JP2006260652A - 磁気ディスク装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 磁気ヘッドの劣化を、磁気ヘッドによる磁気ディスクの記録面へのアクセスが正常に行えるうちに、より早期に検出して、必要な処置を正常に行うことが可能な磁気ディスク装置を提供する。
【解決手段】 磁気媒体から成る記録面bを有し、回転制御可能に設けられた磁気ディスク2と、記録面bに対する情報のアクセスを行う磁気ヘッド4と、磁気ヘッド4を支持するとともに、磁気ヘッド4を磁気ディスク2の径方向aへ移動させるアクチュエータ6と、磁気ディスク2の回転制御、アクチュエータ6を介した磁気ヘッド4の移動制御、および、磁気ヘッド4を介した記録面bに対するアクセス制御を行う制御部8とを備えた磁気ディスク装置において、磁気ヘッド4から出力されるノイズを検出するノイズ検出手段18と、ノイズ検出手段18により、所定の許容レベル以上の前記ノイズが検出された場合に、所定の処理を実行するヘッド劣化時処理手段8bとを備える。
【選択図】 図1
【解決手段】 磁気媒体から成る記録面bを有し、回転制御可能に設けられた磁気ディスク2と、記録面bに対する情報のアクセスを行う磁気ヘッド4と、磁気ヘッド4を支持するとともに、磁気ヘッド4を磁気ディスク2の径方向aへ移動させるアクチュエータ6と、磁気ディスク2の回転制御、アクチュエータ6を介した磁気ヘッド4の移動制御、および、磁気ヘッド4を介した記録面bに対するアクセス制御を行う制御部8とを備えた磁気ディスク装置において、磁気ヘッド4から出力されるノイズを検出するノイズ検出手段18と、ノイズ検出手段18により、所定の許容レベル以上の前記ノイズが検出された場合に、所定の処理を実行するヘッド劣化時処理手段8bとを備える。
【選択図】 図1
Description
本発明は、磁気媒体から成る記録面を有し、回転制御可能に設けられた磁気ディスクと、前記記録面に対する情報のアクセスを行う磁気ヘッドと、磁気ヘッドを支持するとともに、磁気ヘッドを前記磁気ディスクの径方向へ移動させるアクチュエータと、前記磁気ディスクの回転制御、前記アクチュエータを介した前記磁気ヘッドの移動制御、および、磁気ヘッドを介した前記記録面に対するアクセス制御を行う制御部とを備えた磁気ディスク装置に関する。
磁気ディスク装置において、磁気ディスクの記録面(媒体)に対する情報のアクセスを行う磁気ヘッドが、長時間の使用のうちに劣化し、最終的に使用できない状態になってしまうという問題がある。特に近年は、磁気ディスクに対する記録密度の高度化に伴い、磁気ヘッドと記録面との間隔が狭くなって稼動時に磁気ヘッドと記録面とが接触しやすくなってきており、この接触によって急速に磁気ヘッドの劣化が進みやすくなっている。
磁気ヘッドが劣化して記録面へのアクセスができなくなると、記録されたデータの損失など、ユーザに多大な損害が及ぶことが多い。そこで、特許文献1には、磁気ヘッドの磁気抵抗効果素子の直流抵抗を検出することでその劣化を検出し、劣化を検出した際には対応する磁気ディスクのデータを他の磁気ヘッドがアクセスするエリアに移動させるなどの異常時処理を行う磁気ディスク装置が提案されている。
しかしながら、特許文献1に記載の従来の磁気ディスク装置には、以下の課題がある。
すなわち、特許文献1に記載の磁気ディスク装置においては、磁気ヘッドの磁気抵抗効果素子の直流抵抗を検出し、その直流抵抗値が高くなったことを以って磁気ヘッドの異常を検出して、データの退避等の異常時処理を行っているが、磁気抵抗効果素子の抵抗値が変化するのは、磁気ヘッドの劣化がかなり進行した状態であって、この時には既に磁気ディスクの記録面への正常なアクセスが行えず、記録面から情報を正しく読み取ることができない場合があるという課題がある。すなわち、磁気抵抗効果素子の抵抗値が上がった状態では、データの正常な読み取りおよび退避といった処置が正常には行えない場合があるという課題がある。
すなわち、特許文献1に記載の磁気ディスク装置においては、磁気ヘッドの磁気抵抗効果素子の直流抵抗を検出し、その直流抵抗値が高くなったことを以って磁気ヘッドの異常を検出して、データの退避等の異常時処理を行っているが、磁気抵抗効果素子の抵抗値が変化するのは、磁気ヘッドの劣化がかなり進行した状態であって、この時には既に磁気ディスクの記録面への正常なアクセスが行えず、記録面から情報を正しく読み取ることができない場合があるという課題がある。すなわち、磁気抵抗効果素子の抵抗値が上がった状態では、データの正常な読み取りおよび退避といった処置が正常には行えない場合があるという課題がある。
本願発明は、上記課題を解決すべく成され、その目的とするところは、磁気ヘッドの劣化を、磁気ヘッドによる磁気ディスクの記録面へのアクセスが正常に行えるうちに、より早期に検出して、必要な処置を正常に行うことが可能な磁気ディスク装置を提供することにある。
本願発明者らは、上記課題を解決するために精査研究し、磁気ヘッドから出力されるノイズ量から磁気ヘッドの劣化を検出すれば、磁気ヘッドによる記録面へのアクセスが不可能となるより前に、磁気ヘッドの劣化を早期に検出できることを見出し、本願発明を完成させた。
本発明に係る磁気ディスク装置は、上記課題を解決するために、以下の構成を備える。すなわち、磁気媒体から成る記録面を有し、回転制御可能に設けられた磁気ディスクと、前記記録面に対する情報のアクセスを行う磁気ヘッドと、該磁気ヘッドを支持するとともに、磁気ヘッドを前記磁気ディスクの径方向へ移動させるアクチュエータと、前記磁気ディスクの回転制御、前記アクチュエータを介した前記磁気ヘッドの移動制御、および、磁気ヘッドを介した前記記録面に対するアクセス制御を行う制御部とを備えた磁気ディスク装置において、前記磁気ヘッドから出力されるノイズを検出するノイズ検出手段と、該ノイズ検出手段により、所定の許容レベル以上の前記ノイズが検出された場合に、所定の処理を実行するヘッド劣化時処理手段とを備えることを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドから出力されるノイズ量から磁気ヘッドの劣化を検出することで、磁気ヘッドの劣化を早期に検出でき、磁気ヘッドによる磁気ディスクの記録面へのアクセスが不可能となるより前に、所定の処理を行って必要な処置を施すことが可能となる。
これによれば、磁気ヘッドから出力されるノイズ量から磁気ヘッドの劣化を検出することで、磁気ヘッドの劣化を早期に検出でき、磁気ヘッドによる磁気ディスクの記録面へのアクセスが不可能となるより前に、所定の処理を行って必要な処置を施すことが可能となる。
さらに、外部機器と接続可能な外部インタフェースを備え、前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記磁気ヘッドの異常を表す信号を前記外部インタフェースから出力することを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドの異常を表す信号を外部インタフェースから出力することで、外部インタフェースに接続されたコンピュータ等に磁気ヘッドの異常を通知して、必要な処理等を促すことができる。
これによれば、磁気ヘッドの異常を表す信号を外部インタフェースから出力することで、外部インタフェースに接続されたコンピュータ等に磁気ヘッドの異常を通知して、必要な処理等を促すことができる。
また、前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記磁気ヘッドに印加するセンス電流またはセンス電圧を変化させつつノイズ検出手段により磁気ヘッドからのノイズを検出し、該ノイズが最小となるように、前記記録面にアクセスする際のセンス電流またはセンス電圧を設定することを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドから出力されるノイズが最小となるようにセンス電流またはセンス電圧を調節して、劣化が進んだ状態の中でもより適当なセンス電流またはセンス電圧で記録面へのアクセスが行えるよう調節することができる。
