JP2006289750A - 画像処理方法及び装置並びにこれを備えた画像形成装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ドット形成手段により被記録媒体上にドットを形成して画像を形成する際のドット配置を決定する画像処理方法であって、前記被記録媒体上の各ドット形成位置に対して設定された、前記ドット形成手段のドット形成特性及び被記録媒体の定着特性の少なくとも一方によって決まる、前記被記録媒体上に形成されるドットのドット形状、ドット濃度、ドット位置、サテライトの有無のいずれか1つ以上に関する情報を含むドットモデルを用いて、入力画像データから、前記各ドット形成位置におけるドット配置データを生成することを特徴とする画像処理方法及びこれを実行する装置を提供することにより前記課題を解決する。
【選択図】 図8
Description
I(x,y)+XM(x,y) > T(i,x (mod M) ,y (mod N) )
・・・(1)
が成り立たない場合には、次のステップS120へ進み、ドットモデルM(i,x,y)のインデックスiを一つ進め、ステップS116へ戻り、次のドットモデルを用いて同様な閾値との比較を行う。
XM(x−1,y) =XM(x−1,y) −M(i,x,y;12)
XM(x−1,y+1)=XM(x−1,y+1)−M(i,x,y;13)
XM(x,y−1) =XM(x,y−1) −M(i,x,y;21)
XM(x,y) =XM(x,y) −M(i,x,y;22)
XM(x,y+1) =XM(x,y+1) −M(i,x,y;23)
XM(x+1,y−1)=XM(x+1,y−1)−M(i,x,y;31)
XM(x+1,y) =XM(x+1,y) −M(i,x,y;32)
XM(x+1,y+1)=XM(x+1,y+1)−M(i,x,y;33)
なお、図8においては、例えば式XM(x−1,y−1)=XM(x−1,y−1)−M(i,x,y;11)を簡略化して、XM(x−1,y−1)+=−M(i,x,y;11)と表現している。他の式の表現についても同様である。
I(x,y)+E(x,y)+XM(x,y) > T(x,y) ・・・(2)
が成り立たない場合には、次のステップS214において、結果格納部206の対応する場所B(x,y)にドットを形成しない旨(ドット無し)を決定し、このときのドットモデルに対応する量子化結果を記憶させる。
その他の誤差についても同様に次のように値を算出する。
E(x+1,y)=E(x+1,y) + Enew ×EC(32)
E(x+1,y+1)=E(x+1,y+1) + Enew ×EC(33)
なお、ここでも例えばE(x,y+1)=E(x,y+1) + Enew ×EC(23)という式表現は、右辺のE(x,y+1)にEnew ×EC(23)を加算した値を左辺のE(x,y+1)に代入して新しいE(x,y+1)の値とするという意味である。また、図10中においては、この式を簡略化して、E(x,y+1)+=Enew ×EC(23)と記載している。他の式の表現についても同様である。
なお、ここでM(x,y;22)は、ドットモデルM(x,y)の22成分を表すものとし、他の表示についても同様とする。
E(x,y)=0
次に、図11に示すドット形成位置(x,y)の周囲の4つの未処理画素位置(x+1,y)、(x−1,y+1)、(x,y+1)、(x+1,y+1)に対して、既にドット形成が判断されたドット形成位置(x,y)のドットの大きさ(はみ出し)や位置誤差によって影響される濃度を表す影響分XM及び誤差Eを以下の各式で計算する。なお、ここでの式表現も上述したものと同様である。
XM(x−1,y+1)=XM(x−1,y+1)−M(x,y;13)
XM(x+1,y)=XM(x+1,y)−M(x,y;32)
XM(x+1,y+1)=XM(x+1,y+1)−M(x,y;33)
E(x,y+1)=E(x,y+1)+Enew ×EC(23)
E(x−1,y+1)=E(x−1,y+1)+Enew ×EC(13)
E(x+1,y)=E(x+1,y)+Enew ×EC(32)
E(x+1,y+1)=E(x+1,y+1)+Enew ×EC(33)
このようにステップS220において、各種値を計算した後は、ステップS222に進みドット形成位置順を次へ進め次の位置における処理へと移る。このようにして、すべての画素についての処理が終了したら画像処理を終了する。
=XM(x+1,y)−9、
XM(x−1,y+1)=XM(x−1,y+1)−M(x,y;13)
=XM(x−1,y+1)−0、
XM(x,y+1) =XM(x,y+1)−M(x,y;23)
=XM(x,y+1)−2、
XM(x+1,y+1)=XM(x+1,y+1)−M(x,y;33)
