JP2006014724A - 温度制御方法及び温度制御装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】微生物等の温度を精度良く制御する。
【解決手段】温度制御装置は、微生物等を格納する複数のセル2と、ヒータ11、12,…,1nと、冷却部とを備える。ヒータ11、12,…,1nは複数のセル2を選択的に加熱し、冷却部は複数のセル2を全体的に冷却する。複数の箇所の温度の最大値が第1の上限値以上の場合には冷却部を駆動する。ある箇所の温度が第1の下限値以下の場合には当該箇所を加熱するヒータを駆動する。最大値が第2の下限値以下の場合には冷却部を停止する。ある箇所の温度が第2の上限値以上の場合には当該箇所を加熱するヒータを駆動しない。
【選択図】図3

Description

本発明は、温度制御装置に関し、例えば微生物又は細胞(以下「微生物等」と称す)の培養に適用することができる。
微生物等の培養速度は、これらを格納する容器(以下「セル」と称す)の温度(以下「セル温度」と称す)に敏感である。よって微生物等の培養に際しては、セル温度を精度良く制御することが望ましい。
一方、セル温度は等しくても、その他の条件を異ならせて微生物等を並行して培養したい場合もある。かかる培養を行う技術として、例えば個体数の初期値が異なる複数のセルを用い、微生物等を並行して培養する技術が、非特許文献1に例示されている。
また、バイオテクノロジーの分野で検体を至適温度に管理するために、ヒータと冷却モジュールを適用する技術が、特許文献1に例示されている。
特開平9−122507号公報 "食品細菌検査システムDOX−60F/30F(従来法との比較)"、[online]、ダイキン工業株式会社、[平成17年3月22日]、インターネット<URL:http://www.del.co.jp/products/dox/sub3.html>
しかし、特許文献1に記載された技術は単にヒータと冷却モジュールを併有するに過ぎない。その故、セル温度以外の複数の条件が異なる複数のセルを用いて微生物等を並行して培養する際、セル温度を相互に精度よく等しくする観点がなかった。
本発明は、上述の事情に鑑みてなされたものであり、複数の容器の温度を相互に精度よく等しくする技術を提供することを目的とする。
この発明にかかる温度制御方法の第1の態様は、温度制御される被温度制御対象(20)と、前記被温度制御対象の複数の箇所を加熱するヒータ(11,12,…,1n)と、前記被温度制御対象の全体を冷却する冷却部(7)とを備える温度制御装置を制御する。そして下記ステップ(a)〜(c)を実行する:(a)前記複数の箇所の温度(T1〜Tn)を測定するステップ(S101);(b)前記箇所の前記温度の少なくとも一つが第1の上限値(Ts+δ1)以上の場合には前記冷却部を駆動するステップ(S103,S104);(c)一の前記箇所の前記温度が第1の下限値(Ts−δ2)以下の場合には当該一の前記箇所を加熱する前記ヒータを駆動するステップ(S107,S108)。
例えば前記第1の上限値は前記被温度制御対象(20)の温度の目標値(Ts)に第1の正値(δ1)を加算した値であり、前記第1の下限値は前記目標値から第2の正値(δ2)を差し引いた値である。
この発明にかかる温度制御方法の第2の態様は、第1の態様にかかる温度制御方法であって、下記ステップ(d),(e)をも実行する:(d)全ての前記箇所の前記温度(T1〜Tn)が第2の下限値(Ts+δ3)以下の場合には前記冷却部を駆動しないステップ(S105,S106);(e)一の前記箇所の前記温度が第2の上限値(Ts+δ4)以上の場合には当該一の前記箇所を加熱する前記ヒータを駆動しないステップ(S109,S110)。
例えば前記第2の下限値は前記第1の上限値(Ts+δ1)よりも低く、前記被温度制御対象(20)の温度の目標値(Ts)に第3の正値(δ3)を加算した値である。また前記第2の上限値は前記第1の下限値(Ts−δ2)よりも高く、前記目標値に第4の正値(δ4)を加算した値である。