これによれば、磁気ヘッドから出力されるノイズが最小となるようにセンス電流またはセンス電圧を調節して、劣化が進んだ状態の中でもより適当なセンス電流またはセンス電圧で記録面へのアクセスが行えるよう調節することができる。
また、前記記録面と当該記録面に対する情報のアクセスを行う前記磁気ヘッドとの組を、複数組備え、前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により、複数の前記磁気ヘッドの一つから前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、当該磁気ヘッドに対応する記録面に記録された情報を、他の記録面へ退避する処理を行うことを特徴とする。
また、前記記録面と当該記録面に対する情報のアクセスを行う前記磁気ヘッドとの組を、複数組備え、複数の前記記録面のうちの少なくとも一つが、前記制御部による情報のアクセスが行われない予備記録面に設定され、前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により、複数の前記磁気ヘッドの一つから前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記予備記録面の設定を解除するとともに、所定の許容レベル以上のノイズが検出された磁気ヘッドに対応する記録面を新たな予備記録面に設定することを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドによる記録面へのアクセスが正常に行えるうちに、記録された情報の退避を行うことができる。
また、前記記録面と当該記録面に対する情報のアクセスを行う前記磁気ヘッドとの組を、複数組備え、複数の前記記録面のうちの少なくとも一つが、前記制御部による情報のアクセスが行われない予備記録面に設定され、前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により、複数の前記磁気ヘッドの一つから前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記予備記録面の設定を解除するとともに、所定の許容レベル以上のノイズが検出された磁気ヘッドに対応する記録面を新たな予備記録面に設定することを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドによる記録面へのアクセスが正常に行えるうちに、記録された情報の退避を行うことができる。
また、前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記磁気ヘッドが前記記録面にアクセスする際の記録密度を変更する処理を行うことを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドによる記録面へのアクセスが正常に行えるうちに、磁気ヘッドの記録面に対する記録密度を小さく変更するなどの処置を行うことができる。
これによれば、磁気ヘッドによる記録面へのアクセスが正常に行えるうちに、磁気ヘッドの記録面に対する記録密度を小さく変更するなどの処置を行うことができる。
また、前記磁気ヘッドを前記記録面上から退避させたアンロード状態において、磁気ヘッドの再着磁を行うヘッド着磁手段を備え、前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記ヘッド着磁手段による前記磁気ヘッドの再着磁を実行させることを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドの劣化を検出した際に、磁気ヘッドの再着磁を行って磁気ヘッドを再生させることができる。
これによれば、磁気ヘッドの劣化を検出した際に、磁気ヘッドの再着磁を行って磁気ヘッドを再生させることができる。
また、前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記磁気ヘッドの異常を表す情報を記憶手段に記憶させることを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドからノイズを検出した履歴を記憶手段に記憶させておくことができる。この履歴の情報に基づいて、磁気ヘッドの劣化した過程を調べるなどの処理が可能となる。
これによれば、磁気ヘッドからノイズを検出した履歴を記憶手段に記憶させておくことができる。この履歴の情報に基づいて、磁気ヘッドの劣化した過程を調べるなどの処理が可能となる。
また、前記ノイズ検出手段は、前記ノイズを、前記磁気ヘッドを前記記録面上に位置させたロード状態において測定可能であることを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドの使用状態におけるノイズを好適に検出することができる。
これによれば、磁気ヘッドの使用状態におけるノイズを好適に検出することができる。
また、前記ノイズ検出手段は、前記ノイズを、前記磁気ヘッドを前記記録面上から退避させたアンロード状態において測定可能であることを特徴とする。
これによれば、ロード状態であるか否かに係わらず磁気ヘッドから常時出力されるノイズを、好適に検出することができる。
これによれば、ロード状態であるか否かに係わらず磁気ヘッドから常時出力されるノイズを、好適に検出することができる。
また、前記ノイズ検出手段は、周波数が50MHz以下の前記ノイズを検出することで、前記磁気ヘッドの揺れによって生じるランダムテレグラフノイズを検出可能であることを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッド自身が揺動して発生する、低周波のランダムテレグラフノイズを、好適に検出することができる。
これによれば、磁気ヘッド自身が揺動して発生する、低周波のランダムテレグラフノイズを、好適に検出することができる。
また、前記記録面内に、所定の記録パターンが記録されたノイズ量測定用トラックが形成され、前記ノイズ検出手段は、前記ノイズ量測定用トラック上の前記記録パターンを読み取りつつ前記ノイズの検出を行うことを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドによる読み取り時の出力パターンを任意に設定して、ノイズを測定することができる。
これによれば、磁気ヘッドによる読み取り時の出力パターンを任意に設定して、ノイズを測定することができる。
さらに、前記所定の記録パターンは、全て消磁状態から成る記録パターンであることを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドで記録面を読み取った際の出力レベルが最低の状態でのノイズの発生状態を測定することができる。
これによれば、磁気ヘッドで記録面を読み取った際の出力レベルが最低の状態でのノイズの発生状態を測定することができる。
また、前記ノイズ検出手段は、前記ノイズの量を周波数別に検出可能に設けられていることを特徴とする。
これによれば、ノイズの原因や、磁気ヘッドの劣化の状況や原因を特定することが可能となる。
これによれば、ノイズの原因や、磁気ヘッドの劣化の状況や原因を特定することが可能となる。
また、前記ノイズ検出手段は、前記記録面上の磁化された部分を読み取った際の前記磁気ヘッドの出力と、記録面上の消磁された部分を読み取った際に磁気ヘッドから出力されるノイズとを検出し、前記劣化時処理手段は、前記磁化された部分を読み取った際の前記磁気ヘッドの出力に対して、前記消磁された部分を読み取った際のノイズの量が所定の割合以上に大きい場合に、前記所定の処理を実行することを特徴とする。
