JP2005524837A - スペクトルジッタ分析 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】論理レベル間の遷移を有する計測対象のデジタル信号のジッタ分析を提供するために、複数のエラー値が求められる。各エラー値は、複数の連続的なタイミングポイントの中の1つとそれぞれ関連付けられ、該関連付けられたタイミングポイントにおいて前記デジタル信号内で発生する遷移の検出結果と予想信号との比較から導出される。エラー信号は、個々のタイミングポイントに関連する導出されたエラー値を表して提供される。エラー信号内のスペクトル成分を検出するべく、エラー信号のスペクトルジッタ分析が提供される。
Description
20 サンプリングポイント
30 遷移範囲
40 しきい値レベル
50 ヒストグラム
Claims (16)
- 論理レベル間の遷移を有するデジタル信号のジッタ分析を提供する方法であって、
(a)複数の連続的なタイミングポイントの中の1つとそれぞれ関連付けられ、該関連付けられたタイミングポイントにおいて前記デジタル信号内で発生する遷移の検出結果と予想信号との比較から導出される、複数のエラー値を受信するステップと、
(b)前記個々のタイミングポイントに関連する前記導出されたエラー値を表すエラー信号を提供するステップと、
(c)前記エラー信号内のスペクトル成分を検出するべく、前記エラー信号のスペクトルジッタ分析を提供するステップと、
を有する方法。 - 前記ステップ(a)の前に、
前記複数の連続的なタイミングポイントのそれぞれにおいて、該タイミングポイントで前記信号内に発生する遷移の検出を提供するステップと、
前記複数の連続的なタイミングポイントのそれぞれについて、前記検出の結果を予想信号と比較し、その結果からエラー値を導出するステップと、
を更に有する請求項1記載の方法。 - 前記ステップ(c)は、前記エラー信号に対して、自己相関、相互相関、又はフーリエ解析のうちの少なくとも1つを適用するステップを有する、請求項1又は前項までの請求項中のいずれか一項記載の方法。
- 前記エラー値のそれぞれは、前記個々のタイミングポイントごとの検出された遷移又は非遷移と、予想された遷移又は非遷移との間におけるマッチング情報を表す、請求項1又は前項までの請求項中のいずれか一項記載の方法。
- 前記エラー信号は、個々のタイミングポイントと関連付けられている前記複数の導出されたエラー値を表す、請求項1又は前項までの請求項中のいずれか一項記載の方法。
- 前記エラー信号は、時間、又は前記タイミングポイントから導出されるその他のスケールにおいて前記エラー値の変動を表す、請求項1又は前項までの請求項中のいずれか一項記載の方法。
- 前記デジタル信号内におけるスペクトルジッタ成分の定量的な存在を評価するステップを更に有する、請求項1又は前項までの請求項中のいずれか一項記載の方法。
- 前記スペクトルジッタ成分の前記評価された定量的な存在を所与のしきい値と比較することによって合格/不合格試験を提供するステップを更に有する、請求項7記載の方法。
- 前記スペクトルジッタ成分の前記評価された定量的な存在が前記所与のしきい値を超過した場合に、前記合格/不合格試験に不合格となる、請求項8記載の方法。
- 前記タイミングポイントは、遷移の可能性が高い範囲内において選択される、請求項1又は前項までの請求項中のいずれか一項記載の方法。
- 前記タイミングポイントは、ジッタの影響下において遷移の可能性が高い範囲の実質的に中央において選択される、請求項10記載の方法。
- 前記デジタル信号内における遷移が、基準周波数を有する基準信号と関係しており、連続的なタイミングポイント間における距離が前記基準周波数から導出される、請求項1又は前項までの請求項中のいずれか一項記載の方法。
- 論理レベル間の遷移を有する計測対象のデジタル信号のジッタ分析を提供する方法であって、
(a)複数の連続的なタイミングポイントのそれぞれにおいて、該タイミングポイントで前記デジタル信号内に発生する遷移の検出を提供するステップと、
(b)前記複数の連続的なタイミングポイントのそれぞれごとに、前記検出の結果を予想信号と比較し、その結果からエラー値を導出するステップと、
(c)前記個々のタイミングポイントに関連する前記導出されたエラー値を表すエラー信号を提供するステップと、
(d)前記エラー信号内のスペクトル成分を検出するべく、前記エラー信号のスペクトルジッタ分析を提供するステップと、
を有する方法。 - コンピュータなどのデータ処理システム上において稼働する際に、請求項1又は前項までの請求項中のいずれか一項記載の方法を実行する、好ましくはデータ保存媒体上に保存されたソフトウェアプログラム又はプロダクト。
- 論理レベル間の遷移を有するデジタル信号のジッタ分析を提供する装置であって、
複数のエラー値を受信するべく適合された信号生成ユニットを有し、
該エラー値は、複数の連続的なタイミングポイントとそれぞれ関連付けられており、該関連付けられているタイミングポイントにおいて前記デジタル信号内で発生する遷移の検出結果と予想された信号との比較から導出され、
前記信号生成ユニットは、前記個々のタイミングポイントに関連して前記導出されたエラー値を表すエラー信号を生成するべく更に適合されており、
前記エラー信号内のスペクトル成分を検出するべく、前記エラー信号のスペクトルジッタ分析を提供するべく適合された分析ユニットと、
を有する装置。 - 論理レベル間の遷移を有するデジタル信号のジッタ分析を提供する装置であって、
複数の連続的なタイミングポイントのそれぞれにおいて、該タイミングポイントにおいて前記デジタル信号内で発生する遷移の検出を提供するべく適合された検出器と、
前記複数の連続的なタイミングポイントのそれぞれごとに、前記検出器の結果を予想された信号と比較し、その結果からエラー値を導出するべく適合された比較器と、
それらの個々のタイミングポイントに関連する前記導出されたエラー値を表すエラー信号を生成するべく適合された信号生成ユニットと、
前記エラー信号内のスペクトル成分を検出するべく、前記エラー信号のスペクトルジッタ分析を提供するべく適合された分析ユニットと、
を有する装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/EP2002/004841 WO2003093842A1 (en) | 2002-05-03 | 2002-05-03 | Spectral jitter analysis |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005524837A true JP2005524837A (ja) | 2005-08-18 |
Family
ID=29286076
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004502007A Pending JP2005524837A (ja) | 2002-05-03 | 2002-05-03 | スペクトルジッタ分析 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20050243950A1 (ja) |