この発明にかかる温度制御方法の第3の態様は、第2の態様にかかる温度制御方法であって、(f)前記箇所の前記温度の少なくとも一つが前記第2の下限値(Ts+δ3)より高くかつ全ての前記箇所の前記温度(T1〜Tn)が前記第1の上限値(Ts+δ1)より低く、いずれの前記箇所の前記温度も第1の下限値(Ts−δ2)より高くかつ前記第2の上限値(Ts+δ4)より低いある場合に、前記温度制御装置の雰囲気温度(Ta)に従って前記被温度制御対象(20)の温度の目標値(Ts)を校正して新たな目標値(Tc)に更新するステップ(S800)を更に実行する。そして前記ステップ(f)で更新された前記目標値を用いて前記ステップ(b)、(c)を再度実行する。
望ましくは前記ステップ(f)で更新された前記目標値を用いて前記ステップ(d)、(e)を再度実行する。
この発明にかかる温度制御方法の第4の態様は、第1乃至第3の態様にかかる温度制御方法であって、前記被温度制御対象(20)は培養物を収納可能な容器(2)の複数を有する。
この発明にかかる温度制御装置の第1の態様は、収納部(101)と、冷却部(7)と、複数のヒータ(11,12,…,1n)と、複数のセンサ(41,42,…4n)とを備える。前記収納部は、温度制御される容器(2)を複数収納する。前記冷却部は、前記収納部に収納された複数の前記容器全てを並行して冷却する。前記複数のヒータは、複数の前記容器を選択的に加熱する。前記複数のセンサは、前記複数の前記ヒータの各々の加熱箇所を測温する。
この発明にかかる温度制御装置の第2の態様は、第1の態様にかかる温度制御装置であって、制御部(6)を更に備える。前記制御部は、前記容器の温度の目標値(Ts)に基づいて前記冷却器の駆動を制御する。また前記目標値と前記複数のセンサの各々の前記測温結果とに基づいて当該センサに対応する前記ヒータの駆動をも制御する。
この発明にかかる温度制御装置の第3の態様は、第2の態様にかかる温度制御装置であって、センサ(40)と、計算部(8)とを更に備える。前記センサは、雰囲気温度(Ta)を測定する。前記計算部は、前記雰囲気温度及び前記目標値(Ts)に基づいて前記目標値を更新する。
この発明にかかる温度制御装置の第4の態様は、第2の態様にかかる温度制御装置であって、センサ(40)と、記憶部(5)とを更に備える。前記センサは、雰囲気温度(Ta)を測定する。前記記憶部は、前記雰囲気温度及び前記目標値(Ts)に基づいて校正値(Tc)を与える校正データを記憶する。前記制御部(6)は、前記校正データと前記雰囲気温度及び前記目標値とに基づいて前記校正値を以て前記目標値を更新する。
この発明にかかる温度制御方法の第1の態様によれば、温度自体の精度のみならず、温度分布の精度を高めることができる。特に冷却部が全体を冷却するので、雰囲気温度よりも低い温度で温度制御を行う場合であっても、ヒータのオンオフ制御において等価的に雰囲気温度を低下させることになり、好適である。
この発明にかかる温度制御方法の第2の態様によれば、過度の冷却、過度の加熱が抑制される。
この発明にかかる温度制御方法の第3の態様によれば、温度制御の際に雰囲気温度が考慮されるので、雰囲気温度が被温度制御対象の温度に与える影響を小さくする。
この発明にかかる温度制御方法の第4の態様によれば、温度に敏感な培養に対して精度よく温度制御できるので、複数の培養物に対して均等に温度条件を設定することができる。
この発明の温度制御装置の第1の態様によれば、第1乃至第3の態様にかかる温度制御方法を実行することができる。
この発明の温度制御装置の第2の態様によれば、第1の態様及び第2の態様にかかる温度制御方法を実行することができる。
この発明の温度制御装置の第3の態様及び第4の態様によれば、第3の態様にかかる温度制御方法を実行することができる。
以下では本発明にかかる温度制御技術を、微生物等の培養に適用した場合を例にとって説明する。しかし微生物等の培養以外にも本発明にかかる温度制御技術を適用可能である。
第1の実施の形態.