これによれば、消磁された部分を読み取った際に、磁化された部分を読み取った際の信号出力に所定の割合以上に近いノイズが発生しているのを、検出することができる。
これによれば、消磁された部分を読み取った際に、磁化された部分を読み取った際の信号出力に所定の割合以上に近いノイズが発生しているのを、検出することができる。
また、前記ノイズ検出手段は、前記記録面上の消磁された部分を読み取った際の磁気ヘッドの出力を検出し、前記劣化時処理手段は、前記消磁された部分を読み取った際の磁気ヘッドの出力が、予め定められた基準値より所定の許容レベル以上に大きい場合に、前記所定の処理を実行することを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドで記録面を読み取った際の出力レベルが最低の状態でのノイズの発生状態を測定することができる。
これによれば、磁気ヘッドで記録面を読み取った際の出力レベルが最低の状態でのノイズの発生状態を測定することができる。
また、前記ノイズ検出手段は、前記磁気ヘッドに印加するセンス電流またはセンス電圧を変化させて、センス電流の電流値またはセンス電圧の電圧値ごとに、前記ノイズを検出可能であることを特徴とする。
これによれば、ノイズの原因や、磁気ヘッドの劣化の状況や原因を特定したり、磁気ヘッドの状態に応じた最適なセンス電流またはセンス電圧を検出することができる。
これによれば、ノイズの原因や、磁気ヘッドの劣化の状況や原因を特定したり、磁気ヘッドの状態に応じた最適なセンス電流またはセンス電圧を検出することができる。
また、前記ノイズ検出手段は、前記磁気ヘッドに直流または交流の所定の電流負荷を掛けつつ、前記ノイズを測定可能であることを特徴とする。
これによれば、これによれば、ノイズの原因や、磁気ヘッドの劣化の状況や原因を特定したりすることができる。
これによれば、これによれば、ノイズの原因や、磁気ヘッドの劣化の状況や原因を特定したりすることができる。
また、前記磁気ヘッドを前記記録面上から退避させたアンロード状態において、磁気ヘッドを加温または冷却する加温/冷却手段を備え、前記ノイズ検出手段は、前記磁気ヘッドを前記加温/冷却手段により加温または冷却しつつ、前記ノイズを測定可能であることを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドの温度に応じたノイズ量を検出したり、磁気ヘッドの温度をノイズ量の少ない温度に設定することが可能となる。
これによれば、磁気ヘッドの温度に応じたノイズ量を検出したり、磁気ヘッドの温度をノイズ量の少ない温度に設定することが可能となる。
また、前記ノイズ検出手段は、前記ノイズの検出を、一定時間ごとに実行することを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドの劣化を定期的に検査して検出することができる。
これによれば、磁気ヘッドの劣化を定期的に検査して検出することができる。
また、前記磁気ヘッドの動作時間を計測するヘッド動作時間計測手段を備え、前記ノイズ検出手段は、前記ノイズの検出を、前記ヘッド動作時間計測手段により計測された前記磁気ヘッドの累積動作時間が一定時間経過する度に実行することを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドの劣化を、磁気ヘッドの動作時間が一定時間経過するごとに検査して検出することができる。
これによれば、磁気ヘッドの劣化を、磁気ヘッドの動作時間が一定時間経過するごとに検査して検出することができる。
また、当該磁気ディスク装置の電源投入時やリセット時等の起動時、または、シャットダウン時等の終了時に、前記ノイズ検出手段による前記ノイズの検出を実行することを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドの劣化を、磁気ディスク装置の起動時または終了時に検査するから、磁気ディスク装置の使用中の動作に影響を与えることなく当該検査を行うことができる。
これによれば、磁気ヘッドの劣化を、磁気ディスク装置の起動時または終了時に検査するから、磁気ディスク装置の使用中の動作に影響を与えることなく当該検査を行うことができる。
本発明に係る磁気ディスク装置によれば、磁気ヘッドの劣化を、磁気ヘッドによる磁気ディスクの記録面のアクセスが正常に行えるうちに、より早期に検出して、必要な処置を正常に行うことができる。
以下、本発明に係る磁気ディスク装置を実施するための最良の形態を説明する。
図1は、本実施の形態に係る磁気ディスク装置Aの構成を示す説明図である。図2は、磁気ディスク2をその板面と平行な方向から見た説明図である。
磁気ディスク装置Aは、磁気媒体から成る記録面b,c,d,e(図2参照)を有し、回転制御可能に設けられた磁気ディスク2と、記録面b,c,d,eに対する情報のアクセス(読み取り)を行うGMRヘッドまたはTMRヘッドの磁気ヘッド4と、磁気ヘッド4を支持するとともに、磁気ヘッド4を磁気ディスク2の径方向へ移動させるアクチュエータ6と、磁気ディスク2の回転制御、アクチュエータ6を介した磁気ヘッド4の移動制御、および、磁気ヘッド4を介した記録面b,c,d,eに対するアクセス制御を行う制御部8と、例えばATAPI等の、外部機器と接続可能な外部インタフェース16とを備える。
図1は、本実施の形態に係る磁気ディスク装置Aの構成を示す説明図である。図2は、磁気ディスク2をその板面と平行な方向から見た説明図である。
磁気ディスク装置Aは、磁気媒体から成る記録面b,c,d,e(図2参照)を有し、回転制御可能に設けられた磁気ディスク2と、記録面b,c,d,eに対する情報のアクセス(読み取り)を行うGMRヘッドまたはTMRヘッドの磁気ヘッド4と、磁気ヘッド4を支持するとともに、磁気ヘッド4を磁気ディスク2の径方向へ移動させるアクチュエータ6と、磁気ディスク2の回転制御、アクチュエータ6を介した磁気ヘッド4の移動制御、および、磁気ヘッド4を介した記録面b,c,d,eに対するアクセス制御を行う制御部8と、例えばATAPI等の、外部機器と接続可能な外部インタフェース16とを備える。
磁気ディスク2は、円板状に形成されて、その表裏面に、磁気ヘッド4により磁化されたり消磁されることで情報が記録される磁気媒体から成る記録面b,c,d,eが形成されている。図2に示すように、磁気ディスク装置Aは磁気ディスク2を二つ備え、二つの磁気ディスク2,2は、所定の間隔をあけて互いに平行となり、中心部において連結されて設けられる。
また、磁気ディスク2は、制御部8により制御されるスピンドルモータ10に連繋されて回転制御可能に設けられる。
また、磁気ディスク2は、制御部8により制御されるスピンドルモータ10に連繋されて回転制御可能に設けられる。
アクチュエータ6は、アクチュエータ軸6eを中心に、記録面b,c,d,eと平行な面内で回動可能に設けられたキャリッジ本体6aと、キャリッジ本体6aから記録面b,c,d,eに沿って平行に延びるアーム6bと、一端がアーム6bに取り付けられ、先端には磁気ヘッド4が取り付けられたサスペンション6cと、キャリッジ本体6aを記録面b,c,d,eと平行な面内で回動させることで、磁気ヘッド4を磁気ディスク2の径方向a(図1参照)に移動させるための、制御部8により制御されるスピンドルモータ6dとから成る。
アーム6bは、両磁気ディスク2を挟んで両側にそれぞれ一つずつと、両磁気ディスク2の間に一つの合計三つが設けられる。