=XM(x+1,y+1)−1
E(x+1,y)=E(x+1,y)+Enew ×EC(32)
E(x−1,y+1)=E(x−1,y+1)+Enew ×EC(13)
E(x,y+1)=E(x,y+1)+Enew ×EC(23)
E(x+1,y+1)=E(x+1,y+1)+Enew ×EC(33)
なお、前述したように、XM(x,y)およびE(x,y)は0とする。
−M(x,y;22)−M(x,y;11)−M(x,y;21)
−M(x,y;31)−M(x,y;12)
例えば、図13、図14に示した例の場合にこの発生誤差Enew を計算すると、次のようになる。
−M(21)−M(31)−M(12)
=15+(−4)+(−3)−10−2−9−7−2=−22
これ以外の点については、前述した第2実施形態と同様であるので、詳しい説明は省略する。
−M(i,x,y;22) ・・・(3)
EEX(i)=I(x,y)+E(x,y)+XM(x,y)
−M(i,x,y;22)−M(i,x,y;11)
−M(i,x,y;12)−M(i,x,y;31)
−M(i,x,y;21) ・・・(4)
次に、ステップS414において、いま求めたドットモデルM(i,x,y)毎の発生誤差EEX(i)のうちその絶対値が最小となるドットモデルM(i,x,y)の番号iを求め、求めた番号iをi0 とする。
次に、ステップS418において、発生誤差EEX(i)の絶対値の最小値|EEX(i0 )|と、発生誤差EENの絶対値|EEN|を比較してドット形成を判断する。
XM(x,y)=0
XM(x,y+1)=XM(x,y+1)−M(i0 ,x,y;23)
XM(x−1,y+1)=XM(x−1,y+1)−M(i0 ,x,y;13)
XM(x+1,y)=XM(x+1,y)−M(i0 ,x,y;32)
XM(x+1,y+1)=XM(x+1,y+1)−M(i0 ,x,y;33)
E(x,y)=0
E(x,y+1)=E(x,y+1)+Enew ×EC(23)
E(x−1,y+1)=E(x−1,y+1)+Enew ×EC(13)
E(x+1,y)=E(x+1,y)+Enew ×EC(32)
E(x+1,y+1)=E(x+1,y+1)+Enew ×EC(33)
その後、ステップS428へ進み、ラスタ順の順序に従って、ドット形成位置順を次の順番に進め、次のドット形成位置に対して同様の処理を行う。
−M(x,y;22) ・・・(6)
EEX(i)=I(x,y)+E(x,y)+XM(x,y)
−M(x,y;22)−Σ(M(i,x,y;pq)) ・・・(7)
ただし、式(7)中の和Σは、ドット形成位置(x,y)の周囲の各未処理画素位置pqについてとるものとする。
次にステップS522において、ドットモデルを形成する場合の発生誤差EEXの絶対値の最小値|EEX(i0 ) |と、ドット無しの場合の発生誤差EENの絶対値|EEN|とを比較してドット形成を判断する。すなわち、次の不等式が成立するか否かで判断する。
この不等式が成立しない場合には、ドット形成位置(x,y)にドットを形成しないと判断し、次のステップS524において、結果格納部206の所定の場所B(x,y)にドット無しに対応する量子化結果を記憶させる。
次にドット形成位置においてドット形成を判断したので、ドット形成位置における影響分XM及び誤差Eを0クリアする。
E(x,y)=0
また、ドット形成位置(x,y)の周囲の未処理画素位置(u,v)と対応するpqについて、周囲の未処理画素位置の分布をdとした場合の誤差係数をEC(d,pq)とするとき、位置(u,v)における誤差E(u,v)を次の式で計算する。
その後ステップS532へ進み、次のドット形成位置順に対する処理を行う。
E(x,y)=0
また、ドット形成位置(x,y)の周囲の未処理画素位置(u,v)と対応するpqに関して、ドットモデル差分記憶配列XM(u,v)を次の式で計算する。
また、ステップS526と同様の記号を用いて、位置(u,v)における誤差E(u,v)を次の式で計算する。
その後ステップS532へ進み、配列Aに従ってドット形成位置順を次の順番に進めて、次のドット形成位置における処理を行う。
Claims (13)
- ドット形成手段により被記録媒体上にドットを形成して画像を形成する際のドット配置を決定する画像処理方法であって、
