JP2006140427A - 半導体レーザ装置の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 半導体レーザ装置の工程歩留を向上させて、低コスト化する。
【解決手段】 作用半導体レーザ素子1に、複数の発光点121a、121bと、各発光点を独立して制御可能な複数の電極122a、122bとを設ける。エージング試験での特性が優れた方の発光点を選択し、その発光点に対応する電極に対して外部端子への配線を行う。発光点が2つの場合には、エージング試験工程の工程数が倍で済み、工程数の増加分を最小限に抑えることができる。また、各発光点の間隔を10μm以上100μm以下にすれば、半導体レーザ素子の外形サイズを従来よりも大きくすることなく作製可能で、余分なコストアップが生じない。
【選択図】 図3
【解決手段】 作用半導体レーザ素子1に、複数の発光点121a、121bと、各発光点を独立して制御可能な複数の電極122a、122bとを設ける。エージング試験での特性が優れた方の発光点を選択し、その発光点に対応する電極に対して外部端子への配線を行う。発光点が2つの場合には、エージング試験工程の工程数が倍で済み、工程数の増加分を最小限に抑えることができる。また、各発光点の間隔を10μm以上100μm以下にすれば、半導体レーザ素子の外形サイズを従来よりも大きくすることなく作製可能で、余分なコストアップが生じない。
【選択図】 図3
Description
本発明は、例えば光ディスク装置などに用いられ、光ディスク(CD)、DVDおよび次世代ディスクなどの記録媒体に対して情報の読み取りまたは書き込みを行うための光源光を出射する半導体レーザ装置の製造方法に関する。
従来の半導体レーザ装置は、光ディスク(CD)に対して情報の読み取りまたは書き込みを行うための光源装置として例えば光ディスク装置などに用いられている。この従来の半導体レーザ装置について図4に示している。
図4は、従来の半導体レーザ装置の構成例を示す斜視図である。
図4に示すように、半導体レーザ装置100は、通常、ステム101と称される金属部品の上に、半導体レーザ素子102がマウントされるサブマウント103がダイボンドされている。即ち、ステム101のダイボンド面上には、半導体レーザ素子102およびサブマウント103がそれぞれ適切なロウ材により固定されている。これらの半導体レーザ素子102およびサブマウント103の電極はそれぞれ、金線104によりステム101の穴部を通って上面に突出されたリードピン105の上端部に接続されている。この場合、ステム101とリードピン105とは絶縁されている。
この半導体レーザ装置100は、その後、保護用キャップ(図示せず)がステム101上にかぶせられ、電着などにより保護用キャップ(図示せず)とステム101とが一体化される。
その後、高温で半導体レーザ素子102の電極に通電して初期劣化をスクリーニングするバーンイン工程、動作電流やレーザ光の放射角など電気的光学的特性(素子特性)を測定する最終検査工程、および外観検査工程を経て、半導体レーザ装置100が完成する。
半導体レーザ装置100の発光波長は、光ディスク(CD)に対する情報の読み取りまたは書き込みに用いられる770nm〜800nm帯、DVDに対する情報の読み取りまたは書き込みに用いられる640nm〜670nm帯、次世代ディスクに対する情報の読み取りまたは書き込みに用いられる400nm〜430nm帯に大きく三つに分けられている。
特許文献1には、複数の発光点のそれぞれを用いるマルチビームレーザにおいて、各レーザ出力光を独立して制御する技術が開示されている。
特開平6−216468号公報
光ディスク(CD)に始まった光ディスクストレージの市場規模は、DVD、次世代ディスクへと広がってきている。CDについては、書き込みのスピードを競う倍速競争も一段落しており、技術的には完成された領域に達している。したがって、現在は、如何に低コストにて部品を作るかという競争が活発化している。この流れは、DVDや次世代ディスクにも波及してきており、コストが高いものは、如何に技術的に優れていようとも、市場に受け入れられないという状況も発生している。
このような状況の中で、記録媒体に対する情報の読み取りまたは書き込み用光源として用いられる半導体レーザ装置に関しても、低コスト化のために工程歩留を向上させることが必須の要件となっている。