アーム6bに取り付けられたサスペンション6cおよび磁気ヘッド4は、二つの磁気ディスク2の各記録面b,c,d,eごとに対応して設けられる。両磁気ディスク2の間に設けられたアーム6bには、二つの磁気ディスク2,2の対向する記録面c,dのそれぞれに対応する二つ(二組)のサスペンション6c,6cおよび磁気ヘッド4,4が取り付けられる。
アーム6bに取り付けられたサスペンション6cおよび磁気ヘッド4は、二つの磁気ディスク2の各記録面b,c,d,eごとに対応して設けられる。両磁気ディスク2の間に設けられたアーム6bには、二つの磁気ディスク2,2の対向する記録面c,dのそれぞれに対応する二つ(二組)のサスペンション6c,6cおよび磁気ヘッド4,4が取り付けられる。
磁気ヘッド4は、回転された磁気ディスク2の記録面b,c,d,eに接近して記録面b,c,d,eを走査することで、記録面b,c,d,eの磁気媒体に記録されたた磁気の状態を電気信号に変換する。この電気信号はプリアンプ12に入力されて増幅され、制御部8で実現される信号処理手段8aによりデジタル情報として復元される。復元されたデジタル情報は、外部インタフェース16を介して接続された外部機器であるコンピュータCに送信される。
また、磁気ディスク装置Aは、磁気ヘッド4から出力されプリアンプ12で増幅された電気信号に含まれる非線形ノイズを検出するノイズ検出回路14を備える。
また、磁気ディスク装置Aは、磁気ヘッド4から出力されプリアンプ12で増幅された電気信号に含まれる非線形ノイズを検出するノイズ検出回路14を備える。
制御部8は、CPUやその他のLSIや記憶手段8dやタイマ8c等を備え、CPUによりROMに記録されたファームウェアプログラムを実行したり、LSIの機能を実行したりすることにより、磁気ディスク2の回転制御、アクチュエータ6を介した磁気ヘッド4の移動制御、磁気ヘッド4を介した磁気ディスク2の記録面b,c,d,eに対するアクセス制御等を行うことができるとともに、信号処理手段8aや後述するヘッド劣化時処理手段8bを実現可能に設けられる。
(ヘッド劣化時処理手段8b)
ヘッド劣化時処理手段8bは、ノイズ検出手段18(後述)により、磁気ヘッド4からプリアンプ12を介して所定の許容レベル以上の非線形ノイズが検出された場合に、所定の処理を実行する。
所定の処理とは、種々の処理を採用できる。その複数の例を以下に挙げる。これらの「所定の処理」は、必ずしも全てを実現可能に構成する必要はなく、これらのうちの一つまたはいくつかのみを採用してもよい。
ヘッド劣化時処理手段8bは、ノイズ検出手段18(後述)により、磁気ヘッド4からプリアンプ12を介して所定の許容レベル以上の非線形ノイズが検出された場合に、所定の処理を実行する。
所定の処理とは、種々の処理を採用できる。その複数の例を以下に挙げる。これらの「所定の処理」は、必ずしも全てを実現可能に構成する必要はなく、これらのうちの一つまたはいくつかのみを採用してもよい。
ヘッド劣化時処理手段8bは、ノイズ検出手段18により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、磁気ヘッド4の異常を表す信号を外部インタフェース16から外部機器(コンピュータC)に出力する。
これによれば、外部インタフェース16に接続されたコンピュータC等に磁気ヘッド4の異常を通知して、必要な処理等を促すことができる。例えば、コンピュータCに磁気ディスク装置A内のデータを他の記憶媒体に退避させる処理を行わせたり、コンピュータCのディスプレイに磁気ディスク装置Aの異常を通知する表示を行ってユーザに注意を喚起するよう構成するとよい。
これによれば、外部インタフェース16に接続されたコンピュータC等に磁気ヘッド4の異常を通知して、必要な処理等を促すことができる。例えば、コンピュータCに磁気ディスク装置A内のデータを他の記憶媒体に退避させる処理を行わせたり、コンピュータCのディスプレイに磁気ディスク装置Aの異常を通知する表示を行ってユーザに注意を喚起するよう構成するとよい。
また、ヘッド劣化時処理手段8bは、ノイズ検出手段18により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、磁気ヘッド4に印加するセンス電流またはセンス電圧を変化させつつノイズ検出手段18により磁気ヘッド4からのノイズを検出し、そのノイズが最小となるように、記録面b,c,d,eにアクセスする際のセンス電流またはセンス電圧を設定する。
これによれば、磁気ヘッド4から出力されるノイズが最小となるようにセンス電流またはセンス電圧を調節して、劣化が進んだ状態の中でもより適当なセンス電流またはセンス電圧で記録面b,c,d,eへのアクセスが行えるよう調節することができる。
これによれば、磁気ヘッド4から出力されるノイズが最小となるようにセンス電流またはセンス電圧を調節して、劣化が進んだ状態の中でもより適当なセンス電流またはセンス電圧で記録面b,c,d,eへのアクセスが行えるよう調節することができる。
また、ヘッド劣化時処理手段8bは、ノイズ検出手段18により、複数の磁気ヘッド4,4・・の一つから前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、その磁気ヘッド4に対応する記録面(例えば記録面b)に記録された情報を、他の記録面(例えば記録面c)へ退避する処理を行うよう構成する。これによれば、磁気ヘッド4による記録面bへのアクセスが正常に行えるうちに、記録された情報を記録面cへ退避することができる。
また、予め、複数の記録面b,c,d,eのうちの少なくとも一つ(例えば記録面e)を、制御部8による情報のアクセスが行われない予備記録面に設定しておき、ヘッド劣化時処理手段8bは、ノイズ検出手段18により、複数の磁気ヘッド4の一つから前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、記録面eの予備記録面としての設定を解除するとともに、所定の許容レベル以上のノイズが検出された磁気ヘッド4に対応する記録面(例えば記録面b)を新たな予備記録面に設定する。これによれば、磁気ヘッド4による記録面bへのアクセスが正常に行えるうちに、記録された情報の記録面eへの退避を行うことができる。
また、ヘッド劣化時処理手段8bは、ノイズ検出手段18により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、磁気ヘッド4が対応する記録面にアクセスする際の記録密度を変更する処理を行う。例えば、トラックに沿った方向の記録ビット数(BPI ビット・パー・インチ)を低くしたり、トラック間の密度(TPI トラック・パー・インチ)を低くすることで、劣化し始めた磁気ヘッド4でも記録面へのアクセスが正常に行えるようにする。
また、磁気ヘッド4を記録面b,c,d,e上から退避させたアンロード状態(図1において、磁気ヘッド4を、記録面から外れた、磁気ディスク2の外周辺部のアンロードエリア2aに位置させた状態)において、磁気ヘッド4の再着磁を行う、電気磁石からなるヘッド着磁手段20を設け、ヘッド劣化時処理手段8bは、ノイズ検出手段18により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、ヘッド着磁手段20による磁気ヘッド4の再着磁を実行させる。
これによれば、磁気ヘッド4の劣化を検出した際に、磁気ヘッド4の再着磁を行って磁気ヘッド4を再生させることができる。
これによれば、磁気ヘッド4の劣化を検出した際に、磁気ヘッド4の再着磁を行って磁気ヘッド4を再生させることができる。
また、ヘッド劣化時処理手段8bは、ノイズ検出手段18により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、磁気ヘッド4の異常を表す情報を記憶手段8dに記憶させる。
