JP2006130824A - 発光装置、画像形成装置及び発光素子の駆動方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 簡単な構成で、精度良く、発光素子の特性劣化による輝度変化を補正することができる発光装置を提供する。
【解決手段】 1あるいは複数の発光素子11と、発光素子11を定電流駆動する駆動手段12と、駆動手段12によって所定電流で発光素子11を駆動した場合の端子電圧を測定し、この端子電圧と予め記録した端子電圧との差に基づいて発光素子11の発光状態を算出する発光状態算出手段13と、このように算出された発光状態に応じて発光素子11の駆動出力を補正する駆動補正手段14とを備えている。
【選択図】 図1
【解決手段】 1あるいは複数の発光素子11と、発光素子11を定電流駆動する駆動手段12と、駆動手段12によって所定電流で発光素子11を駆動した場合の端子電圧を測定し、この端子電圧と予め記録した端子電圧との差に基づいて発光素子11の発光状態を算出する発光状態算出手段13と、このように算出された発光状態に応じて発光素子11の駆動出力を補正する駆動補正手段14とを備えている。
【選択図】 図1
Description
本発明は、発光装置、画像形成装置及び発光素子の駆動方法に関する。
1ラインに多数の発光素子を設けたラインヘッドを露光手段として用いる複写機等の画像形成装置が開発されている。このような装置では、発光素子の特性劣化による輝度変化やヘッド全面にわたる点灯劣化に起因する輝度ばらつきの発生を抑える技術が提案されている。例えば特許文献1には、受光素子にて発光素子毎の発光量を検知して光量を調整する場合の技術が記載されている。この装置では、光ヘッド内に光検出用のセンサ(フォトダイオード)を集積し、センサで検知した光量に応じて発光素子の光強度が制御されるようになっている。
一方、特許文献2や特許文献3には、発光回数を計測して光量を調整する場合の技術が記載されている。これらの装置では、各発光素子の点灯回数を累積計測して、点灯回数の少ない素子を追加点灯することによって、発光素子間の輝度ばらつきが抑制されるようになっている。
特開2002−144634号公報
特開2003−334990号公報
特開2002−361294号公報
しかしながら、特許文献1の技術では、光ヘッド内にフォトダイオードを集積する場合、十分な検出感度を得るためにはフォトダイオードの面積を大きくする必要があり、ヘッドのサイズが大きくなる。画像形成装置では、ヘッド内の発光素子から発せられ、外部へ出射した光はセルフォック(登録商標)レンズアレイ(日本板硝子社の商品名:セルフォック(登録商標)レンズをSL、セルフォック(登録商標)レンズアレイをSLアレイと記す)等の光学系を介して感光体上に集光される。そのため、出射光の一部を受光素子に入射させるためには複雑な光学系や機械系の構成が必要で、隣接素子の発光のクロストーク等の問題も生じ、光量を補正するために必要な検出精度を得るのは困難である。
一方、特許文献2や特許文献3の技術では、発光回数を計測して光量を調整する場合、発光回数を累積しておく大容量のメモリが必要となる。したがって装置が複雑かつコストアップすることがある。実際の発光は印刷する画像データによって階調変調(発光時間幅が変化)されるので、単に発光回数だけでなく階調も含めて計数、累積する必要があり制御が複雑となる。
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであり、以下の点を目的とするものである。
(1)簡単な構成で、また精度良く、発光素子の特性劣化による輝度変化を補正する。
(2)複数の発光素子からなる発光装置の全発光素子にわたる特性劣化に起因する輝度ばらつきの発生を抑える。
(1)簡単な構成で、また精度良く、発光素子の特性劣化による輝度変化を補正する。
(2)複数の発光素子からなる発光装置の全発光素子にわたる特性劣化に起因する輝度ばらつきの発生を抑える。
上記課題を解決するため、本発明では、発光装置に係わる第1の解決手段として、1あるいは複数の発光素子と、前記発光素子を定電流駆動する駆動手段と、前記駆動手段によって前記発光素子を所定電流で駆動した場合における前記発光素子の端子電圧を測定し、この端子電圧と前記発光素子について予め記録した端子電圧との差に基づいて発光素子の発光状態を算出する発光状態算出手段と、前記発光状態算出手段によって算出された発光状態に応じて発光素子の駆動電流を補正する駆動補正手段とを備える、という手段を採用する。
この発明によれば、発光素子の発光状態を、電圧、電流等の測定・制御によって検知することができるので、簡単な構成かつ精度良く発光素子の特性劣化による輝度変化を補正することができる。