上記従来の構成である特許文献1も含めて現在時点では、半導体レーザ装置の製造において、歩留低下が大きい工程は、上記バーンイン工程(エージング試験)であり、その他の工程は、工程歩留がほぼ100%であるために特に問題はない。
半導体レーザ装置は、主要部品として、半導体レーザ素子の他に、半導体レーザ素子がマウントされるサブマウント、サブマウントがダイボンドされるステム、これらを覆う保護用キャップなどが用いられている。
これらの部品コストおよび製造工程を考えると、一般的に、半導体レーザ装置のコストにおける割合は、半導体レーザ素子の部品コスト30%、その他の部品コスト30%、製造工程40%程度である。
このため、半導体レーザ素子の特性が悪く、エージング試験などで不良となった場合には、その他の部品コストおよびそれまでにかかった製造工程は全て無駄になり、製品1個当たりのコストを結果として高くすることになっている。
本発明は、上記従来の問題を解決するもので、工程歩留を向上させて低コストに抑えることができる半導体レーザ装置の製造方法を提供することを目的とする。
本発明の半導体レーザ装置の製造方法は、複数の発光点と、該複数の発光点のそれぞれを独立して制御可能な複数の電極を有する半導体レーザ素子を作製する半導体レーザ素子作製工程と、該半導体レーザ素子のエージング試験を行って、該複数の発光点のうち、素子特性の優れた発光点に対応する電極を該複数の電極から選択する電極選択工程と、選択された電極と外部端子との配線を行う配線工程とを有し、そのことにより上記目的が達成される。
また、好ましくは、本発明の半導体レーザ装置の製造方法における複数の発光点は二つである。
さらに、好ましくは、本発明の半導体レーザ装置の製造方法における半導体レーザ素子の発光波長は、770nm以上800nm以下、640nm以上670nm以下、および400nm以上430nm以下のいずれかの範囲である。
さらに、好ましくは、本発明の半導体レーザ装置の製造方法における半導体レーザ素子作製工程と電極選択工程間に、サブマウントがダイボンドされるステムのダイボンド面と前記複数の発光点が等距離に配置可能なように、前記半導体レーザ素子を該サブマウントにマウントする工程を更に有する。
さらに、好ましくは、本発明の半導体レーザ装置の製造方法における電極選択工程と配線工程間に、前記素子特性の優れた発光点が、前記ステムのダイボンド面に対する所定位置に配置されるように、該ステムのダイボンド面と前記サブマウントとの位置を設定して該ステムのダイボンド面に該サブマウントをダイボンドする工程を更に有する。
さらに、好ましくは、本発明の半導体レーザ装置の製造方法における複数の発光点は、互いの間隔が10μm以上100μm以下である。
上記構成により、以下に、本発明の作用を説明する。
本発明にあっては、半導体レーザ素子に、複数の発光点と、各発光点を独立して制御可能な複数の電極が設けられている。半導体レーザ素子は、SiCやSiなどのサブマウント上にマウントされ、この状態でエージング試験としてバーンイン工程が行われる。このバーンイン工程で、素子特性が優れた方の発光点が選択され、それに対応する電極に対して、外部端子への配線(ワイヤボンド)が行われる。
半導体レーザ素子に複数の発光点が設けられているため、それらを比較して、エージング試験での特性が優れた方を選択することができる。半導体レーザ装置の製造において、不良率が高い工程はエージング試験工程であり、その工程で素子特性が優れた方を選択することが最も有効である。これにより、このエージング試験工程での不良率を低減することが可能となり、半導体レーザ装置の低コスト化を図ることが可能となる。
発光点は、検査の手間を考えると、2つであることが好ましい。
また、波長については、770nm〜800nm帯、640nm〜670nm帯、400nm〜430nm帯のいずれか一つの波長帯を選ぶことができる。
通常、半導体レーザ素子はサブマウントにマウントされ、サブマウントはステムのダイボンド面にダイボンドされるが、この場合、複数の発光点は、ステムのダイボンド面に対して等距離に配置されるのが好ましい。これにより、どの発光点を選択したとしても、ステムのダイボンド面から一定の位置で発光点が揃っていることになり、所望の設計通りになる。例えば、選択された発光点が、ステムの垂直方向から見て中心点(所定位置)に配置されるように、位置を設定することができる。
