JP2007044898A - 発光装置の光量補正方法、画像形成装置及び表示装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 複数の発光素子を備えた発光装置の光量補正方法において、複数の発光素子を所定の階調値で発光させた時の光量値を測定し、光量値リストを生成する光量値測定工程と、ハイパスフィルタをかけ、光量値リストの高周波成分を取り出した高周波光量値リストを生成する高周波成分抽出工程と、ローパスフィルタをかけ、光量値リストの低周波成分を取り出した低周波光量値リストを生成する低周波成分抽出工程と、高周波光量値リストの各光量値が第1の許容範囲に収まるように補正する第1の補正値と、低周波光量値リストの各光量値が第2の許容範囲に収まるように補正する第2の補正値を算出し、第1の補正値と第2の補正値に基づき複数の発光素子の補正値を算出する補正値算出工程と、複数の発光素子に対する入力データの階調値を補正値に基づき補正する階調値補正工程と、からなる。
【選択図】 図3
Description
(第1実施形態)
図1は、本発明の一実施形態に係る発光装置をプリンタラインヘッドとして使用する場合の概略構成図である。図1に示すように、発光装置1は、素子基板100とプリント回路基板であるPCB(Print Circuit Board)140とが、フレキシブルプリント配線板であるFPC(Flexible Printed Circuit)130で接続されている。素子基板100上には、複数の発光素子110が配置され、FPC130上には、発光素子を駆動するドライバIC120が配置され、PCB140上には、補正値を記憶するEEPROM(Electronically Erasable and Programmable Read Only Memory)150が配置されている。
次に、図3を参照して、本実施形態における発光装置の光量値を測定する装置について説明する。図3は、発光装置の光量値を測定する装置の概略構成図である。図3に示すように、発光装置1の光量値を測定する装置は、素子基板100を固定する素子基板固定冶具160と、発光素子110の光量を測定するセンサ200と、センサ200を制御するセンサ制御回路210と、センサ200が測定した光量値を処理する光量値補正回路220と、で構成されている。
次に、図5を参照して、光量値リストを高周波成分と低周波成分に分ける方法について説明する。図5は、光量値リストを高周波成分と低周波成分に分ける方法を示すグラフである。図5(A)の実線で示すグラフaは、センサ200が測定した各発光素子110の光量値リストである。グラフaの波形の谷の底点を結ぶ点線で表すグラフbは、隣り合う発光素子110の光量値の差に依存しない、光量値リスト全体の光量値の傾向を示すグラフである。グラフbを所定の遮断周波数とし、ハイパスフィルタ224をかけた結果の高周波成分のグラフが、図5(B)であり、グラフbを所定の遮断周波数とし、ローパスフィルタ226をかけた結果の低周波成分のグラフが、図5(C)である。
次に、図7を参照して、補正値算出部228の処理について説明する。図7は、補正値算出部228の処理を説明するフローチャートである。図7において、iは、素子基板100上に並ぶ発光素子110の数がm個であるとすると、1≦i≦mの自然数である。また、hLaは、高周波成分の上限値、hLbは、高周波成分の下限値であり、hLaからhLbの範囲が第1の許容範囲であり、hDrは、第1の補正値である。また、lLaは、低周波成分の上限値、lLbは、低周波成分の下限値であり、lLaからlLbの範囲が第2の許容範囲であり、lDrは、第2の補正値である。また、本実施形態においては、lDrとhDrのうち、値が大きい方を補正値とする。
次に、図8を参照して、光量値の高周波成分の補正について説明する。図8は、光量値の高周波成分の補正を説明するグラフである。図8において、hLaは、プリンタラインヘッドの仕様としての高周波成分の上限値、hLcは、プリンタラインヘッドの仕様としての高周波成分の下限値であり、hLbは、hLcに対し発光素子110が経時に伴い劣化する光量値の劣化分を上乗せした下限値である。
次に、図9を参照して、光量値の低周波成分の補正について説明する。図9は、光量値の低周波成分の補正を説明するグラフである。図9において、lLaは、プリンタラインヘッドの仕様としての低周波成分の上限値、lLcは、プリンタラインヘッドの仕様としての低周波成分の下限値であり、lLbは、lLcに対し発光素子110が経時に伴い劣化する光量値の劣化分を上乗せした下限値である。なお、lLaからlLbの許容範囲は、hLaからhLbの許容範囲よりも大きく設定される。
次に、図10を参照して、図1に示した発光装置1を露光装置として組み込んだ画像形成装置の一例について説明する。