この発明によれば、発光素子の発光状態を、電圧、電流等の測定・制御によって検知することができるので、簡単な構成かつ精度良く発光素子の特性劣化による輝度変化を補正することができる。
また、発光装置に係わる第2の解決手段として、上記第1の解決手段において、前記予め記録した端子電圧は前記発光素子を前記所定電流で駆動して測定されたものであり、前記発光状態算出手段が、前記端子電圧と前記予め記録した端子電圧との差に基づいて、予め設定した特性値と前記予め記録した端子電圧とから決まる電圧値と発光値との関係を示す特性を用いて、前記発光素子の発光値の低下量を前記発光状態として算出するものである、という手段を採用する。
この発明によれば、予め記録した端子電圧が発光素子によって大小変化する場合でも、その端子電圧と、他の予め設定した特性値とに基づいて、算出の基準となる電圧値と発光値との関係を示す特性を求めることができる。
この発明によれば、予め記録した端子電圧が発光素子によって大小変化する場合でも、その端子電圧と、他の予め設定した特性値とに基づいて、算出の基準となる電圧値と発光値との関係を示す特性を求めることができる。
また、発光装置に係わる第3の解決手段として、上記第2の解決手段において、前記特性値が傾きを表す値であり、前記特性が線形である、という手段を採用する。これによれば、簡単な算出処理によって算出の基準となる特性を求めることができる。
また、発光装置に係わる第4の解決手段として、上記第1〜第3いずれかの解決手段において、発光素子が有機EL(electroluminescence)発光素子であるという手段を採用する。
この発明によれば、1あるいは複数の有機EL発光素子の輝度ばらつきを簡単な構成で精度よく補正することができる。
この発明によれば、1あるいは複数の有機EL発光素子の輝度ばらつきを簡単な構成で精度よく補正することができる。
発光装置に係わる第5の解決手段として、上記第1〜第4いずれかの解決手段において、複数の発光素子が1ライン状に配列するという手段を採用する。
この発明によれば、複数の発光素子を1ライン状に配列した発光装置、つまりラインヘッドについて、各発光素子の輝度ばらつきを簡単な構成で精度よく補正することができる。
この発明によれば、複数の発光素子を1ライン状に配列した発光装置、つまりラインヘッドについて、各発光素子の輝度ばらつきを簡単な構成で精度よく補正することができる。
発光装置に係わる第6の解決手段として、上記第1〜第4いずれかの解決手段において、複数の発光素子が2次元配列するという手段を採用する。
この発明によれば、複数の発光素子を2次元配列した発光装置、つまり表示パネルについて、各発光素子の輝度ばらつきを簡単な構成で精度よく補正することができる。
この発明によれば、複数の発光素子を2次元配列した発光装置、つまり表示パネルについて、各発光素子の輝度ばらつきを簡単な構成で精度よく補正することができる。
一方、本発明では、画像形成装置に係わる解決手段として、感光体と、前記感光体を一様に帯電させる帯電手段と、上記第5の発光装置を備え、前記感光体を露光することにより形成対象画像の静電潜像を前記感光体上に形成する露光手段と、前記感光体上の静電潜像をトナー像として現像する現像手段と、前記感光体上のトナー像を転写材に転写させる転写手段と、前記転写材上のトナー像を定着させる定着手段とを具備する、という手段を採用する。
この発明によれば、発光素子の発光状態を、電圧、電流等の測定・制御によって検知することができるので、簡単な構成かつ精度良く各発光素子の特性劣化による輝度ばらつきを補正することができる。この結果、形成する画像の品質を向上させることができる。
この発明によれば、発光素子の発光状態を、電圧、電流等の測定・制御によって検知することができるので、簡単な構成かつ精度良く各発光素子の特性劣化による輝度ばらつきを補正することができる。この結果、形成する画像の品質を向上させることができる。
また、本発明では、表示装置に係わる解決手段として、上記第6の発光装置を備え、前記発光装置の各発光素子を画素として発光させて画像を表示するという手段を採用する。
この発明によれば、簡単な構成かつ精度良く各発光素子の特性劣化による輝度ばらつきを補正することができる。この結果、表示する画像の品質を向上させることができる。
この発明によれば、簡単な構成かつ精度良く各発光素子の特性劣化による輝度ばらつきを補正することができる。この結果、表示する画像の品質を向上させることができる。