各発光点の間隔が開きすぎると、半導体レーザ素子のサイズが大きくなるため、各発光点の間隔は、10μm以上100μm以下に押さえることが好ましい。
以上のように、本発明によれば、半導体レーザ素子に複数の発光点が設けられているため、それらを比較して、素子特性が優れた方を選択することができ、エージング工程での不良率を低減させて、低コスト化を図ることができる。
また、発光点が二つの場合には、エージング試験工程の工程数が倍で済むため、工程数の増加分を最小限に抑えることができる。
さらに、各発光点の間隔が10μm以上100μm以下である場合には、半導体レーザ素子の外形サイズを従来よりも大きくすることなく作製可能なため、余分なコストアップが生じない。
以下に、本発明の半導体レーザ装置およびその製造方法の実施形態について、図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明の半導体レーザ装置の構成例を示す斜視図である。
図1に示すように、半導体レーザ装置10は、ステム11上に、半導体レーザ素子12およびサブマウント13がそれぞれ適切なロウ材により固定されている。即ち、半導体レーザ装置10は、ステム11のダイボンド面上にサブマウント13がダイボンドされ、サブマウント13上に半導体レーザ素子12がマウントされている。さらに、これらを覆う保護用キャップ(図示せず)などが用いられている。これら半導体レーザ素子12およびサブマウント13の電極はそれぞれ、金線14により、ステム1の穴部を通って上面に突出した外部端子としてのリードピン15の上端部15aに接続されている。
ここで、半導体レーザ素子12の電極は、一方の発光点に対応する電極が選択されて、リードピン15の上端部15aに接続されている。
図2は、図1の半導体レーザ素子12およびサブマウント13を示す部分拡大斜視図である。
図2に示すように、半導体レーザ素子12には、複数(ここでは二つ)の発光点121a,121bを有しており、各々の発光点発光点121a,121bを独立して制御できるように複数の電極122a,122bが設けられている。
半導体レーザ素子12のアノード側に各発光点121a,121bに対応する電極122a,122bが設けられており、半導体レーザ素子12とサブマウント13間には共通のGND側電極123が設けられている。
また、サブマウント13がダイボンドされるステム11のダイボンド面と複数の発光点121a,121bが等距離に配置可能なように、半導体レーザ素子12をサブマウント13上にマウントしている。
以下に、この半導体レーザ装置10の製造工程について説明する。
まず、図2に示すように、二つの発光点121a,121bを有し、各々の発光点121a,121bを独立して制御可能な電極122aおよび122bが設けられた半導体レーザ素子12を作製する工程と、この半導体レーザ素子12をサブマウント13上にダイボンドする工程とを有する。このときの半導体レーザ素子12の発光波長は、光ディスク(CD)に対する情報の読み取りまたは書き込みに用いられる770nm〜800nm帯、DVDに対する情報の読み取りまたは書き込みに用いられる640nm〜670nm帯、次世代ディスクに対する情報の読み取りまたは書き込みに用いられる400nm〜430nm帯のいずれかの範囲を選択することができるが、二つの発光点121a,121bはいずれかを選択するために同じ発光波長としている。
通常、サブマウント13の半導体レーザ素子12側電極には、ロウ材としてAu・Snがスパッタリングなどにより形成されており、サブマウント13と半導体レーザ素子12とを設計位置に配置し、これを300℃程度に加熱することによってAu・Snが溶融して、サブマウント13の電極上に半導体レーザ素子12がダイボンドされる。
サブマウント13としては、放熱性に優れたSiCやAlNなどが使用される場合もあるが、出力10mW程度までの低出力レーザの場合には、半導体レーザ素子12の後面側から出射される光を受光するモニタ用フォトダイオード124の機能も備えたSi製サブマウント13が使用される。この場合、このサブマウント13上には、図2に示すように、モニタ用フォトダイオード124用の電極125も設けられる。
次に、例えば図3に示すようなエージング試験機を用いて動作寿命試験であるエージング試験(バーンイン工程)を行う。
