JP2006155883A - ヘッド位置決め制御方法及びヘッド位置決め制御装置 - Google Patents

ヘッド位置決め制御方法及びヘッド位置決め制御装置 Download PDF

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Abstract

【課題】 ディスク媒体を読み取るヘッドを、所定位置に位置決めするためのヘッド位置決め方法及び装置に関し、ヘッドの感度分布の非線型特性を補正する。
【解決手段】 ディスク媒体(6)と、ヘッド(4)と、アクチュエータ(3)と、制御回路(19)とを有するディスク装置において、ヘッドの出力からの復調位置を復調する復調部(20)と、復調位置と目標位置との誤差を演算する演算器(21)と、誤差をゲインで補正するゲイン補正部(22)とを設ける。ゲイン補正部(22)は、ヘッド(4)からのPosN,PosQのゼロ点を中心とし、ヘッド(4)をオフセットして、各オフセット位置で測定した位置ゲインから、目標位置の剰余に対応する位置ゲインで、誤差を補正する。相対位置の位置ゲインを用いるため、各オフセット位置でヘッドの感度分布の非線型特性を補正した正確な位置誤差を検出できる。
【選択図】図4

Description

本発明は、ディスク装置のヘッドを目標位置に位置決めする位置決め制御方法及び装置に関し、特に、ヘッドの非線型検出特性を補償するための位置決め制御方法及び装置に関する。
ヘッドにより、ディスク記憶媒体を読み取るディスク装置は、広く利用されている。例えば、コンピュータの記憶装置として、利用されている磁気ディスクドライブは、磁気ディスクと、磁気ディスクを回転するスピンドルモータと、磁気ディスクをリード/ライトする磁気ヘッドと、磁気ディスクのトラックに磁気ヘッドを位置つけるVCMアクチュエータとを備えている。このディスクドライブの記録密度が飛躍的に増大しており、磁気ディスクのトラック密度が増加している。特に、磁気ヘッドに、MRヘッドを用いたことにより、高密度化が可能となっている。このため、高精度の位置決めを高速に行うことが必要となる。
コンピュータから記録・再生コマンドを受けると、ディスクドライブは、磁気ヘッドを現在位置から目標位置に移動する。これをシーク動作という。このシーク動作は、コアース制御後、整定制御を経て、フォローイング制御に移行する動作である。
目標位置に移動する及び目標位置でフォローイングする制御のため、フィードバック制御が使用される。フィードバック制御は、ヘッドの現在位置を検出し、目標位置と現在位置との位置誤差を計算し、位置誤差がなくなるように、ヘッドのアクチュエータを制御するものである。
ヘッドの現在位置を検出するため、ディスクには、位置情報が記録されている。ヘッドは、ディスクの位置情報を読み出し、読みだした位置情報から現在位置を求める。そして、目標位置と現在位置との位置誤差を計算する。ディスク装置では、ヘッドが読みだした位置信号から現在位置を復調するため、ヘッドの検出特性が、かかる現在位置の検出精度に影響する。このため、この検出特性を補正することが必要となる。
図22は、従来技術のフィードバック制御系の構成図である。磁気ディスクの位置情報(サーボ情報)は、トラック番号と、サーボ(バーストサーボ)信号で構成される。サーボ信号は、例えば、90度ずれた4相のサーボ信号で構成される。磁気ヘッドが読み取った位置情報は、復調回路により復調され、トラック番号と、オフセット信号が得られる。オフセット信号は、前述のサーボ信号の振幅から得られるものであり、その大きさは、そのトラック番号のトラック中心からの位置ずれ量に比例している。
このオフセット信号の大きさは、磁気ヘッドの特性及びトラック位置に応じて、出力レベルがバラツク。このため、このバラツキを補正して、オフセット信号の値を、実際のトラック単位の値に変換する必要がある。この方法として、磁気ヘッド及びトラック位置毎のゲイン(ポジション感度と呼ばれている)を設定し、ヘッド及びトラック位置で対応するゲインを参照し、ゲインにより復調オフセット値を補正するものが知られている(例えば、特許文献1)。
この方法では、ヘッドの検出感度が、トラックの幅内で、一様であることを仮定している。しかし、トラック幅が狭くなると、ヘッドのコア幅により、ヘッドの検出感度が同一トラック内で一様とみなせない。特に、MRヘッド、GMRヘッドには、その傾向が強い。このため、復調オフセット値を、トラック単位のオフセット位置に正確に変換できない。この誤差は、フィードバック制御系のループゲインの変動をもたらし、位置決め精度が低下する。
このヘッドの非線型特性を補正する第1の方法が、提案されている(例えば、特許文献2)。即ち、図22に示すように、ヘッド、トラック位置、及びオフセット位置毎の変換ゲイン(ポジション感度と呼ばれている)を格納する補正テーブル90を設ける。そして、復調されたオフセット値により、補正テーブル90を参照し、対応する補正ゲインを得る。例えば、図24に示すように、補正テーブル90は、絶対位置で示されたオフセット位置(Real Position)毎(例えば、0.05トラック毎)の補正ゲインGainを格納する。