さらに、本発明では、発光装置の駆動方法に係わる解決手段として、1あるいは複数の発光素子を定電流駆動する駆動方法において、所定電流で発光素子を駆動した場合の端子電圧を測定する過程と、前記端子電圧と予め記録した端子電圧との差に基づいて発光素子の発光状態を算出する過程と、算出された発光状態に応じて発光素子の駆動出力を補正する過程とを有する、という手段を採用する。
この発明によれば、発光素子の発光状態を、電圧、電流等の測定・制御によって検知することができるので、簡単な構成かつ精度良く発光素子の特性劣化による輝度変化を補正することができる。
この発明によれば、発光素子の発光状態を、電圧、電流等の測定・制御によって検知することができるので、簡単な構成かつ精度良く発光素子の特性劣化による輝度変化を補正することができる。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
図1は、本発明の一実施の形態に係わる発光装置の構成を示すブロック図である。この発光装置は、発光素子11と、駆動手段12と、発光状態算出手段13と、駆動補正手段14とから構成されている。
図1は、本発明の一実施の形態に係わる発光装置の構成を示すブロック図である。この発光装置は、発光素子11と、駆動手段12と、発光状態算出手段13と、駆動補正手段14とから構成されている。
発光素子11は、例えば有機EL(electroluminescence)素子から構成されている。駆動手段12は、発光素子11に印加する電圧または通流する電流の大きさや、それらのオンオフ状態を制御する駆動回路であり、特に、定電流出力機能を有し、発光素子11に所定の一定電流を通流させることができるようになっている。
発光状態算出手段13は、駆動手段12によって所定(所定の一定)電流で発光素子11を駆動した場合の端子電圧を測定し、その測定結果と予め記録した測定結果との差に基づいて発光素子11の発光状態を算出するための手段であり、CPU(中央制御装置)等を用いて構成されている。駆動補正手段14は、発光状態算出手段12によって算出された発光状態に応じて発光素子11の駆動出力を補正する手段であり、CPU等を用いて構成されている。
ここで、図1に示す構成の動作を説明する前に、図2および図3を参照して、発光素子11の駆動特性およびその時間変化について説明する。図2は、駆動電流を一定に制御した場合の発光素子11の発光および駆動電圧の時間変化の一例を示す特性図である。図2(a)〜(c)は、同一の横軸(累積発光時間軸)に対する発光値(a)、駆動電流(b)および駆動電圧(c)の変化をそれぞれ示している。この図に示すように、駆動電流を一定に制御した場合、累積発光時間が増加すると、発光素子11の発光値(発光強度)は徐々に低下していくとともに、一方、駆動電圧は徐々に上昇していく。
図3(a)は、図2に示す駆動電流一定時の時間変化における発光値と駆動電圧との関係を示す図である。発光値の初期値(累積発光時間=0時間)をL0、ある累積発光時間経過後における発光値をL2とし、また、発光値L0の駆動電圧をV1、発光値L2の駆動電圧をV2としている。図2に示すように、累積発光時間に比例して、発光素子11の発光値が低下し、かつ駆動電圧が上昇するとすれば、図3(a)の発光値と駆動電圧との関係は、波線で示すように一定の負の傾き(特性値)を有して線形の関係を持つことになる。
つまり、図3(a)に波線で示す駆動電圧と発光値との関係(破線を決定する値のうち少なくとも傾きの値)を予め確認しておけば、発光素子11の駆動電圧の変化(上昇値)を測定することで、発光値の変化量(低下値)を求めることが可能となる。図3(a)の場合では、駆動電圧のV1からV2への変化を測定すれば、低下後の発光値L2を算出することができる。
一方、図3(b)は、発光素子11の駆動電流と発光値との関係を示している。駆動電流と発光値との関係はほぼ比例関係(線形関係)にあり、特性(1)が初期状態(累積駆動時間=0時間)における特性であり、特性(2)がある累積発光時間経過後の特性である。ここで、特性(1)と特性(2)はともにほぼ直線の特性を有している。駆動電流I1における発光値は、初期値ではL0であり、ある累積発光時間経過後では矢印のようにL2に低下する。すなわち、累積発光時間の増加にともなって、駆動電流−発光値特性(I−L特性)は、特性(1)から特性(2)へと変化することになる。
つまり、ある累積発光時間経過後の発光値は、同じ駆動電流I1ではL0からL2に低下してしまうことになる。これを初期状態の発光値L0に戻すためには、特性(2)に従ってより大きな駆動電流I2を発光素子11に流す必要がある。図3(b)の例では、駆動電流I2は、I2=I1*L0/L2の関係式で求めることができる。また、特性(1)の傾きの値はL0/I1であり、特性(2)の傾きの値はL2/I1である。