これによれば、磁気ヘッド4からノイズを検出した履歴を記憶手段8dに記憶させておくことができる。この履歴の情報に基づいて、磁気ヘッド4の劣化した過程を調べるなどの処理等が可能となる。
これによれば、磁気ヘッド4からノイズを検出した履歴を記憶手段8dに記憶させておくことができる。この履歴の情報に基づいて、磁気ヘッド4の劣化した過程を調べるなどの処理等が可能となる。
(ノイズ検出手段18)
次に、ノイズ検出手段18の構成について説明する。
ノイズ検出手段18は、ノイズ検出回路14と制御部8とから構成される(図1参照)。
ノイズ検出手段18によるノイズの検出手法は、種々の手法を採用できる。その複数の例を以下に挙げる。これらのノイズの検出手法は、必ずしも全てを実現可能に構成する必要はなく、これらのうちの一つまたはいくつかのみを採用してもよい。
次に、ノイズ検出手段18の構成について説明する。
ノイズ検出手段18は、ノイズ検出回路14と制御部8とから構成される(図1参照)。
ノイズ検出手段18によるノイズの検出手法は、種々の手法を採用できる。その複数の例を以下に挙げる。これらのノイズの検出手法は、必ずしも全てを実現可能に構成する必要はなく、これらのうちの一つまたはいくつかのみを採用してもよい。
ノイズ検出手段18は、制御部8によりアクチュエータ6を制御して磁気ヘッド4を記録面b,c,d,e上に位置させたロード状態において、磁気ヘッド4からプリアンプ12を介してノイズ検出回路14に入力されるノイズを検出することができるよう設けられる。これによれば、磁気ヘッド4の使用状態におけるノイズを好適に検出することができる。
また、ノイズ検出手段18は、制御部8によりアクチュエータ6を制御して磁気ヘッド4を記録面b,c,d,e上から退避させた前記アンロード状態において、磁気ヘッド4からプリアンプ12を介してノイズ検出回路14に入力されるノイズを検出することができるよう設けられる。これによれば、ロード状態であるか否かに係わらず磁気ヘッド4から常時出力されるノイズを、好適に検出することができる。
また、ノイズ検出手段18は、周波数が50MHz以下の前記ノイズを検出することで、磁気ヘッド4の揺れによって生じるランダムテレグラフノイズを検出可能に設けられる。
これによれば、磁気ヘッド4自身が揺動して発生する、低周波のランダムテレグラフノイズを、好適に検出することができる。
これによれば、磁気ヘッド4自身が揺動して発生する、低周波のランダムテレグラフノイズを、好適に検出することができる。
また、記録面b,c,d,e内に、所定の記録パターンが記録されたノイズ量測定用トラックを予め形成しておき、ノイズ検出手段18は、そのノイズ量測定用トラック上の記録パターンを読み取りつつノイズの検出を行うよう構成してもよい。これによれば、磁気ヘッド4による読み取り時の出力パターンを任意に設定して、ノイズを測定することができる。
前記所定の記録パターンの例としては、例えば、全て消磁状態から成る記録パターンを採用できる。これによれば、磁気ヘッド4で記録面b,c,d,eを読み取った際の出力レベルが最低の状態でのノイズの発生状態を測定することができる。
また、所定の記録パターンの他の例としては、所定長の消磁状態の後に正の磁化状態と負の磁化状態とが連続して現れるパターンが繰り返される、いわゆるダイピットパターンを採用してもよい。
前記所定の記録パターンの例としては、例えば、全て消磁状態から成る記録パターンを採用できる。これによれば、磁気ヘッド4で記録面b,c,d,eを読み取った際の出力レベルが最低の状態でのノイズの発生状態を測定することができる。
また、所定の記録パターンの他の例としては、所定長の消磁状態の後に正の磁化状態と負の磁化状態とが連続して現れるパターンが繰り返される、いわゆるダイピットパターンを採用してもよい。
ノイズ検出手段18は、ノイズの量を周波数別に検出可能に設けてもよい。これは、ノイズ検出回路14にスペクトラムアナライザの回路を組み込んだり、ノイズ検出回路14から出力されたノイズ信号を、制御部8により高速フーリエ変換等の計算処理を施すことで周波数ごとに分解するよう構成したりすることで実現できる。これによれば、ノイズの原因や、磁気ヘッドの劣化の状況や原因を特定することが可能となる。
また、ノイズ検出手段18は、記録面b,c,d,e上の磁化された部分を読み取った際の磁気ヘッド4の出力と、記録面b,c,d,e上の消磁された部分を読み取った際に磁気ヘッド4から出力されるノイズとを検出し、ヘッド劣化時処理手段8bは、前記磁化された部分を読み取った際の磁気ヘッド4の出力に対して、前記消磁された部分を読み取った際のノイズの量が所定の割合以上に大きい場合に、所定の処理を実行するよう構成する。
これによれば、消磁された部分を読み取った際に、磁化された部分を読み取った際の信号出力に所定の割合以上に近いノイズが発生しているのを、検出することができる。
これによれば、消磁された部分を読み取った際に、磁化された部分を読み取った際の信号出力に所定の割合以上に近いノイズが発生しているのを、検出することができる。
また、ノイズ検出手段18は、記録面b,c,d,e上の消磁された部分を読み取った際の磁気ヘッド4の出力を検出し、ヘッド劣化時処理手段8bは、前記消磁された部分を読み取った際の磁気ヘッドの出力が、予め定められた基準値より所定の許容レベル以上に大きい場合に、前記所定の処理を実行する。
これによれば、磁気ヘッド4で記録面b,c,d,eを読み取った際の出力レベルが最低の状態でのノイズの発生状態を測定することができる。
これによれば、磁気ヘッド4で記録面b,c,d,eを読み取った際の出力レベルが最低の状態でのノイズの発生状態を測定することができる。
また、ノイズ検出手段18は、磁気ヘッド4に印加するセンス電流またはセンス電圧を変化させて、センス電流の電流値またはセンス電圧の電圧値ごとに、前記ノイズを検出可能に設ける。
これによれば、ノイズの原因や、磁気ヘッドの劣化の状況や原因を特定したり、磁気ヘッド4の状態に応じた最適なセンス電流またはセンス電圧を検出することができる。
これによれば、ノイズの原因や、磁気ヘッドの劣化の状況や原因を特定したり、磁気ヘッド4の状態に応じた最適なセンス電流またはセンス電圧を検出することができる。
また、ノイズ検出手段18は、磁気ヘッド4に直流または交流の所定の電流負荷を掛けつつ、前記ノイズを測定可能に設ける。
これによれば、これによれば、ノイズの原因や、磁気ヘッド4の劣化の状況や原因を特定したりすることができる。
これによれば、これによれば、ノイズの原因や、磁気ヘッド4の劣化の状況や原因を特定したりすることができる。
また、磁気ヘッド4を記録面b,c,d,e上から退避させた前記アンロード状態において、磁気ヘッド4を加温または冷却するヒータやクーラ等の加温/冷却手段22(図1参照)を設け、ノイズ検出手段18は、磁気ヘッド4を加温/冷却手段22により加温または冷却しつつ、前記ノイズを測定可能に設ける。
これによれば、磁気ヘッドの温度に応じたノイズ量を検出したり、磁気ヘッドの温度をノイズ量の少ない温度に設定することが可能となる。
これによれば、磁気ヘッドの温度に応じたノイズ量を検出したり、磁気ヘッドの温度をノイズ量の少ない温度に設定することが可能となる。
また、ノイズ検出手段18は、前記ノイズの検出を、一定時間ごとに実行するよう構成する。これは、制御部8の一定時間ごとにタイムアウトするタイマ8cのタイムアウト割り込みにおける処理で、ノイズの検出処理を行うよう構成することで実現できる。
これによれば、磁気ヘッド4の劣化を定期的に検査して検出することができる。
これによれば、磁気ヘッド4の劣化を定期的に検査して検出することができる。
また、磁気ヘッド4の動作時間を計測するヘッド動作時間計測手段を設け、ノイズ検出手段18は、前記ノイズの検出を、前記ヘッド動作時間計測手段により計測された磁気ヘッド4の累積動作時間が一定時間経過する度に実行するよう設ける。
