JP2005345470A - 電子デバイスの検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 電気的変量を電子デバイスの第1端部に与える回路部と、与えられた電気的変量の値を変更するべく電子デバイスの第2端部と接続された要素部と、与えられた電気的変量の変更値を測定し、測定された電気的変量の変更値を基準値と比較して電子デバイスの状態を決定するべく、回路部と電気的に接続された検査部と、を具備する電子デバイスの検査装置。
【選択図】 図15
Description
51 共振器
52 プローブ
53 回路パターン
55 第2電力供給部
56 測定部
58 メモリ
571 フィルター
572 整流器
573 アナログ−デジタル変換器
575 決定部
611 デジタル−アナログ変換器
612 デマルチプレクサ
SW1、・・・、SWn 第1スイッチ
Claims (38)
- 電子デバイスの検査装置であって、
電気的変量を前記電子デバイスの第1端部に与える回路部と、
前記与えられた電気的変量の値を変更するべく前記電子デバイスの第2端部と接続された要素部と、
前記与えられた電気的変量の変更値を測定し、前記測定された電気的変量の変更値を基準値と比較して前記電子デバイスの状態を決定するべく、前記回路部と電気的に接続された検査部と、を具備することを特徴とする装置。 - 前記電気的変量が電圧であることを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記電気的変量が電流であることを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記要素部が電力供給手段であることを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記要素部がグラウンドであることを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記要素部が、磁場を形成して非接触式で前記回路パターンの第2端部に電力を供給することを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記回路部が、並列接続された抵抗、キャパシタ、及びインダクターを具備する共振器であることを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記検査部が、
前記回路部に導通されたプローブと、
前記電気的変量の前記値を測定するべく前記共振器及び前記プローブに接続された測定部と、
前記測定された電気的変量の値から前記電子デバイスの欠陥有無を判断する判断部と、を具備することを特徴とする請求項7に記載の装置。 - 前記基準値が、前記電子デバイスに欠陥のない場合に測定された電気的変量の値であることを特徴とする請求項8に記載の装置。
- 前記判断部が、前記測定された電気的変量の値によって生成されたパターンによって前記欠陥の種類を決定することを特徴とする請求項8に記載の装置。
- 前記欠陥の種類が、オープン欠陥、マウスバイト欠陥、ショート寸前の欠陥、及びショート欠陥を含むことを特徴とする請求項10に記載の装置。
- 前記検査部が、
前記電子デバイスによって変調された交流アナログ信号をフィルタリングしかつフィルタリング信号を生成するフィルターと、
前記フィルタリング信号を受信しかつ直流アナログ信号を生成する整流器と、
前記直流アナログ信号からデジタル測定信号を生成するアナログ−デジタル変換器と、
前記電子デバイスの欠陥の種類による測定信号データである参照信号を保存するメモリと、
前記測定信号を前記参照信号と比較して前記電子デバイスの欠陥有無及び欠陥の種類を判断する決定部と、を具備することを特徴とする請求項1に記載の装置。 - 前記検査部が、
前記電子デバイスによって変調された交流アナログ信号をフィルタリングしかつフィルタリング信号を生成するフィルターと、
前記フィルタリング信号を受信しかつ直流アナログ信号を生成する整流器と、
前記直流アナログ信号からデジタル測定信号を生成するアナログ−デジタル変換器と、
前記電子デバイスの欠陥の種類による測定信号データである参照信号を保存するメモリと、
前記測定信号を前記参照信号と比較して前記電子デバイスの欠陥有無及び欠陥の種類を判断する決定部と、を具備することを特徴とする請求項8に記載の装置。 - 前記参照信号が、前記電子デバイスによる欠陥の位置及び種類をコンピュータでシミュレーションして得られた値に基づいて構成されることを特徴とする請求項13に記載の装置。
- 電子デバイスの検査装置であって、
電気的変量を前記電子デバイスの第1端部に与える回路部と、
前記与えられた電気的変量の値を変更するべく前記電子デバイスの第2端部と接続された要素部と、
前記電子デバイスの入射波電力と反射波電力の比であるような入力端反射係数を測定し、前記測定された入力端反射係数と基準値とを比較して前記電子デバイスの状態を決定するべく、前記回路部と電気的に接続された検査部と、を具備することを特徴とする装置。 - 前記要素部が電力供給手段であることを特徴とする請求項15に記載の装置。
- 前記要素部がグラウンドであることを特徴とする請求項15に記載の装置。
- 前記回路部が、プローブ及び共振器をさらに具備することを特徴とする請求項15に記載の装置。
- 前記検査部が、
