JP2006066519A - 発光素子用配線基板ならびに発光装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】熱放散性及び実装信頼性に優れた発光素子用配線基板並びに発光装置を提供する。
【解決手段】少なくとも、平板状の絶縁基体1と、該絶縁基体1を貫通して設けられた貫通孔2と、前記絶縁基体1の表面又は内部のうち少なくとも一方に形成された導体層3、5、7と、前記絶縁基体1の一方の主面1aに発光素子21を搭載する搭載部9と、を具備してなる発光素子用配線基板11であって、前記絶縁基体1よりも高い熱伝導率を有するとともに理論比重に対する相対密度が99.8%以上の金属体8が、前記絶縁基体1に設けられた貫通孔2に挿入され、前記絶縁基体1に接合されていることを特徴とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、発光ダイオード等の発光素子を搭載するための発光素子用配線基板ならびに発光装置に関する。
従来、LEDを用いた発光装置は、非常に発光効率が高く、しかも、白熱電球などと比較すると発光に伴い発生する熱量が小さいために様々な用途に用いられてきた。しかしながら、白熱電球や蛍光灯などと比較すると発光量が小さいために、照明用ではなく、表示用の光源として用いられ、通電量も30mA程度と非常に小さいものであった。そして、その実装形態は通電量が小さく、発熱が小さいことから発光素子を樹脂に埋め込んだ、いわゆる砲弾型が主流を占めている(特許文献1参照)。
そして、近年では、発光素子を用いた発光装置の高輝度、白色化に伴い、携帯電話や大型液晶TV等のバックライトに発光装置が多く用いられてきている。しかしながら、発光素子の高輝度化に伴い、発光装置から発生する熱も増加しており、発光素子の輝度の低下をなくす為には、このような熱を素子より速やかに放散する高い熱放散性を有する発光素子用配線基板が必要となっている(特許文献2、3参照)。
特開2002−124790号公報 特開平11−112025号公報 特開2003−347600号公報
しかしながら、従来から配線基板の絶縁基体に用いられてきたアルミナ材料では、熱伝導率が約15W/m・Kと低いことからそれに代わるものとして高い熱伝導率を有する窒化アルミニウムが注目され始めた。しかし、窒化アルミニウムは原料コスト高や、難焼結性のため高温での焼成が必要であり、プロセスコストが高く、また、熱膨張係数が4〜5×10−6/℃と小さいため、汎用品である10×10−6/℃以上の熱膨張係数を持つプリント基板へ実装した際に、熱膨張差により接続信頼性が損なわれるという問題があった。
一方、樹脂系の配線基板を用いた場合には、熱膨張係数はプリント基板に近づくため、樹脂系の配線基板とプリント基板の実装信頼性の問題は発生しないが、樹脂系の配線基板は、熱伝導率が0.05W/m・Kと非常に低く、熱に対する問題に全く対処することができず、輝度が低下するという問題があり、安価で、熱伝導に優れ、実装信頼性に優れた配線基板は未だ提供されていないのである。
従って本発明は、安価で、熱放散性及び実装信頼性に優れた発光素子用配線基板ならびに発光装置を提供することを目的とする。
本発明の発光素子用配線基板は、少なくとも、平板状の絶縁基体と、該絶縁基体を貫通して設けられた貫通孔と、前記絶縁基体の表面又は内部のうち少なくとも一方に形成された導体層と、前記絶縁基体の一方の主面に発光素子を搭載する搭載部と、を具備してなる発光素子用配線基板であって、前記絶縁基体よりも高い熱伝導率を有するとともに理論比重に対する相対密度が99.8%以上の金属体が、前記絶縁基体に設けられた貫通孔に挿入され、前記絶縁基体に接合されていることを特徴とする。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記絶縁基体がセラミックスからなることが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記絶縁基体が樹脂を含有してなることが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記金属体が、該発光素子用配線基板に搭載される発光素子の搭載面積よりも大きな断面積を有することが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記金属体の一方の端面が、他方の端面よりも大きいことが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記金属体の搭載部側と反対の端面が、前記金属体の搭載部側の端面よりも大きいことが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記絶縁基体と前記金属体とが、接合層により接合されていることが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記接合層が、金属を含有することが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記接合層が、樹脂を含有することが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記接合層が、セラミックスを含有することが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記発光素子用配線基板の主面に形成された