JP2006258781A - 異物検査方法及び異物検査装置 - Google Patents

Abstract

【課題】単一Ｘ線系統を形成する一組のＸ線源とＸ線検出器により、精度良く且つ迅速、確実にしかも効率良く、金属製ナイフである刃物等の平形状の異物を検出し得るようにした異物検査方法及び異物検査装置を提供する。
【解決手段】単一Ｘ線系統を形成するＸ線源３とＸ線検出器６とにより、進行している被検査物１を異なる二方向から撮像する。
【選択図】図１

Description

本発明は異物検査方法及び異物検査装置に関する。

例えば、空港等においては安全を確保するべく、手荷物に収納されている折り畳み式ナイフのような金属製の刃物等の異物を検出するために、従来からＸ線を用いた手荷物検査が行なわれており、その装置の一例は図１４に示されている。図１４中、１はベルトコンベヤのような搬送手段２により搬送される鞄、スーツケース等の手荷物である被検査物、３は搬送手段２の上方に配置されて、搬送手段２により搬送されている被検査物１中に、金属製のナイフ等の平形状の異物５ａ，５ｂが収納されていないか検査するためにＸ線４を拡散照射するＸ線源、６はＸ線源３から照射されて被検査物１及び搬送手段２を透過したＸ線４を受光するシンチレータ付ライセンサーのようなＸ線検出器である。

上記従来例では、搬送手段２により搬送される被検査物１がＸ線源３の下方を通過する際に、Ｘ線源３から約３５度の角度でＸ線４が拡散照射される。而して、被検査物１を透過したＸ線４は、Ｘ線検出器６により検出されて図示してない画像処理装置へ与えられる。従って、被検査物１内に異物５ａ，５ｂがある場合には、当該異物５ａ，５ｂが画像として表示され、異物かどうか判定される。又、Ｘ線４は異物５ａの面に対して照射されるため、異物５ａは検出できるが、異物５ｂは、Ｘ線４の照射方向が異物５ｂの面と平行となり、画像が線状となって検出し難い場合もあるため、この場合には、一度Ｘ線検査した後に被検査物１を９０度反転させて起し、再度Ｘ線検査をする場合もある。

Ｘ線を用いて異物を検出するようにした装置としては特許文献１、２がある。特許文献１では、被検査物を搬送するベルトコンベヤに、金属検出機とＸ線検査装置とを設け、金属検出機及びＸ線検査装置の検査結果を異物特定部に入力し、両検査結果に基いて被検査物内に含まれている異物を特定するようにしている。

特許文献２は、ビン入り粉末製品の生産ライン上において、ビンの中のガラス異物を検査する際に、側面と平面の二次元夫々に、Ｘ線発生器とシンチレータ付ライセンサーを配し、死角をなくして撮像を行なうようにしている。
特開２００３−２９４８５２号公報 実用新案登録第３０７９２０６号公報

図１４に示す従来装置においては、被検査物１内の異物５ａが水平に横たわる場合は、Ｘ線４が照射される面積が広いため、容易且つ確実に検出可能であるが、異物５ｂが長手方向を上下方向として収納されている場合は、Ｘ線は異物５ｂの面と平行に照射されるため、検出された画像が小さくて殆ど検出できず、従って、異物と判定されない場合があり、異物検出の信頼性が悪い、という問題がある。又、被検査物１を９０度反転させて起し、再度Ｘ線検査を行なうのは、空港のような混雑した場所では、煩雑且つ非効率的で実用的ではない。

特許文献１の場合は、金属検出機とＸ線検査機を用いているため、金属製のナイフ等の刃物である異物の検出精度は向上するが、金属検出機とＸ線検査機が必要であるため、設備費、運転維持費が高価となる。

特許文献２の場合は、被検査物に対し、側面からと上方からの二次元方向からＸ線の照射を行なっているため、図１４に示す従来装置に比べて異物の検出精度は向上するが、Ｘ線発生器とシンチレータ付ライセンサーを二組ずつ設けているため、この場合も、特許文献１の場合と同様、設備費、運転維持費が高価となる。

本発明は、上記実情に鑑み、単一Ｘ線系統を形成するＸ線源とＸ線検出器により、精度良く且つ迅速、確実にしかも効率良く、金属製ナイフである刃物等の平形状の異物を検出し得るようにした異物検査方法及び異物検査装置を提供することを目的としてなしたものである。