乗算器91により、復調オフセット値に、この補正ゲインを乗算して、デコードされたオフセット位置を得る。このゲインが適正であれば、図25の点線に示すように、デコードオフセット位置は、真のオフセット位置を示す。更に、このオフセット位置と、トラック番号とを加算器92で加算して、現在位置を得る。そして、演算器93で、現在位置から目標位置を差し引き、位置誤差を計算する。位置誤差は、サーボ制御部94に入力する。サーボ制御部94は、前述のように、位置誤差の値に応じて、コアース制御、整定制御、フォローイング制御のいずれかの制御を行い、制御量を出力する。この制御量により、図示しないヘッドのアクチュエータが駆動され、ヘッドが目標位置(目標トラック)に位置決めされる。
一方、図23に示す第2の非線型補正方法も知られている(例えば、特許文献3)。図24では、コントローラ94のループゲイン97を変更できるようにしている。そして、測定回路98で、トラック中心からの各オフセット位置における復調回路(位置検出回路)96のゲインを測定し、記憶しておく。そして、復調した現在位置により測定回路98のゲインを参照し、コントローラ94のゲイン97を制御する。
この方法では、位置誤差は、補正されないが、コントローラ94のゲインを制御することにより、ヘッド出力の非線型特性による制御系のループゲインの変動を抑え、オフセット位置でも、安定な位置決めを行うものである。
特開平8ー195044号公報 特開平10ー222942号公報 特開平8ー249844号公報
しかしながら、従来技術では、次の問題があった。
(1) 第1の非線型補正方法では、補正テーブル90の正確な補正ゲイン(補正カーブ)を得ることが難しい。即ち、補正ゲインは、絶対的な位置を基準として求める必要がある。このため、STW(サーボトラックライタ)で、絶対的な位置に対する補正ゲインを測定している。しかし、STWでの測定値は、各ドライブ(装置)における最適値とは限らない。即ち、復調回路の固体差や設定値により、検出感度が変化する。このため、STWで測定した補正ゲインを用いても、図26の実線のように、デコード位置と実際の位置との関係がずれ、個々のドライブにおいて、正確なオフセット位置に補正できないという問題があった。
(2) 又、ヘッドの検出感度が永久に変化しない保証はなく、ヘッドのコア先端の磨耗や、MR素子の特性変化により、検出感度が変化する。この理由でも、STWで測定した補正ゲインを用いても、個々のドライブにおいて、正確なオフセット位置に補正できないという問題があった。これを解決するためには、ドライブ自身で、補正ゲインを測定する必要があるが、ドライブは、ヘッド感度分布の影響により、歪んだ位置を用いて、位置決め制御しているため、歪んだ位置を用いて、正確な絶対位置を求めるのは、困難であり、ドライブが、絶対位置に対する補正カーブを測定することができないという問題があった。
(3) 第2の非線型補正方法では、非線型補正をループゲインの制御により行うため、制御系は、非線型特性の影響を受けず、位置決め精度の低下を防止できる。しかし、正確な位置誤差を得ることができない。このため、位置誤差からリード/ライト許可を発生する場合に、正確な、リード/ライトタイミングが得られない。例えば、20%程度の誤差がある。このため、リード/ライトの開始が遅れ、コマンドを受けてからリード/ライトを開始するまでの時間が長くなり、性能が低下する。
(4) 又、第2の非線型補正方法では、正確な位置誤差を求めないため、コントローラ94に適用できる制御系は、リードラグフィルタ等やPID制御系のフィルタに限られる。例えば、正確な位置誤差を必要とするオブザーバー制御系は、コントローラ94に適用できないという問題があった。
本発明の目的は、ヘッドの非線型特性を補正して、正確な位置誤差を検出するためのヘッド位置決め制御方法及び装置を提供するにある。
本発明の他の目的は、装置自身で測定した補正ゲインを用いても、正確な位置誤差を検出するためのヘッド位置決め制御方法及び装置を提供するにある。
本発明の更に他の目的は、リード又はリード/ライトの開始時点を正確に検出するためのヘッド位置決め制御方法及び装置を提供するにある。
本発明の更に他の目的は、ヘッドの非線型特性を補正しても、コントローラの制御系が限られないヘッド位置決め制御方法及び装置を提供するにある。
この目的の達成のため、本発明のディスク装置のヘッド位置決め制御方法の一態様は、再生素子と記録素子とが分離された前記ヘッドからの前記ディスクの位置情報からPosN及びPosQを得て、位置情報を復調するステップと、前記復調位置と目標位置との位置誤差を算出するステップと、前記位置誤差を、前記目標位置でのトラック中心からのオフセットに応じて、一意に定める位置ゲインを補正するステップと、前記補正された位置誤差に応じて、前記ヘッドを駆動するアクチュエータの制御量を算出するステップと、前記補正された位置誤差により、前記ヘッドのリード又はライトの少なくとも一方の許可を発生するステップと、前記ヘッドの位置信号から、前記PosQ又はPosNがゼロとなる位置を前記トラック中心と検出し、前記検出したトラック中心を基準に、前記ヘッドの位置をオフセットして、各オフセット位置で測定した前記再生素子の感度分布に依存した各位置ゲインを測定するステップとを有し、前記補正ステップは、前記測定した位置ゲインから前記目標位置の剰余に対応する位置ゲインで、前記位置誤差を補正するステップからなる。