、前記絶縁基体と前記金属体との境界を、被覆層により被覆することが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記金属体が、電気回路を形成していることが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記金属体の少なくとも一方の端面が絶縁膜で覆われていることが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記導体層および金属体がW、Mo、Cu、Ag、Alのうち少なくとも1種を主成分とすることが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記発光素子用配線基板の搭載部が形成された側の主面に、発光素子を収容するための枠体が形成されてなることが望ましい。
また、本発明の発光装置は、以上説明した発光素子用配線基板の搭載部に発光素子を搭載してなることを特徴とする。
本発明の発光素子用配線基板は、絶縁基体よりも、更に高い熱伝導率を有する理論比重に対する相対密度が99.8%以上とした金属体を、絶縁基体を貫通して設けられた貫通孔に挿入して、接合することで、発光素子用配線基板の熱伝導率を向上させることができ、発光素子から発生する熱を更に速やかに発光素子用配線基板外へ放散することができるため、発光素子が過剰に加熱されることを防止でき、輝度低下を防ぐ、あるいは、また、さらに高輝度にすることが可能となる。なお、この相対密度が99.8%以上というのは、殆どボイドが無い状態で、また、内部に金属以外のセラミック粉末やガラス成分などを含有しないものであり、通常の配線基板に用いられるペースト状の金属導体を焼結させる方法では得ることはできない値である。すなわち、本発明は、例えば、金属箔や金属板を加工することで得た緻密で金属以外の成分を実質的に含有しない金属体を用いるものである。
また、絶縁基体として、樹脂よりも高熱伝導なセラミックを用いることで、更に、発光素子用配線基板の高輝度化が可能となる。
また、本発明によればセラミックスと比較して、熱伝導率の低い樹脂により形成される絶縁基体を用いた場合であっても、実用上、十分な熱放散性を有する発光素子用配線基板を得ることができる。そして、このように絶縁基体を安価な樹脂により形成した場合には、発光素子用配線基板の低コスト化が可能となる。
また、金属体を、該発光素子用配線基板に搭載される発光素子の搭載面積よりも大きな断面積とすることにより、放熱部分が増加し、更に発光素子から発生する熱を速やかに放散することができる。
また、金属体の一方の端面を、他方の端面よりも大きくすることにより、金属体の側面の面積が増し、絶縁基体と金属体との接触面積が増すことにより、絶縁基体と金属体との接合性が向上する。
また、金属体の搭載部側と反対側の端面を、金属体の搭載部側の端面よりも大きくすることで、放熱面が大きくなり放熱性が向上する。
また、発光素子用配線基板の主面に形成された、絶縁基体と金属体とを、接合層により接合することで、金属体と絶縁基体とを容易に固定することができる。
この接合層として金属を用いた場合には、金属体と絶縁基体との間の熱伝導も向上するため、発光素子用配線基板の放熱性がさらに向上する。
また、接合層を樹脂とすることにより、接合時の温度が低くなるため、金属体と絶縁基体間の熱応力が小さくなり、更には、低コストな発光素子用配線基板を得ることができる。
また、接合層を化学的に安定度の高いセラミックスにより形成することにより、金属体と絶縁基体との接合部分の耐熱性、耐水性等の信頼性がより向上する。
また、発光素子用配線基板の主面に形成された、絶縁基体と金属体との境界を、被覆層により被覆することで境界でのクラックの発生を抑制できる。
また、金属体に、電気回路としての機能を付与することにより、導通端子を別途設ける必要がなくなり、発光素子用配線基板の小型化、作製工程数の低減、コストの低減をともに達成することができる。
また、金属体の少なくとも一方の端面を絶縁膜で覆うことにより、外部端子との短絡が防止でき、また、発光装置をプリント板などに実装する際に金属体直下に配線を配すことが可能となるため機器を小型化することができる。また、絶縁膜を発光素子搭載側に形成した場合には、発光素子電極間の短絡を防止でき、発光素子のフリップチップ実装を簡便にすることができる。
また、W、Mo、Cu、Ag、Alのうち少なくとも1種を主成分として導体層および金属体を形成することで、電気特性に優れ且つ、放熱性にも優れたより高輝度な発光素子用配線基板を得ることができる。
また、発光素子用配線基板の搭載部の主面に、発光素子を収納するための枠体を設けることで、発光素子を保護できるとともに、発光素子の周辺に蛍光体などを容易に配置することができる。また、枠体により発光素子の発する光を反射させて所定の方向に誘導することもできる。
以上説明した本発明の発光素子用配線基板に発光素子を搭載した本発明の発光装置によれば、発光素子からの発熱を速やかに装置外に放出することができるため、発熱による輝度低下を抑制できる。
本発明の発光素子用配線基板は、例えば、図1(a)、(b)に示すように、平板状の絶縁基体1と、この絶縁基体1の表裏面を貫通するように形成された貫通孔2と、絶縁基体1の主面1aに形成された発光素子との接続端子3、絶縁基体1の他方の主面1bに形成された外部電極端子5、接続端子3と外部電極端子5とを電気的に接続するように絶縁基体1を貫通して設けられた貫通導体7と、絶縁基体1を貫通して設けられた貫通孔2に挿入され、絶縁基体1に接合された絶縁基体1よりも熱伝導率が高い金属体8から構成されている。