本発明の異物検査方法は、単一Ｘ線系統を形成するＸ線源とＸ線検出器とにより、所定方向から被検査物を撮像する工程と、前記Ｘ線源とＸ線検出器を移動させて前記撮像方向とは異なる方向から前記被検査物を撮像する工程を行なうものである。

本発明の異物検査方法においては、被検査物は進行しており、又、本発明の異物検査方法においては、被検査物進行方向下流側から上流側へＸ線を照射して、被検査物を撮像する工程と、被検査物進行方向上流側から下流側へＸ線を照射して被検査物を撮像する工程とを行なうものであり、又、本発明の異物検査方法においては、被検査物内の撮像される異物は刃物であり、更に、本発明の異物検査方法では、Ｘ線源及びＸ線検出器により当初の方向とは異なる方向から前記被検査物を撮像する工程を行なう際に、被検査物の向きをＸ線に対し所定の角度回転させるようにしている。

本発明の異物検査装置は、単一Ｘ線系統を形成するＸ線源とＸ線検出器とを備え、Ｘ線源とＸ線検出器とは、異なる位置において被検査物を撮像し得るよう移動可能に構成されており、又、本発明の異物検査装置では、被検査物を搬送するための搬送手段を備えている。

本発明においては、搬送装置により搬送されている被検査物に所定の方向からＸ線が照射されて被検査物の内容物が撮像され、次に、前記撮像方向とは異なる方向からＸ線が照射されて被検査物の内容物が撮像される。

本発明の請求項１〜７記載の異物検査方法及び異物検査装置によれば、単一Ｘ線系統を形成しているＸ線源とＸ線検出器により、進行している被検査物を異なる複数方向から撮像するようにしているため、被検査物内での収納のされ方により一方向から撮像しただけでは死角が生じて撮像し難い検査対象物を、死角を無くして精度良く且つ迅速、確実にしかも効率良く、撮像することができ、従って、検査の信頼性が向上し、又、Ｘ線源及びＸ線検出器は一組で良いためコストダウンを図ることができる、等種々の優れた効果を奏し得る。

以下、本発明の実施の形態を添付図面を参照して説明する。
図１〜図４は本発明の異物検査方法及び異物検査装置の実施の形態の一例であって、図中、図１４と同一の符号を付した部分は同一物を表わし、基本的な構成は図に示す従来のものと同様である。而して、本図示例においては、従来装置と同様、ベルトコンベヤのような搬送手段２により搬送される鞄、スーツケース等の被検査物１を検査するために搬送手段２上方にＸ線源３を、又、搬送手段２の下方にＸ線検出器６を備えている点は、図１４の装置と同様であるが、Ｘ線源３は搬送手段２の被検査物進行方向Ｄと平行な方向へ延在する垂直面に対し回動し得るようになっている。更に、Ｘ線検出器６はＸ線源３と同様に、搬送手段２の被検査物進行方向Ｄと平行な方向へ延在する垂直面に対し回動し得るようになっているうえ、搬送手段２の被検査物進行方向Ｄと平行な方向へ往復移動し得るようになっている。

すなわち、例えば、Ｘ線源３は、搬送手段２の幅方向Ｗ両端部に設けた水平ピン７を介しブラケット８に対し回動自在に枢支されており、回動は図示してないが所定の駆動装置により行なうようになっている。具体的には、例えば、水平ピン７にセクタギヤを設けると共に、該セクタギヤを電動機の出力軸に取付けたピニオンに噛合させておき、電動機を駆動することにより、Ｘ線源３の回動を行なうようになっていたり、或は、流体圧シリンダにより回動させるようになっている。

搬送手段２の搬送面の下方には、Ｘ線源３よりも搬送手段２の被検査物進行方向Ｄ上流側所要位置から下流側所要位置まで延在する案内枠９が敷設されており、案内枠９上には、案内枠９に沿って、搬送手段２の被検査物進行方向Ｄと平行な方向へ往復移動可能な支持台車１０が搭載されており、支持台車１０上に固設したブラケット１１には、水平ピン１２を介して、Ｘ線検出器６が回動可能に枢支されている。支持台車１０の案内枠９に対する往復動は、例えば、支持台車１０に搭載した電動機等により回転可能に設けたピニオンを支持台車１０に沿い設けたラックに噛合させることにより行なうようになっていたり、或は、流体圧シリンダにより行なうようになっている。