又、本発明のディスク装置のヘッド位置決め制御装置の一態様では、再生素子と記録素子とが分離された前記ヘッドからの前記ディスクの位置信号からPosN及びPosQを得て、位置情報を復調する復調回路と、前記復調位置と目標位置との位置誤差を所定の位置ゲインで補正して、前記アクチュエータの制御量を計算する制御回路とを有し、前記制御回路は、前記ヘッドの位置信号から、前記PosQ又はPosNがゼロとなる位置を前記トラック中心と検出し、前記検出したトラック中心を基準に、前記ヘッドの位置をオフセットして、各オフセット位置で測定した前記再生素子の感度分布に依存した各位置ゲインを測定し、前記測定した位置ゲインから前記目標位置の剰余に対応する位置ゲインで、前記位置誤差を補正して、前記補正された位置誤差に応じて、前記ヘッドを駆動するアクチュエータの制御量を算出するとともに、前記補正された位置誤差により、前記ヘッドのリード又はライトの少なくとも一方の許可を発生する。
この本発明の態様では、第1に、絶対位置を使わず、歪んだ位置を使って補正する。このためには、ヘッドのオフセット量と位置ゲインとを分離する必要がある。即ち、従来の第1の非線型補正方法では、STWの絶対位置を基準にし、そこからのオフセット値(絶対位置)を求める必要がある系であり、オフセットとゲインは分離できなかった。これに対し、本発明では、復調オフセット値と目標位置との位置誤差に対するゲインを使用している。即ち、目標位置に対し、相対的なオフセット値に対しゲインを設定している。これにより、絶対位置を使用しなくてよく、相対位置によるため、歪んだ位置を使用しても、正確に位置誤差を得ることができる。
第2に、従来の第2の非線型補正方法でも、オフセットとゲインは分離されているが、ループゲインを補正するものであるため、正確な位置誤差が得られない。本発明では、正確な位置誤差を得ることができるため、正確に、リード/ライト開始を検出できる。又、コントローラの制御系に、オブザーバー制御等を用いることができる。
本発明の他の態様のヘッド位置決め制御方法は、前記補正ステップは、シーク制御中は、一意の位置ゲインで前記位置誤差を補正するステップと、フォローイング制御中は、前記目標位置の剰余に対応する位置ゲインで前記位置誤差を補正するステップとからなる。
この態様では、フォローイング中に位置ゲインでの補正を行い、シーク中は、ゲイン補正を行わないようにしている。位置ゲインをオフセット位置毎に設定した場合に、シーク制御中は、連続移動するため、目標位置により参照された位置ゲインは、移動中での適正ゲインを示さない。このため、位置ゲインにより、シーク制御が円滑に行われない。これを防止するため、シーク中は、位置ゲインでの補正を禁止する。
本発明の別の態様のヘッド位置決め制御方法は、前記復調ステップは、前記位置情報のオフセット信号を、前記位置情報のトラック番号で定める感度ゲインで補正するステップを有する。
この態様は、復調時の位相サーボ信号によるオフセット位置の連続性を得るため、感度ゲインで補正するものである。
本発明の更に別の態様のヘッド位置決め制御方法は、正弦波を加え、前記オフセット位置を変化させ、回転同期成分を除去した位置誤差を測定し、測定した位置誤差から各オフセット位置での位置ゲインの値を測定するステップを有する。
又、本発明の更に別の態様のヘッド位置決め制御装置は、前記制御回路は、正弦波を加え、前記オフセット位置を変化させ、回転同期成分を除去した位置誤差を測定し、測定した位置誤差から各オフセット位置での位置ゲインの値を測定する。
この態様では、第1に、装置自身が位置ゲインの測定を行う。このため、装置、ヘッド個々の特性に応じた、位置ゲインを得ることができる。第2に、正弦波外乱を加えて測定するため、位置ゲイン(傾き)を、装置自身が容易に測定することができる。
以上説明したように、本発明によれば、次の効果を奏する。
(1) 復調オフセット値と目標位置との位置誤差に対するゲインを使用するため、絶対位置を使用しなくてよく、相対位置によるため、歪んだ位置を使用しても、正確な位置誤差を得ることができる。
(2) 又、正確な位置誤差を得ることができるため、正確に、リード/ライト開始を検出できる。又、コントローラの制御系に、オブザーバー制御等を用いることができる。
以下、本発明を、ディスク装置、位置決め制御系、ゲイン測定処理、実施例、他の実施の形態に分けて、説明する。
・・ディスク装置・・
図1は、本発明の一実施の態様のディスク装置の上面図、図2は、そのディスク装置の断面図である。この例では、ディスク装置として、ハードディスク装置を例にしてある。