EP (1) | EP1504271B1 (ja) |
JP (1) | JP2005524837A (ja) |
AU (1) | AU2002316889A1 (ja) |
DE (1) | DE60216328T2 (ja) |
WO (1) | WO2003093842A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE60311576T2 (de) * | 2003-08-20 | 2007-08-16 | Verigy (Singapore) Pte. Ltd. | Spektrale Jitter-Analyse mit Jitter-Modulation-Wellenform-Analyse |
US7050915B2 (en) * | 2003-10-16 | 2006-05-23 | Agilent Technologies, Inc. | Periodic jitter characterization using pseudo-random sampling |
US8442788B2 (en) * | 2006-02-27 | 2013-05-14 | Advantest Corporation | Measuring device, test device, electronic device, measuring method, program, and recording medium |
US7970565B2 (en) * | 2006-02-27 | 2011-06-28 | Advantest Corporation | Measuring device, test device, electronic device, program, and recording medium |
US7571363B2 (en) * | 2006-05-18 | 2009-08-04 | Agilent Technologies, Inc. | Parametric measurement of high-speed I/O systems |
US8473233B1 (en) | 2009-08-05 | 2013-06-25 | Gary K. Giust | Analyzing jitter in a clock timing signal |
US9003549B2 (en) | 2010-08-31 | 2015-04-07 | Gary K. Giust | Analysis of an analog property of a signal |
US8891602B1 (en) | 2011-05-19 | 2014-11-18 | Gary K. Giust | Analyzing jitter with noise from the measurement environment |
US8811458B2 (en) * | 2012-10-04 | 2014-08-19 | Qualcomm Incorporated | Digitally controlled jitter injection for built in self-testing (BIST) |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4688234A (en) * | 1985-06-21 | 1987-08-18 | Robinton Products, Inc. | Apparatus and method for producing a signal-to-noise ratio figure of merit for digitally encoded-data |
US5115452A (en) * | 1990-08-02 | 1992-05-19 | At&T Bell Laboratories | Phase jitter correction arrangement |
JP3030598B2 (ja) * | 1994-06-24 | 2000-04-10 | アンリツ株式会社 | ジッタ検出装置 |
JPH08167841A (ja) * | 1994-12-13 | 1996-06-25 | Pioneer Electron Corp | ディジタルpll回路 |
US5903605A (en) * | 1995-03-30 | 1999-05-11 | Intel Corporation | Jitter detection method and apparatus |
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US20020085656A1 (en) * | 2000-08-30 | 2002-07-04 | Lee Sang-Hyun | Data recovery using data eye tracking |
US6832172B2 (en) * | 2001-06-15 | 2004-12-14 | Tektronix, Inc. | Apparatus and method for spectrum analysis-based serial data jitter measurement |
-
2002
- 2002-05-03 DE DE60216328T patent/DE60216328T2/de not_active Expired - Fee Related
- 2002-05-03 US US10/498,609 patent/US20050243950A1/en not_active Abandoned
- 2002-05-03 AU AU2002316889A patent/AU2002316889A1/en not_active Abandoned
- 2002-05-03 WO PCT/EP2002/004841 patent/WO2003093842A1/en active IP Right Grant
- 2002-05-03 JP JP2004502007A patent/JP2005524837A/ja active Pending
- 2002-05-03 EP EP02745277A patent/EP1504271B1/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AU2002316889A1 (en) | 2003-11-17 |
US20050243950A1 (en) | 2005-11-03 |
EP1504271B1 (en) | 2006-11-22 |
EP1504271A1 (en) | 2005-02-09 |
DE60216328T2 (de) | 2007-03-01 |
DE60216328D1 (de) | 2007-01-04 |
WO2003093842A1 (en) | 2003-11-13 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A02 | Decision of refusal |
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