なお、図中、１３はＸ線検出器６により検出した電気信号を処理して異物の有無を判断する画像処理装置、１４は画像処理部１３で処理して得られた画像を表示する画像モニター、１５ａ，１５ｂ，１５ｃは被検査物１内にある金属製のナイフ等の刃物である平形状の異物である。又、Ｘ線検出器６は支持台車１０に搭載されて案内枠９を往復動するため、Ｘ線検出器６と画像処理部１３とは可撓性ケーブルにより接続されている。

次に本図示例の作動について説明する。
Ｘ線検査を行なう場合、第一段階の検査においては、例えば、Ｘ線源３を水平ピン７を基準として回動させて、そのＸ線照射部３ａを、搬送手段２の被検査物進行方向Ｄに対し上流側に向けて斜め下方へ向くよう、設定する（図１、図２参照）。

一方、Ｘ線検出器６を、Ｘ線源３よりも被検査物進行方向Ｄ上流側において案内枠９の被検査物進行方向Ｄ上流側端部の近傍に位置させ、Ｘ線検出器６を水平ピン１２を基準として回動させて、そのＸ線受光部６ａを、搬送手段２の被検査物進行方向Ｄに対し下流側に向かせると共に、搬送手段２の上方に配置されたＸ線源３に向けて斜め上方へ向くよう、設定する（図１、図２参照）。このため、Ｘ線源３のＸ線照射部３ａと、Ｘ線検出器６のＸ線受光部６ａとは、距離を置いて対向した状態になる。而して、斯かる状態で第一段階の検査が行なわれる。

第一段階の検査においては、Ｘ線源３のＸ線照射部３ａから、搬送手段２により搬送されている被検査物１の被検査物進行方向Ｄに対し反対方向へ、斜め下方へ向けてＸ線４が照射され、搬送手段２により搬送されている被検査物１に照射されたＸ線４は、Ｘ線検出器６のＸ線受光部６ａにより受光されて画像処理部１３に与えられ、画像処理部１３では、所定の処理が行われて、Ｘ線の透過状態による信号の強弱により、金属製のナイフのような異物１５ａ，１５ｂ，１５ｃの有無が判定され、異物１５ａ，１５ｂ，１５ｃがある場合には、画像モニター１４に表示される。

例えば、被検査物１が搬送手段２に搬送されてＸ線源の直下部若しくはその近傍に達したら、Ｘ線源３を水平ピン７を基準として回動させて、そのＸ線照射部３ａを、搬送手段２の被検査物進行方向Ｄに対し下流側に向けて斜め下方へ向くよう、設定する（図３、図４参照）。又、Ｘ線検出器６が搭載されている支持台車１０を案内枠９に沿って搬送手段２の被検査物進行方向Ｄへ移動させ、Ｘ線源３の直下部若しくはその近傍に達したら、Ｘ線検出器６を水平ピン１２を基準として回動させて、そのＸ線受光部６ａを、搬送手段２の被検査物進行方向Ｄに対し上流側に向けて斜め上方へ向くよう、設定する（図３、図４参照）。このため、Ｘ線源３のＸ線照射部３ａと、Ｘ線検出器６のＸ線受光部６ａとは、距離を置いて対向した状態になる。而して、斯かる状態で第二段階の検査が行なわれる。

第二段階の検査においては、Ｘ線源３のＸ線照射部３ａから、搬送手段２により搬送されている被検査物１の被検査物進行方向Ｄへ斜め下方へ向けてＸ線４が照射され、搬送手段２により搬送されている被検査物１に照射されたＸ線４は、Ｘ線検出器６のＸ線受光部６ａにより受光されて画像処理部１３に与えられ、画像処理部１３では、所定の処理が行われて、Ｘ線の透過状態による信号の強弱により、金属製のナイフのような異物１５ａ，１５ｂ，１５ｃの有無が判定され、異物１５ａ，１５ｂ，１５ｃがある場合には、画像モニター１４に表示される。