これによれば、磁気ヘッド4の劣化を、磁気ヘッド4の動作時間が一定時間経過するごとに検査して検出することができる。
これによれば、磁気ヘッド4の劣化を、磁気ヘッド4の動作時間が一定時間経過するごとに検査して検出することができる。
また、制御部8を、磁気ディスク装置Aの電源投入時やリセット時等の起動時、または、シャットダウン時等の終了時に、ノイズ検出手段18による前記ノイズの検出を実行するよう構成する。
これによれば、磁気ヘッド4の劣化を、磁気ディスク装置Aの起動時または終了時に検査するから、磁気ディスク装置Aの使用中の動作に影響を与えることなく当該検査を行うことができる。
(付記1)
磁気媒体から成る記録面を有し、回転制御可能に設けられた磁気ディスクと、前記記録面に対する情報のアクセスを行う磁気ヘッドと、該磁気ヘッドを支持するとともに、磁気ヘッドを前記磁気ディスクの径方向へ移動させるアクチュエータと、前記磁気ディスクの回転制御、前記アクチュエータを介した前記磁気ヘッドの移動制御、および、磁気ヘッドを介した前記記録面に対するアクセス制御を行う制御部とを備えた磁気ディスク装置において、前記磁気ヘッドから出力されるノイズを検出するノイズ検出手段と、該ノイズ検出手段により、所定の許容レベル以上の前記ノイズが検出された場合に、所定の処理を実行するヘッド劣化時処理手段とを備えることを特徴とする磁気ディスク装置。
(付記2)
外部機器と接続可能な外部インタフェースを備え、前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記磁気ヘッドの異常を表す信号を前記外部インタフェースから出力することを特徴とする付記1記載の磁気ディスク装置。
(付記3)
前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記磁気ヘッドに印加するセンス電流またはセンス電圧を変化させつつノイズ検出手段により磁気ヘッドからのノイズを検出し、該ノイズが最小となるように、前記記録面にアクセスする際のセンス電流またはセンス電圧を設定することを特徴とする付記1または2記載の磁気ディスク装置。
(付記4)
前記記録面と当該記録面に対する情報のアクセスを行う前記磁気ヘッドとの組を、複数組備え、前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により、複数の前記磁気ヘッドの一つから前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、当該磁気ヘッドに対応する記録面に記録された情報を、他の記録面へ退避する処理を行うことを特徴とする付記1〜3のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記5)
前記記録面と当該記録面に対する情報のアクセスを行う前記磁気ヘッドとの組を、複数組備え、複数の前記記録面のうちの少なくとも一つが、前記制御部による情報のアクセスが行われない予備記録面に設定され、前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により、複数の前記磁気ヘッドの一つから前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記予備記録面の設定を解除するとともに、所定の許容レベル以上のノイズが検出された磁気ヘッドに対応する記録面を新たな予備記録面に設定することを特徴とする付記1〜4のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記6)
前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記磁気ヘッドが前記記録面にアクセスする際の記録密度を変更する処理を行うことを特徴とする付記1〜5のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記7)
前記磁気ヘッドを前記記録面上から退避させたアンロード状態において、磁気ヘッドの再着磁を行うヘッド着磁手段を備え、前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記ヘッド着磁手段による前記磁気ヘッドの再着磁を実行させることを特徴とする付記1〜6のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記8)
前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記磁気ヘッドの異常を表す情報を記憶手段に記憶させることを特徴とする付記1〜7のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記9)
前記ノイズ検出手段は、前記ノイズを、前記磁気ヘッドを前記記録面上に位置させたロード状態において測定可能であることを特徴とする付記1〜8のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記10)
前記ノイズ検出手段は、前記ノイズを、前記磁気ヘッドを前記記録面上から退避させたアンロード状態において測定可能であることを特徴とする付記1〜9のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記11)
前記ノイズ検出手段は、周波数が50MHz以下の前記ノイズを検出することで、前記磁気ヘッドの揺れによって生じるランダムテレグラフノイズを検出可能であることを特徴とする付記1〜10のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記12)
前記記録面内に、所定の記録パターンが記録されたノイズ量測定用トラックが形成され、前記ノイズ検出手段は、前記ノイズ量測定用トラック上の前記記録パターンを読み取りつつ前記ノイズの検出を行うことを特徴とする付記1〜11のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記13)
前記所定の記録パターンは、全て消磁状態から成る記録パターンであることを特徴とする付記12記載の磁気ディスク装置。
(付記14)
前記ノイズ検出手段は、前記ノイズの量を周波数別に検出可能に設けられていることを特徴とする付記1〜13のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記15)
前記ノイズ検出手段は、前記記録面上の磁化された部分を読み取った際の前記磁気ヘッドの出力と、記録面上の消磁された部分を読み取った際に磁気ヘッドから出力されるノイズとを検出し、前記劣化時処理手段は、前記磁化された部分を読み取った際の前記磁気ヘッドの出力に対して、前記消磁された部分を読み取った際のノイズの量が所定の割合以上に大きい場合に、前記所定の処理を実行することを特徴とする付記1〜14のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記16)
前記ノイズ検出手段は、前記記録面上の消磁された部分を読み取った際の磁気ヘッドの出力を検出し、前記劣化時処理手段は、前記消磁された部分を読み取った際の磁気ヘッドの出力が、予め定められた基準値より所定の許容レベル以上に大きい場合に、前記所定の処理を実行することを特徴とする付記1〜15のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記17)
前記ノイズ検出手段は、前記磁気ヘッドに印加するセンス電流またはセンス電圧を変化させて、センス電流の電流値またはセンス電圧の電圧値ごとに、前記ノイズを検出可能であることを特徴とする付記1〜16のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記18)