図10は、本画像形成装置の構成を示す縦断側面図である。この画像形成装置は、図1に示した発光装置と同様に構成された4個の有機ELアレイラインヘッド101K、101C、101M、101Yを、対応する4個の感光体ドラム41K、41C、41M、41Y(像担持体)を露光するための露光装置として各々配置したものであり、タンデム方式の画像形成装置として構成されている。なお、符号の後に付加されたK、C、M、Yは各々に黒、シアン、マゼンタ、イエローを意味し、黒、シアン、マゼンタ、イエロー用の感光体であることを示している。このことは他の部材についても同様である。
Claims (15)
- 入力データの階調値に応じて駆動される複数の発光素子を備えた発光装置の光量補正方法において、
前記複数の発光素子を所定の階調値で発光させた時の光量値を各々測定し、光量値リストを生成する光量値測定工程と、
前記光量値リストに対し所定の遮断周波数によりハイパスフィルタをかけ、前記光量値リストの高周波成分を取り出した高周波光量値リストを生成する高周波成分抽出工程と、
前記光量値リストに対し所定の遮断周波数によりローパスフィルタをかけ、前記光量値リストの低周波成分を取り出した低周波光量値リストを生成する低周波成分抽出工程と、
前記高周波光量値リストの各光量値が所定の第1の許容範囲に収まるように補正する第1の補正値と、前記低周波光量値リストの各光量値が所定の第2の許容範囲に収まるように補正する第2の補正値を算出し、前記第1の補正値と前記第2の補正値に基づき前記複数の発光素子の各々に対し補正値を算出する補正値算出工程と、
前記複数の発光素子に対する前記入力データの各々の階調値を前記補正値に基づき補正する階調値補正工程と、
からなる、
ことを特徴とする発光装置の光量補正方法。 - 請求項1に記載の発光装置の光量補正方法において、前記第1の許容範囲よりも前記第2の許容範囲を大きくする、ことを特徴とする発光装置の光量補正方法。
- 請求項1に記載の発光装置の光量補正方法において、前記高周波光量値リストのすべての光量値が前記第1の許容範囲に入っており、かつ、前記低周波光量値リストのすべての光量値が前記第2の許容範囲に入っている場合は、前記複数の発光素子に対する前記入力データの各々の階調値を補正しない、ことを特徴とする発光装置の光量補正方法。
- 請求項1に記載の発光装置の光量補正方法において、前記第1の許容範囲及び前記第2の許容範囲の下限値は、前記発光素子の時間経過による光量値の劣化分、高い値に設定する、ことを特徴とする発光装置の光量補正方法。
- 請求項1に記載の発光装置の光量補正方法において、前記階調値補正工程は、前記階調値を電圧で補正する、ことを特徴とする発光装置の光量補正方法。
- 請求項1に記載の発光装置の光量補正方法において、前記階調値補正工程は、前記階調値を電流で補正する、ことを特徴とする発光装置の光量補正方法。
- 請求項1に記載の発光装置の光量補正方法において、前記階調値補正工程は、前記階調値を発光時間で補正する、ことを特徴とする発光装置の光量補正方法。
- 請求項1に記載の発光装置の光量補正方法において、前記補正値は、各々の階調値毎に算出する、ことを特徴とする発光装置の光量補正方法。
- 請求項1に記載の発光装置の光量補正方法において、前記補正値算出工程は、前記発光装置の両端の前記発光素子の光量値が等しくなるように前記補正値を設定する、ことを特徴とする発光装置の光量補正方法。
- 請求項1から9のいずれか一項に記載の発光装置の光量補正方法により前記複数の発光素子の光量値を補正する、ことを特徴とする発光装置。
- 請求項10に記載の発光装置において、前記複数の発光素子が有機発光ダイオード素子である、ことを特徴とする発光装置。
- 請求項10または11に記載の発光装置において、前記複数の発光素子が1ライン状に配列されている、ことを特徴とする発光装置。
- 請求項10または11に記載の発光装置において、前記複数の発光素子が2次元で配列されている、ことを特徴とする発光装置。
- 感光体と、
前記感光体を一様に帯電させる帯電手段と、
請求項12に記載の発光装置を備え、前記感光体を露光することにより形成対象画像の静電潜像を前記感光体上に形成する露光手段と、
前記感光体上の静電潜像をトナー像として現像する現像手段と、
前記感光体上のトナー像を転写材に転写させる転写手段と、
前記転写材上のトナー像を定着させる定着手段と、
を具備する、ことを特徴とする画像形成装置。 - 請求項13に記載の発光装置を備え、前記発光装置の各発光素子を画素として発光させて画像を表示する、ことを特徴とする表示装置。
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