図1は、本実施の形態にかかる温度制御装置の概念的な斜視図である。図2(a)及び(b)は、図1で示される温度制御装置の位置AA及び位置BBでの断面図である。温度制御装置は、セル群20、セル群20を収納する収納部であるケース101、いずれもセル温度の制御に供せられるヒータ群1と冷却部7とを備える。セル群20は、微生物等を格納する容器であるセル2の複数で構成されている。
ケース101には、セル群20を収納するための穴21が複数設けられている。例えばセル2は、微生物等を抽入する開口部と、開口部を閉じるための蓋とを有する。そして開口部側がケース101の表面側に位置するようにセル2が穴21に収納される。
なお、図1で例示されるように、温度制御装置にカバー100を設けてもよい。穴21に埃等の異物が入ることを防ぐためである。
ヒータ群1はセル2の周辺に設けられる。冷却部7は、冷却ファン71と冷却フィン72、アルミ伝導ブロック73、ペルチェ素子74、放熱フィン75、放熱ファン76とを有する。
冷却ファン71は、セル群20近傍の空気を経路701に沿って冷却フィン72へと送風する。冷却フィン72で冷却された空気は経路702に沿ってセル群20近傍へと送風される。このような空気の循環及び冷却により、ケース101に収納されたセル2の全てが並行して冷却される。経路701,702とは逆に空気が流れてもセル群20は冷却される。
冷却フィン72が得た熱は、アルミ伝導ブロック73へ与えられる。ペルチェ素子74は、アルミ伝導ブロック73側から放熱フィン75側へと熱を移動させる。放熱フィン75へ移動した熱は、放熱ファン76により外部へと放出される。
図3は穴21とヒータ群1との位置関係を例示する平面図である。但し、図示の煩雑を避けるため、ケース101自体の表示は省略している。
ヒータ群1は複数のヒータ11,12,…,1nを有している。穴21にはセル2が収納されている。穴21はヒートブロック3を介して一つ以上のヒータと隣接している。これにより、穴21、ひいてはセル2は、ヒータ群1によって選択的に加熱可能である。
例えば図面上で位置Cにおいて配列される穴21は、その配列に直交する方向の両側から、異なるヒートブロック3を介してヒータ11と隣接している。また位置Dにおいて配列される穴21は、その配列に直交する方向の一方からヒータ11と、他方からヒータ12と、それぞれ異なるヒートブロック3を介して隣接している。
ヒータ1k(k=1、2,…,n)と隣接するヒートブロック3の一つには、ヒータ1kの加熱箇所を測温するセンサ4kが設けられている。
図4は本実施の形態にかかる温度制御方法を例示するフローチャートである。温度制御される対象はセル群20であり、より詳細にはケース101に収納されるセル2の全体である。セル温度として、ヒートブロック3の温度を採用する。これはセル2内で微生物等の培養を行う際にセル2内にセンサが挿入されるのは好ましくないこと、またヒートブロック3に隣接する穴21に収納されたセル2は、このヒートブロック3の温度でほぼ均一なセル温度を呈していると考えられるからである。
上述のように、温度制御の対象となるセル2は複数存在し、複数の箇所をヒータ11,12,…,1nが選択的に加熱する。他方、温度制御の対象の全体を冷却部7が冷却する。
設定したいセル温度の目標値をTsとする。この目標値は全てのセル2について共通である。上記温度制御装置の運転スイッチが投入されると、まずステップS101において、ヒータ11,12,…,1nが加熱する複数の箇所の温度T1〜Tnを測定する。具体的には、温度T1〜Tnはそれぞれセンサ41〜4nで測定される。
次にステップS103により、これらの温度Tkのうち、少なくとも一つが所定の上限値(Ts+δ1)以上であるかどうかが判断される。これを図4では、コロンの右側に示された条件、即ち上限値(Ts+δ1)以上であるという条件を満足する温度Tkが存在することを、記号∃を用いて示している。ここでδ1は例えば正値であり、例えば1℃が採用される。
ステップS103の条件を満足した温度Tkに対応するセルが少なくとも一つ存在すると判断された場合には、処理がステップS104に進んで冷却部7を駆動する。そしてステップS101へと戻る。