次に、異物１５ａ，１５ｂ，１５ｃの判定の仕方について、図５（ａ）（ｂ）（ｃ）（ｄ）、図６（ａ）（ｂ）（ｃ）（ｄ）、図７（ａ）（ｂ）（ｃ）（ｄ）をも参照しつつ詳述する。
なお、以下の説明においては、図５（ａ）〜（ｄ）、図６（ａ）〜（ｄ）、図７（ａ）〜（ｄ）中、異物１５ａ，１５ｂ，１５ｃは、幅Ｗａ，Ｗｂ，Ｗｃとし、長さはＬａ，Ｌｂ，Ｌｃとし、厚さはｔａ，ｔｂ，ｔｃとし、又、第一段階の検査で照射されるＸ線は４−１とし、第一段階の検査で得られる異物１５ａの画像１６ａの幅はＷｇａ、長さはＬｇａとし、異物１５ｂの画像１６ｂの幅はＷｇｂとし、異物１５ｃの画像１６ｃの幅はＷｇｃ、長さはＬｇｃとする。

更に、第二段階の検査で照射されるＸ線は４−２とし、第二段階の検査で得られる異物１５ａの画像１６ａ’の幅はＷｇａ’、長さはＬｇａ’とし、異物１５ｂの画像１６ｂ’の幅はＷｇｂ’、長さはＬｇｂ’とし、異物１５ｃの画像１６ｃ’の幅はＷｇｃ’とする。

第一段階の検査において、例えば、図１、図５（ａ）、図５（ｂ）に示すように、異物１５ａの幅Ｗａが搬送手段２の幅方向Ｗへ向くと共に、異物１５ａが略直立している場合に、図５（ａ）に示すように、Ｘ線４−１が被検査物１の被検査物進行方向Ｄ下流側から上流側へ向けて、すなわち、図５（ａ）の右上方から左下方へ向けて照射されると、図５（ｃ）に示すように、画像１６ａの幅Ｗｇａは、異物１５ａの幅Ｗａに対応した幅となり、且つ、画像１６ａの長さＬｇａは、異物１５ａが投影された状態の長さに対応した長さＬｇａとなる。而して、画像１６ａの面積は所定の大きさとなるため、この場合には、画像１６ａは異物であると判定することができる。

図１、図６（ａ）、図６（ｂ）に示すように、異物１５ｂの幅Ｗｂが搬送手段２の幅方向Ｗへ向くと共に、異物１５ｂが被検査物進行方向Ｄ下流側から上流側へ向けて下り傾斜の状態になっている場合に、図６（ａ）に示すように、Ｘ線４−１が被検査物１の被検査物進行方向Ｄ下流側から上流側へ向けて、すなわち、図６（ａ）の右上方から左下方へ向けて照射されると、図６（ｃ）に示すように、画像１６ｂの幅Ｗｇｂは、異物１５ｂの幅Ｗｂに対応した幅となり、且つ、Ｘ線４−１は異物１５ｂの面と平行な方向へ照射されているため、投影された状態の画像１６ｂは長さを殆ど表示されず、異物１５ｂの厚さｔｂに対応した状態となる。従って、この画像１６ｂは線状となり、その面積は所定の面積よりも小さくなるため、画像１６ｂが異物であると判定することは困難である。

図１、図７（ａ）、図７（ｂ）に示すように、異物１５ｃの幅Ｗｃが搬送手段２の幅方向Ｗへ向くと共に、異物１５ｃが被検査物進行方向Ｄ上流側から下流側へ向けて下り傾斜の状態になっている場合は、図７（ａ）に示すように、Ｘ線４−１が被検査物１の被検査物進行方向Ｄ下流側から上流側へ向けて、すなわち、図７（ａ）の右上方から左下方へ向けて照射されると、図７（ｃ）に示すように、画像１６ｃの幅Ｗｇｃは、異物１５ｃの幅Ｗｃに対応した幅となり、且つ、投影された状態の画像１６ｃの長さＬｇｃは、異物１５ｃが投影された状態の長さに対応した状態となる。而して、画像１６ｃの面積は所定の大きさとなるため、画像１６ｃは異物であると判定することができる。

第二段階の検査において、例えば、図３、図５（ａ）、図５（ｂ）に示すように、異物１５ａの幅Ｗａが搬送手段２の幅方向Ｗへ向くと共に、略直立している場合に、図５（ａ）に示すように、Ｘ線４−２が被検査物１の被検査物進行方向Ｄ上流側から下流側へ向けて、すなわち、図５（ａ）の左上方から右下方へ向けて照射されると、図５（ｄ）に示すように、画像１６ａの幅Ｗｇａ’は、異物１５ａの幅Ｗａに対応した幅となり、且つ、画像１６ａ’の長さＬｇａ’は、異物１５ａが投影された状態の長さに対応した長さＬｇａ’となる。而して、画像１６ａ’の面積は所定の大きさとなるため、この場合には、画像１６ａ’は異物であると判定することができる。従って、異物１５ａは第一段階の検査でも、第二段階の検査でも異物であると判定できる。