前記入力端反射係数を測定するべく、前記共振器と前記プローブとに接続された入力端反射係数測定部と、
前記入力端反射係数から前記電子デバイスの欠陥有無及び種類を判断する判断部と、を具備することを特徴とする請求項18に記載の装置。 - 前記判断部が、前記入力端反射係数を前記電子デバイスに欠陥のない場合に測定された入力端反射係数と比較して、前記電子デバイスの欠陥有無及び欠陥の種類を判断することを特徴とする請求項18に記載の装置。
- 電子デバイスの検査装置であって、
電気的変量を前記電子デバイスの第1端部に与え、前記与えられた電気的変量の値を検出する回路部と、
前記与えられた電気的変量の検出値を増幅するべく前記回路部と接続された増幅部と、
前記与えられた電気的変量の増幅値を測定し、前記印加された電気的変量の増幅値と基準値とを比較して前記電子デバイスの状態を判断するべく、前記増幅部と電気的に接続された検査部と、を具備することを特徴とする装置。 - 前記増幅部が、低雑音増幅器であることを特徴とする請求項21に記載の装置。
- 前記電子デバイスの第2端部に接続されて、前記電子デバイスの前記第1端部と前記第2端部との間で電気的変量の値を変更する要素部をさらに具備することを特徴とする請求項21に記載の装置。
- 前記要素部がグラウンドであることを特徴とする請求項23に記載の装置。
- 前記要素部が電力供給手段であることを特徴とする請求項23に記載の装置。
- 前記電気的変量が電圧であることを特徴とする請求項23に記載の装置。
- 前記電気的変量が電流であることを特徴とする請求項23に記載の装置。
- 前記回路部が、プローブ及び共振器をさらに具備することを特徴とする請求項23に記載の装置。
- 前記検査部が、
前記与えられた電気的変量値を測定するべく、前記共振器と前記プローブとに接続された測定部と、
前記与えられた電気的変量から前記電子デバイスの欠陥有無及び欠陥の種類を判断する判断部と、を具備することを特徴とする請求項28に記載の装置。 - 複数の電子デバイスを検査する装置であって、
共振器と、
前記共振器に電力を供給するべく前記共振器の一端に接続された第1電力供給手段と、
前記共振器の他端に接続されかつ前記各電子デバイスの一端に接触する複数個のプローブ部分を持つプローブと、
前記共振器と前記プローブの前記各プローブ部分との接続をスイッチングするべく前記共振器及び前記プローブに接続された1若しくは複数の第1スイッチと、
電力を供給するべく前記各電子デバイスの他端に接続された第2電力供給手段と、
前記各電子デバイスと前記第2電力供給手段との接続をスイッチングするべく前記各電子デバイスの前記他端と前記第2電力供給手段に接続された1若しくは複数の第2スイッチと、
前記複数の電子デバイスの1つから生じた電圧を測定して測定電圧を生成し、前記測定電圧から前記電子デバイスの欠陥有無及び欠陥の種類を判断するべく前記共振器と前記各第1スイッチに接続された検査部と、
前記検査部からスイッチ制御信号を受信しかつ前記第1スイッチと前記第2スイッチのスイッチングを制御するスイッチング制御部と、を具備することを特徴とする装置。 - 前記検査部が、
前記電子デバイスによって変調された交流アナログ信号をフィルタリングしかつフィルタリング信号を生成するフィルターと、
前記フィルタリング信号を受信しかつ直流アナログ信号を生成する整流器と、
前記直流アナログ信号からデジタル測定信号を生成するアナログ−デジタル変換器と、
前記電子デバイスの欠陥の種類による測定信号データの参照信号を保存するメモリと、
前記測定信号を前記参照信号と比較して前記電子デバイスの欠陥有無及び欠陥の種類を判断する決定部と、を具備することを特徴とする請求項21に記載の装置。 - 前記参照信号が、前記電子デバイスの欠陥の種類による前記測定電圧と前記電子デバイスに欠陥のない場合に測定された電圧との差のパターンによって設定されることを特徴とする請求項31に記載の装置。
- 前記参照信号が、前記電子デバイスによる欠陥の位置及び種類をコンピュータでシミュレーションして得られた値に基づいて構成されることを特徴とする請求項31に記載の装置。
- 前記決定部が、前記電子デバイスの欠陥有無及び欠陥の種類の判断終了によってデジタルスイッチング制御信号を生成し、
前記スイッチング制御部が、
前記デジタルスイッチング制御信号からアナログスイッチング制御信号を生成するデジタル−アナログ変換器と、
前記アナログスイッチング制御信号によって前記第1スイッチと前記第2スイッチのスイッチングを制御するデマルチプレクサとを具備することを特徴とする請求項31に記載の装置。 - 前記フィルターが、第1遮断周波数及び前記第1遮断周波数より大きい第2遮断周波数を基準に信号をフィルタリングするバンドパスフィルターであることを特徴とする請求項31に記載の装置。
- 前記検査部が、前記プローブを介して前記電子デバイスに入射される入射波電力と前記電子デバイスから反響される反射波電力の比であるような入力端反射係数を測定することを特徴とする請求項30に記載の装置。
- 前記参照信号が、前記電子デバイスの欠陥の種類による前記入力端反射係数のパターンによって設定されることを特徴とする請求項36に記載の装置。
- 前記第1スイッチが、前記1つの共振器から複数個の電子デバイスに信号を分散して入力できるトランジスタースイッチであることを特徴とする請求項30に記載の装置。
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