図1及び図2に示すように、磁気ディスク6は、基板(円板)に磁気記録層を設けて構成される。磁気ディスク6は、2.5インチの大きさであり、ドライブ内に、3枚設けられている。スピンドルモータ5は、磁気ディスク6を支持し、且つ回転する。磁気ヘッド4は、アクチュエータに設けられている。アクチュエータは、回転型VCM(ボイスコイルモータ)3と、アーム8と、フレクチャー(サスペンション)9を有する。フレクチャー9の先端に、磁気ヘッド4が取り付けられている。
磁気ヘッド4は、磁気ディスク6のデータを読み取り、データを書き込む。磁気ヘッド4は、MR素子(再生素子)と、ライト素子とを有する。アクチュエータ3は、磁気ヘッド4を磁気ディスク6の所望のトラックに位置付ける。アクチュエータ3及びスピンドルモータ5は、ドライブベース2に設けられる。カバー1は、ドライブベース2を覆い、ドライブ内部を外部から隔離する。プリント板7は、ドライブベース2の下に設けられ、ドライブの制御回路を搭載する。コネクタ10は、ドライブベース2の下に設けられ、制御回路と外部とを接続する。このドライブは、小型であり、横、90mm、縦、63mm、幅、10mm 程度である。従って、ノートパソコンの内蔵ディスクとして使用される。
図3は、プリント板7及びドライブ内に設けられた制御回路のブロック図である。HDC(ハードディスクコントローラ)18は、ホストCPUの各種コマンドの授受、データの授受等のホストCPUとのインターフェース制御及び磁気ディスク媒体上の記録再生フォーマットを制御するための磁気ディスク装置内部の制御信号の発生等を行う。バッファ17は、ホストCPUよりのライトデータの一時的な記憶及び磁気ディスク媒体よりのリードデータの一時的な記憶に使用される。
MCU(マイクロコントローラ)19は、マイクロプロセッサ(MPU)、メモリ、DAコンバータ、ADコンバータ等で構成されている。MCU(以下、MPUという)19は、磁気ヘッドの位置決めのためのサーボ制御(位置決め制御)等を行う。MPU19は、メモリに記憶されたプログラムを実行して、サーボ復調回路16よりの位置信号を認識し、位置決めのためのアクチュエータ3のVCM制御電流の制御値を計算する。更に、MPU19は、SPM駆動回路14の駆動電流の制御を行う。
VCM駆動回路13は、VCM(ボイスコイルモータ)3に駆動電流を流すためのパワーアンプで構成される。SPM駆動回路14は、磁気ディスクを回転するスピンドルモータ(SPM)5に駆動電流を流すためのパワーアンプで構成される。
リードチャネル15は、記録再生を行うための回路である。リードチャネル15は、ホストCPUよりのライトデータを磁気ディスク媒体6に記録するための変調回路、パラレルシリアル変換回路、磁気ディスク媒体6よりデータを再生するための復調回路、シリアルパラレル変換回路等を有する。サーボ復調回路16は、図6にて後述するように、磁気ディスク媒体6に記録されたサーボパターン(図5にて後述する)を復調する回路であり、MPU19に位置信号を出力する。
尚、図示されていないが、ドライブHDA内には、磁気ヘッド4に記録電流を供給するライトアンプと、磁気ヘッド4よりの再生電圧を増幅するプリアンプとを内蔵したヘッドICが設けられている。
ここでは、ディスク装置として、磁気ディスク装置を例に説明しているが、DVD、MO等の光ディスク装置等を用いても良く、リード/ライト可能な装置で示しているが、リードオンリーの装置(再生装置)を用いても良い。
・・位置決め制御系・・
次に、MPU19が実行する位置決め制御系について説明する。
図4は、位置決め制御系のブロック図、図5は、磁気ディスクのサーボパターンの説明図、図6は、図4のサーボ復調回路のブロック図、図7は、図4のMPU19の機能ブロック図、図8は、図7のPOSN、POSQの説明図、図9は、図7のPOSGAINテーブルの説明図、図10及び図11は、POSSnSテーブルの説明図、図12は、図7のゲイン切り換えの説明図である。
図4に示すように、位置決め制御系は、MPU19と、VCM3と、磁気ヘッド15と、サーボ復調回路16とで構成されている。磁気ヘッド15のMRヘッドは、磁気ディスク6のサーボパターンを読みだす。磁気ディスク6は、セクターサーボ方式により、セクター毎に、サーボパターンが書き込まれている。
このサーボパターンは、図5に示すように、サーボマークと、トラック番号と、4つのバーストサーボ信号PosA、PosB、PosC、PosDで構成されている。サーボマークは、サーボパターンの先頭を示す。トラック番号は、トラックのアドレスを示す。4つのバーストサーボ信号PosA、PosB、PosC、PosDは、2分の1トラック単位に記録されたパターンであり、トラック中心からのオフセット位置を示すために、使用される。
図4のサーボ復調回路16を、図6により説明する。プリアンプ30は、MRヘッド15の読み取り信号を増幅する。AGC(自動ゲイン制御)回路31は、読み取り信号のゲインを調整して、読み取り信号の振幅を一定に制御する。サーボマーク検出回路32は、読み取り信号から図5で示したサーボマークを検出する。