図３、図６（ａ）、図６（ｂ）に示すように、異物１５ｂの幅Ｗｂが搬送手段２の幅方向Ｗへ向くと共に、異物１５ｂが被検査物進行方向Ｄ下流側から上流側へ向けて下り傾斜の状態になっている場合に、図６（ａ）に示すように、Ｘ線４−２が被検査物１の被検査物進行方向Ｄ上流側から下流側へ向けて、すなわち、図６（ａ）の左上方から右下方へ向けて照射されると、図６（ｄ）に示すように、画像１６ｂ’の幅Ｗｇｂ’は、異物１５ｂの幅Ｗｂに対応した幅となり、且つ、画像１６ｂ’の長さＬｇｂ’は、異物１５ｂが投影された状態の長さに対応した長さとなる。而して、画像１６ｂ’の面積は所定の大きさとなるため、画像１６ｂ’は異物１５ｂであると判定することができる。

従って、異物１５ｂが図１や図６（ａ）のようなポジションの場合は、第一段階の検査により得られた線状の画像１６ｂからは、画像１６ｂは異物であると判定するのが困難であるが、第二段階の検査により得られた所定面積の画像１６ｂ’により異物であると判定することができる。

図３、図７（ａ）、図７（ｂ）に示すように、異物１５ｃの幅Ｗｃが搬送手段２の幅方向Ｗへ向くと共に、異物１５ｃが被検査物進行方向Ｄ上流側から下流側へ向けて下り傾斜の状態になっている場合に、図７（ａ）に示すように、Ｘ線４−２が被検査物１の被検査物進行方向Ｄ上流側から下流側へ向けて、すなわち、図７（ａ）の左上方から右下方へ向けて照射されると、Ｘ線４−２の照射方向は、異物１５ｃの面と平行であるため、投影された状態の画像１６ｃ’は長さを殆ど表示されず、異物１５ｃの厚さｔｃに対応した長さの線状態となる。従って、この画像１６ｃ’は線状の面積は所定の面積よりも小さくなるため、画像１６ｃ’が異物１５ｃであると判定することは困難である。

しかし、第一段階の検査において、異物１５ｃについて得られた画像１６ｃは所定面積を有するため、異物であると判定することができる。

本図示例によれば、単一Ｘ線系統を形成する一組のＸ線源３とＸ線検出器６により、進行している被検査物１を異なる二方向から撮像するようにしているため、被検査物１内での収納のされ方により一方向から撮像しただけでは死角が生じて検出し難い異物を、死角を無くして精度良く且つ迅速、確実にしかも効率良く、撮像することができ、検査の信頼性が向上する。又、Ｘ線源３及びＸ線検出器６は一組で良いためコストダウンを図ることができる。

図８〜図１０（ａ）（ｂ）は本発明の異物検査方法の他の例である。本例においては、原則的には異物検査装置は図１に示すものと同一であり、図中、図１に示すものと同一のものには同一の符号が付してある。但し、図８においては、図１等に示すＸ線検出器６は省略してある。

而して、本図示例の特徴とするところは、第一段階で被検査物１のＸ線検査は前記図示例と同一であるが、第二段階で被検査物１のＸ線検査を行なう際には、作業員が手により、或は、駆動装置等の機械的手段により、被検査物１を水平方向へ９０度回転させるようにした点である。

図８において、被検査物１が紙面の左側にある状態が第一段階の検査時の状態を示し、被検査物１が紙面の右側にある状態が第二段階の検査の状態を示している。Ｘ線源３のＸ線照射部３ａが図８の紙面において、第一段階の検査時の向きである左斜め下方へ向いている状態から、第二段階の検査時の向きである右斜め下方へ向くタイミングは、被検査物１がＸ線源３の真下若しくはその近傍に来た場合である。又、図８における被検査物１のＡ，Ｂは被検査物１の対向する上縁部を示している。

斯かる検査方法で被検査物１の検査を行なった場合の検査結果について、図９（ａ）（ｂ）、図１０（ａ）（ｂ）により説明する。図９（ａ）の１７は金属製のナイフ等の異物で、該異物１７は被検査物１内に、長手方向が被検査物進行方向Ｄと平行な方向へ向くと共に、厚さ方向が搬送手段２の幅方向Ｗへ向いた状態で収納されている。而して、この状態の場合、第一段階の検査で得られる異物１７の画像１８は、図９（ｂ）に示すように、搬送手段２の幅方向Ｗの長さが、異物１７の幅に対応し、被検査物進行方向Ｄの長さが、異物１８の投影された長さに対応した長さとなる。従って、画像１８は線状となる。