さて、図1に示す発光装置の動作について図3を参照して説明する。
発光状態算出手段13は、まず初期状態(累積発光時間=0時間)において、駆動補正手段14および駆動手段12を制御して、発光素子11を所定の駆動電流I1で駆動して、発光素子11の駆動電圧V1を測定する(図3(a)参照)。例えば、駆動手段12を定電流方式で動作させ、一定の駆動電流I1を流した状態で、発光素子11の端子電圧V1を測定する。この測定電圧V1を所定の記憶手段(例えば不揮発性メモリ)に記録しておく。一方、測定後、通常動作時には、駆動補正手段14が図3(b)の特性(1)に基づいて所望の発光値に対する駆動電流の指令値を決定し、駆動手段12がその指令値に従って制御される。
発光状態算出手段13は、まず初期状態(累積発光時間=0時間)において、駆動補正手段14および駆動手段12を制御して、発光素子11を所定の駆動電流I1で駆動して、発光素子11の駆動電圧V1を測定する(図3(a)参照)。例えば、駆動手段12を定電流方式で動作させ、一定の駆動電流I1を流した状態で、発光素子11の端子電圧V1を測定する。この測定電圧V1を所定の記憶手段(例えば不揮発性メモリ)に記録しておく。一方、測定後、通常動作時には、駆動補正手段14が図3(b)の特性(1)に基づいて所望の発光値に対する駆動電流の指令値を決定し、駆動手段12がその指令値に従って制御される。
次に、発光状態算出手段13は、ある累積発光時間経過後に、同一の駆動電流I1を流して端子電圧V2を測定する。予め図3(a)に破線で示すような駆動電圧と発光値との関係の傾き値が求められているとすると、発光状態算出手段13は、その傾きの値と、測定電圧V2と、記憶手段に記憶していた電圧V1(発光値L0)とから、発光値L2の値を算出することができる。
次に、発光状態算出手段13は、算出結果から駆動電流I1に発光値L2が対応するとの関係を得て、駆動電流と発光値との新たな特性(図3(b)の特性(2))を算出する。そして、ある累積発光時間経過後における測定後の通常動作時には、駆動補正手段14が、図3(b)の特性(2)に基づいて所望の発光値に対する駆動電流の指令値を決定し、駆動手段12がその指令値に従って制御される。
以後、所定の累積発光時間経過後ごとに、あるいはそれと異なって装置の電源投入時等の所定のタイミングで、通電時の端子電圧の変化が測定され、駆動電流−発光値の特性のさらなる補正が必要に応じて行われる。すなわち、駆動電流I1を流した場合の端子電圧値がV3(>V2;図示せず)であると測定された場合には、図3(a)の特性に基づいて発光値L3(<L2)を計算する。そして、駆動電流I1の発光値がL3になったという関係に基づいて、新たな特性(3)(特性(2)より傾きの小さな直線)が求められることになる。
なお、測定間隔の設定値としての累積発光時間は、単に補正を行うタイミングを設定するものであるため、実際の発光時間(例えば階調変調を行う場合の実際の発光時間の積算値)に一致していなくても問題はない。例えば、発光回数や、本装置が印刷機、複写機等において利用されている場合には、印刷あるいは複写枚数によって設定したり、時計機能を有する場合には日時に基づいて設定したりすることができる。
以上のように、図1に示す発光装置によれば、発光状態算出手段13によって、発光素子11の駆動特性(電流−電圧特性)を測定することで、発光素子11の劣化状態を把握することができる。したがって、例えば本光装置を複数用いてラインヘッドを構成した場合、受光用のフォトダイオードをラインヘッドに集積する必要がないのでラインヘッドの構成がシンプルになる。また、電圧値を計測する構成であるため、補正するのに必要十分な計測感度が得られ易い。また、発光履歴を累積計数するような大きなメモリと処理回路を必要とせず、コンパクトな回路で構成することができる。
次に、図4および図5を参照して、図1に示した発光装置の変形例として、発光素子11を複数個設けた発光装置について説明する。この発光装置には、複数の発光素子11間のばらつきを補正するための構成が設けられている。
図4において、有機EL素子群111は、有機EL発光素子を1ライン状に複数個(n個)配列したものであり、発光装置の一種であるラインヘッドを構成している。ドライバ121は、図1の駆動手段12に対応するものであり、n個の有機EL素子の駆動電流をそれぞれ独立して制御可能な定電流ドライバ122と、各有機EL素子の端子電圧を測定する電圧測定部123とから構成されている。
図4において、有機EL素子群111は、有機EL発光素子を1ライン状に複数個(n個)配列したものであり、発光装置の一種であるラインヘッドを構成している。ドライバ121は、図1の駆動手段12に対応するものであり、n個の有機EL素子の駆動電流をそれぞれ独立して制御可能な定電流ドライバ122と、各有機EL素子の端子電圧を測定する電圧測定部123とから構成されている。
