に隣接する実質的な非反射領域を有することを特徴とする請求項11に記載の装置。
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