第二段階の検査の際には、図１０（ａ）に示すように、異物１７は被検査物１内に、長手方向が搬送手段２の幅方向Ｗ方向へ向くと共に、厚さ方向が被検査物進行方向Ｄへ向いた状態で収納されている。而して、この状態の場合、第二段階の検査で得られる異物１７の画像１８は、図１０（ｂ）に示すように、搬送手段２の幅方向Ｗの長さが、異物１７の長さに対応し、被検査物進行方向Ｄの長さが、投影された異物１７の幅に対応した長さとなる。従って、画像１８は面積となり、画像１８は容易にナイフ等の異物と判断される。

図８においては、検査の第二段階で被検査物１を水平方向へ９０度回転させているが、回転させない場合について、異物の検出はどうなるかを、図１１〜図１３（ａ）（ｂ）により説明する。

図１１において、被検査物１が紙面の左側にある状態が第一段階の検査時の状態を示し、被検査物１が紙面の右側にある状態が第二段階の検査時の状態を示している。Ｘ線源３のＸ線照射部３ａが図１１の紙面において、第一段階の検査時の向きである左斜め下方へ向いている状態から、第二段階の検査時の向きである右斜め下方へ向くタイミングは、被検査物１がＸ線源３の真下若しくはその近傍に来た場合である。又、図１１における被検査物１のＡ，Ｂは被検査物１の対向する上縁部を示している。

斯かる検査方法で被検査物１の検査を行なった場合の検査結果について、図１２（ａ）（ｂ）、図１３（ａ）（ｂ）により説明する。図中、図９（ａ）（ｂ）、図１０（ａ）（ｂ）と同一の符号のものは同一のものを示す。図１２（ａ）に示すように、異物１７は被検査物１内に、長手方向が被検査物進行方向Ｄと平行な方向へ向くと共に、厚さ方向が搬送手段２の幅方向Ｗへ向いた状態で収納されている。而して、この状態の場合、第一段階の検査で得られる異物１７の画像１８は、図１２（ｂ）に示すように、搬送手段２の幅方向Ｗの長さが、異物１７の幅に対応し、被検査物進行方向Ｄの長さが、異物１８の投影された長さに対応した長さとなる。従って、画像１８は線状となる。

第二段階の検査の際には、図１３（ａ）に示すように、被検査物１の向きは第一段階の検査時と同じであるため、異物１７は被検査物１内に、長手方向が被検査物進行方向Ｄと平行な方向へ向くと共に、厚さ方向が搬送手段２の幅方向Ｗへ向いた状態で収納されている。而して、この状態の場合、第二段階の検査で得られる異物１７の画像１８は、図１３（ｂ）に示すように、搬送手段２の幅方向Ｗの長さが、異物１７の幅に対応し、被検査物進行方向Ｄの長さが、異物１８の投影された長さに対応した長さとなる。従って、画像１８は線状となり、画像１８を異物と判断することが困難となる場合がある。

従って、図８に示すように第二段階の検査時に被検査物１を水平方向へ略９０度回転させるようにすることで、図９（ｂ）に示すごとく、第一段階の検査においては、線状の画像１８となる異物１７も第二段階の検査においては、面積のある画像１８となるため、図９（ａ）に示すごとく、長手方向が被検査物進行方向Ｄと平行な方向へ向き、厚さが搬送手段２の幅方向Ｗへ向いている異物１７も第二段階の検査により、迅速且つ確実にしかも精度良く、撮像することができ、従って、検査の信頼性が向上する。

なお、本発明の異物検査方法及び異物検査装置においては、異なる二方向から被検査物の撮像を行なう場合について説明したが、複数なら何方向から撮像するようにしても実施可能なこと、異物が金属製のナイフ等の刃物である場合について説明したが、刃物以外の異物に対しても適用可能なこと、その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。