コントローラ161は、CPU等を用いて構成されるものであり、図1の駆動補正手段14に対応する駆動補正演算部141と、発光状態算出手段13に対応する発光状態算出部131とから構成されている。駆動補正演算部141は、図示しない他の構成から入力される各有機EL素子の発光値の補正前の指示値に対してばらつき及び劣化に関する補正を行って、定電流ドライバ122に対して素子毎の駆動指令値を出力する。発光状態算出部131は、駆動補正演算部141を介して定電流ドライバ122を制御し、所定の条件で各有機EL素子を駆動し、電圧測定部123で測定した電圧値の結果を取得する。そして、図1の実施形態と同様にして、測定した電圧値と、以前の測定値と、所定の設定値とに基づいて、駆動電流と発光値の特性の傾き値(図3(b)参照)を算出する。
また、記憶装置151は、駆動補正テーブル152と、傾き値用メモリ153と、初期駆動条件メモリ154とから構成されている。駆動補正テーブル152は、図3(b)に示す駆動電流と発光値との特性を複数組設定したテーブルである。傾き値メモリ153は、有機EL素子毎に図3(b)に示す駆動電流と発光値との特性の傾き値を記憶するメモリである。傾き値メモリ153には、発光状態算出部131で算出された有機EL素子毎の傾き値が記憶され、例えば所定累積発光時間毎に算出処理が行われて、算出された最新の値が記録される。
駆動補正演算部141は、この傾き用メモリ153に記憶されている最新の傾き値を用いて、駆動補正テーブル152から対応する特性を選択し、有機EL素子毎に異なる特性で補正を行う。初期駆動条件メモリ154は、初期発光値L0に対応する駆動電圧値V1(図3(a)参照)と、初期発光値L0を駆動電圧値V1で得たときの駆動電流値I1(図3(b)参照)とを素子毎に記憶するメモリである。これらの記憶値が発光状態算出部131で新たな傾きを算出する際に用いられる。
次に、図5を参照して、有機EL素子群111がn0〜n7の8個の有機EL素子で構成されている場合の動作について、有機EL素子n2に対する動作を一例として説明する。
(1)初期点灯
最初に、全ての有機EL素子n0〜n7を同一電流値I0にて駆動する。素子毎の特性の違いによって、駆動電圧(有機EL素子の端子間電圧)と発光光量がばらつく(図5(a))。この場合、有機EL素子n2は、初期値I0の電流で駆動した時、その発光値L20が規定値L0よりも低い値になっている。
最初に、全ての有機EL素子n0〜n7を同一電流値I0にて駆動する。素子毎の特性の違いによって、駆動電圧(有機EL素子の端子間電圧)と発光光量がばらつく(図5(a))。この場合、有機EL素子n2は、初期値I0の電流で駆動した時、その発光値L20が規定値L0よりも低い値になっている。
(2)初期ばらつき補正
次に、全有機EL素子n0〜n7の発光値が規定値L0で均一となるように各素子の駆動電流を調整する。なお、この作業と次の(3)の作業は、ヘッド組立後の調整時に行うことが望ましい。そして、規定値L0の発光値が得られた駆動電流値(図3(b)のI1に対応)を初期駆動条件メモリ154に書き込んでおく(図5(b))。有機EL素子n2では、初期値I0では発光値L20が規定値L0より低いため(図5(a))、駆動電流を増加させる補正を行い、初期補正後の駆動電流はI21になったものとする(図5(b))。この電流値I21を、素子n2に対応するものとして初期駆動条件メモリ154に格納する。
次に、全有機EL素子n0〜n7の発光値が規定値L0で均一となるように各素子の駆動電流を調整する。なお、この作業と次の(3)の作業は、ヘッド組立後の調整時に行うことが望ましい。そして、規定値L0の発光値が得られた駆動電流値(図3(b)のI1に対応)を初期駆動条件メモリ154に書き込んでおく(図5(b))。有機EL素子n2では、初期値I0では発光値L20が規定値L0より低いため(図5(a))、駆動電流を増加させる補正を行い、初期補正後の駆動電流はI21になったものとする(図5(b))。この電流値I21を、素子n2に対応するものとして初期駆動条件メモリ154に格納する。
(3)駆動電圧値の測定
次に、初期ばらつき補正後の駆動電圧(有機EL素子端子間電圧)(図3(a)のV1に対応)を各素子について測定し、初期駆動条件メモリ154に格納する。この場合、素子n2で発光値をL0とするように駆動電流をI21としたときの駆動電圧値はV21であったとする(図5(b))。この電圧値V21は、素子n2に対応するものとして初期駆動条件メモリ154に格納される。なお、この駆動電圧値の測定は、上記作業(2)と同時に行っても良い。