ゲート信号生成回路33は、サーボマークの検出に応じて、クロックに同期した各検出器34〜38のゲート信号を生成する。トラック番号検出器34は、ゲート信号に応じて、図5のトラック番号を検出し、トラック番号を出力する。PosA検出器35は、図5のバーストサーボ信号PosAを検出して、その振幅をPosAとして出力する。
PosB検出器36は、図5のバーストサーボ信号PosBを検出して、その振幅をPosBとして出力する。PosC検出器37は、図5のバーストサーボ信号PosCを検出して、その振幅をPosCとして出力する。PosD検出器38は、図5のバーストサーボ信号PosDを検出して、その振幅をPosDとして出力する。
図4に戻り、MPU19は、位置復調部20と、誤差演算器21と、ゲイン補正部22と、コントローラ23とを有する。この各部は、MPU19の機能をブロック化したものである。
コントローラ23は、位置誤差に応じて制御量を算出する周知のサーボコントローラである。サーボコントローラ23は、位置誤差に応じて、コアース制御、整定制御、フォロイング制御を実行する。コアース制御は、目標位置への速度制御である。コアース制御は、速度制御、PD制御、又は定常バイアス推定を含まないオブザーバ制御等により構成されている。図12に示すように、コアース制御は、加速、定速、減速と、制御モードを切り替える。この加速モードは、電流を流し、速度を速くする制御である。定速モードは、電流を「0」にして、速度を一定速度に保つ制御である。減速モードは、電流を加速時とは反対方向に流し、速度を目標位置付近でゼロに近くする制御である。距離が小さい場合には、定速モードは含まれない。
フォロイング制御は、磁気ヘッドを目標位置に追従する制御である。フォロイング制御は、PID制御、PI×LeadLag、定常バイアス推定を含むオブザーバ制御等で構成される。整定制御は、コアース制御とフォロイング制御とのつなぎを行うための制御モードである。整定制御では、制御系に積分要素を含む。
図4の位置復調部20は、図7にて後述するように、サーボ復調回路16からのトラック番号、PosA、PosB、PosC、PosDから復調位置を算出する。誤差演算器21は、目標位置rから復調位置yを差し引き、補正前の位置誤差を計算する。ゲイン補正部22は、図7にて後述するように、補正前の位置誤差を、補正ゲインで補正して、補正された位置誤差を出力する。補正された位置誤差は、コントローラ23に入力される。
図7は、MPU19の位置復調部20、誤差演算器21、ゲイン補正部22の詳細ブロック図である。位置復調部20は、PosN演算器40、PosQ演算器41、N/Q選択、補正部42、PosSnsテーブル43、乗算器44、加算器45から成る。
PosN演算器40は、PosAからPosBを差し引き、PosN信号を計算する。PosQ演算器41は、PosCからPosDを差し引き、PosQ信号を計算する。これにより、図8に示すように、周知の90度位相のずれた2相のPosN、PosQのサーボ信号が得られる。
PosN、PosQの直線部分を用いて、オフセット位置を得るために、N/Q選択・補正部42が設けられている。選択・補正部42は、PosQ、PosNの絶対値abs(PosQ)、abs(PosN)を比較する。abs(PosQ)≧abs(PosN)なら、PosNを選択する。逆なら、PosQを選択する。即ち、選択・補正部42は、abs(PosQ)≧abs(PosN)なら、N=ーsgn(PosQ)・PosNを出力し、逆なら、Q=sgn(PosN)・PosQを出力する。尚、sgnは、符号を意味する。
更に、選択・補正部42は、トラック番号Trackが奇数トラックか偶数トラックかを判定し、奇数トラックなら、even(Track)を「ー1」とし、偶数トラックなら、even(Track)を「+1」とする。そして、PosNを選択した場合に、〔sgn(PosQ)・even(Track)〕>0.0の場合には、sgn(PosQ)・sgn(PosN)・1.0を出力する。この値は、±1.0である。それ以外は、「0」を出力する。又、PosQを選択した場合には、even(Track)・0.5を出力する。
PosSnsテーブル43は、PosNとPosQとを1/2トラック単位で交互に使用するため、その切り換え時の段差をなくすための感度ゲインを格納する。この感度ゲインは、各トラック、ヘッド毎に設けられている。この感度ゲインは、図10に示すように、PosNとPosQを交互に使用しても、実位置に対し、復調位置(検出位置)が連続するように、設定される。図11に示すように、この感度ゲインを設定しない場合には、PosNとPosQを交互に使用すると、実位置に対し、検出位置が、連続にならず、PosNとPosQの切り換え位置で、段差が生じる。
乗算器44は、選択・補正部42の出力N又はQに、感度ゲインPosSnsTable(Head,Track) を乗算する。加算器45は、トラック番号と乗算器44の出力と、選択・補正部42の「0」、「±0.5」、「±1.0」の出力とを加算して、復調位置yを計算する。
従って、PosN、PosQから得られる復調位置yは、C言語プログラムで記述すれば、次の式で表現される。