そして、絶縁基体1と金属体8とを接合させるため、両者の間には、金属、樹脂、セラミックスの群から選ばれる少なくとも1種を含有する接合層18が形成されている。
そして、一方の接続端子3aと他方の接続端子3bとの間には、発光素子を搭載するための搭載部9が形成されている。
また、例えば、本発明の発光素子用配線基板11には、図1(a)、(b)に示すように、搭載部9側に、搭載される発光素子を収納するための枠体13が形成されて構成されていることが望ましい。
このような本発明の発光素子用配線基板11によれば、絶縁基体1よりも高い熱伝導率を有する金属体8が、絶縁基体1に形成された貫通孔2に挿入されていることが重要であり、また、この金属体8の相対密度が99.8%以上であることが特に重要なのである。
即ち、絶縁基体1より高い熱伝導率を有する金属体8を設けることにより、本発明の発光素子用配線基板に搭載される発光素子から発生する熱を速やかに放散することができるため、発光素子の輝度低下を防ぐことが可能となる。
つまり、この金属体8の相対密度を99.8%以上とすることで、言い換えると、無垢の金属により形成された金属体8を用いることで、内部に、気泡や、セラミックス粉末、ガラスなどを含有する複合体を用いる場合に比べて、金属体8の熱伝導率を格段に高くすることができ、さらに放熱性に優れた発光素子用配線基板11となるのである。
そして、このような金属体8は、例えば、高熱伝導で、低抵抗で、比較的安価なCuからなる金属板や、金属箔をプレス機などにより、所望の形状に打ち抜き加工するなどして容易に作製することができる。
また、複雑な形状の金属体8は、プレス加工や、鋳込みや、研磨加工、粉末冶金などの手法により形成することができる。また、このほかの従来周知の加工方法を用いて金属体8を作製してもよいことは言うまでもない。
また、金属板8の素材としては、Cu以外にも、Alや、あるいは、Cu−Wなどの複合材を用いることができる。この2種以上の金属を含有するCu−Wなどの複合材を用いる場合には、用いる金属とその比率を制御することで、所望の特性を有する金属体8を作製することができる。また、金属体8が合金により形成されていてもよいのは勿論である。また、金属体8が複数の部材を組み合わせて構成されていてもよい。
なお、金属体8は、発光素子の搭載部9を平坦にするため絶縁基体1と実質的に同一厚みであることが望ましい。
このような金属体8は、安価に容易に入手できるだけでなく、種々の形態の絶縁基体1に容易に取り付けることができるため、搭載される発光素子の性能に応じて、種々の形態の絶縁基体1を用い、性能とコストをふまえて最適の組み合わせとすることができる。
また、図1(a)に示すように、この金属体8の形状を、金属体8の側面が貫通方向に対して平行になるようにした場合には、安価な金属体8となる。
それに対して、図1(b)に示すように、金属体8の側面のうち少なくとも一部が、貫通方向に対して非平行になるようにした場合には、言い換えると、金属体8の側面に凹凸を設けた場合には、わずかに金属体8のコストは上昇するものの、絶縁基体1と金属体8との接触面積が増加するために、両者の接合強度を向上させることができる。なお、金属体8の側面に凹凸を設ける場合には、図1(b)のように金属体8の一方の端面と、他方の端面との大きさが異なっている必要はない。例えば、金属体8の一方の端面と、他方の端面との大きさが同じであっても、金属体8の挿入に支障のない範囲の凹凸を金属体8の側面に設けることができるのは言うまでもない。
また、図1(b)のように、金属体8に鍔部を形成したり、金属体8の一方の端面を他方の端面よりも大きくすることで、金属体8を貫通孔2に挿入する際の位置決めが容易になるために、組立性が格段に向上するという利点もある。
さらに、図1(b)のように、搭載部9と逆側の金属体8の端面の面積を大きくした場合には、熱の伝達経路が広くなり、発光素子用配線基板の放熱性がさらに向上する。特に、金属体8の一方の端面が、他方の端面の1.1倍以上の面積を有することが望ましく、更に好適には1.2倍以上とすることが望ましい。
また、例えば、金属体8に形成された鍔部が貫通孔2の外側に形成されていてもよい。
また、この金属体8には、例えば、搭載される発光素子に電気を供給する電気回路としての機能を付与することもでき、小型で、しかも放熱性に優れた発光素子用配線基板11となる。
また、図2(a)、(b)に示すように、金属体8の少なくとも一方の端面を絶縁膜6で覆うことにより、外部端子3や、外部電極端子5との短絡が防止でき、また、図2(b)に示すように、絶縁膜6を発光素子用配線基板11の発光素子搭載側と逆側の主面1bに形成することにより、発光装置をプリント板などの外部電気回路基板に実装する際に金属体8直下に配線を配すことが可能となるため機器の小型化を実現することができる。
また、図2(a)に示すように、絶縁膜6を発光素子用配線基板11の発光素子搭載側の主面1aに形成することにより、発光素子の電極間の短絡を防止でき、発光素子のフリップチップ実装信頼性を向上させることができる。
この絶縁膜6は、例えば、ソルダレジストに用いられる樹脂や、樹脂系配線基板に用いられる絶縁性の樹脂により容易に形成することができる。
特に、耐水性に優れた絶縁膜6とするために、絶縁膜6にセラミック粉末を5〜60体積%の割合で含有させることが望ましい。