図3に示すように、エージング試験機1には、サブマウント13を保持する治具2と、サブマウント13の表面のGND電極123、二つの半導体レーザ素子12用の電極122aおよび122bに接触させて外部制御回路3から通電可能なプローブピン4とを有している。半導体レーザ素子12の主出射面の前方には、図示しないパワー測定用フォトダイオードが設けられており、半導体レーザ素子12からの光を受光して所望の設定パワーが得られるように、パワーコントロールを行う外部制御回路3に接続されている。
この治具2にサブマウント13をセットし、各半導体レーザ素子12に適したエージング条件、例えば70℃、5mWで5時間ずつ、各素子12のエージングを行う。このとき得られた発光点121a,121bの素子特性、例えば5時間後の動作電流値Iop1、Iop2、およびエージング開始後1時間後と5時間後の電流値の変化量ΔIop1、ΔIop2の比較を行い、総合的に考慮して各発光点121a,121bのうちのいずれか優れた素子特性が得られた方を選択する。
さらに、治具2からサブマウント13を外して、マジックインキなどによって素子特性が悪い方の発光点に対応する電極にマーキングする。このマーキングは、次工程で誤ってワイヤーボンドしないために行われる。なお、素子特性が優れた発光点に対応する電極をワイヤボンドすることが目的であるので、その発光点を区別することができればこのマーキングは不要である。
さらに、エージング試験が終わった半導体レーザ素子12を、ステム11の設計位置にAgペーストなどによってダイボンドする。このときの設計位置は、通常、ステム11の垂直方向から見て中心点に発光点がくるように設定される。即ち、選択された発光点が、ステム11のダイボンド面を垂直方向から見て所定位置に配置されるように、ステム11のダイボンド面とサブマウント13との位置を設定する。
二つの発光点121a,121bの位置については、サブマウント13の下面、即ち、サブマウント13のステム11とのダイボンド面と、二つの発光点121aおよび121bを結ぶ線とが平行であれば、いずれの発光点121a,121bを選択した場合でも、ステム11のダイボンド面からの距離を等しくすることができるため、設計上の位置に配置することが可能となる。
また、発光点121a,121bの距離は、10μm以上100μm以下とすることが好ましい。発光点121a,121bの距離がそれ以上に広い場合には、半導体レーザ素子12の外形サイズが大きくなり、サブマウント13もそれに合わせて大きくする必要がある。このため、優れた特性を有する発光点121a,121bの一方を選択してバーンイン工程の歩留低下を防ぐことができたとしても、材料ロスの発生が大きくなるためである。本実施形態では、発光点121a,121bの距離を100μmとした。
例えば、従来の半導体レーザ素子のサイズは、幅200μmである。この幅をさらに小さくしようとすると、素子分割が困難になり、歩留低下を招く虞がある。本実施形態では、発光点121a,121bの距離が100μmであり、半導体レーザ素子12の外形から発光点121a,121bまでの距離が50μmとなる。したがって、半導体レーザ素子12全体の幅を増加させることなく、二つの発光点121a,121bを設けることができる。これにより、同じ基板サイズから同じ数の半導体レーザ素子12を作製することが可能となる。
さらに、上記Agペーストを加熱硬化し、電極122a,122bのうちのマーキングが施されていない電極、およびモニタ用フォトダイオードの電極125を金線14によって外部端子にワイヤボンドする。
その後、図示しない保護用キャップをステム11に溶着し、動作電流や放射角など、電気的光学的特性を検査する最終検査工程および外観検査工程を行って、半導体レーザ装置10が完成する。
以上により、本実施形態によれば、半導体レーザ素子12に、複数の発光点121a,121bと、各発光点121a,121bを独立して制御可能な複数の電極122a,122bとを設けている。エージング試験での素子特性が優れた方の発光点を選択し、その発光点に対応する電極に対して外部端子への配線14を行う。発光点が二つの場合には、エージング試験工程の工程数が倍で済み、工程数の増加分を最小限に抑えることができる。また、各発光点の間隔を10μm以上100μm以下にすれば、半導体レーザ素子12の外形サイズを従来よりも大きくすることなく作製可能で、余分なコストアップが生じない。これによって、半導体レーザ装置10の工程歩留を向上させて、低コスト化することができる。