前記被記録媒体上の各ドット形成位置に対して設定された、前記ドット形成手段のドット形成特性及び被記録媒体の定着特性の少なくとも一方によって決まる、前記被記録媒体上に形成されるドットのドット形状、ドット濃度、ドット位置、サテライトの有無のいずれか1つ以上に関する情報を含むドットモデルを用いて、入力画像データから、前記各ドット形成位置におけるドット配置データを生成することを特徴とする画像処理方法。 - 前記ドットモデルを用いて前記入力画像データからドット配置データを生成する際、注目するドット形成位置に対する周辺の既に決定されたドットからの影響分によって前記ドット形成位置において既に達成された濃度分を前記入力画像データから差し引いた結果を、所定の閾値と比較することにより、ドット形成を決定することを特徴とする請求項1に記載の画像処理方法。
- 前記ドットモデルを用いて前記入力画像データからドット配置データを生成する際、注目する前記ドット形成位置に対する周辺の既にドット形成決定を行ったドット形成位置で発生した誤差の影響を加味して、前記注目するドット形成位置でのドット形成の決定を行うことを特徴とする請求項1または2に記載の画像処理方法。
- 前記ドットモデルを用いて前記入力画像データからドット配置データを生成する際、注目する前記ドット形成位置において、選択可能な全てのドットモデルのうち、ドットを形成するとした場合に発生する誤差の絶対値が最小となるドットモデルの発生誤差の絶対値と、ドットを形成しないとした場合に発生する誤差の絶対値を比較することにより、ドット形成を決定することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の画像処理方法。
- 前記ドットモデルは、各ドット形成位置毎に複数設定されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の画像処理方法。
- 前記ドットモデルは、予め作成して記憶手段に記憶させておくことを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の画像処理方法。
- ドット形成手段により被記録媒体上にドットを形成して画像を形成する際のドット配置を決定する画像処理装置であって、
前記被記録媒体上の各ドット形成位置に対して、前記ドット形成手段のドット形成特性及び被記録媒体の定着特性の少なくとも一方によって決まる、前記被記録媒体上に形成されるドットのドット形状、ドット濃度、ドット位置、サテライトの有無のいずれか1つ以上に関する情報を含むドットモデルを設定するドットモデル設定手段と、
前記各ドット形成位置において、前記ドットモデルを用いて入力画像データからドット配置データを生成するハーフトーニング手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。 - 前記ハーフトーニング手段は、前記ドットモデルを用いて前記入力画像データからドット配置データを生成する際、注目するドット形成位置に対する周辺の既に決定されたドットからの影響分によって前記ドット形成位置において既に達成された濃度分を前記入力画像データから差し引く影響分加算部と、該差し引いた結果を所定の閾値と比較する閾値比較部を有し、前記影響分を、前記入力画像データから差し引いた結果を、前記所定の閾値と比較することにより、ドット形成を決定することを特徴とする請求項7に記載の画像処理装置。
- 前記ハーフトーニング手段は、さらに、前記ドットモデルを用いて前記入力画像データからドット配置データを生成する際、注目する前記ドット形成位置に対する周辺の既にドット形成決定を行ったドット形成位置で発生した誤差の影響を加味する周辺誤差加算部を有することを特徴とする請求項7または8に記載の画像処理装置。
- 前記ハーフトーニング手段は、前記ドットモデルを用いて前記入力画像データからドット配置データを生成する際、注目する前記ドット形成位置において、選択可能な全てのドットモデルのうち、ドットを形成するとした場合に発生する誤差と、ドットを形成しないとした場合の発生誤差を計算する発生誤差演算部と、前記全てのドットモデルについての発生誤差の絶対値の最小値と、前記ドットを形成しないとした場合に発生する誤差の絶対値とを比較する発生誤差比較部と、を有し、前記ドット形成位置に対応する全ての前記ドットモデルについての発生誤差の絶対値の最小値と、ドットを形成しないとした場合の発生誤差の絶対値とを比較することにより、ドット形成を決定することを特徴とする請求項7〜9のいずれかに記載の画像処理装置。
- 前記ドットモデル設定手段は、各ドット形成位置毎に前記ドットモデルを複数設定することを特徴とする請求項7〜10のいずれかに記載の画像処理装置。
- 前記ドットモデル設定手段は、予め作成した前記ドットモデルを記憶する記憶手段を有することを特徴とする請求項7〜11のいずれかに記載の画像処理装置。
- 請求項7〜12のいずれかに記載の画像処理装置を備えたことを特徴とする画像形成装置。
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