全ての温度TkがステップS103の条件を満足しないと判断された場合には、ステップS105へ進む。そして全ての温度Tkが所定の下限値(Ts+δ3)以下であるかどうかが判断される。これを図4では、コロンの右側に示された条件、即ち下限値(Ts+δ3)以下であるという条件を全ての温度Tkが満足することを、記号∀を用いて示している。ここでδ3はδ1より小さく、例えば正値であり、例えば0.5℃が採用される。
全ての温度TkがステップS104の条件を満足する場合には、全てのセル2のセル温度が目標値に対して冷えすぎであると判断される。よって処理がステップS106に進んで冷却部7を停止する。そしてステップS101へと戻る。
少なくとも一つの温度TkがステップS104の条件を満足しない場合には、ステップS107へ進む。そして個々の測定温度Tkが所定の下限値(Ts−δ2)と比較される。ここでδ2は例えば正値であり、例えば0.1℃が採用される。
ある測定温度Tkが下限値(Ts−δ2)以下である場合には、センサ4kが配置されたヒートブロック3に隣接するセル2が冷えすぎであると判断される。よってセンサ4kに対応するヒータ1kをオンする。そしてステップS101へと戻る。
測定温度T1〜Tnのいずれもが下限値(Ts−δ2)より高い場合には、ステップS109へ進む。そして個々の測定温度Tkが所定の上限値(Ts+δ4)と比較される。ここでδ4は−δ2よりも大きく、例えば正値であり、例えば0.1℃が採用される。
ある測定温度Tkが上限値(Ts+δ4)以上である場合には、センサ4kが配置されたヒートブロック3に隣接するセル2が過熱していると判断される。よってセンサ4kに対応するヒータ1kをオフする。そしてステップS101へと戻る。
測定温度T1〜Tnのいずれもが上限値(Ts+δ4)より低い場合には、ステップS900へ進む。そして運転スイッチがオフされない限りステップS101へと戻る。図4においてステップS100はステップS101〜S109及びステップS104,S106,S108,S110からステップS101への帰路を含む。よってステップS900の判断が肯定的となるまで、ステップS100が繰り返されると把握することができる。
このように、上限値(Ts+δ1)以上となる温度Tkが存在する場合には冷却部7を駆動し(S104)、ある測定温度Tkが下限値(Ts−δ2)以下の場合にはヒータ1kをオンする(S108)ので、温度自体の精度のみならず、温度分布の精度を高めることができる。特に冷却部7が全てのセル2を並行して冷却するので、雰囲気温度よりも低い温度で温度制御を行う場合であっても、ヒータのオンオフ制御において等価的に雰囲気温度を低下させることになり、好適である。
また、全ての温度Tkが下限値(Ts+δ3)以下の場合には冷却部7を駆動させず(S106)、ある測定温度Tkが上限値(Ts+δ4)以上の場合にはヒータ1kをオフする(S110)ので、セル2への過度の冷却、過度の加熱を抑制できる。
以上のように、本発明にかかる温度制御技術を用いれば、温度に敏感な培養に対して精度よく温度制御できるので、複数の培養物に対して均等に温度条件を設定することができる。
第2の実施の形態.
図5は本発明にかかる温度制御方法を例示するフローチャートである。本実施の形態では、図4のステップS100の実行後、ステップS900の実行までにステップS800、S200をこの順に実行する。
即ち、少なくとも一つの温度Tkが下限値(Ts+δ3)より高くかつ全ての温度T1〜Tnが上限値(Ts+δ1)より低く、いずれの温度T1〜Tnについても、下限値(Ts−δ2)より高くかつ上限値(Ts+δ4)より低い場合に、ステップS800に処理が進む。
ステップS800では温度制御装置の雰囲気温度Taに従って目標値Tsを校正して新たな目標値Tcに更新する。そしてステップS200へと処理がすすむ。
ステップS200はステップS100における目標値Tsを目標値Tcに変更したステップである。このように温度制御の際に雰囲気温度を考慮することにより、雰囲気温度Taがセル温度に与える影響を小さくできる。ステップS100において既に温度T1〜Tnは測定されているので、ステップS200においてはステップS100中のステップS101相当の処理を省略してもよい。
第3の実施の形態.
