JP2006149871A - 眼科測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 測定光源からのスポット状の光束を被検眼眼底に投影する投影光学系と、眼底で反射して被検眼を射出する光束を受光する受光光学系であって、被検眼瞳孔と略共役位置に配置されたマスクパターンを有すると共に該マスクパターンのタルボット像位置に配置された2次元撮像素子を有する受光光学系とを備える。マスクパターンは2次元撮像素子の単位画素サイズの配列に合わせて形成されたピッチの直交格子状マスクを持ち、直交格子状マスクのタルボット像と2次元撮像素子の画素配列によって生じるモアレパターンを基に被検眼の光学特性を測定する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、上記従来技術に鑑み、被検眼の波面収差等の光学特性を高分解能に測定可能で、コスト的にも有利な眼科測定装置を提供することを技術課題とする。
(1) 測定光源からのスポット状の光束を被検眼眼底に投影する投影光学系と、眼底で反射して被検眼を射出する光束を受光する受光光学系であって、被検眼瞳孔と略共役位置に配置されたマスクパターンを有すると共に該マスクパターンのタルボット像位置に配置された2次元撮像素子を有する受光光学系とを備え、前記マスクパターンは前記2次元撮像素子の単位画素サイズの配列に合わせて形成されたピッチの直交格子状マスクを持ち、該直交格子状マスクのタルボット像と前記2次元撮像素子の画素配列によって生じるモアレパターンを基に被検眼の光学特性を測定することを特徴とする。この装置において、前記直交格子状マスクの透過部分と遮光部分の各幅は、2次元撮像素子の単位画素と同じ幅であることを特徴とする。
(2) (1)の眼科測定装置において、前記測定光源と共に前記マスクパターン及び2次元撮像素子を、被検眼の球面屈折誤差に応じて光軸方向に移動させる移動手段を設けたことを特徴とする。
dは直交格子状マスク19の格子定数(ON/OFFの1周期の長さ)、λは測定光源11の波長、mは整数である。
なお、直交格子状マスク19は、光軸方向の移動位置に拘わらず、対物レンズ14、リレーレンズ15及びコリメートレンズ18によって、被検眼瞳孔と一定の倍率で光学的に共役になるように配置されている。
10a 投影光学系
10b 受光光学系
11 測定光源
19 直交格子状マスク
20 2次元撮像素子
22 移動機構
30 制御ユニット
Claims (2)
- 測定光源からのスポット状の光束を被検眼眼底に投影する投影光学系と、眼底で反射して被検眼を射出する光束を受光する受光光学系であって、被検眼瞳孔と略共役位置に配置されたマスクパターンを有すると共に該マスクパターンのタルボット像位置に配置された2次元撮像素子を有する受光光学系とを備え、前記マスクパターンは前記2次元撮像素子の単位画素サイズの配列に合わせて形成されたピッチの直交格子状マスクを持ち、該直交格子状マスクのタルボット像と前記2次元撮像素子の画素配列によって生じるモアレパターンを基に被検眼の光学特性を測定することを特徴とする眼科測定装置
- 請求項1の眼科測定装置において、前記測定光源と共に前記マスクパターン及び2次元撮像素子を、被検眼の球面屈折誤差に応じて光軸方向に移動させる移動手段を設けたことを特徴とする眼科測定装置。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7559651B2 (en) | 2006-11-02 | 2009-07-14 | Nidek Co., Ltd. | Ophthalmic measurement apparatus |
WO2013151171A1 (ja) | 2012-04-06 | 2013-10-10 | 株式会社ニデック | 眼科測定装置、及び眼科測定装置を備える眼科測定システム |
US9775507B2 (en) | 2014-10-07 | 2017-10-03 | Nidek Co., Ltd. | Method of evaluating quality of vision in examinee's eye and storage medium |
US10085631B2 (en) | 2016-03-31 | 2018-10-02 | Nidek Co., Ltd. | Method for generating eyeglass-prescription assisting information |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62284204A (ja) * | 1986-06-02 | 1987-12-10 | Nec Corp | モアレトポグラフイカメラ |
JPH04220509A (ja) * | 1990-03-09 | 1992-08-11 | Carl Zeiss:Fa | 物体表面を無接触で測定する方法および装置 |
JPH0587541A (ja) * | 1991-05-20 | 1993-04-06 | Suezo Nakatate | 2次元情報測定装置 |
JPH10305013A (ja) * | 1997-05-09 | 1998-11-17 | Topcon Corp | 眼特性測定装置 |
JP2003526404A (ja) * | 1999-07-27 | 2003-09-09 | エイエムティ テクノロジーズ、コーポレイション | 眼バイオメータ |
WO2004071270A2 (en) * | 2003-02-04 | 2004-08-26 | Wave Tec Vision Systems, Inc. | Opthalmic talbot-moire wavefront sensor |
WO2004093667A1 (en) * | 2003-03-25 | 2004-11-04 | Bausch & Lomb Incorporated | Moiré aberrometer |
-
2004
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Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62284204A (ja) * | 1986-06-02 | 1987-12-10 | Nec Corp | モアレトポグラフイカメラ |
JPH04220509A (ja) * | 1990-03-09 | 1992-08-11 | Carl Zeiss:Fa | 物体表面を無接触で測定する方法および装置 |
JPH0587541A (ja) * | 1991-05-20 | 1993-04-06 | Suezo Nakatate | 2次元情報測定装置 |
JPH10305013A (ja) * | 1997-05-09 | 1998-11-17 | Topcon Corp | 眼特性測定装置 |
JP2003526404A (ja) * | 1999-07-27 | 2003-09-09 | エイエムティ テクノロジーズ、コーポレイション | 眼バイオメータ |
WO2004071270A2 (en) * | 2003-02-04 | 2004-08-26 | Wave Tec Vision Systems, Inc. | Opthalmic talbot-moire wavefront sensor |
JP2006516447A (ja) * | 2003-02-04 | 2006-07-06 | ウェーブ テック ビジョン システムズ、インコーポレイテッド | 眼のタルボ・モアレ波面センサ |
WO2004093667A1 (en) * | 2003-03-25 | 2004-11-04 | Bausch & Lomb Incorporated | Moiré aberrometer |
JP2006521157A (ja) * | 2003-03-25 | 2006-09-21 | ボシュ・アンド・ロム・インコーポレイテッド | モアレ収差測定器 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7559651B2 (en) | 2006-11-02 | 2009-07-14 | Nidek Co., Ltd. | Ophthalmic measurement apparatus |
WO2013151171A1 (ja) | 2012-04-06 | 2013-10-10 | 株式会社ニデック | 眼科測定装置、及び眼科測定装置を備える眼科測定システム |
US9775507B2 (en) | 2014-10-07 | 2017-10-03 | Nidek Co., Ltd. | Method of evaluating quality of vision in examinee's eye and storage medium |
US10085631B2 (en) | 2016-03-31 | 2018-10-02 | Nidek Co., Ltd. | Method for generating eyeglass-prescription assisting information |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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