また、図3に示すように、仮に、絶縁基体1と金属体8との境界にクラックが発生したとしても、クラックが発光素子用配線基板11の表層に進展することを防止することができることから絶縁基体1の主面に形成された絶縁基体1と金属体8との境界を、例えば、樹脂を主成分とする被覆層12により被覆することが望ましい。これらの被覆層12で金属体8と絶縁基体1との境界を被覆することにより、両者の熱膨張差を緩衝し、境界でのクラックの発生を抑制することができる。
また、絶縁基体1と金属体8との間に形成された接着層18を貫通孔2から、はみ出させて絶縁基体1と金属体8との境界を塞ぐようにしてもよい。その場合には、樹脂以外にも接着層18を形成する素材により被覆層12が形成される。
つぎに、絶縁基体1について説明する。この発光素子用配線基板11に用いる絶縁基体1は、例えば、MgOやAlなどのセラミックス基板や、有機系の樹脂基板を好適に用いることができる。
そして、絶縁基体1として、セラミック基板を用いた場合には、高剛性である点、発光素子の発する光や熱による変質がない点、比較的高熱伝導性の素材が多い点で、高性能で長寿命の発光素子用配線基板11となる。
また、絶縁基体1として、低温焼成基板、いわゆるガラスセラミックスを用いた場合には、熱伝導率や、強度や、剛性こそAlなどの1050℃以上の温度域で焼成されるセラミックスには劣るものの、熱膨張係数を容易に制御することができるため、容易に金属体8との熱膨張係数の整合を図ることができる。また、配線層として低抵抗のCuや、Agなどを同時焼成することができるため、発光素子以外の部分の電気的な損失や発熱を抑制することができる。
また、絶縁基体1として、樹脂を用いた場合には、安価な発光素子用配線基板11となる。なお、絶縁基体1の剛性や、強度ならびに吸湿性や、耐熱性を向上させるため、セラミック粉末や、ガラスクロスを含有する樹脂基板を用いることが望ましい。
これらの絶縁基体1として用いられる素材について、以下に詳細に説明する。
たとえば、MgOを主結晶とする絶縁基体1は、例えば、平均粒径0.1〜8μmの純度99%以上のMgO粉末に、平均粒径0.1〜8μmのYやYbなどの希土類元素酸化物、Al、SiO、CaO、SrO、BaO、B、ZrOの群から選ばれる少なくとも1種の焼結助剤を添加した成形体を1300〜1700℃の温度範囲で焼成することによって得られる。
また、あるいは、MgOを含有するMgAlやMgO・SiO系の複合酸化物を添加してもよい。そして、焼結助剤などのMgO以外の組成物の添加量については、MgOを主結晶とする緻密体を得るために、望ましくは30質量%以下、更に望ましくは、20質量%以下とすることが望ましい。特に、焼結助剤などのMgO以外の組成物の添加量が10質量%以下とした場合には、得られる絶縁基体1の大部分をMgO結晶により形成することができる。また、これらの焼結助剤は、焼成温度を低くするために3質量%以上、さらには5質量%以上添加することが望ましい。
なお、MgOを主結晶相とするMgO質焼結体とは、例えば、X線回折によって、MgOのピークが主ピークとして検出されるようなもので、MgOの結晶を体積比率として、50体積%以上含有していることが望ましい。
また、この絶縁基体1として、Alを主結晶相とするAl質焼結体を用いた場合には、安価な原料を使用でき、安価な発光素子用配線基板11を得ることができる。
なお、Alを主結晶相とするAl質焼結体とは、例えば、X線回折によって、Alのピークが主ピークとして検出されるようなもので、Alの結晶を体積比率として、50体積%以上含有していることが望ましい。
このようなAl質焼結体は、例えば、平均粒径0.1〜8μm、望ましくは1.0〜2.0μmの純度99%以上のAl粉末に、平均粒径1.0〜2.0μmのMn、SiO、MgO、SrO、CaOの群から選ばれる少なくとも1種の焼結助剤を添加した成形体を1300〜1500℃の温度範囲で焼成することによって得られるものである。
そして、焼結助剤などのAl以外の組成物の添加量については、Alを主結晶とする緻密体を得るために、望ましくは15質量%以下、更に望ましくは、10質量%以下とすることが望ましい。特に、焼結助剤などのAl以外の組成物の添加量が15質量%以下とした場合には、得られる絶縁基体1の大部分をAl結晶により形成することができる。また、これらの焼結助剤は、焼成温度を低くするために5質量%以上、さらには7質量%以上添加することが望ましい。なお、絶縁基体1に用いるセラミックスとして、AlNやSiなどを主結晶とする焼結体を用いても良い。
このようなMgOやAlを主成分とする組成物に、さらに、バインダー、溶剤を添加して、スラリーを作製し、例えば、ドクターブレード法により、シート状の成形体を作製し、さらに、その表面や、シート状の成形体に設けた貫通孔などに、少なくとも金属粉末を含有する導体ペーストを印刷、充填したのち、このシートを積層し、酸化雰囲気、還元雰囲気、あるいは不活性雰囲気で焼成することで、表面や内部に接続端子3や外部電極端子5や貫通導体7などの配線層が形成された絶縁基体1を作製することができる。また、配線層は、薄膜法により絶縁基体1の表面に形成したり、金属箔を成形体の表面に転写するなどして形成できることはいうまでもない。
なお、シート状の成形体には、焼成工程の前に、金属体8を挿入するための貫通孔2となる孔を予め形成しておく必要があるのは言うまでもない。
また、絶縁基体1として、低温焼成基板を用いる場合についても、素材と焼成温度の点で異なるものの、基本的に同様の手順で、貫通孔2や配線層を備えた絶縁基体1を作製することができる。