上記ステップS103,S105ではn個の温度と上限値、下限値との比較を行うので、合計2n個の比較演算を行う。しかし一旦、温度T1〜Tnの最大値Mを求めてしまえば、比較回数を2回で済ませて第1の実施の形態で示された効果を得ることができる。
図6は図4に相当するフローチャートであり、ステップS100がステップS300で置換されている。ステップS300はステップS100のステップS103,S103をそれぞれステップS113,S115で置換した上で、ステップS101とステップS113との間にステップS102を追加した構成を有している。
ステップS102では温度T1〜Tnの最大値Mを求める。図6では記号maxはその右隣の括弧内の複数の値の最大値を示している。
ステップS113では最大値Mが所定の上限値(Ts+δ1)以上であるかどうかが判断される。この判断が肯定的である場合には、加熱されたセル2が少なくとも一つ存在することになるので、ステップS104へと処理が進む。
最大値Mが所定の上限値(Ts+δ1)よりも小さい場合には、全ての温度T1〜Tnが所定の上限値(Ts+δ1)よりも小さいのであるから、ステップS115へと進む。
ステップS115では最大値Mが所定の下限値(Ts+δ3)以下であるかどうかが判断される。この判断が肯定的である場合には、全てのセル2のセル温度が目標値に対して冷えすぎであるので、ステップS106へと処理が進む。
最大値Mが所定の下限値(Ts+δ3)よりも大きい場合には、ステップS107あるいは更にステップS109へと進み、個々の測定温度Tkがそれぞれ所定の下限値(Ts−δ2)及び上限値(Ts+δ4)と比較される。
図7は図5に相当するフローチャートであり、ステップS100,S200がそれぞれステップS300、S400で置換されており、第2の実施の形態で示された効果を得ることができる。
ステップS400はステップS300に対して目標値Tsを目標値Tcに変更したステップである。ステップS300において既に温度T1〜Tnは測定されているので、ステップS400においてはステップS300中のステップS101,S102相当の処理を省略してもよい。
もちろん、ステップS100を実行後、ステップS800及びステップS400を実行してもよい。その場合にはステップS400において最大値Mを求める必要がある。またステップS300を実行後、ステップS800及びステップS200を実行してもよい。
第4の実施の形態.
図8は、ヒータ群1及び冷却部7による制御を雰囲気温度Taにより補正する技術を例示するブロック図であり、第1乃至第3の実施の形態の動作を実現する。温度制御装置は、温度計40と、記憶部5と、制御部6とを更に備える。制御部6は図4乃至図7に示されたフローチャートに従って、ヒータ群1及び冷却部7を制御する。温度計40は温度制御装置が設置されている環境の雰囲気温度Taを測定し、記憶部5は校正データを記憶する。
校正データは例えば次のようにして得られる。異なる雰囲気温度Ta毎に、ステップS100を用いて制御されたセル温度を予め測定する。そして、雰囲気温度Ta毎に、ヒータ温度の目標値Tsとセル温度との関係をテーブルで表し、これを校正データとして採用する。
制御部には、セル温度の目標値Tsのみならず、温度計40からは雰囲気温度Taが、記憶部5からは校正データが、それぞれ与えられる。制御部6は、雰囲気温度Taに従ってセル温度の目標値Tsと校正データとに基づいて、セル温度が目標値Tsとなるような新たな目標値Tcを得る。そして制御部6は、更新後の目標値Tcを用いてステップS200を実行する。
図9は、ヒータ群1及び冷却部7による制御を雰囲気温度Taにより補正する他の技術を例示するブロック図である。温度制御装置は、記憶部5に代えて計算部8を備える。
計算部8には所定の関数と、雰囲気温度Taと、目標値Tsとが与えられる。目標値Tsは例えば制御部6から与えられる。
当該関数は、例えば次のようにして得られる。異なる雰囲気温度Ta毎に、ステップS100又はステップS300を用いて制御されたセル温度を予め測定する。そして、雰囲気温度Ta、目標値Ts、セル温度の関係を当該関数として採用する。
計算部8は当該関数を用いて、雰囲気温度Ta及び目標値Tsから、セル温度が目標値Tsとなるような新たな目標値Tcを得る。そして制御部6は、更新後の目標値Tcを用いてステップS200又はステップS400を実行する。
上述した温度制御装置は、微生物等を培養する場合だけでなく、微生物等を媒体として、例えば微生物等の呼吸活性を利用して、化学物質の量や影響等を測定する場合や、例えば微生物等が死滅していく場合にも利用することができる。