前記ノイズ検出手段は、前記磁気ヘッドに直流または交流の所定の電流負荷を掛けつつ、前記ノイズを測定可能であることを特徴とする付記1〜17のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記19)
前記磁気ヘッドを前記記録面上から退避させたアンロード状態において、磁気ヘッドを加温または冷却する加温/冷却手段を備え、前記ノイズ検出手段は、前記磁気ヘッドを前記加温/冷却手段により加温または冷却しつつ、前記ノイズを測定可能であることを特徴とする付記1〜18のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記20)
前記ノイズ検出手段は、前記ノイズの検出を、一定時間ごとに実行することを特徴とする付記1〜19のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記21)
前記磁気ヘッドの動作時間を計測するヘッド動作時間計測手段を備え、前記ノイズ検出手段は、前記ノイズの検出を、前記ヘッド動作時間計測手段により計測された前記磁気ヘッドの累積動作時間が一定時間経過する度に実行することを特徴とする付記1〜20のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記22)
当該磁気ディスク装置の電源投入時やリセット時等の起動時、または、シャットダウン時等の終了時に、前記ノイズ検出手段による前記ノイズの検出を実行することを特徴とする付記1〜21のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
これによれば、磁気ヘッド4の劣化を、磁気ディスク装置Aの起動時または終了時に検査するから、磁気ディスク装置Aの使用中の動作に影響を与えることなく当該検査を行うことができる。
(付記1)
磁気媒体から成る記録面を有し、回転制御可能に設けられた磁気ディスクと、前記記録面に対する情報のアクセスを行う磁気ヘッドと、該磁気ヘッドを支持するとともに、磁気ヘッドを前記磁気ディスクの径方向へ移動させるアクチュエータと、前記磁気ディスクの回転制御、前記アクチュエータを介した前記磁気ヘッドの移動制御、および、磁気ヘッドを介した前記記録面に対するアクセス制御を行う制御部とを備えた磁気ディスク装置において、前記磁気ヘッドから出力されるノイズを検出するノイズ検出手段と、該ノイズ検出手段により、所定の許容レベル以上の前記ノイズが検出された場合に、所定の処理を実行するヘッド劣化時処理手段とを備えることを特徴とする磁気ディスク装置。
(付記2)
外部機器と接続可能な外部インタフェースを備え、前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記磁気ヘッドの異常を表す信号を前記外部インタフェースから出力することを特徴とする付記1記載の磁気ディスク装置。
(付記3)
前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記磁気ヘッドに印加するセンス電流またはセンス電圧を変化させつつノイズ検出手段により磁気ヘッドからのノイズを検出し、該ノイズが最小となるように、前記記録面にアクセスする際のセンス電流またはセンス電圧を設定することを特徴とする付記1または2記載の磁気ディスク装置。
(付記4)
前記記録面と当該記録面に対する情報のアクセスを行う前記磁気ヘッドとの組を、複数組備え、前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により、複数の前記磁気ヘッドの一つから前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、当該磁気ヘッドに対応する記録面に記録された情報を、他の記録面へ退避する処理を行うことを特徴とする付記1〜3のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記5)
前記記録面と当該記録面に対する情報のアクセスを行う前記磁気ヘッドとの組を、複数組備え、複数の前記記録面のうちの少なくとも一つが、前記制御部による情報のアクセスが行われない予備記録面に設定され、前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により、複数の前記磁気ヘッドの一つから前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記予備記録面の設定を解除するとともに、所定の許容レベル以上のノイズが検出された磁気ヘッドに対応する記録面を新たな予備記録面に設定することを特徴とする付記1〜4のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記6)
前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記磁気ヘッドが前記記録面にアクセスする際の記録密度を変更する処理を行うことを特徴とする付記1〜5のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記7)
前記磁気ヘッドを前記記録面上から退避させたアンロード状態において、磁気ヘッドの再着磁を行うヘッド着磁手段を備え、前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記ヘッド着磁手段による前記磁気ヘッドの再着磁を実行させることを特徴とする付記1〜6のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記8)
前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記磁気ヘッドの異常を表す情報を記憶手段に記憶させることを特徴とする付記1〜7のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記9)
前記ノイズ検出手段は、前記ノイズを、前記磁気ヘッドを前記記録面上に位置させたロード状態において測定可能であることを特徴とする付記1〜8のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記10)
前記ノイズ検出手段は、前記ノイズを、前記磁気ヘッドを前記記録面上から退避させたアンロード状態において測定可能であることを特徴とする付記1〜9のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記11)
前記ノイズ検出手段は、周波数が50MHz以下の前記ノイズを検出することで、前記磁気ヘッドの揺れによって生じるランダムテレグラフノイズを検出可能であることを特徴とする付記1〜10のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記12)
前記記録面内に、所定の記録パターンが記録されたノイズ量測定用トラックが形成され、前記ノイズ検出手段は、前記ノイズ量測定用トラック上の前記記録パターンを読み取りつつ前記ノイズの検出を行うことを特徴とする付記1〜11のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記13)
前記所定の記録パターンは、全て消磁状態から成る記録パターンであることを特徴とする付記12記載の磁気ディスク装置。
(付記14)
前記ノイズ検出手段は、前記ノイズの量を周波数別に検出可能に設けられていることを特徴とする付記1〜13のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記15)