また、絶縁基体1として、樹脂を用いる場合には、従来周知のプリント配線基板等に用いられるガラス−エポキシ基板を用いるのが望ましい。ガラス−エポキシ基板に対して、通常のプリント配線基板の製造方法により、接続端子3、外部電極端子5、貫通導体7を形成し、更に、金属体8を形成するための貫通孔をドリル、レーザー等で形成する。
次に、以上説明した貫通孔2を設けた種々の絶縁基体1に対して、理論比重に対する相対密度が99.8%以上の金属体8を準備し、貫通孔2内に金属体8を挿入して、接合層により絶縁基体1と金属体8を接合させ、発光素子用配線基板11を得ることができる。
ここで用いる接合層18は、金属、セラミックス、樹脂のいずれかもしくは複合体からなる接着剤が好適に用いられる。
接合層18に関して、金属を用いる場合には、半田等の低融点の金属を用いることで工程を簡略化できる。用いられる半田としては、従来周知の錫60〜10%−鉛40〜90%や、鉛を含まない鉛フリー半田が挙げられる。
そして、半田を用いた場合には、窒素雰囲気のリフロー炉へ230℃×10秒の条件で処理して、絶縁基体1と金属体8とを接合することができる。
また、半田以外にも活性金属を用いて、いわゆる活性金属法により絶縁基体1と金属体8とを接合することもできる。
なお、接合層18として、金属を用いる場合には、貫通孔2の内壁には、接合層18との濡れ性を向上させるために金属層を形成する必要がある。
また、接合層18として、樹脂を用いる場合には、一般的に用いられるエポキシ樹脂系の接合剤を用いることが望ましい。
そして、それぞれの接合剤の硬化温度に応じて、例えば、80〜150℃、20〜40分の条件で接合剤を硬化し、接合層18を介して絶縁基体1と金属体8とを接合することができる。
この樹脂を用いた接合は、安価で、しかも容易である点で優れている。特に、樹脂からなる絶縁基体1と組み合わせた場合には、接合力が高くなるとともに、比較的低温での処理が可能であることから、絶縁基体1に与えるダメージがほとんどなく、界面等にクラックの無い信頼性の高い発光素子用配線基板11を作製することができる。
また、接合層18として、セラミックスを用いる場合として、例えば、低融点のガラスを例示できる。このような低融点のガラスを用いることで、比較的低温(600℃以下)での接合が可能となり、接合により発生する応力を小さくすることができる。
また、接合層18として、金属、セラミックス、樹脂を複合化して用いることができるのは言うまでもない。たとえば、金属粉末、セラミック粉末、樹脂とを混合することで接合層の熱膨張係数を制御することもでき、絶縁基体1の特性に応じた接合を行うことができる。
このような発光素子用配線基板11に形成された配線回路に用いる導体および金属体8を、W、Mo、Cu、Ag、Alのうち少なくとも1種を主成分として形成することで、電気特性、放熱性に優れた、安価な発光素子用配線基板11を得ることができる。
また、接続端子3および金属体8の表面にAlめっきやAgめっきを施すことにより、腐食に対する抵抗力が向上し、発光素子用配線基板11の信頼性が向上するとともに、接続端子3および金属体8の反射率を向上させることができる。
このような発光素子用配線基板11の搭載部9側の主面には、枠体13を設けることが望ましく、例えば、セラミックスからなる絶縁基体1を用いる場合には、枠体13を、セラミックスにより形成することで、絶縁基体1と枠体13とを同時焼成することができ、工程が簡略化されるため、安価な発光素子用配線基板11を容易に作製することができる。
また、セラミックスは耐熱性、耐湿性に優れているため、セラミック製の枠体13を用いることで長期間の使用や、悪条件での使用にも、優れた耐久性を有する発光素子用配線基板11となる。
また、安価で、加工性に優れた金属により枠体13を形成することで、複雑な形状の枠体13であっても、容易に安価に製造することができ、安価な発光素子用配線基板11を供給することができる。この金属製の枠体13は、例えば、AlやFe−Ni−Co合金等などにより好適に形成することができる。また、枠体13の内壁面13aには、反射率を向上させるため、Ni、Au、Ag、Alなどからなるめっき層(図示せず)を形成してもよい。
なお、このように枠体13を金属により形成する場合には、予め、絶縁基体1の主面1aに金属層17を形成し、この金属層17と枠体13とを、例えば、共晶Ag−Cuろう材等からなるろう材(図示せず)を介してのろう付けや、半田による接合をすることができる。
また、樹脂系の接着剤を用いてもよいことはいうまでもなく、素材としては、樹脂系の接合層18と同様のものを用いることができる。
そして、以上説明した本発明の発光素子用配線基板11に、例えば、図4(a)、(b)に示すように発光素子21として、LEDチップ21などを搭載し、ボンディングワイヤ23により、発光素子21と接続端子3とを電気的に接続し、発光素子21に給電することにより、発光素子21を機能させることができ、発光素子21からの発熱を金属体8から速やかに放出することができるため、ヒートシンク等の放熱部材が不要となり、実装される電気機器の小型化に寄与できるとともに、安価な発光装置25ができる。なお、ヒートシンクを設けることで、更に放熱性が向上することはもちろんであり、例えば、ヒートシンクのような冷却装置を設けることを排除するものではない。