本発明の第1の実施の形態にかかる温度制御装置の概念的な斜視図である。 図1に示された温度制御装置の位置AA及び位置BBでの断面図である。 穴21とヒータ群1との位置関係を例示する平面図である。 本発明の第1の実施の形態にかかる温度制御方法を例示するフローチャートである。 本発明の第2の実施の形態にかかる温度制御方法を例示するフローチャートである。 本発明の第3の実施の形態にかかる温度制御方法を例示するフローチャートである。 本発明の第3の実施の形態にかかる温度制御方法を例示するフローチャートである。 本発明の第4の実施の形態の構成を例示するブロック図である。 本発明の第4の実施の形態の他の構成を例示するブロック図である。
符号の説明
1 ヒータ群
11,12,…,1n ヒータ
2 セル
20 セル群
41,42,…4n センサ
5 記憶部
6 制御部
7 冷却部
8 計算部
40 温度計
101 ケース

Claims (11)

  1. 温度制御される被温度制御対象(20)と、
    前記被温度制御対象の複数の箇所を加熱するヒータ(11,12,…,1n)と、
    前記被温度制御対象の全体を冷却する冷却部(7)と
    を備える温度制御装置を制御する方法であって、
    (a)前記複数の箇所の温度(T1〜Tn)を測定するステップ(S101)と、
    (b)前記箇所の前記温度の少なくとも一つが第1の上限値(Ts+δ1)以上の場合には前記冷却部を駆動するステップ(S103,S104)と、
    (c)一の前記箇所の前記温度が第1の下限値(Ts−δ2)以下の場合には当該一の前記箇所を加熱する前記ヒータを駆動するステップ(S107,S108)と
    を実行する温度制御方法。
  2. 前記第1の上限値は前記被温度制御対象(20)の温度の目標値(Ts)に第1の正値(δ1)を加算した値であり、
    前記第1の下限値は前記目標値から第2の正値(δ2)を差し引いた値である、請求項1記載の温度制御方法。
  3. (d)全ての前記箇所の前記温度(T1〜Tn)が第2の下限値(Ts+δ3)以下の場合には前記冷却部を駆動しないステップ(S105,S106)と、
    (e)一の前記箇所の前記温度が第2の上限値(Ts+δ4)以上の場合には当該一の前記箇所を加熱する前記ヒータを駆動しないステップ(S109,S110)と
    を更に実行する、請求項1及び請求項2のいずれか一つに記載の温度制御方法。
  4. 前記第2の下限値は前記第1の上限値(Ts+δ1)よりも低く、前記被温度制御対象(20)の温度の目標値(Ts)に第3の正値(δ3)を加算した値であり、
    前記第2の上限値は前記第1の下限値(Ts−δ2)よりも高く、前記目標値に第4の正値(δ4)を加算した値である、請求項3記載の温度制御方法。
  5. (f)前記箇所の前記温度の少なくとも一つが前記第2の下限値(Ts+δ3)より高くかつ全ての前記箇所の前記温度(T1〜Tn)が前記第1の上限値(Ts+δ1)より低く、いずれの前記箇所の前記温度も第1の下限値(Ts−δ2)より高くかつ前記第2の上限値(Ts+δ4)より低い場合に、前記温度制御装置の雰囲気温度(Ta)に従って前記目標値(Ts)を校正して新たな目標値(Tc)に更新するステップ(S800)
    を更に実行し、
    前記ステップ(f)で更新された前記目標値を用いて前記ステップ(b),(c)を再度実行する、請求項4記載の温度制御方法。
  6. 前記ステップ(f)で更新された前記目標値を用いて前記ステップ(d),(e)を再度実行する、請求項5記載の温度制御方法。
  7. 前記被温度制御対象(20)は培養物を収納可能な容器(2)の複数を有する、請求項1乃至請求項6のいずれか一つに記載の温度制御方法。
  8. 温度制御される容器(2)を複数収納する収納部(101)と、
    前記収納部に収納された複数の前記容器の全てを並行して冷却する冷却部(7)と、
    複数の前記容器を選択的に加熱する複数のヒータ(11,12,…,1n)と、
    前記複数の前記ヒータの各々の加熱箇所を測温する複数のセンサ(41,42,…4n)と
    を備える、温度制御装置。
  9. 前記容器の温度の目標値(Ts)と前記複数のセンサの測温結果(T1,T2,…,Tn)とに基づいて前記冷却器の駆動を制御し、前記目標値と前記複数のセンサの各々の前記測温結果とに基づいて当該センサに対応する前記ヒータの駆動を制御する制御部(6)
    を更に備える、請求項8記載の温度制御装置。
  10. 雰囲気温度(Ta)を測定するセンサ(40)と、
    前記雰囲気温度及び前記目標値(Ts)に基づいて前記目標値を更新する計算部(8)と
    を更に備える、請求項9記載の温度制御装置。
  11. 雰囲気温度(Ta)を測定するセンサ(40)と、
    前記雰囲気温度及び前記目標値(Ts)に基づいて校正値(Tc)を与える校正データを記憶する記憶部(5)と
    を更に備え、
    前記制御部(6)は前記校正データと前記雰囲気温度及び前記目標値とに基づいて前記校正値を以て前記目標値を更新する、請求項9記載の温度制御装置。
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