次に、初期ばらつき補正後の駆動電圧(有機EL素子端子間電圧)(図3(a)のV1に対応)を各素子について測定し、初期駆動条件メモリ154に格納する。この場合、素子n2で発光値をL0とするように駆動電流をI21としたときの駆動電圧値はV21であったとする(図5(b))。この電圧値V21は、素子n2に対応するものとして初期駆動条件メモリ154に格納される。なお、この駆動電圧値の測定は、上記作業(2)と同時に行っても良い。
そして、これらの作業終了後に、ラインヘッドをプリンタ等の装置に組み込む。以下の動作はプリンタとして使用している時の動作となる。
(4)点灯劣化状態の算出
ラインヘッドでは各有機EL素子の発光履歴によって劣化度合いにばらつきが発生してくる。累積発光時間等の所定の設定値が所定の条件を満たした時点で、各有機EL素子の駆動電圧(有機EL素子端子間電圧)を測定する。劣化が進んでいる有機EL素子ほど駆動電圧が上昇している(図5(c))。
(4)点灯劣化状態の算出
ラインヘッドでは各有機EL素子の発光履歴によって劣化度合いにばらつきが発生してくる。累積発光時間等の所定の設定値が所定の条件を満たした時点で、各有機EL素子の駆動電圧(有機EL素子端子間電圧)を測定する。劣化が進んでいる有機EL素子ほど駆動電圧が上昇している(図5(c))。
ここで、初期補正後に測定された電流値(図3(b)のI1に対応)で各有機EL素子を駆動し、端子電圧を求め(図3(a)のV2に対応)、上記作業(3)で求めた初期駆動電圧(図3(a)のV1に対応)と現在の駆動電圧(図3(a)のV2に対応)との差から、各有機EL素子毎の劣化状態を算出する。そして、劣化状態が許容範囲か否かの判断を行い、許容範囲を超えていると判断された場合には駆動補正演算を行い、発光値の補正をする。すなわち、駆動特性を、例えば図3(b)の特性(1)から特性(2)へと変更する。補正を行う場合には、補正後の電流−発光値特性の傾きを、傾き用メモリ153に有機EL素子に対応させて格納する。
この作業(4)において、有機EL素子n2では、初期補正後の電流値I21で駆動した場合の発光値がL22に低下し、駆動電圧がV22(>V21)に上昇している(図5(c))。ここで、発光値L22については光量の検知手段を備えていないため直接測定することはできないが、駆動電圧がV22となることは電圧測定部123によって測定することができる。
ここで、有機EL素子n2の駆動電圧値V22(図3(a)のV2に対応)と、初期補正後の駆動電圧値V21(図3(a)のV1に対応)と、予め記憶していた電圧−発光値特性の傾きの値(図3(a)の破線の特性の傾き値)から、現在の劣化した発光値L22(図3の発光値L2に対応)が算出される。そして、発光値L22を駆動電流I21で除した値(L22/I21)を傾きとする新たな特性(図3(b)の特性(2)に対応)が求められる。この傾き値が傾き値用メモリ153に有機EL素子n2に対応する値として格納される。
駆動補正演算部141は、有機EL素子毎に、傾き値用メモリ153に格納されている最新の傾き値に基づいて、駆動補正テーブル152から駆動特性を選択し、各有機EL素子n0〜n7に適した補正を行って定電流ドライバ122に対する指令値を決定する。以後、作業(4)を所定の設定条件毎に繰り返し実行し、必要に応じて傾き値用メモリ153に格納される傾き値を更新していく。
以上のようにして、図4に示す発光装置では、複数の有機EL素子それぞれについて一定の発光値が得られるように駆動出力を補正した状態で測定した初期駆動電圧と初期駆動電流とを不揮発性メモリ等の記憶装置に記憶するとともに、使用時において測定した初期測定条件を用いて発光状態を算出して駆動特性の補正を行うことで、複数の有機EL素子間のばらつきと、発光時間による劣化をそれぞれ補正することが可能となった。
次に、図6を参照して、図4に示した発光装置を露光装置として組み込んだ画像形成装置の一例について説明する。
図6は、本画像形成装置の構成を示す縦断側面図である。この画像形成装置は、図4に示した発光装置と同様に構成された4個の有機ELアレイラインヘッド101K、101C、101M、101Yを、対応する4個の感光体ドラム41K、41C、41M、41Y(像担持体)を露光するための露光装置として各々配置したものであり、タンデム方式の画像形成装置として構成されている。なお、符号の後に付加されたK、C、M、Yは各々に黒、シアン、マゼンタ、イエローを意味し、黒、シアン、マゼンタ、イエロー用の感光体であることを示している。このことは他の部材についても同様である。