前記ノイズ検出手段は、前記記録面上の磁化された部分を読み取った際の前記磁気ヘッドの出力と、記録面上の消磁された部分を読み取った際に磁気ヘッドから出力されるノイズとを検出し、前記劣化時処理手段は、前記磁化された部分を読み取った際の前記磁気ヘッドの出力に対して、前記消磁された部分を読み取った際のノイズの量が所定の割合以上に大きい場合に、前記所定の処理を実行することを特徴とする付記1〜14のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記16)
前記ノイズ検出手段は、前記記録面上の消磁された部分を読み取った際の磁気ヘッドの出力を検出し、前記劣化時処理手段は、前記消磁された部分を読み取った際の磁気ヘッドの出力が、予め定められた基準値より所定の許容レベル以上に大きい場合に、前記所定の処理を実行することを特徴とする付記1〜15のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記17)
前記ノイズ検出手段は、前記磁気ヘッドに印加するセンス電流またはセンス電圧を変化させて、センス電流の電流値またはセンス電圧の電圧値ごとに、前記ノイズを検出可能であることを特徴とする付記1〜16のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記18)
前記ノイズ検出手段は、前記磁気ヘッドに直流または交流の所定の電流負荷を掛けつつ、前記ノイズを測定可能であることを特徴とする付記1〜17のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記19)
前記磁気ヘッドを前記記録面上から退避させたアンロード状態において、磁気ヘッドを加温または冷却する加温/冷却手段を備え、前記ノイズ検出手段は、前記磁気ヘッドを前記加温/冷却手段により加温または冷却しつつ、前記ノイズを測定可能であることを特徴とする付記1〜18のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記20)
前記ノイズ検出手段は、前記ノイズの検出を、一定時間ごとに実行することを特徴とする付記1〜19のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記21)
前記磁気ヘッドの動作時間を計測するヘッド動作時間計測手段を備え、前記ノイズ検出手段は、前記ノイズの検出を、前記ヘッド動作時間計測手段により計測された前記磁気ヘッドの累積動作時間が一定時間経過する度に実行することを特徴とする付記1〜20のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
(付記22)
当該磁気ディスク装置の電源投入時やリセット時等の起動時、または、シャットダウン時等の終了時に、前記ノイズ検出手段による前記ノイズの検出を実行することを特徴とする付記1〜21のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
A 磁気ディスク装置
C コンピュータ(外部機器)
b,c,d,e 記録面
2 磁気ディスク
2a アンロードエリア
4 磁気ヘッド
6 アクチュエータ
8 制御部
8a 信号処理手段
8b ヘッド劣化時処理手段
8c タイマ
8d 記憶手段
10 スピンドルモータ
12 プリアンプ
14 ノイズ検出回路
16 外部インタフェース
18 ノイズ検出手段
20 ヘッド着磁手段
22 加温/冷却手段
C コンピュータ(外部機器)
b,c,d,e 記録面
2 磁気ディスク
2a アンロードエリア
4 磁気ヘッド
6 アクチュエータ
8 制御部
8a 信号処理手段
8b ヘッド劣化時処理手段
8c タイマ
8d 記憶手段
10 スピンドルモータ
12 プリアンプ
14 ノイズ検出回路
16 外部インタフェース
18 ノイズ検出手段
20 ヘッド着磁手段
22 加温/冷却手段
Claims (5)
- 磁気媒体から成る記録面を有し、回転制御可能に設けられた磁気ディスクと、
前記記録面に対する情報のアクセスを行う磁気ヘッドと、
該磁気ヘッドを支持するとともに、磁気ヘッドを前記磁気ディスクの径方向へ移動させるアクチュエータと、
前記磁気ディスクの回転制御、前記アクチュエータを介した前記磁気ヘッドの移動制御、および、磁気ヘッドを介した前記記録面に対するアクセス制御を行う制御部とを備えた磁気ディスク装置において、
前記磁気ヘッドから出力されるノイズを検出するノイズ検出手段と、
該ノイズ検出手段により、所定の許容レベル以上の前記ノイズが検出された場合に、所定の処理を実行するヘッド劣化時処理手段とを備えることを特徴とする磁気ディスク装置。 - 外部機器と接続可能な外部インタフェースを備え、
前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記磁気ヘッドの異常を表す信号を前記外部インタフェースから出力することを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク装置。 - 前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記磁気ヘッドに印加するセンス電流またはセンス電圧を変化させつつノイズ検出手段により磁気ヘッドからのノイズを検出し、該ノイズが最小となるように、前記記録面にアクセスする際のセンス電流またはセンス電圧を設定することを特徴とする請求項1または2記載の磁気ディスク装置。
- 前記記録面と当該記録面に対する情報のアクセスを行う前記磁気ヘッドとの組を、複数組備え、
前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により、複数の前記磁気ヘッドの一つから前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、当該磁気ヘッドに対応する記録面に記録された情報を、他の記録面へ退避する処理を行うことを特徴とする請求項1〜3のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。 - 前記記録面と当該記録面に対する情報のアクセスを行う前記磁気ヘッドとの組を、複数組備え、
複数の前記記録面のうちの少なくとも一つが、前記制御部による情報のアクセスが行われない予備記録面に設定され、
前記ヘッド劣化時処理手段は、前記ノイズ検出手段により、複数の前記磁気ヘッドの一つから前記所定の許容レベル以上のノイズが検出された場合に、前記予備記録面の設定を解除するとともに、所定の許容レベル以上のノイズが検出された磁気ヘッドに対応する記録面を新たな予備記録面に設定することを特徴とする請求項1〜4のうちのいずれか一項記載の磁気ディスク装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8089714B2 (en) | 2009-07-06 | 2012-01-03 | Hitachi High-Technologies Corporation | Deterioration detection method of composite magnetic head and magnetic disk inspection apparatus |
-
2005
- 2005-03-16 JP JP2005075223A patent/JP2006260652A/ja active Pending
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A02 | Decision of refusal |
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