if(abs(Pos N) ≦abs(PosN), sgn(PosQ)・even(Track) >0.0)
{ y=-sgn(PosQ)・PosSnsTable(Head,Track) ・PosN+Track
+sgn(PosQ) ・sgn(PosN) ・1.0 }
if(abs(Pos N) ≦abs(PosN), sgn(PosQ)・even(Track) ≦0.0)
{ y=-sgn(PosQ)・PosSnsTable(Head,Track) ・PosN+Track }
if(abs(Pos N) >abs(PosN))
{ y=sgn(PosN) ・PosSnsTable(Head,Track) ・PosQ+Track
+even(Track) ・0.5 }
誤差演算器21は、復調位置yから目標位置rを差し引き、補正前の位置誤差を出力する。ゲイン補正部22は、剰余計算部50と、PosGainテーブル52と、乗算器53と、位置誤差判定器54と、切り換え器55とから構成されている。
PosGainテーブル52は、目標位置からのオフセットに対する位置誤差に対する位置ゲインを格納している。即ち、2分の1トラック単位で、サーボパターンが記録されている上述の例では、目標位置が、PosN及びPosQの0中心からずれ量の各々に対し、位置ゲインが設定されている。図9に示すように、この位置ゲインは、復調位置(検出位置、検出電圧)と絶対位置との関係を、図の実線のような関係から、図の点線のような直線比例関係に補正するように、設定される。
剰余計算器50は、前述の目標位置Target PosのPosN及びPosQの0中心からずれ量を計算するものである。即ち、0.5トラック単位で、次の剰余Xmodを計算する。
Xmod=mod((Target Pos +0.25),0.5)ー0.25
PosGainテーブル52は、ヘッド番号とこのずれ量(剰余)によって、アクセスされ、対応する位置ゲインを出力する。乗算器53は、誤差演算器21の位置誤差に、位置ゲインを乗算する。これにより、補正された位置誤差が得られる。
切り換え器55は、コントローラ23へ出力する位置誤差を、補正前の位置誤差と、補正後の位置誤差とから選択する。位置誤差判定器54は、切り換え器55の位置誤差が、リード条件のトラック数以内か、ライト条件のトラック数以内かを判定し、リード許可、ライト許可を発行する。又、位置誤差判定器54は、切り換え器55を、位置誤差に応じて切り替える。
この切り換えの意味について、図12により説明する。前述のように、コントローラ23は、位置誤差に応じて、コアース制御、整定制御、フォロイング制御を切り換えて実行する。コアース制御は、速度制御であり、トラックを移動する。この時、位置ゲインが、前述のずれ量に応じて選択された場合には、トラック移動中のため、位置ゲインは、正しいゲインを示していない。これにより、位置誤差が過度に増幅され、コアース制御を円滑に行うことができない。これを防止するため、コアース制御中は、位置ゲインを「1」に固定する。このため、コアース制御中は、切り換え器55が、補正前の位置誤差を選択する。
図12の例では、位置誤差判定器54が、位置誤差が、整定制御中のある位置誤差の範囲に入った時に、切り換え器55を、補正前の位置誤差から補正後の位置誤差に切り換える。これにより、位置誤差を補正する段階を、必要なフォロイング制御に限ることができ、コアース制御への悪影響を防止できる。
このように、位置ゲインを、目標位置からの相対ずれ量に対して設定し、目標位置と復調位置との位置誤差を位置ゲインにより補正するため、歪んだ位置を使用しても、ヘッドの非線型特性を補正した正確な位置誤差を得ることができる。
このため、装置、ヘッド個々の特性に応じた、非線型補正が可能となる。又、相対位置のため、装置自体で補正ゲインの測定が可能となる。更に、位置誤差を補正しているため、正確な位置誤差に補正ができ、正確なリード/ライト開始時点を検出することができる。その上、正確な位置誤差が得られるため、コントローラの制御系が限定されない。特に、オブサーバー制御を用いたものに、好適である。
・・ゲイン測定処理・・
前述のように、相対位置を用いているため、装置自身で、位置ゲインを測定することができる。このための有効なゲイン測定方法を、図13乃至図15により、説明する。
図13は、本発明の一実施の形態のゲイン測定ブロック図、図14は、その繰り返しコントローラのブロック図、図15は、本発明の一実施の形態のゲイン測定処理フロー図である。
図13のシステムは、PosN又はPosQの「0」の地点を中心にして、位置オフセットを与える。そして、その場所のループゲインを測定することにより、ヘッドの感度分布に依存した位置ゲインの測定を行うものである。
そのために、波形発生器24を設け、正弦波外乱を発生する。加算器25により、誤差演算器21の目標位置rと復調位置yとの位置誤差に、正弦波外乱を加える。これをコントローラ23に入力し、アクチュエータ3の制御量を出力する。尚、この場合の位置ゲインは、「1」に固定しておく。