図6は、本画像形成装置の構成を示す縦断側面図である。この画像形成装置は、図4に示した発光装置と同様に構成された4個の有機ELアレイラインヘッド101K、101C、101M、101Yを、対応する4個の感光体ドラム41K、41C、41M、41Y(像担持体)を露光するための露光装置として各々配置したものであり、タンデム方式の画像形成装置として構成されている。なお、符号の後に付加されたK、C、M、Yは各々に黒、シアン、マゼンタ、イエローを意味し、黒、シアン、マゼンタ、イエロー用の感光体であることを示している。このことは他の部材についても同様である。
この画像形成装置は、駆動ローラ51と従動ローラ52とテンションローラ53が設けられており、テンションローラ53によりテンションを加えて張架されて、図示矢印方向(反時計方向)へ循環駆動される中間転写ベルト50を備えている。この中間転写ベルト50に対して所定間隔で配置された4個の像担持体としての外周面に感光層を有する感光体ドラム41K、41C、41M、41Yが配置される。
感光体ドラム41K、41C、41M、41Yは、中間転写ベルト50の駆動と同期して図示矢印方向(時計方向)へ回転駆動される。各感光体ドラム41K、41C、41M、41Yの周囲には、それぞれ感光体ドラム41K、41C、41M、41Yの外周面を一様に帯電させる帯電手段42K、42C、42M、42Y(コロナ帯電器)と、この帯電手段42K、42C、42M、42Yにより一様に帯電させられた外周面を感光体ドラム41K、41C、41M、41Yの回転に同期して順次ライン走査する有機ELアレイラインヘッド101K、101C、101M、101Yが設けられている。
また、この画像形成装置は、上記有機ELアレイラインヘッド101K、101C、101M、101Yで形成された静電潜像に現像剤であるトナーを付与して可視像(トナー像)とする現像装置44K、44C、44M、44Yと、この現像装置44K、44C、44M、44Yで現像されたトナー像を一次転写対象である中間転写ベルト50に順次転写する一次転写ローラ45K、45C、45M、45Yと、転写された後に感光体ドラム41K、41C、41M、41Yの表面に残留しているトナーを除去するクリーニング装置46K、46C、46M、46Yとを有している。
ここで、各有機ELアレイラインヘッド101K、101C、101M、101Yは、有機ELアレイ露光ヘッド101K、101C、101M、101Yのアレイ方向が感光体ドラム41K、41C、41M、41Yの母線に沿うように設置される。そして、各有機ELアレイラインヘッド101K、101C、101M、101Yの発光エネルギーピーク波長と、感光体ドラム41K、41C、41M、41Yの感度ピーク波長とは略一致するように設定されている。
現像装置44K、44C、44M、44Yは、例えば、現像剤として非磁性一成分トナーを用いるもので、その一成分現像剤を例えば供給ローラで現像ローラへ搬送し、現像ローラ表面に付着した現像剤の膜厚を規制ブレードで規制し、その現像ローラを感光体ドラム41K、41C、41M、41Yに接触あるいは押厚させることにより、感光体ドラム41K、41C、41M、41Yの電位レベルに応じて現像剤を付着させることによりトナー像として現像するものである。
このような4色の単色トナー像形成ステーションにより形成された黒、シアン、マゼンタ、イエローの各トナー像は、一次転写ローラ45K、45C、45M、45Yに印加される一次転写バイアスにより中間転写ベルト50上に順次一次転写され、中間転写ベルト50上で順次重ね合わされてフルカラーとなったトナー像は、二次転写ローラ66において用紙等の記録媒体Pに二次転写され、定着部である定着ローラ対61を通ることで記録媒体P上に定着され、排紙ローラ対62によって、装置上部に形成された排紙トレイ68上へ排出される。
なお、図6において、符号63は多数枚の記録媒体Pが積層保持されている給紙カセット、64は給紙カセット63から記録媒体Pを一枚ずつ給送するピックアップローラ、65は二次転写ローラ66の二次転写部への記録媒体Pの供給タイミングを規定するゲートローラ対、66は中間転写ベルト50との間で二次転写部を形成する二次転写手段としての二次転写ローラ、67は二次転写後に中間転写ベルト50の表面に残留しているトナーを除去するクリーニングブレードである。
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、例えば以下のような変形例が考えられる。
(1)発光素子11の発光値と、駆動電流あるいは駆動電圧との関係を、直線状の特性ではなく、非線形の特性として補正テーブルに設定して補正を行うようにしたり、測定時の温度等によって補正内容を変化させる変更が可能である。