なお、上記実施形態では、発光点が2つの例について説明したが、これに限らず、発光点は3つでもよくそれ以上でも本発明は有効である。
以上のように、本発明の好ましい実施形態を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施形態に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施形態の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引用した特許、特許出願および文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載されているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであることが理解される。
本発明は、例えば光ディスク装置などに用いられ、光ディスク(CD)、DVDおよび次世代ディスクなどの記録媒体に対して情報の読み取りまたは書き込みを行うための光源光を出射する半導体レーザ装置の製造方法の分野において、半導体レーザ素子に複数の発光点を設けて、それらを比較することによって、エージング特性が優れた方を選択することができるため、エージング工程での不良率を低減させて、低コスト化を図ることが可能となる。また、発光点を2つ設ける場合には、エージング試験工程の工程数が倍で済むため、工程数の増加分を最小限に抑えることができる。さらに、各発光点の間隔が10μm以上100μm以下である場合には、半導体レーザ素子の外形サイズを従来よりも大きくすることなく作製可能なため、余分なコストアップが生じない。
1 エージング試験機
2 治具
3 外部制御回路
4 エージング試験機のプローブ
10 半導体レーザ装置
12 半導体レーザ素子
121a,121b 半導体レーザ素子の発光点
122a,122b 半導体レーザ素子のアノード側電極
123 半導体レーザ素子のGND側電極
124 モニタ用フォトダイオードの受光部
125 モニタ用フォトダイオードの電極
13 モニタ用フォトダイオード付きサブマウント
14 金線
11 ステム
15 リードピン
15a 上端部
2 治具
3 外部制御回路
4 エージング試験機のプローブ
10 半導体レーザ装置
12 半導体レーザ素子
121a,121b 半導体レーザ素子の発光点
122a,122b 半導体レーザ素子のアノード側電極
123 半導体レーザ素子のGND側電極
124 モニタ用フォトダイオードの受光部
125 モニタ用フォトダイオードの電極
13 モニタ用フォトダイオード付きサブマウント
14 金線
11 ステム
15 リードピン
15a 上端部
Claims (6)
- 複数の発光点と、該複数の発光点のそれぞれを独立して制御可能な複数の電極を有する半導体レーザ素子を作製する半導体レーザ素子作製工程と、
該半導体レーザ素子のエージング試験を行って、該複数の発光点のうち、素子特性の優れた発光点に対応する電極を該複数の電極から選択する電極選択工程と、
選択された電極と外部端子との配線を行う配線工程とを有する半導体レーザ装置の製造方法。 - 前記複数の発光点は二つである請求項1に記載の半導体レーザ装置の製造方法。
- 前記半導体レーザ素子の発光波長は、770nm以上800nm以下、640nm以上670nm以下、および400nm以上430nm以下のいずれかの範囲である請求項1または2に記載の半導体レーザ装置の製造方法。
- 前記半導体レーザ素子作製工程と電極選択工程間に、サブマウントがダイボンドされるステムのダイボンド面と前記複数の発光点が等距離に配置可能なように、前記半導体レーザ素子を該サブマウントにマウントする工程を更に有する請求項1に記載の半導体レーザ装置の製造方法。
- 前記電極選択工程と配線工程間に、前記素子特性の優れた発光点が、前記ステムのダイボンド面に対する所定位置に配置されるように、該ステムのダイボンド面と前記サブマウントとの位置を設定して該ステムのダイボンド面に該サブマウントをダイボンドする工程を更に有する請求項1または4に記載の半導体レーザ装置の製造方法。
- 前記複数の発光点は、互いの間隔が10μm以上100μm以下である請求項1〜5のいずれかに記載の半導体レーザ装置の製造方法。
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