そして、外乱を加える前後の信号の正弦波外乱の周波数成分を取り出し、振幅を比較する信号分析器27を設ける。信号分析器27は、加算器25の前後の信号の正弦波外乱の周波数成分を取り出し、振幅を比較する。この信号分析器27は、デジタルフーリエ変換(DFT)が適している。
ここで、微小領域のゲインを測定するためには、正弦波の外乱の振幅を小さくする必要がある。元々、位置決め精度は、±0.07〜0.1トラック程度であるため、更に、正弦波の外乱を加えると、位置揺れの振幅が大きくなり、広い範囲のゲインを測定してしまうことになり、微小領域のゲインの測定が困難となる。
このため、ループゲインを直接測定するため、繰り返し制御を行う繰り返しコントローラ26を設ける。繰り返し制御は、位置誤差の回転同期成分(RRO)を除去するための制御手法である。繰り返しコントローラ26は、図14に示すように、遅延器(1/z)55〜59を、磁気ディスクの1周分のセクタ数だけ設けている。この遅延器55〜59で、加算器60で位置誤差の値を加算しながら、回転同期成分RROを除去する最適な補正電流を作成する。そして、図のスイッチSW3をオフすると、遅延器55〜59には、最適な補正電流が保持され、その値は更新されない。
最初に、遅延器55〜59を全て「0」に初期化する。次に、現在の位置誤差を、1周前の遅延器の値(遅延器59の出力)に、加算器60で加算する。この加算値は、演算器25の位置誤差を遅延する複数の遅延器50、51の値に、ゲイン乗算器52〜54でゲインを掛け、加算器61で加算して、作成する。
図の例では、過去3セクタ分の位置誤差の値に、ゲインを掛けて、加算して、加算値を作成している。ゲインは、FIRフィルタの設計手法に従う。即ち、低域通過フィルタを構成する。
即ち、1周前の位置誤差に、今回の位置誤差を加算することにより、回転同期成分を除去するための補正電流(FF電流)を生成できる。又、ここでは、位置誤差を使用しているが、繰り返し制御系としては、補正電流を加算して、遅延器に格納する方法も適用できる。
この後、オフセット位置を微小に変化させながら、オフセット毎のループゲインを測定する。図17に従い、測定処理を説明する。
(S1)目標位置rを、測定位置に設定して、目標位置に移動する。
(S2)スイッチSW1をオフ、スイッチSW2をオン、スイッチSW3をオンして、繰り返しコントローラ26を動作して、最適なFF電流を生成する。
(S3)指定時間停止後、スイッチSW1をオフ、スイッチSW2をオフ、スイッチSW3をオンして、FF電流の更新を停止し、FF電流のみを供給する。
(S4)目標位置rを、オフセット値分ずらし、アクチュエータ3をオフセット分移動する。
(S5)スイッチSW1をオン、スイッチSW2をオフ、スイッチSW3をオンして、波形発生器24から正弦波外乱を、加算器25に加える。
(S6)信号解析器27に、加算器25の入力と出力、即ち、正弦波加算前後の波形を入力する。信号解析器27は、DFTを行い、正弦波の周波数成分を抽出し、両入力の振幅の比を計算する。
(S7)この比(測定結果)を、ヘッド番号、オフセット位置とともに、テーブル52に保存する。
(S8)目標位置での各オフセット位置での測定が終了したかを判定する。終了していないと、オフセット値を変え、ステップS4に戻る。終了していれば、その目標位置のオフセット位置でのゲイン測定を終了する。
又、通常の位置制御では、PosNとPosQとの境界では、PosNとPosQとを切り換えて利用するが、この測定においては、切り替わらないように、一方のものに固定すると、精度を向上できる。
このようにして、正弦波外乱を加え、ゲインを測定できる。又、繰り返し制御を導入し、回転同期成分を位置誤差から除去するため、正確なゲインを測定できる。
又、位置決め精度に応じて、正弦波外乱の振幅を増減してもよい。即ち、位置決め精度を測定し、位置決め精度に比例した正弦波外乱振幅を与えてもよい。
・・実施例・・
次に、実験結果を示す。図16は、本発明によるゲイン補正する前の位置決め精度(NRPE)を示し、図17は、ゲイン補正前の位置誤差の周波数スペクトラムを示す図である。
図16に示すように、各オフセット位置で、ゲインを一定にした場合に、位置決め精度は、バラツキ、低下する。尚、位置決め精度は、本発明の補正による位置決め精度で正規化してある。又、図17に示すように、ゲインが高いため、650Hz付近で、パワーが持ち上がっている。これは、ヘッド感度分布の影響で、オフセット位置毎に、ループゲインが異なるため、位置決め精度が低下することを示す。
図18は、本発明による測定及び補正方法による補正ゲインと、ゲイン補正後の位置決め精度(NRPE)を示し、図19は、ゲイン補正後の位置誤差の周波数スペクトラムを示す図である。
図18に示すように、各オフセット位置で、最適ゲインを設定したことにより、位置決め精度は、変化しない。つまり、ループゲインが正しく補正できていることを示す。又、図19に示すように、ゲインが最適のため、650Hz付近で、パワーの持ち上がりが解消されている。
次に、測定時の繰り返し制御の効果を説明する。図20は、本発明の繰り返し制御を行い、FF電流を生成した後の位置誤差を周波数スペクトラムであり、図21は、繰り返し制御を行わず、FF電流を生成した後の位置誤差を周波数スペクトラムである。