(2)発光装置は、上述した画像形成装置に限らず、複数の発光素子を二次元状に配列し、各発光素子を画像を表するための画素とする表示装置や、このような表示装置が組み込まれた各種の電子機器に適用することも可能である。
11 発光素子、12 駆動手段、13 発光状態算出手段、14 駆動補正手段、111 有機EL素子群、122 定電流ドライバ、123 電圧測定部、131 発光状態算出部、141 駆動補正演算部、152 駆動補正テーブル、153 傾き値用メモリ、154 初期駆動条件メモリ
Claims (9)
- 1あるいは複数の発光素子と、
前記発光素子を定電流駆動する駆動手段と、
前記駆動手段によって前記発光素子を所定電流で駆動した場合における前記発光素子の端子電圧を測定し、この端子電圧と前記発光素子について予め記録した端子電圧との差に基づいて発光素子の発光状態を算出する発光状態算出手段と、
前記発光状態算出手段によって算出された発光状態に応じて発光素子の駆動電流を補正する駆動補正手段と
を備えることを特徴とする発光装置。 - 前記予め記録した端子電圧は前記発光素子を前記所定電流で駆動して測定されたものであり、
前記発光状態算出手段が、前記端子電圧と前記予め記録した端子電圧との差に基づいて、予め設定した特性値と前記予め記録した端子電圧とから決まる電圧値と発光値との関係を示す特性を用いて、前記発光素子の発光値の低下量を前記発光状態として算出するものである
ことを特徴とする請求項1記載の発光装置。 - 前記特性値が傾きを表す値であり、前記特性が線形であることを特徴とする請求項2記載の発光装置。
- 発光素子が有機EL(electroluminescence)発光素子であることを特徴とする請求項1〜3いずれかに記載の発光装置。
- 複数の発光素子が1ライン状に配列することを特徴とする請求項1〜4いずれかに記載の発光装置。
- 複数の発光素子が2次元配列することを特徴とする請求項1〜4いずれかに記載の発光装置。
- 感光体と、
前記感光体を一様に帯電させる帯電手段と、
請求項5記載の発光装置を備え、前記感光体を露光することにより形成対象画像の静電潜像を前記感光体上に形成する露光手段と、
前記感光体上の静電潜像をトナー像として現像する現像手段と、
前記感光体上のトナー像を転写材に転写させる転写手段と、
前記転写材上のトナー像を定着させる定着手段と
を具備することを特徴とする画像形成装置。 - 請求項6記載の発光装置を備え、前記発光装置の各発光素子を画素として発光させて画像を表示することを特徴とする表示装置。
- 1あるいは複数の発光素子を定電流駆動する駆動方法であって、
所定電流で発光素子を駆動した場合の端子電圧を測定する過程と、
該端子電圧と予め記録した端子電圧との差に基づいて発光素子の発光状態を算出する過程と、
算出された発光状態に応じて発光素子の駆動出力を補正する過程と
を有することを特徴とする発光素子の駆動方法。
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KR101082168B1 (ko) * | 2009-12-11 | 2011-11-09 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 유기전계발광 표시장치 및 이의 구동전압 보정방법 |
JP2012507746A (ja) * | 2008-10-29 | 2012-03-29 | グローバル・オーエルイーディー・テクノロジー・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー | 効率変動を補償するエレクトロルミネッセントディスプレイ |
US8427400B2 (en) | 2008-06-04 | 2013-04-23 | Hitachi Displays, Ltd. | Image display device |
JP2015159303A (ja) * | 2010-03-31 | 2015-09-03 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
JP2020177177A (ja) * | 2019-04-22 | 2020-10-29 | セイコーエプソン株式会社 | 表示装置、oledの劣化補償方法および電子機器 |
-
2004
- 2004-11-08 JP JP2004323658A patent/JP2006130824A/ja not_active Withdrawn
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