JP2006303361A - 電子ビーム描画装置のショット量補正方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 テストモードでパターン幅の状態を描画エンドまで記録し、実際の描画にあたっては、テストモード時における描画スタート時のパターン幅とレジスト感度比と描画予測時間とからショット量補正値を求め、補正がなかった時の描画データに前記ショット量補正値を加えることで、描画精度を補正するように構成する。この結果、露光中ディレイによるCD線幅の変化を補正することができる。
【選択図】 図1
Description
(2)請求項2記載の発明は、テストモードでパターン幅の状態を描画エンドまで記録する記録手段と、実際の描画にあたっては、テストモード時における描画スタート時のパターン幅とレジスト感度比と描画予測時間とからショット量補正値を求める演算手段と、補正がなかった時の描画データに前記ショット量補正値を加えることで、描画精度を補正する補正手段とを具備することを特徴とする。
(2)請求項2記載の発明によれば、露光中ディレイによるCD線幅の変化を補正することができる。
図1は本発明の動作の一例を示す図である。以下の処理は、図3に内蔵されているコンピーュータ10により行われる。本発明では、先ず装置較正する(S1)。ここで、装置較正の内容としては、電流密度測定と、ビーム位置ズレ測定が行われる。装置較正が終了すると、実際の描画を行なう(S2)。描画が終了したら、再度ステップS1に戻って装置較正を行なう。即ち、描画装置では、このような装置較正と描画を数分間サイクルで繰り返す。
ショット時間=Dose量/電流密度 (1)
(1)式より明らかなように、従来の技術では、刻々と変動する電流密度を測定し、その測定値を用いることで、ドーズ量に応じたショット時間を算出している。この(1)式では、ディレイによる線幅補正は考慮されていない。
ショット時間=(Dose量/電流密度)×Delay(t) (2)
本発明では、描画経過時間別ショット量補正を行なっている。本発明によるショット量補正では、装置較正の度に算出されるショット時間にDelay(t)を乗算している。これにより、露光中ディレイによるCD線幅の変化を補正する。Delay(t)は、同じ条件でビーム露光した時に出てくる違いを補正するものである。このDelay(t)は、ずれ線幅とレジスト感度比から求めることができる。レジスト感度比は、線幅の変化量とDose量の変化量の係数であり、実際のショット量に対してどれくらいショット量をずらせばよいかという変数を求めるためのものであり、単位は[nm/%・Dose]で与えられる。例えば、ドーズ量が1%変化した時に線幅が何nm変化するかを示す。
この場合において、具体的にはテストモード時における描画結果を基に、Delay(t)を求めている。f1は実際の描画時の補正を、f3は補正されなかった場合の描画特性を示している。f3の特性に補正f1を加えることにより、線幅の変化を一定の基準値に保持することが可能となる。(2)式は、描画スタート時のパターン幅とレジスト感度比と描画予測時間とからショット量補正値を求めることを意味する。
2 ブランキング電極
3 電子レンズ
4 電子ビーム
5 材料交換室
6 偏向電極
7 ウエハ
8 ステージ
9 真空室
10 コンピュータ
11 ブランキング制御部
12 ビーム偏向制御部
13 ステージ移動位置計測制御部
Claims (2)
- テストモードでパターン幅の状態を描画エンドまで記録し、
実際の描画にあたっては、テストモード時における描画スタート時のパターン幅とレジスト感度比と描画予測時間とからショット量補正値を求め、
補正がなかった時の描画データに前記ショット量補正値を加えることで、描画精度を補正する
ようにしたことを特徴とする電子ビーム描画装置のショット量補正方法。 - テストモードでパターン幅の状態を描画エンドまで記録する記録手段と、
実際の描画にあたっては、テストモード時における描画スタート時のパターン幅とレジスト感度比と描画予測時間とからショット量補正値を求める演算手段と、
補正がなかった時の描画データに前記ショット量補正値を加えることで、描画精度を補正する補正手段と、
を具備することを特徴とする電子ビーム描画装置のショット量補正装置。
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