図20と図21の比較から判るように、図20の場合には、位置誤差から回転同期成分が除去されていることが判る。
・・他の実施の形態・・
上述の実施の態様の他に、本発明は、次のような変形が可能である。
(1) ゲインの測定時に、ディスク装置製造時に、測定した位置ゲインのテーブルを読み出し、製造時と測定時とのゲインの変化率が予め定めた範囲外であるかを判定し、変化率が大きい時は、ヘッドが不良であると判断し、ヘッド交換を指示する。
(2) 位置ゲインテーブルの保存時に、位置決め精度も保存しておく。通常の制御時に、位置決め精度を測定し、保存した位置決め精度と比較し、位置決め精度が悪い時は、前述のヘッド感度分布の測定を行う。
以上、本発明を実施の形態により説明したが、本発明の主旨の範囲内で種々の変形が可能であり、これらを本発明の範囲から排除するものではない。
本発明の一実施の形態のディスク装置の上面図である。 図1のディスク装置の断面図である。 図1のディスク装置のブロック図である。 本発明の一実施の形態の位置決め制御のブロック図である。 図4のサーボパターンの説明図である。 図4のサーボ復調回路のブロック図である。 図4のMPUの機能ブロック図である。 図7のPOSN、POSQの説明図である。 図7のPOSGAINテーブルの説明図である。 図7のPOSSnSテーブルの構成図である。 図7のPOSSnSテーブルの説明図である。 図7のゲイン切替えの説明図である。 本発明の一実施の形態のゲイン測定ブロック図である。 図13の繰り返しコントローラのブロック図である。 図13のゲイン測定処理フロー図である。 本発明の効果を説明するための従来の位置決め精度の説明図である。 本発明の効果を説明するための従来の位置誤差の周波数スペクトラム説明図である。 本発明による位置決め精度の説明図である。 本発明による位置誤差の周波数スペクトラム説明図である。 本発明による繰り返し制御による位置誤差の説明図である。 従来の繰り返し制御を用いない場合の位置誤差の説明図である。 従来技術(その1)の説明図である。 従来技術(その2)の説明図である。 従来技術を説明するためのヘッドの非線型特性図である。 従来技術を説明するための検出位置と実位置との関係図である。
符号の説明
3 アクチュエータ
4 磁気ヘッド
5 スピンドルモータ
6 磁気ディスク
19 MCU(MPU)
20 復調部
21 誤差演算器
22 ゲイン補正部
23 コントローラ

Claims (2)

  1. ヘッドをディスクの所定位置に位置決めするためのディスク装置のヘッド位置決め制御方法において、
    再生素子と記録素子とが分離された前記ヘッドからの前記ディスクの位置情報からPosN及びPosQを得て、位置情報を復調するステップと、
    前記復調位置と目標位置との位置誤差を算出するステップと、
    前記位置誤差を、前記目標位置でのトラック中心からのオフセットに応じて、一意に定める位置ゲインを補正するステップと、
    前記補正された位置誤差に応じて、前記ヘッドを駆動するアクチュエータの制御量を算出するステップと、
    前記補正された位置誤差により、前記ヘッドのリード又はライトの少なくとも一方の許可を発生するステップと、
    前記ヘッドの位置信号から、前記PosQ又はPosNがゼロとなる位置を前記トラック中心と検出し、前記検出したトラック中心を基準に、前記ヘッドの位置をオフセットして、各オフセット位置で測定した前記再生素子の感度分布に依存した各位置ゲインを測定するステップとを有し、
    前記補正ステップは、
    前記測定した位置ゲインから前記目標位置の剰余に対応する位置ゲインで、前記位置誤差を補正するステップからなることを
    特徴とするヘッド位置決め制御方法。
  2. アクチュエータを駆動して、ヘッドをディスクの所定位置に位置決めするためのディスク装置のヘッド位置決め制御装置において、
    再生素子と記録素子とが分離された前記ヘッドからの前記ディスクの位置信号からPosN及びPosQを得て、位置情報を復調する復調回路と、
    前記復調位置と目標位置との位置誤差を所定の位置ゲインで補正して、前記アクチュエータの制御量を計算する制御回路とを有し、
    前記制御回路は、
    前記ヘッドの位置信号から、前記PosQ又はPosNがゼロとなる位置を前記トラック中心と検出し、前記検出したトラック中心を基準に、前記ヘッドの位置をオフセットして、各オフセット位置で測定した前記再生素子の感度分布に依存した各位置ゲインを測定し、前記測定した位置ゲインから前記目標位置の剰余に対応する位置ゲインで、前記位置誤差を補正して、前記補正された位置誤差に応じて、前記ヘッドを駆動するアクチュエータの制御量を算出するとともに、前記補正された位置誤差により、前記ヘッドのリード又はライトの少なくとも一方の許可を発生することを
    特徴とするヘッド位置決め制御装置。
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