また、発光素子用配線基板11に形成された搭載部9に、例えば発光素子21として、LEDチップ21などを搭載し、ボンディングワイヤ23により、LEDチップ21と接続端子3と電気的に接続して、給電することにより、発光素子21の放射する光を絶縁基体1や枠体13に反射させ、所定の方向へと誘導することができるため、高効率の発光装置25となる。また、金属体8の熱伝導率が高いため、発光素子21からの発熱を速やかに放出することができ、発熱による輝度低下を抑制できる。
また、図4(a)、(b)に示すように、発光素子21を搭載した側の発光素子用配線基板11の主面1aに、枠体13を搭載した発光装置25では、枠体13の内側に発光素子21を収納することで、容易に発光素子21を保護することができる。
なお、図4(a)、(b)に示した例では、発光素子21は、接合剤29により発光素子用配線基板11に固定され、電力の供給はワイヤボンド23によりなされているが、発光素子用配線基板11との接続形態は、フリップチップ接続であってもよいことはいうまでもない。
また、発光素子21は、モールド材31により被覆されているが、モールド材31を用いずに、蓋体(図示せず)を用いて封止してもよく、また、モールド材31と蓋体とを併用してもよい。なお、蓋体としては、ガラスなどの透光性の素材を用いることが望ましい。
なお、発光素子21を搭載する場合には、必要に応じて、このモールド材31に発光素子21が放射する光を波長変換するための蛍光体(図示せず)を添加してもよい。
また、以上説明した例では、貫通導体7を設けた例について説明したが、貫通導体7を設けない場合であってもよく、また、絶縁基体1が多層に積層されている形態であってもよいことは勿論である。
また、以上説明した例では、全て、枠体13を設けた形態について説明しているが、枠体13を具備しない形態であってもよいのはいうまでもない。
発光素子用配線基板の絶縁基体の原料粉末として純度99%以上、平均粒径が1μmのMgO粉末、純度99%以上、平均粒子径1μmのY粉末を用いて、MgO粉末95質量%、Y5質量%の割合で原料粉末を混合し、成形用有機樹脂(バインダ)としてアクリル系バインダと、トルエンを溶媒として混合し、スラリーを調整した。
しかる後に、ドクターブレード法にてセラミックグリーンシートを作製した。
また、平均粒子径2μmのW、Cu粉末、平均粒径1.0μmのAlを用いて、W50質量%、Cu50質量%、Al5質量%の割合で金属粉末とアクリル系バインダとアセトンとを溶媒として混合し、導体ペーストを調製した。
そして、上記のセラミックグリーンシートに対して、打ち抜き加工を施し、貫通導体を形成するための直径が100μmのビアホールを形成し、このビアホール内に、導体ペーストをスクリーン印刷法によって充填するとともに、配線パターン状に印刷塗布した。また、打ち抜き加工時にビアホールとともに、金属体を挿入するための貫通孔を形成した。
このようにして作製したグリーンシートを組み合わせ、位置合わせし、積層圧着し、焼成後の寸法が、外形10mm×10mm×厚み0.6mmとなる積層体を作製した。
なお、この積層体は、枠体を設けないもの、セラミック製の枠体を設けるもの、金属製の枠体を設けるものの3種類を作製した。
セラミック製の枠体を設けるものについては、積層体の発光素子が搭載される搭載部側には、10mm×10mm×2mmの外形寸法を有し、前記積層体と接する側の内径が4mm、逆側の内径が8mmのテーパー状の貫通穴を有する絶縁基体と同様の材質からなる枠体を形成した。なお、この枠体となる成形体は前記積層体と熱圧着にて一体物として形成した。
また、金属製の枠体を設けるものについては、積層体の搭載部側の枠体と接する部分に導体ペーストをスクリーン印刷して金属層を形成した。
そして、枠体となる成形体と一体化した積層体を露点+25℃の窒素水素混合雰囲気にて900℃で脱脂を行った後、引き続き、露点+25℃の窒素水素混合雰囲気にて表1に示す最高温度で2時間保持して焼成した。
その後、接続端子並びに外部電極端子の表面にNi、Auめっきを順次施した。なお、MgOの耐薬品性がAlなどと比較すると低いため、めっき処理液の濃度を薄くし、めっき処理温度を低くして、発光素子用配線基板の表面状態が劣化しないようにして、本発明の発光素子用配線基板のめっき処理を行った。
次に、金属製の枠体を設けた試料については、熱膨張係数が23×10−6/℃、熱伝導率が238W/m・KのAl製金属枠体を、半田を用いて枠体を絶縁基体に接合して作製した。
なお、金属体を挿入するための貫通孔は、表2並びに図5に示すように、貫通孔の壁面に凹凸を設け、階段状としたものと、凹凸を設けない2種類の形状となるように加工した。
次に、この貫通孔の内壁に対して、金属体を挿入したときに金属体と貫通孔との間に50μmの隙間ができるような形状の金属体を準備した。なお、金属体の厚みは絶縁基体と略同一となるように加工した。なお、表2に用いた金属体の組成を示しているが、単独の金属元素を用いたものについては、純度99%以上の無垢金属体を用いている。また、Cu−Wと記載した金属体については、Cu20質量%、W質量80%の組成を用いた。また、表2に、この金属体の相対密度と熱膨張係数、熱伝導率を示す。なお、焼成後の絶縁基体の熱膨張係数は10×10−6/℃であった。なお、熱膨張係数の測定は、TMAを用いて、25〜400℃の温度範囲で行った。
次に、金属体の表面にエポキシ樹脂系接着剤をディスペンサーにて塗布し、このエポキシ樹脂系接着剤が塗布された金属体を絶縁基体の貫通孔に挿入した。その後、120℃、30分の条件で接着剤を硬化させて金属体と絶縁基体とを接合し、発光素子用配線基板を得た。