本発明の異物検査方法及び異物検査装置の実施の形態の一例を示し、第一段階のＸ線検査を行なう場合の斜視図である。 画像処理部及び画像モニターを除いた図１の側面図である。 本発明の異物検査方法及び異物検査装置の実施の形態の一例を示し、第二段階のＸ線検査を行なう場合の斜視図である。 画像処理部及び画像モニターを除いた図２の側面図である。 図５（ａ）は異物が直立した状態を示す側面図であり、図５（ｂ）は図５（ａ）に示す異物の平面図であり、図５（ｃ）は図５（ａ）に示す異物に被検査物進行方向下流側から上流側へ向けて斜め下方へＸ線を照射して得られた画像の投影図であり、図５（ｄ）は図５（ａ）に示す異物に被検査物進行方向上流側から下流側へ向けて斜め下方へＸ線を照射して得られた画像の投影図である。 図６（ａ）は異物が被検査物進行方向下流側から上流側に向けて下り傾斜状態になっている側面図であり、図６（ｂ）は図６（ａ）に示す異物の平面図であり、図６（ｃ）は図６（ａ）に示す異物に被検査物搬送方向下流側から上流側へ向けて斜め下方へＸ線を照射して得られた画像の投影図であり、図６（ｄ）は図６（ａ）に示す異物に被検査物進行方向上流側から下流側へ向けて斜め下方へＸ線を照射して得られた画像の投影図である。 図７（ａ）は異物が被検査物進行方向上流側から下流側に向けて下り傾斜状態になっている側面図であり、図７（ｂ）は図７（ａ）に示す異物の平面図であり、図７（ｃ）は図７（ａ）に示す異物に被検査物進行方向下流側から上流側へ向けて斜め下方へＸ線を照射して得られた画像の投影図であり、図７（ｄ）は図７（ａ）に示す異物に被検査物搬送方向上流側から下流側へ向けて斜め下方へＸ線を照射して得られた画像の投影図である。 図１に示す装置により行なう、本発明の異物検査方法の実施の形態の他の例を示す側面図である。 図８の異物検査方法における第一段階の検査の異物及び画像の状態を示す図で、図９（ａ）は異物の平面図、図９（ｂ）は画像の投影図を示す。 図８の異物検査方法における第二段階の検査の異物及び画像の状態を示す図で、図１０（ａ）は異物の平面図、図１０（ｂ）は画像の投影図を示す。 図１に示す装置により異物検査方法を行なう際に、図８に示すごとく、第二段階の検査で被検査物を水平方向へ略９０度回転させなかった場合の例を示す側面図である。 図１１の異物検査方法における第一段階の検査の異物及び画像の状態を示す図で、図１２（ａ）は異物の平面図、図１２（ｂ）は画像の投影図を示す。 図１１の異物検査方法における第二段階の異物及び画像の状態を示す図で、図１３（ａ）は異物の平面図、図１３（ｂ）は画像の投影図を示す。 従来の異物検査方法及び異物検査装置の一例を説明するための斜視図である。

符号の説明

１ 被検査物
２ 搬送手段
３ Ｘ線源
６ Ｘ線検出器
１５ａ 異物（刃物）
１５ｂ 異物（刃物）
１５ｃ 異物（刃物）
１７ 異物（刃物）
Ｄ 被検査物進行方向

Claims (7)

1. 単一Ｘ線系統を形成するＸ線源とＸ線検出器とにより、所定方向から被検査物を撮像する工程と、前記Ｘ線源とＸ線検出器を移動させて前記撮像方向とは異なる方向から前記被検査物を撮像する工程を行なうことを特徴とする異物検査方法。
2. 被検査物は進行している請求項１記載の異物検査方法。
3. 被検査物進行方向下流側から上流側へＸ線を照射して、被検査物を撮像する工程と、被検査物進行方向上流側から下流側へＸ線を照射して被検査物を撮像する工程とを行なう請求項１又は２記載の異物検査方法。
4. 被検査物内の撮像される異物は刃物である請求項１乃至３の何れかに記載の異物検査方法。
5. Ｘ線源及びＸ線検出器により当初の方向とは異なる方向から前記被検査物を撮像する工程を行なう際に、被検査物の向きをＸ線に対し所定角度回転させる請求項１乃至４の何れかに記載の異物検査方法。
6. 単一Ｘ線系統を形成するＸ線源とＸ線検出器とを備え、Ｘ線源とＸ線検出器とは、異なる位置において被検査物を撮像し得るよう移動可能に構成されていることを特徴とする異物検査装置。
7. 被検査物を搬送するための搬送手段を備えている請求項６記載の異物検査装置。

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