更に、これらの発光素子用配線基板の搭載部にエポキシ樹脂系接着剤をディスペンサーを用いて塗布し、出力1.5Wの発光素子であるLEDチップを実装し、ボンディングワイヤによりLEDチップと接続端子とを結線し、さらに、LEDチップと接続端子とを熱膨張係数が40×10−6/℃のエポキシ樹脂からなるモールド材で覆い、発光装置を得た。
得られた発光装置を用いて、−55℃〜125℃の温度サイクル試験を1000サイクル行い、試験後、金属体と絶縁基体間の接合界面の剥離状況を確認した。
また、発光装置に0.4Aの電流を通電し、1時間後に全放射束測定を行った。
また、比較例として、金属体を貫通孔に挿入し、接合する工程にかえて、ビアホールとともに形成した金属体を挿入するための貫通孔に、導体ペーストを充填する工程、積層体と貫通孔に充填した導体ペーストとを同時焼成する工程とを行い、相対密度が99.8%未満の金属体を形成した発光素子用配線基板を作製し、実施例と同様の試験を行った。
なお、比較例の金属体の相対密度については、この金属体の断面SEM観察により、明らかに、ボイド、セラミック粉末の占める割合が0.2%を越えており、正確な値は定かではないものの、99.8%未満であることは議論の余地がなく、この金属体の断面SEM観察により99.8%未満と判断した。
原料粉末として純度99%以上、平均粒径が1.0μmのAl粉末、純度99%以上、平均粒子径1.3μmのMn粉末、純度99%以上、平均粒径1.0μmのSiO粉末を用いて、Al粉末90質量%、Mn粉末5質量%、SiO粉末5質量%の割合で原料粉末を混合し、成形用有機樹脂(バインダ)としてアクリル系バインダと、トルエンを溶媒として混合し、スラリーを調整した。しかる後に、ドクターブレード法にてセラミックグリーンシートを作製した。
また、導体ペーストは、MgOを主成分とする場合に用いたものと同じ原料を用いて、同じ工程、同じ割合で調整して作製した。
そして、上記のセラミックグリーンシートに対して、打ち抜き加工を施し、貫通導体を形成するための直径が100μmのビアホールを形成し、このビアホール内に、導体ペーストをスクリーン印刷法によって充填するとともに、配線パターン状に印刷塗布した。また、打ち抜き加工時にビアホールとともに、金属体を挿入するための貫通孔を形成した。
このようにして作製したグリーンシートを組み合わせ、位置合わせし、積層圧着し、焼成後の寸法が、外形10mm×10mm×厚み0.6mmの積層体を作製した。
そして、露点+25℃の窒素水素混合雰囲気にて900℃で脱脂を行った後、引き続き、露点+25℃の窒素水素混合雰囲気にて表1に示す最高温度で2時間保持して焼成した。
その後、接続端子並びに外部電極端子の表面にNi、Auめっきを順次施した。
実施例2においては金属製の枠体を用いた。用いた枠体の材質としては、熱膨張係数が23×10−6/℃、熱伝導率が238W/m・KのAl製金属枠体を用いた。また、金属製の枠体については、接続端子並びに外部電極端子を形成する導体ペーストを用いて、絶縁基体の搭載部側の枠体が搭載される部分に金属層を形成したのち、半田を用いて枠体を絶縁基体に接合して作製した。
また、金属体に関してもMgOを主成分とする場合と同様に、表2に示す材料を用いた。そして、実施例1と同様の工程で、絶縁基体と金属体をエポキシ樹脂系の接着剤にて接合し発光素子用配線基板を得た。金属体の熱膨張係数については表2に示す。なお、絶縁基体の熱膨張係数は7.5×10−6であった。
これらの発光素子用配線基板に接合剤としてエポキシ樹脂をディスペンサーを用いて塗布し、出力1.5Wの発光素子であるLEDチップを搭載部に実装し、ボンディングワイヤによりLEDチップと接続端子とを結線し、さらに、LEDチップと接続端子とを熱膨張係数が40×10−6/℃のエポキシ樹脂からなるモールド材で覆い、発光装置を得た。
得られた発光装置を、−55℃〜125℃の温度サイクル試験を1000サイクル行い、試験後、金属体と絶縁基体間の接合界面の剥離状況を確認した。
また、発光装置に0.4Aの電流を通電し、1時間後に全放射束測定を行った。
絶縁基体として樹脂を用いる場合には、まず、ガラス−エポキシ基板からなる熱膨張係数は16×10−6/℃、厚み0.6mmのプリント配線基板の両面に銅箔が形成された銅貼り基板を用いて、従来周知のサブトラクティブ法により、接続端子、外部電極端子、貫通導体、貫通孔を形成した。なお、貫通導体は、銅めっきにより形成した。また、貫通孔の内壁にも銅めっき層を形成した。なお、このガラス−エポキシ基板の熱膨張係数は16×10−6/℃であった。
また、枠体は金属製の枠体を用い、熱膨張係数が23×10−6/℃、熱伝導率が238W/m・KのAl製金属枠体を用いた。また、金属製の枠体を設けた発光素子用配線基板については、接続端子並びに外部電極端子を形成する銅箔を用いて、絶縁基体の搭載部側の枠体が搭載される部分に金属層を形成したのち、半田を用いて枠体を絶縁基体に接合して作製した。半田は従来周知の錫40%−鉛60%を用い、窒素雰囲気のリフロー炉へ230℃×10秒の条件で枠体と絶縁基体を接合した。
次に、この貫通孔の内壁に対して、金属体を挿入したときに金属体と貫通孔との間に50μmの隙間ができるような形状の金属体を準備した。なお、金属体の厚みは絶縁基体と略同一となるように加工した。なお、表2に用いた金属体の組成を示しているが、単独の金属元素を用いたものについては、純度99%以上の無垢金属体を用いている。また、Cu−Wと記載した金属体については、Cu質量20%、W80質量%の組成を用いた。また、表2に、この金属体の相対密度と熱膨張係数、熱伝導率を示す。この金属体を貫通孔に挿入後、半田ペーストをディスペンサーで隙間に充填し、窒素雰囲気のリフロー炉へ230℃×10秒の条件で金属体と絶縁基体を接合した。半田は従来周知の錫40%−鉛60%を用いた。また、金属体の熱膨張係数については表2に示す。
これらの発光素子用配線基板に接合剤としてエポキシ樹脂をディスペンサーを用いて塗布し、出力1.5Wの発光素子であるLEDチップを搭載部に実装し、ボンディングワイヤによりLEDチップと接続端子とを結線し、さらに、LEDチップと接続端子とを熱膨張係数が40×10−6/℃のエポキシ樹脂からなるモールド材で覆い、発光装置を得た。
得られた発光装置を、−55℃〜125℃の温度サイクル試験を1000サイクル行い、試験後、金属体と絶縁基体間の接合界面の剥離状況を確認した。
また、発光装置に0.4Aの電流を通電し、1時間後に全放射束測定を行った。
以上の工程により作製した発光素子用配線基板の特性と、試験結果を表2に示す。
Figure 2006066519
Figure 2006066519
表2に示すように、金属体の相対密度が99.8%に満たない本発明の範囲外である試料No.1では、同形状で相対密度が99.8%を越える金属体を用いた本発明の試料No.2よりも、金属体の熱伝導率が低く、発光素子用配線基板としての放熱性、光特性に劣ることがわかる。
一方、本発明の発光素子用配線基板である試料No.2〜26は、絶縁基体の熱伝導率の影響は受けるものの、ボイドや、セラミック粉末などの熱伝導を阻害する要因を排除した緻密な金属体を用いることで、優れた放熱性、光特性を有する発光素子用配線基板となった。
は、本発明の発光素子用配線基板の断面図である。 は、被覆膜を設けた本発明の発光素子用配線基板の断面図である。 は、被覆層を設けた本発明の発光素子用配線基板の断面図である。 は、本発明の発光装置の断面図である。 は、金属体の形状を示す断面図である。
符号の説明
1・・・絶縁基体
2・・・貫通孔
3・・・接続端子
5・・・外部電極端子
6・・・絶縁膜
7・・・貫通導体
8・・・金属体
9・・・搭載部
11・・発光素子用配線基板
12・・被覆層
13・・枠体
13a・・枠体の内壁面
17・・・金属層
18・・・ 接合層
21・・・発光素子
23・・・ワイヤボンド
25・・・発光装置
29・・・接合剤
31・・・モールド材

Claims (16)

  1. 少なくとも、平板状の絶縁基体と、該絶縁基体を貫通して設けられた貫通孔と、前記絶縁基体の表面又は内部のうち少なくとも一方に形成された導体層と、前記絶縁基体の一方の主面に発光素子を搭載する搭載部と、を具備してなる発光素子用配線基板であって、前記絶縁基体よりも高い熱伝導率を有するとともに理論比重に対する相対密度が99.8%以上の金属体が、前記絶縁基体に設けられた貫通孔に挿入され、前記絶縁基体に接合されていることを特徴とする発光素子用配線基板。
  2. 前記絶縁基体がセラミックスからなることを特徴とする請求項1に記載の発光素子用配線基板。
  3. 前記絶縁基体が樹脂を含有してなることを特徴とする請求項1に記載の発光素子用配線基板。
  4. 前記金属体が、該発光素子用配線基板に搭載される発光素子の搭載面積よりも大きな断面積を有することを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれかに記載の発光素子用配線基板。
  5. 前記金属体の一方の端面が、他方の端面よりも大きいことを特徴とする請求項1乃至4のうちいずれかに記載の発光素子用配線基板。
  6. 前記金属体の搭載部側と反対の端面が、前記金属体の搭載部側の端面よりも大きいことを特徴とする請求項1乃至5のうちいずれかに記載の発光素子用配線基板。
  7. 前記絶縁基体と前記金属体とが、接合層により接合されていることを特徴とする請求項1乃至6に記載の発光素子用配線基板。
  8. 前記接合層が、金属を含有することを特徴とする請求項7記載の発光素子用配線基板。
  9. 前記接合層が、樹脂を含有することを特徴とする請求項7記載の発光素子用配線基板。
  10. 前記接合層が、セラミックスを含有することを特徴とする請求項7記載の発光素子用配線基板。
  11. 前記発光素子用配線基板の主面に形成された、前記絶縁基体と前記金属体との境界を、被覆層により被覆したことを特徴とする請求項1乃至10のうちいずれかに記載の発光素子用配線基板。
  12. 前記金属体が、電気回路を形成していることを特徴とする請求項1乃至11のうちいずれかに記載の発光素子用配線基板。
  13. 前記金属体の少なくとも一方の端面が絶縁膜で覆われていることを特徴とする請求項1乃至12のうちいずれかに記載の発光素子用配線基板。
  14. 前記導体層および金属体がW、Mo、Cu、Ag、Alのうち少なくとも1種を主成分とすることを特徴とする請求項1乃至13のうちいずれかに記載の発光素子用配線基板。
  15. 前記発光素子用配線基板の搭載部が形成された側の主面に、発光素子を収容するための枠体が形成されてなることを特徴とする請求項1乃至14のうちいずれかに記載の発光素子用配線基板。
  16. 請求項1乃至15のうちいずれかに記載の発光素子用配線基板の搭載部に発光素子を搭載してなることを特徴とする発光装置。

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